CN110346704A - 板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像;根据相似度确定待检板卡对应的测试文件。本技术方案在AOI设备的检测台中预先确定一个特征区域,对进入该特征区域的待检板卡进行拍照,并与样本板卡在特征区域内的图像进行相似度计算,根据相似度确定测试文件并对待检板卡进行检测。解决了需要对待检板卡进行多次拍照的问题,实现了只进行一次拍照,便可以选择出相应的检测文件,提高测试效率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
自动光学检测(Automated Optical Inspection,AOI)是基于光学原理来对印制电路板(Printed Circuit Board,PCB)板卡焊接生产过程中存在的常见缺陷进行检测的设备。在实际生产过程中,同一个生产线上可能同时生产多种类型不同的PCB板卡。因此,在AOI设备进行PCB板卡检测前,需要确定当前待检板卡对应的测试文件。
现有技术中,确定待检板卡测试文件常用方式是:预先确定各个检测文件中Mark点的位置,当待检板卡进入AOI设备后,AOI设备将在待检板卡上各个Mark点对应的位置分别拍摄多张照片,然后将多张照片分别与各个测试文件中Mark点的图像进行匹配,依据匹配程度确定待检板卡对应的测试文件。
然而,现有技术中,确定对应的测试文件需要对待检板卡进行多次拍照,且拍照次数由AOI设备中测试文件的数量确定,导致测试时间长,效率低。
发明内容
本发明提供一种板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质,以实现在确定测试文件的过程中,减少拍照次数,提高测试效率。
第一方面,本发明实施例提供了一种板卡测试中测试文件的确定方法,所述方法包括:
将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
进一步的,在将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像之前,还包括:
确定所述AOI设备的检测台内的特征区域。
进一步的,所述确定所述AOI设备的检测台内的特征区域,包括:
确定至少两种类型的样本板卡放置在所述AOI设备的检测台时的放置重叠区域;
确定各所述样本板卡在所述重叠区域内的特征点;
根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域。
进一步的,所述根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域,包括:
在所述重叠区域内依次选取候选区域;
确定各所述样本板卡在各所述候选区域内所包含特征点的特征点数;
将所述特征点数满足特征区域条件的候选区域确定为特征区域。
进一步的,所述在所述重叠区域内依次选取候选区域,包括:
确定满足窗口设定条件的滑动窗口;
控制所述滑动窗口在所述重叠区域内从左向右以设定步长滑动,获得至少一个候选区域。
进一步的,所述将所述特征点数满足特征区域条件的待识别区域确定为特征区域,包括:
针对每个候选区域,确定各样本板卡在所述候选区域内的特征点数总和及标准差;
将所述特征点数总和与所述标准差的差值确定为所述候选区域的判定值;
比对各所述候选区域的判定值,将最大判定值对应的候选区域作为所述检测台上的特征区域。
进一步的,根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件,包括:
比对所述待测图像与各所述标准图像的相似度;
将最大相似度对应的标准图像确定为所述待测图像的参考图像;
查找测试文件集,获得所包含板卡图像为所述参考图像的标准测试文件;
将所述标准测试文件确定为所述待测板卡对应的测试文件。
具体的,所述测试文件为AOI程式文件,所述测试文件中至少包括:板卡类型、板卡形状、板卡尺寸、板卡图像以及板卡特征点。
第二方面,本发明实施例还提供了一种板卡测试中测试文件的确定装置,包括:
待检图像采集模块,用于将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
相似度确定模块,用于确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
测试文件确定模块,用于根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
进一步的,所述装置还包括:
特征区域确定模块,用于确定所述AOI设备的检测台内的特征区域。
进一步的,特征区域确定模块,包括:
重叠区域确定单元,用于确定至少两种类型的样本板卡放置在所述AOI设备的检测台时的放置重叠区域;
特征点确定单元,用于确定各所述样本板卡在所述重叠区域内的特征点;
特征区域确定单元,用于根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域。
进一步的,特征区域确定单元,包括:
候选区域选取子单元,用于在所述重叠区域内依次选取候选区域;
特征点数确定子单元,用于确定各所述样本板卡在各所述候选区域内所包含特征点的特征点数;
特征区域确定子单元,用于将所述特征点数满足特征区域条件的候选区域确定为特征区域。
候选区域选取子单元,具体用于确定满足窗口设定条件的滑动窗口;控制所述滑动窗口在所述重叠区域内从左向右以设定步长滑动,获得至少一个候选区域。
特征区域确定子单元,具体用于针对每个候选区域,确定各样本板卡在所述候选区域内的特征点数总和及标准差;将所述特征点数总和与所述标准差的差值确定为所述候选区域的判定值;比对各所述候选区域的判定值,将最大判定值对应的候选区域作为所述检测台上的特征区域。
进一步的,测试文件确定模块,包括:
相似度比对单元,用于比对所述待测图像与各所述标准图像的相似度;
参考图像确定单元,用于将最大相似度对应的标准图像确定为所述待测图像的参考图像;
标准测试文件查找单元,用于查找测试文件集,获得所包含板卡图像为所述参考图像的标准测试文件;
测试文件单元,用于将所述标准测试文件确定为所述待测板卡对应的测试文件。
具体的,所述测试文件为AOI程式文件,所述测试文件中至少包括:板卡类型、板卡形状、板卡尺寸、板卡图像以及板卡特征点。
第三方面,本发明实施例还提供了一种设备,所述设备包括:
一个或多个处理器;
存储器,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如上述第一方面中任一所述的板卡测试中测试文件的确定方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任一所述的板卡测试中测试文件的确定方法
本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像;根据相似度确定待检板卡对应的测试文件。本发明实施例中,首先在AOI设备的检测台中预先确定一个特征区域,然后对进入该特征区域的待检板卡进行拍照,并与样本板卡在该特征区域内的图像进行相似度计算,根据相似度确定对应的测试文件并对待检板卡进行检测。解决了现有技术中,需要对待检板卡进行多次拍照的问题,实现了只进行一次拍照,便可以选择出相应的检测文件,提高测试效率。
附图说明
图1是本发明实施例一中的板卡测试中测试文件的确定方法的流程图;
图2是本发明实施例一中的板卡测试中测试文件的确定方法中的特征区域位置的示意图;
图3是本发明实施例二中的板卡测试中测试文件的确定方法的流程图;
图4是本发明实施例二中的滑动窗口的结构示意图;
图5是本发明实施例三中的板卡测试中测试文件的确定装置的结构示意图;
图6为本发明实施例四提供的一种设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1是本发明实施例一中的板卡测试中测试文件的确定方法的流程图。本实施例可适用于一个生产线上同时生产多种类型PCB板卡时,AOI设备对该生产线的PCB板卡进行检测的情况,该板卡测试中测试文件的确定方法可以由板卡测试中测试文件的确定设备执行,该板卡测试中测试文件的确定设备可以通过软件和/或硬件的方式实现,该板卡测试中测试文件的确定设备可以由两个或多个物理实体构成,也可以是一个物理实体构成。实施例中,设定板卡测试中测试文件的确定设备集成在AOI设备中,即板卡测试中测试文件的确定方法由AOI设备来执行。
AOI设备可以运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊接缺陷。AOI设备能够检测下面错误:元件漏贴、钽电容的极性错误、焊脚定位错误或者偏斜、引脚弯曲或折起、焊料过量或者不足、焊点桥接或者虚焊等。AOI设备可检测到在线测试中针床无法接触到的元器件和焊接点,提高缺陷覆盖率。通常,AOI设备中存储有每一个型号的PCB板卡的测试文件,各测试文件中包括对应型号的板卡的测试点和模板图等关键信息。
在AOI设备进行自动检测时,AOI设备通过摄像头自动扫描进入AOI设备的检测台的PCB板卡,进行图像采集。将采集到的图像和样本板卡的图像进行比较,以检查出PCB板卡上所存在的缺陷。并通过显示器或者自动标志将对应的缺陷标示出来,供维修人员进行修改。
如图1所示,本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定方法主要包括如下步骤:
S110、将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域。
在本实施例中,待检板卡可以理解为已经在生产线完成生产,需要AOI设备进行检测的PCB板卡。待检图像可以是通过摄像头自动扫描特征区域内的待检板卡得到的图像。不同类型的待检板卡对应不同的待检图像。不同的检测图像是色彩或者排版不同的图像。
AOI设备的检测台是指AOI设备中承载待检板卡的平台,特征区域可以理解为AOI设备的检测台中预先确定的区域。每个类型的待检板卡在特征区域内,都应该存在完整的待检图像。即每个类型的待检板卡放置在检测台时,都应该完整的将特征区域覆盖。
图2是本发明实施例一中的特征区域位置的示意图;如图2所示,矩形框201表示AOI设备中检测台,矩形框201表示A类型板卡在进入AOI设备后,在检测台201中的位置,矩形框202表示B类型板卡在进入AOI设备后,在检测台201中的位置,矩形框203表示C类型板卡在进入AOI设备后,在检测台201中的位置。从图2中可以看出,A类型板卡、B类型板卡和C类型板卡在测试台中存在一块重叠区域205。
进一步的,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像之前,还包括:确定所述AOI设备的检测台内的特征区域。检测台内的特征区域可以根据实际情况进行设计。例如:可以在重叠区域205中选取任意大小的区域作为特征区域,也可以直接将重叠区域205作为特征区域。本实施例中,仅对特征区域进行说明,而非限定。
进一步的,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像之前,还包括:接收到图像采集指令后,通过摄像头采集特征区域内的待检板卡图像。
图像采集指令是指确定采集特征区域内的待检板卡图像的指令,其中,去图像采集指令的触发方式可以根据实际情况设定。例如,设定触发按键,当检测到触发按键被点击时,确定接收到图像采集指令。其中,触发按键可以是AOI设备中的实体按键,也可以是位于AOI设备的显示操作屏的虚拟按键。再如,设定接收到外置设备发送的图像采集信号时,确定接收到图像采集指令。其中,外置设备包括但不限定于:与AOI设备无线连接的遥控器、智能手机等。再如,设定当AOI设备检测到待检板卡移动到检测台的指定位置后,自动生成并接收图像采集指令。
进一步的,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,可以是摄像头只扫描特征区域内的待检板卡,并将扫描到的图像作为待检图像。还可以是摄像头对整个待检板卡进行图像采集,根据特征区域的位置,对采集到的整个待检板卡图像进行剪裁,将剪裁后的待检板卡图像作为待检图像。
S120、确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像。
在本实施例中,样本板卡可以理解为选取的准确的,不存在错误的板卡。生产线生产的板卡类型数与样本板卡数相同。一个类型的板卡对应一个标准图像。例如:同一条生产线生产三种类型的板卡,则存在3个样本板卡,以及3个样本板卡各采集一个标准图像。
确定待检图像与各标准图像的相似度之前,还包括:获取各标准图像。
本实施例中,提供两个获取各标准图像的方法。
方法一:从AOI设备的磁盘中,自动索引文件列表,可以查找并获取各标准图像。
AOI设备中存储有各种类型的板卡对应的测试文件,每一个测试文件中存储有对应类型的板卡图像,各标准图像可以存储在各类型板卡的测试文件中。在需要获取各标准图像时,依次在各测试文件中,查找确定各样本板卡的标准图像。
方法二:直接在标准图像文件夹中获取各个标准图像。
在AOI设备的磁盘中建立标准图像文件夹,用于存储各类型板卡的标准图像。在确定待检图像与各标准图像的相似度之前,只需要在标准图像文件夹中获取各个标准图像即可。
本实施例中,采用第二种方法获取各个标准图像,这样只需要在标准图像文件夹中获取各个标准图像即可,便于直接调用,提高操作的便利性。
进一步的,在标准图像文件夹中获取各个标准图像之前,还包括:获取到该生产线生产的各个类型的样本板卡后,获取各个样本板卡在特征区域内形成的图像,并将各个样本板卡在特征区域内形成的图像作为各个样本板卡的标准图像存储在标准图像文件中。进一步的,获取各标准图像并存储在标准图像文件可以在S110之前执行。
通过预设的图像匹配算法计算待检图像与各标准图像之间的相似度。常用的图像匹配算法一般分为3类:基于灰度的匹配算法、基于特征的匹配算法、基于关系的匹配算法。
基于灰度的匹配算法:是根据已知模板图像到另一幅图像中寻找与模板图像相似的子图像。基于特征的匹配算法:首先提取图像的特征,再生成特征描述子,最后根据描述子的相似程度对两幅图像的特征之间进行匹配。图像的特征主要可以分为点、线(边缘)、区域(面)等特征,也可以分为局部特征和全局特征。
在本实施例中,采用基于灰度的匹配算法和基于特征的匹配算法向结合的方法,确定待检图像与各标准图像的相似度。需要说明的是,本实施例中仅对相似度确定方法进行说明,而非限定。
S130、根据相似度确定待检板卡对应的测试文件。
在本实施例中,测试文件可以理解为用于测试个类型板卡缺陷的文件。测试文件为AOI程式文件,测试文件中至少包括:板卡类型、板卡形状、板卡尺寸、板卡图像以及板卡特征点。
相似度越大,表示待检图像与标准图像越相似。通过比较待检图像与各个标准图像的相似度,选取其中的最大值,相似度最大值对应的标准图像,确定为待测图像的参考图像。根据参考图像以及参考图像与测试文件之间的关系,确定待检板卡对应的测试文件。
进一步的,根据相似度确定待检板卡对应的测试文件,可以优化为:比对待测图像与各标准图像的相似度;将最大相似度对应的标准图像确定为待测图像的参考图像;查找测试文件集,获得所包含板卡图像为参考图像的标准测试文件;将标准测试文件确定为待测板卡对应的测试文件。
本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定方法,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像;根据相似度确定待检板卡对应的测试文件。本发明实施例提供的技术方案首先在AOI设备的检测台中预先确定一个特征区域,然后对进入该特征区域的待检板卡进行拍照,并与样本板卡在该特征区域内的图像进行相似度计算,根据相似度确定对应的测试文件并对待检板卡进行检测。解决了现有技术中,需要对待检板卡进行多次拍照的问题,实现了只进行一次拍照,便可以选择出相应的检测文件,提高测试效率。
实施例二
在上述实施例的基础上,本发明实施例中进一步优化了板卡测试中测试文件的确定方法,图3是本发明实施例二中的板卡测试中测试文件的确定方法的流程图,如图3所示,本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定方法主要包括如下步骤:
S301、确定至少两种类型的样本板卡放置在AOI设备的检测台时的放置重叠区域。
在本实施例中,样本板卡的类型数量由该生产线生产的板卡类型决定。生产线生产三种类型的板卡,则确定三种类型的样本板卡放置在检测台时,放置重叠区域。
不同类型的板卡流入AOI设备的检测台后,在物理位置上存在一块重叠区域。重叠区域可以根据不同类型板卡停靠在测试台的位置以及各个板卡的大小确定。
进一步的,确定三种类型的样本板卡放置在AOI设备的检测台时的放置重叠区域。三种类型的样本板卡为现有的生产线生产的三种类型的板卡。
具体的,在A类型的样本板卡进入AOI设备的检测台后,在检测台上标记中A类型的样本板卡对应的第一边界轮廓,在B类型的样本板卡进入AOI设备的检测台后,在检测台上标记中B类型的样本板卡对应的第二边界轮廓,在C类型的样本板卡进入AOI设备的检测台后,在检测台上标记中C类型的样本板卡对应的第三边界轮廓。将第一边界轮廓、第二边界轮廓和第三边界轮廓相互重叠的区域确定为三种类型的样本板卡放置在AOI设备的检测台时的放置重叠区域。
S302、确定各样本板卡在重叠区域内的特征点。
特征点是指是图像灰度值发生剧烈变化的点或者在图像边缘上曲率较大的点。利用图像处理技术分别提取各个样本板卡在重叠区域的特征点。
在本实施例中,特征点可以是颜色特征点,也可以是纹理特征点,还可以是颜色特征点与纹理特征点的综合构成。
各样本板卡在重叠区域内的特征点可以包括重叠区域的文字构成的特征点、重叠区域内的焊点构成的特征点以及重叠区域内的线路构成的特征点等。
采样特征点算法依次提取各个样本板卡在重叠区域内的特征点,得到各个样本板卡对应的特征点图像。每个样本板卡有其对应的特征点图像,各个样本板卡对应的特征点图像各部相同。
本实施例中,仅对提取特征点进行说明,而非限定,可以选择合理的特征点提取算法提取各个样本板卡的在重叠区域内的特征点。
S303、根据各样本板卡在重叠区域内特征点的分布特征,从重叠区域中确定特征区域。
在本实施例中,分布特征可以理解为特征点图像中各个特征点之间的距离或者预设区域内的特征点的数量。特征区域是重叠区域内分布特征满足预设要求的一块区域。
进一步的,在重叠区域内搜索一块区域,使得各样本板卡都有尽可能多的特征点在这一区域内,且各样本板卡在特征区域内的特征点数分布均匀,就将这一区域确定为特征区域。
进一步的,根据各样本板卡在重叠区域内特征点的分布特征,从重叠区域中确定特征区域,包括:在重叠区域内依次选取候选区域;确定各样本板卡在各候选区域内所包含特征点的特征点数;将特征点数满足特征区域条件的候选区域确定为特征区域。
候选区域是重叠区域中任意选取的区域,候选区域的大小可以根据重叠区域的大小来确定。候选区域的数量根据重叠区域的大小和候选区域的大小来确定。候选区域的数量为N,其中,N为正整数。
进一步的,在重叠区域内依次选取候选区域,包括:确定满足窗口设定条件的滑动窗口;控制滑动窗口在重叠区域内从左向右以设定步长滑动,获得至少一个候选区域。
图4是本发明实施例二提供的滑动窗口的结构示意图。如图4所示,矩形401表示重叠区域。矩形402表示滑动窗口的当前位置,矩形403表示滑动窗口的之前位置。滑动窗口依次从左向右以设定步长滑动,获得多个候选区域。
确定各个样本板卡在各个候选区域内所包含特征点的特征点数。在第1候选区域内,分别确定A类型的样本板卡所包含的特征点数a1,B类型的样本板卡所包含的特征点数b1,C类型的样本板卡所包含的特征点数c1。在第2候选区域内,分别确定A类型的样本板卡所包含的特征点数a2,B类型的样本板卡所包含的特征点数b2,C类型的样本板卡所包含的特征点数c2。依次类推,在第N候选区域内,分别确定A类型的样本板卡所包含的特征点数an,B类型的样本板卡所包含的特征点数bn,C类型的样本板卡所包含的特征点数cn。
进一步的,将所述特征点数满足特征区域条件的待识别区域确定为特征区域,包括:针对每个候选区域,确定各样本板卡在候选区域内的特征点数总和及标准差;将特征点数总和与标准差的差值确定为候选区域的判定值;比对各候选区域的判定值,将最大判定值对应的候选区域作为检测台上的特征区域。
具体的,计算第1候选区域内,各样本板卡的特征点数之和,即特征点数a1,特征点数b1以及特征点数c1的和,作为第1候选区域内各样本板卡的特征点数和S1。计算第1候选区域内,各样本板卡的特征点数的标准差,即特征点数a1,特征点数b1以及特征点数c1的标准差,作为第1候选区域内的各样本板卡的标准差C1。计算第2候选区域内,各样本板卡的特征点数之和,即特征点数a2,特征点数b2以及特征点数c2的和,作为第2候选区域内各样本板卡的特征点数和S2。计算第2候选区域内,各样本板卡的特征点数的标准差,即特征点数a2,特征点数b2以及特征点数c2的标准差,作为第2候选区域内的各样本板卡的标准差C2。依次类推,计算第N候选区域内,各样本板卡的特征点数之和,即特征点数an,特征点数bn以及特征点数cn的和,作为第N候选区域内各样本板卡的特征点数和Sn。计算第N候选区域内,各样本板卡的特征点数的标准差,即特征点数an,特征点数bn以及特征点数cn的标准差,作为第N候选区域内的各样本板卡的标准差Cn。
将特征点数总和与标准差的差值确定为候选区域的判定值,具体为:将第1候选区域内各样本板卡的特征点数和S1与第1候选区域内的各样本板卡的标准差C1的差值,作为第1候选区域的判定值P1;将第2候选区域内各样本板卡的特征点数和S2与第2候选区域内的各样本板卡的标准差C2的差值,作为第2候选区域的判定值P2,依次类推,将第N候选区域内各样本板卡的特征点数和Sn与第N候选区域内的各样本板卡的标准差Cn的差值,作为第N候选区域的判定值Pn。依据上述算法,可以得到N个判定值。
将各个候选区域的判定值进行比较,具体的,将第1候选区域的判定值P1,第2候选区域的判定值P2,……,第N候选区域的判定值Pn,N个判定值进行比较,将最大判定值对应的候选区域作为特征区域。
S304、将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像。
S305、确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像。
S306、比对待测图像与各标准图像的相似度。
进一步的,在S305中确定了待检图像与各标准图像的相似度。将各个相似度进行比较,确定最大相似度。
S307、将最大相似度对应的标准图像确定为待测图像的参考图像。
相似度越大,表示待检图像与标准图像越相似。因此,将最大相似度对应的标准图像确定为待测图像的参考图像。
S308、查找测试文件集,获得所包含板卡图像为参考图像的标准测试文件。
预先将标准图像存储在标准图像文件。同时,标准图像文件中预先存储各标准图像与测试文件名称以及该测试文件的存储位置的对应关系。
根据上述对应关系,确定参考图像对应的测试文件的名称以及该测试文件的存储位置。根据所述存储位置,在查找测试文件集,获得所包含板卡图像为参考图像的标准测试文件。
S309、将标准测试文件确定为待测板卡对应的测试文件。
确定测试文件后,使用该测试文件对待检板卡进行测试。
本发明实施例提供的技术方案首先在AOI设备的检测台中预先确定一个特征区域,然后当待检板卡的该特征区域进行拍照,并与样本板卡在该特征区域内的图像进行相似度计算,根据相似度确定对应的测试文件并对待检板卡进行检测。解决了现有技术中,需要对待检板卡进行多次拍照的问题,实现了只进行一次拍照,便可以选择出相应的检测文件,提高测试效率。
实施例三
图5是本发明实施例三中的板卡测试中测试文件的确定装置的结构示意图。本实施例可适用于一个生产线上同时生产多种类型PCB板卡时,AOI设备对该生产线的PCB板卡进行检测的情况,该板卡测试中测试文件的确定装置可以通过软件和/或硬件的方式实现,本实施例中,设定板卡测试中测试文件的确定设备集成在AOI设备中。
如图5所示,本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定装置主要包括如下部分:待检图像采集模块510、相似度确定模块520和测试文件确定模块530,其中,
待检图像采集模块510,用于将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
相似度确定模块520,用于确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
测试文件确定模块530,用于根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
本发明实施例提供的板卡测试中测试文件的确定装置,将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;确定待检图像与各标准图像的相似度,其中,标准图像为样本板卡在特征区域内形成的图像;根据相似度确定待检板卡对应的测试文件。本发明实施例提供的技术方案首先在AOI设备的检测台中预先确定一个特征区域,然后对进入该特征区域的待检板卡进行拍照,并与样本板卡在该特征区域内的图像进行相似度计算,根据相似度确定对应的测试文件并对待检板卡进行检测。解决了现有技术中,需要对待检板卡进行多次拍照的问题,实现了只进行一次拍照,便可以选择出相应的检测文件,提高测试效率。
进一步的,所述装置还包括:
特征区域确定模块,用于确定所述AOI设备的检测台内的特征区域。
进一步的,特征区域确定模块,包括:
重叠区域确定单元,用于确定至少两种类型的样本板卡放置在所述AOI设备的检测台时的放置重叠区域;
特征点确定单元,用于确定各所述样本板卡在所述重叠区域内的特征点;
特征区域确定单元,用于根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域。
进一步的,特征区域确定单元,包括:
候选区域选取子单元,用于在所述重叠区域内依次选取候选区域;
特征点数确定子单元,用于确定各所述样本板卡在各所述候选区域内所包含特征点的特征点数;
特征区域确定子单元,用于将所述特征点数满足特征区域条件的候选区域确定为特征区域。
候选区域选取子单元,具体用于确定满足窗口设定条件的滑动窗口;控制所述滑动窗口在所述重叠区域内从左向右以设定步长滑动,获得至少一个候选区域。
特征区域确定子单元,具体用于针对每个候选区域,确定各样本板卡在所述候选区域内的特征点数总和及标准差;将所述特征点数总和与所述标准差的差值确定为所述候选区域的判定值;比对各所述候选区域的判定值,将最大判定值对应的候选区域作为所述检测台上的特征区域。
进一步的,测试文件确定模块530,包括:
相似度比对单元,用于比对所述待测图像与各所述标准图像的相似度;
参考图像确定单元,用于将最大相似度对应的标准图像确定为所述待测图像的参考图像;
标准测试文件查找单元,用于查找测试文件集,获得所包含板卡图像为所述参考图像的标准测试文件;
测试文件单元,用于将所述标准测试文件确定为所述待测板卡对应的测试文件。
具体的,所述测试文件为AOI程式文件,所述测试文件中至少包括:板卡类型、板卡形状、板卡尺寸、板卡图像以及板卡特征点。
本发明实施例所提供的板卡测试中测试文件的确定装置可执行本发明任意实施例所提供的板卡测试中测试文件的确定方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图6为本发明实施例四提供的一种设备的结构示意图,如图6所示,该设备包括处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640;设备中处理器610的数量可以是一个或多个,图6中以一个处理器610为例;设备中的处理器610、存储器620、输入装置630和输出装置640可以通过总线或其他方式连接,图6中以通过总线连接为例。
存储器620作为一种计算机可读存储介质,可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块,如本发明实施例中的板卡测试中测试文件的确定方法对应的程序指令/模块(例如,板卡测试中测试文件的确定新装置中的待检图像采集模块510、相似度确定模块520和测试文件确定模块530)。处理器610通过运行存储在存储器620中的软件程序、指令以及模块,从而执行设备的各种功能应用以及数据处理,即实现上述的板卡测试中测试文件的确定方法。
存储器620可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外,存储器620可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中,存储器620可进一步包括相对于处理器610远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置630可用于接收输入的数字或字符信息,以及产生与设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置640可包括显示屏等显示设备。
实施例六
本发明实施例六还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种板卡测试中测试文件的确定方法,该方法包括:
将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
当然,本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作,还可以执行本发明任意实施例所提供的板卡测试中测试文件的确定方法中的相关操作.
通过以上关于实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现,当然也可以通过硬件实现,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是,上述板卡测试中测试文件的确定装置的实施例中,所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (11)
1.一种板卡测试中测试文件的确定方法,其特征在于,所述方法包括:
将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像之前,还包括:
确定所述AOI设备的检测台内的特征区域。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述AOI设备的检测台内的特征区域,包括:
确定至少两种类型的样本板卡放置在所述AOI设备的检测台时的放置重叠区域;
确定各所述样本板卡在所述重叠区域内的特征点;
根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据各所述样本板卡在所述重叠区域内特征点的分布特征,从所述重叠区域中确定特征区域,包括:
在所述重叠区域内依次选取候选区域;
确定各所述样本板卡在各所述候选区域内所包含特征点的特征点数;
将所述特征点数满足特征区域条件的候选区域确定为特征区域。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述重叠区域内依次选取候选区域,包括:
确定满足窗口设定条件的滑动窗口;
控制所述滑动窗口在所述重叠区域内从左向右以设定步长滑动,获得至少一个候选区域。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述将所述特征点数满足特征区域条件的待识别区域确定为特征区域,包括:
针对每个候选区域,确定各样本板卡在所述候选区域内的特征点数总和及标准差;
将所述特征点数总和与所述标准差的差值确定为所述候选区域的判定值;
比对各所述候选区域的判定值,将最大判定值对应的候选区域作为所述检测台上的特征区域。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件,包括:
比对所述待测图像与各所述标准图像的相似度;
将最大相似度对应的标准图像确定为所述待测图像的参考图像;
查找测试文件集,获得所包含板卡图像为所述参考图像的标准测试文件;
将所述标准测试文件确定为所述待测板卡对应的测试文件。
8.根据权利要求1-7任一所述的方法,其特征在于,所述测试文件为AOI程式文件,所述测试文件中至少包括:板卡类型、板卡形状、板卡尺寸、板卡图像以及板卡特征点。
9.一种板卡测试中测试文件的确定装置,其特征在于,包括:
待检图像采集模块,用于将所采集特征区域内的待检板卡图像作为待检图像,其中,所述特征区域为在自动光学检测AOI设备的检测台中预先确定的区域;
相似度确定模块,用于确定所述待检图像与各标准图像的相似度,其中,所述标准图像为样本板卡在所述特征区域内形成的图像;
测试文件确定模块,用于根据所述相似度确定所述待检板卡对应的测试文件。
10.一种设备,其特征在于,所述设备包括:
一个或多个处理器;
存储器,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-8中任一所述的板卡测试中测试文件的确定方法。
11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一所述的板卡测试中测试文件的确定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201910591297.6A Active CN110346704B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 板卡测试中测试文件的确定方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
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