CN110310245B - 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 - Google Patents
图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110310245B CN110310245B CN201910596737.7A CN201910596737A CN110310245B CN 110310245 B CN110310245 B CN 110310245B CN 201910596737 A CN201910596737 A CN 201910596737A CN 110310245 B CN110310245 B CN 110310245B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- image
- images
- mean value
- corrected
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 106
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 17
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 13
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 12
- 238000001931 thermography Methods 0.000 abstract description 18
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 abstract description 11
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 241000276498 Pollachius virens Species 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G06T5/90—
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10056—Microscopic image
- G06T2207/10061—Microscopic image from scanning electron microscope
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
本发明适用于显微热成像技术领域，提供了一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质。其中，所述修正方法包括：获取被测目标的待修正图像；获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。本发明能够对图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行修正，可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行修正处理，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的测量误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
Description
技术领域
本发明属于显微热成像技术领域，尤其涉及一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质。
背景技术
光反射热成像是一种非接触式测温技术，其基础是光热反射现象，其基本特征是物体的反射率会随物体的温度变化而变化。由于反射率随温度的变化可以认为是线性的，可以用光热反射系数(Thermo reflectance coefficience)来表征反射率随温度的变化。
为了实现高空间分辨力的显微热成像，通常采用基于高性能的光学显微镜来组建显微光反射热成像装置。利用光学显微镜的照明系统提供探测光，使用高性能相机记录显微成像，并根据显微成像获得的显微热图像计算光热反射系数，进而实现温度的非接触式测量。
为了保证测量精度，通常需要对测温目标进行多次测量得到多帧显微热图像，并根据得到的多帧显微热图像确定最终的测量结果。
然而，本申请的发明人发现，在多次测量的过程中，由于显微光反射热成像装置的振动、位置漂移或热对流等影响因素的存在，各次测量所得图像之间往往存在偏移；另外，受测温目标的封装方式或者夹具、热台等测量部件的热膨胀影响，温度变化前后的图像也会存在偏移。
通过显微热成像进行温度测量的前提是同一位置上的探测光强度不变，然而，由于探测光在测量区域内的强度不是理想均匀的，受上述偏移的影响，被测同一位置上的探测光强度可能会由于偏移而发生变化，显然这会引入误差，影响测量准确度。
在光学显微镜常用的照明方案中，临界照明均匀性难以达到要求，科勒照明理论上可以提供理想的均匀照明，但是每次使用前都需要进行复杂的调整，对操作技能要求高，并且其均匀性效果受调整水平影响大。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种图像照明分布的修正方法、修正装置、终端及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中通过显微热成像进行温度测量时由于探测光强度不均匀影响测量准确性的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种图像照明分布的修正方法，该修正方法包括：
获取被测目标的待修正图像；
获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。
本发明实施例的第二方面提供了一种图像照明分布的修正装置，该修正装置包括：
第一获取单元，用于获取被测目标的待修正图像；
第二获取单元，用于获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
照明分布修正单元，用于基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。
本发明实施例的第三方面提供了一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如任一项所述图像照明分布的修正方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如任一项所述图像照明分布的修正方法的步骤。
本发明与现有技术相比存在的有益效果是：
本发明通过获取被测目标的待修正图像，并利用与所述待修正图像相同的光照度分布条件下获取的参考目标的参考图像为照明分布的参考依据，对待修正图像进行照明分布的修正，从而对待修正图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行了修正，本发明可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行照明分布的修正，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图；
图2是本发明另一实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图；
图3是本发明又一实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图；
图4是本发明实施例提供的图像照明分布的修正装置的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的终端的示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图通过具体实施例来进行说明。
参见图1，其示出了本发明实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图，详述如下：
在步骤101中、获取被测目标的待修正图像；
在本发明实施例中，待修正图像可以为显微热成像系统获取的显微热图像，在实际应用中，可以根据测量需要调整显微热成像系统的显微镜的照明系统，在调整完成后，除根据需要调整照明强度外，照明系统的相关照明参数需要保持不变以保障本次测量过程处于相同的光照度分布条件下。
在步骤102中、获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
在本发明实施例中，参考目标可以为均匀性大于一定阈值(保障均匀性良好)的漫反射表面，也可以根据应用场景的不同，选择镜面作为参考目标。
在本发明实施例中，通过以参考图像上的各像素点对应的照明分布参考数据为依据对待修正图像进行照明分布的修正，具体的，记参考图像的所有像素集合L，p为集合L中的一个像素点，则该像素点对应的照明分布参考依据记为b(p)，其中，p∈L。
在一个实施例中，可以使用均匀性良好的漫反射表面作为样品，置于显微镜下，调焦至清晰成像，此时相机输出的图像即可作为照明分布参考依据b(p)。
在步骤103中、基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。
在本发明实施例中，对于待修正图像上的每个像素点p，若其对应的测量数据为c(p)，采用所述参考图像上对应像素的照明分布参考依据进行修正，可以得到修正后的数据c‘(p)，则
在本发明实施例中，通过对待修正图像以参考图像为照明分布参考依据进行照明分布的修正，从而对由于图像偏移引发的图像照明分布不均匀问题进行了有效修正，有利于减小测量误差，提高利用显微热图像进行温度测量的测量准确性。
可选的，所述获取参考图像包括：
获取所述光照度分布条件下的所述参考目标的多个初始图像；
对所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
在本发明实施例中，可以连续进行多次测量，获得所述参考目标的多个初始图像，并对所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像，具体可以对所述多个初始图像的每个像素点p对应的多个数据取均值，以其均值作为照明分布参考依据b(p)。
可选的，在对所述多个初始图像进行多图像平均处理之前还包括：
根据预设的滤波权重对所述多个初始图像分别进行空间滤波处理；
将进行空间滤波处理之后的所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
在本发明实施例中，对于采用科勒照明的系统或者采用临界照明但是对光源进行了均匀化处理的情况，物面上的照明空间分布可以认为是平滑缓变的，可以采用空间滤波抑制噪声，同时降低样品均匀性不理想引入的误差。
示例性的，可以使用1000目散射片作为参考目标进行照明分布测量，将1000目散射片置于显微镜下，调整照明系统，调焦至对散射片表面清晰成像，调节照明强度使相机数度处于较高水平但不至于发生饱和。并连续测量1000帧取平均作为照明分布参考依据b(p)值，测量过程中还可以对每帧图像进行空间滤波。
由上可知，本发明通过获取被测目标的待修正图像，并利用与所述待修正图像相同的光照度分布条件下获取的参考目标的参考图像为照明分布的参考依据，对待修正图像进行照明分布的修正，从而对待修正图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行了修正，本发明可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行照明分布的修正，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
图2示出了本发明另一实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图，详述如下：
在步骤201中、获取被测目标的待修正图像，其中，所述待修正图像包括第一组图像和第二组图像，所述第一组图像表示所述被测目标在第一指定温度下的第一指定数量的图像，所述第二组图像表示所述被测目标在第二指定温度下的第二指定数量的图像，所述第二指定温度不同于所述第一指定温度。
在步骤202中、获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
在步骤203中、基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正；
在本实施例中，步骤203可以包括：基于所述参考图像分别对所述第一组图像中的各个图像进行照明分布的修正，以及，基于所述参考图像分别对所述第二组图像中的各个图像进行照明分布的修正；
在步骤204中、计算修正后的所述第一组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第一均值；
在步骤205中、计算修正后的所述第二组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第二均值；
在本发明实施例中，相应像素是指在各图像上位置一致的像素点，在被测目标的待修正图像上或者修正后的图像上，每个像素都对应有一个值，该值该值可以通过测量或读数直接得到，例如可以以每个像素的灰度值来表示。
在步骤206中、根据所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度确定所述被测目标的光热反射系数。
可选的，上述步骤206具体可以为：将所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度输入预设的第一公式，计算所述被测目标的光热反射系数，其中，所述第一公式为：
其中，CTR表示所述被测目标的光热反射系数，T2表示所述第二指定温度，T1表示所述第一指定温度，
表示所述第二均值，
表示所述第一均值。
示例性的，所述第一指定温度可以为50摄氏度，所述第二指定温度可以为100摄氏度，所述第一指定数量与所述第二指定数量可以均为2000帧。具体过程可以如下：
将被测目标置于显微镜下，对关心区域清晰成像，调节照明强度使相机数度处于较高水平但不至于发生饱和。使用控温平台调节被测目标温度至50℃，待热平衡后开始测量，并对图像的每个像素数据c1(p)根据修正公式
进行修正，其中b(p)为参考目标的像素数据。连续测量2000帧，并对修正后的数据c‘1(p)进行图像配准以补偿振动和热对流的影响，然后对每个像素的数据取平均记为
使用控温平台调节被测目标温度至100℃，待热平衡后开始测量，并对图像的每个像素数据c2(p)根据修正公式
进行修正，其中b(p)为参考目标的像素数据。连续测量2000帧，并对修正后的数据c‘2(p)进行图像配准以补偿振动和热对流的影响，然后对每个像素的数据取平均记为
根据公式
可以计算被测目标的光热反射系数。
本实施例为将照明分布的修正用于光热反射系数校准的过程，通过对被测目标进行两次不同指定温度下的测量，来计算被测目标的光热反射系数。通过对测量过程中得到的显微热图像进行照明分布的修正，减小误差、提高测量计算得到的光热反射系数的准确性。
由上可知，本发明通过获取被测目标的待修正图像，并利用与所述待修正图像相同的光照度分布条件下获取的参考目标的参考图像为照明分布的参考依据，对待修正图像进行照明分布的修正，从而对待修正图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行了修正，本发明可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行照明分布的修正，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
图3示出了本发明又一实施例提供的图像照明分布的修正方法的实现流程图，详述如下：
在步骤301中、获取被测目标的待修正图像，其中，所述待修正图像包括第三组图像和第四组图像，其中，所述第三组图像表示所述被测目标在第三指定温度下的第三指定数量的图像，所述第四组图像表示所述被测目标在待测温度下的第四指定数量的图像；
在步骤302中、获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像
在步骤303中、基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正；
具体的，可以基于所述参考图像分别对所述第三组图像中的各个图像进行照明分布的修正，以及，基于所述参考图像分别对所述第四组图像中的各个图像进行照明分布的修正。
在步骤304中、计算修正后的所述第三组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第三均值；
在步骤305中、计算修正后的所述第四组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第四均值；
在本发明实施例中，相应像素是指在各图像上位置一致的像素点，在被测目标的待修正图像上或者修正后的图像上，每个像素都对应有一个值，该值该值可以通过测量或读数直接得到，例如可以以每个像素的灰度值来表示。
在步骤306中、根据所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述指定测量点的光热反射系数确定所述被测目标的待测温度。
可选的，上述步骤306可以包括：将所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述被测目标的光热反射系数输入预设的第二公式，计算所述被测目标的待测温度，其中，所述第二公式为：
其中，Tx表示所述待测温度，T3表示所述第三指定温度，
表示所述第四均值，
表示所述第三均值。
示例性的，所述第三指定温度可以为30摄氏度，所述第一指定数量与所述第二指定数量可以均为1000帧。具体过程可以如下：
将被测目标置于显微镜下，对关心区域清晰成像，调节照明强度使相机数度处于较高水平但不至于发生饱和。使用控温平台调节被测目标温度至30℃，待热平衡后开始测量，并对图像的每个像素数据c3(p)根据修正公式
进行修正，其中b(p)为参考目标的像素数据。连续测量1000帧，并对修正后的数据c‘3(p)进行图像配准以补偿振动和热对流的影响，然后对每个像素的数据取平均记为
在待测温度下，对被测目标的显微热图像的每个像素数据cx(p)根据修正公式
进行修正，其中b(p)为参考目标的像素数据。连续测量1000帧，并对修正后的数据c‘x(p)进行图像配准以补偿振动和热对流的影响，然后对每个像素的数据取平均记为
根据公式
计算待测温度，其中，CTR表示被测目标的光热反射系数，可以基于图2所示实施例得到，在此不再赘述。
本实施例为将照明分布的修正用于测量和计算待测温度的过程，通过对被测目标进行两组测量(一组为第三指定温度下的测量，一组为待测温度下的测量)，来计算被测目标的待测温度。通过对测量过程中得到的显微热图像进行照明分布的修正，减小误差、提高测量计算得到的待测温度的准确性。
由上可知，本发明通过获取被测目标的待修正图像，并利用与所述待修正图像相同的光照度分布条件下获取的参考目标的参考图像为照明分布的参考依据，对待修正图像进行照明分布的修正，从而对待修正图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行了修正，本发明可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行照明分布的修正，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
以下为本发明的装置实施例，对于其中未详尽描述的细节，可以参考上述对应的方法实施例。
图4示出了本发明实施例提供的图像照明分布的修正装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
如图4所示，图像照明分布的修正装置4包括：第一获取单元41，第二获取单元42和照明分布修正单元43。
第一获取单元41，用于获取被测目标的待修正图像；
第二获取单元42，用于获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
照明分布修正单元43，用于基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。
可选的，所述待修正图像包括第一组图像和第二组图像，所述第一组图像表示所述被测目标在第一指定温度下的第一指定数量的图像，所述第二组图像表示所述被测目标在第二指定温度下的第二指定数量的图像，所述第二指定温度不同于所述第一指定温度；
相应的，照明分布修正单元43还用于，分别对所述第一组图像中的各图像进行照明分布的修正，以及，分别对所述第二组图像中的各图像进行照明分布的修正；
相应的，图像照明分布的修正装置4还包括：
第一计算单元，用于计算修正后的所述第一组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第一均值；
第二计算单元，用于计算修正后的所述第二组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第二均值；
光热反射系数确定单元，用于根据所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度确定所述被测目标的光热反射系数。
可选的，光热反射系数确定单元具体用于，将所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度输入预设的第一公式，计算所述被测目标的光热反射系数，其中，所述第一公式为：
其中，CTR表示所述被测目标的光热反射系数，T2表示所述第二指定温度，T1表示所述第一指定温度，
表示所述第二均值，
表示所述第一均值。
可选的，所述待修正图像包括第三组图像和第四组图像，所述第三组图像表示所述被测目标在第三指定温度下的第三指定数量的图像，所述第四组图像表示所述被测目标在待测温度下的第四指定数量的图像；
相应的，照明分布修正单元43还用于，分别对所述第三组图像中的各图像进行照明分布的修正，以及，分别对所述第四组图像中的各图像进行照明分布的修正；
相应的，图像照明分布的修正装置4还包括：
第三计算单元，用于计算修正后的所述第三组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第三均值；
第四计算单元，用于计算修正后的所述第四组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第四均值；
待测温度确定单元，用于根据所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述指定测量点的光热反射系数确定所述被测目标的待测温度。
可选的，待测温度确定单元具体用于，将所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述被测目标的光热反射系数输入预设的第二公式，计算所述被测目标的待测温度，其中，所述第二公式为：
其中，Tx表示所述待测温度，T3表示所述第三指定温度，
表示所述第四均值，
表示所述第三均值。
可选的，第二获取单元42具体用于，获取所述光照度分布条件下的所述参考目标的多个初始图像，并对所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
可选的，图像照明分布的修正装置4还包括：
滤波单元，用于在对所述多个初始图像进行多图像平均处理之前，根据预设的滤波权重对所述多个初始图像分别进行空间滤波处理；
相应的，第二获取单元42还用于，将进行空间滤波处理之后的所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
由上可知，本发明通过获取被测目标的待修正图像，并利用与所述待修正图像相同的光照度分布条件下获取的参考目标的参考图像为照明分布的参考依据，对待修正图像进行照明分布的修正，从而对待修正图像可能存在的照明分布不均匀的问题进行了修正，本发明可以用于对显微热成像获得的显微热图像进行照明分布的修正，有利于降低显微热图像由于照明分布不均匀引起的误差，提高通过显微热成像进行温度测量的准确性。
图5是本发明一实施例提供的终端的示意图。如图5所示，该实施例的终端5包括：处理器50、存储器51以及存储在所述存储器51中并可在所述处理器50上运行的计算机程序52。所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述各个图像照明分布的修正方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤101至步骤103。或者，所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图4所示单元41至43的功能。
示例性的，所述计算机程序52可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器51中，并由所述处理器50执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序52在所述终端5中的执行过程。例如，所述计算机程序52可以被分割成第一获取单元，第二获取单元和照明分布修正单元，各单元具体功能如下：
第一获取单元，用于获取被测目标的待修正图像；
第二获取单元，用于获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
照明分布修正单元，用于基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正。
所述终端5可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端可包括，但不仅限于，处理器50、存储器51。本领域技术人员可以理解，图5仅仅是终端5的示例，并不构成对终端5的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器50可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器51可以是所述终端5的内部存储单元，例如终端5的硬盘或内存。所述存储器51也可以是所述终端5的外部存储设备，例如所述终端5上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器51还可以既包括所述终端5的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器51用于存储所述计算机程序以及所述终端所需的其他程序和数据。所述存储器51还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种图像照明分布的修正方法，其特征在于，包括：
获取被测目标的待修正图像；
获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正；
其中，对于待修正图像上的每个像素点p，其对应的测量数据为c(p)，则该像素点对应的照明分布参考依据记为b(p)，以参考图像上的各像素点对应的照明分布参考数据对待修正图像进行照明分布的修正，得到修正后的数据c‘(p)，则
所述待修正图像包括第一组图像和第二组图像，所述第一组图像表示所述被测目标在第一指定温度下的第一指定数量的图像，所述第二组图像表示所述被测目标在第二指定温度下的第二指定数量的图像，所述第二指定温度不同于所述第一指定温度；
计算修正后的所述第一组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第一均值；计算修正后的所述第二组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第二均值；
根据所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度确定所述被测目标的光热反射系数；包括：将所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度输入预设的第一公式，计算所述被测目标的光热反射系数，其中，所述第一公式为：
其中，CTR表示所述被测目标的光热反射系数，T2表示所述第二指定温度，T1表示所述第一指定温度，
表示所述第二均值，
表示所述第一均值。
2.根据权利要求1所述的图像照明分布的修正方法，其特征在于，所述待修正图像包括第三组图像和第四组图像，所述第三组图像表示所述被测目标在第三指定温度下的第三指定数量的图像，所述第四组图像表示所述被测目标在待测温度下的第四指定数量的图像；
相应的，在基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正之后还包括：
计算修正后的所述第三组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第三均值；
计算修正后的所述第四组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第四均值；
根据所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述指定测量点的光热反射系数确定所述被测目标的待测温度。
3.根据权利要求2所述的图像照明分布的修正方法，其特征在于，所述根据所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述指定测量点的光热反射系数确定所述被测目标的待测温度包括：
将所述第三均值、所述第四均值、所述第三指定温度以及预先测量的所述被测目标的光热反射系数输入预设的第二公式，计算所述被测目标的待测温度，其中，所述第二公式为：
其中，Tx表示所述待测温度，T3表示所述第三指定温度，
表示所述第四均值，
表示所述第三均值。
4.根据权利要求1至3任一项所述的图像照明分布的修正方法，其特征在于，所述获取参考图像包括：
获取所述光照度分布条件下的所述参考目标的多个初始图像；
对所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
5.根据权利要求4所述的图像照明分布的修正方法，其特征在于，在对所述多个初始图像进行多图像平均处理之前还包括：
根据预设的滤波权重对所述多个初始图像分别进行空间滤波处理；
将进行空间滤波处理之后的所述多个初始图像进行多图像平均处理，得到所述参考图像。
6.一种图像照明分布的修正装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，用于获取被测目标的待修正图像；
第二获取单元，用于获取参考图像，其中，所述参考图像为在与所述待修正图像相同的光照度分布条件下得到的参考目标的图像；
照明分布修正单元，用于基于所述参考图像对所述待修正图像进行照明分布的修正；
其中，对于待修正图像上的每个像素点p，其对应的测量数据为c(p)，则该像素点对应的照明分布参考依据记为b(p)，以参考图像上的各像素点对应的照明分布参考数据对待修正图像进行照明分布的修正，得到修正后的数据c‘(p)，则
所述待修正图像包括第一组图像和第二组图像，所述第一组图像表示所述被测目标在第一指定温度下的第一指定数量的图像，所述第二组图像表示所述被测目标在第二指定温度下的第二指定数量的图像，所述第二指定温度不同于所述第一指定温度；
计算修正后的所述第一组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第一均值；计算修正后的所述第二组图像中的各个图像上的相应像素的均值，记为第二均值；
根据所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度确定所述被测目标的光热反射系数；包括：将所述第一均值、所述第二均值、所述第一指定温度以及所述第二指定温度输入预设的第一公式，计算所述被测目标的光热反射系数，其中，所述第一公式为：
其中，CTR表示所述被测目标的光热反射系数，T2表示所述第二指定温度，T1表示所述第一指定温度，
表示所述第二均值，
表示所述第一均值。
7.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上的权利要求1至5中任一项所述图像照明分布的修正方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如上的权利要求1至5中任一项所述图像照明分布的修正方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910596737.7A CN110310245B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910596737.7A CN110310245B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110310245A CN110310245A (zh) | 2019-10-08 |
| CN110310245B true CN110310245B (zh) | 2021-10-15 |
Family
ID=68079022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910596737.7A Active CN110310245B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110310245B (zh) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111337142A (zh) * | 2020-04-07 | 2020-06-26 | 北京迈格威科技有限公司 | 体温修正方法、装置及电子设备 |
| CN112097951B (zh) * | 2020-08-26 | 2022-06-10 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 光热反射显微热成像装置及漂移修正方法 |
| CN113858797B (zh) * | 2021-09-18 | 2023-03-14 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 故障点确定方法、装置、终端及存储介质 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101833755A (zh) * | 2010-04-29 | 2010-09-15 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种光纤束传像系统中非均匀性校正的方法 |
| CN104779325A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 先进科技新加坡有限公司 | Led测试流程和为此的修正方法 |
| CN107976263A (zh) * | 2017-11-16 | 2018-05-01 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 光热反射测温方法及系统 |
| CN109813435A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-05-28 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7444260B2 (en) * | 2006-09-25 | 2008-10-28 | Raad Peter E | Thermography measurement system for conducting thermal characterization of integrated circuits |
| US9878804B2 (en) * | 2013-10-21 | 2018-01-30 | Eric Olsen | Systems and methods for producing temperature accurate thermal images |
| JP6816572B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2021-01-20 | 株式会社リコー | 色測定装置、色測定方法及びプログラム |
-
2019
- 2019-07-02 CN CN201910596737.7A patent/CN110310245B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101833755A (zh) * | 2010-04-29 | 2010-09-15 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种光纤束传像系统中非均匀性校正的方法 |
| CN104779325A (zh) * | 2014-01-10 | 2015-07-15 | 先进科技新加坡有限公司 | Led测试流程和为此的修正方法 |
| CN107976263A (zh) * | 2017-11-16 | 2018-05-01 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 光热反射测温方法及系统 |
| CN109813435A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-05-28 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 静态光反射显微热成像方法、装置及终端设备 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 半导体器件用显微红外热成像技术原理及应用;翟玉卫等;《计测技术》;20180612;第38卷(第6期);53-60页 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN110310245A (zh) | 2019-10-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110310245B (zh) | 图像照明分布的修正方法、修正装置及终端 | |
| CN110793635B (zh) | 热成像测温方法、装置及终端设备 | |
| CN110310272B (zh) | 图像配准方法及终端设备 | |
| JP4987414B2 (ja) | 電光画像処理システムを調整する方法及び装置 | |
| CN109003312B (zh) | 一种基于非线性优化的相机标定方法 | |
| CN110335204B (zh) | 一种热成像图像增强方法 | |
| CN110858872A (zh) | 光轴偏移补偿方法及装置 | |
| CN103389310B (zh) | 一种基于辐射标定的亚像素光学元件损伤在线检测方法 | |
| US8481918B2 (en) | System and method for improving the quality of thermal images | |
| TWI468658B (zh) | 鏡頭檢測裝置及方法 | |
| CN110207842B (zh) | 亚像素级边缘效应的修正方法及终端设备 | |
| CN112345090A (zh) | 点目标红外辐射测量的方法、设备及可读存储介质 | |
| CN114018416A (zh) | 一种热红外相机辐射定标方法及系统 | |
| CN110335219B (zh) | 一种像素畸变的校正方法、校正装置及终端 | |
| CN116614620B (zh) | 一种高像素光学镜头组装设备及控制方法 | |
| CN107085843B (zh) | 用于估计光学系统中的调制传递函数的系统和方法 | |
| US20230036090A1 (en) | Three-Dimensional Displacement Compensation Method for Microscopic Thermoreflectance Thermography and Control Device | |
| CN110298834B (zh) | 像素级边缘效应的修正方法及终端设备 | |
| CN112040224A (zh) | 校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备 | |
| US20220237824A1 (en) | Distortion calibration method for ultra-wide angle imaging apparatus, system and photographing device including same | |
| CN110111277B (zh) | 一种平面热像图修补方法及装置 | |
| CN114993505A (zh) | 实现热反射成像测温的自动重聚焦的方法和装置 | |
| Chung | Improved least-squares method for phase-to-height relationship in fringe projection profilometry | |
| CN113884188A (zh) | 一种温度检测方法、装置及电子设备 | |
| CN115200721A (zh) | 一种热反射显微热成像膨胀补偿方法、装置及电子设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |