CN110308336A - 一种电介质加载D-dot电场测量传感器 - Google Patents

一种电介质加载D-dot电场测量传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN110308336A
CN110308336A CN201910599231.1A CN201910599231A CN110308336A CN 110308336 A CN110308336 A CN 110308336A CN 201910599231 A CN201910599231 A CN 201910599231A CN 110308336 A CN110308336 A CN 110308336A
Authority
CN
China
Prior art keywords
dielectric
electric field
dipole
field measurement
dot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910599231.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110308336B (zh
Inventor
王彬文
宁辉
张守龙
曹成云
燕有杰
成真伯
施磊
姚佳伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chinese People's Liberation Army 63660
Original Assignee
Chinese People's Liberation Army 63660
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chinese People's Liberation Army 63660 filed Critical Chinese People's Liberation Army 63660
Priority to CN201910599231.1A priority Critical patent/CN110308336B/zh
Publication of CN110308336A publication Critical patent/CN110308336A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110308336B publication Critical patent/CN110308336B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0878Sensors; antennas; probes; detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本发明公开了一种电介质加载D‑dot电场测量传感器,其由一个棒状偶极子(1)与电介质加载层(2)组成。本发明的传感器可等效具有相同外轮廓面的磁介质加载D‑dot传感器,其由偶极子(3)和磁介质加载层(4)组成,偶极子(3)的轮廓面与电介质加载层(2)的外轮廓面相似,进而可以直接等效为偶极子(3)完成电场测量。所述的电介质加载D‑dot电场测量传感器的电介质加载层(2)可拆卸,可通过在棒状偶极子(1)上更换不同轮廓面、不同电介质的具有旋转对称结构的电介质加载层(2),等效与之具有相似轮廓面的具有不同测量特点的金属D‑dot电场测量传感器(3)。

Description

一种电介质加载D-dot电场测量传感器
技术领域
本发明属于电磁场测量技术领域,具体涉及一种电场测量传感器。
背景技术
电磁场测量始于二十世纪六十年代。常用的电场测量天线有TEM喇叭天线、圆锥天线及D-dot传感器等。其中,D-dot传感器具有结构简单体积较小,灵活轻便对待测电场的扰动非常小且波形保真性好等诸多优点,受到了国内外学者们的青睐。
实质上D-dot传感器是一种电小天线,传感单元可等效为一个集总电容,等效电容与电阻性传输电缆相连接输出电压信号。其工作原理为:D-dot传感器传感单元的金属表面通过静电感应原理产生感应电荷,感应电荷随时间变化可等效为与传感单元之间等效电容相并联的等效电流源,其电流大小与待测电场的微分成正比,比例系数为传感单元的等效电容与传感器有效高度的乘积。电流流经等效电容与匹配负载组成的并联回路,在匹配负载上产生感应电压信号并输出。当满足一定条件时,感应电压的大小与待测电场的微分成正比,比例系数为传感单元的等效电容与传感器等效高度以及匹配负载电阻值的乘积。
根据不同的测量需求,在普通棒状短偶极子天线的基础上演变出来多种不同结构形式的D-dot传感器,例如空心球偶极子、渐进圆锥偶极子、以及双锥偶极子等多种类型。不同结构的D-dot传感器具有不同的测量优点,例如空心球偶极子结构简单,便于制作;渐进圆锥偶极子传感器上限工作频率大、等效电容与有效面积可精确计算,可作为短电磁脉冲标准传感器等。
在实际电场测量中,不同场合不同电平的电场测量需求需采用不同形式不同测量优点的D-dot电场测量传感器。加工多种不同结构形式的D-dot传感器一方面成本较高,有些类型的传感器可能只使用一次,另一方面馈电结构加工会带来很大的测量不确定性。此外,在一些特殊场合,例如狭小空间的低电平电场测量,需要体积更小灵敏度更高的D-dot传感器,即在体积不变的情况下增大等效电容。
相较而言,电介质加载短偶极子是一种优选的传感器。电介质加载技术在天线领域广泛应用,电介质加载不仅可以防止天线受到腐蚀,也是天线小型化的重要手段,同时电介质加载还可以在不增大短偶极子天线长度的同时提高其等效电容,从而改善天线的测量灵敏度。
综上所述,有必要研究设计一种可等效大多数D-dot电场测量传感器的短偶极子天线,来尽可能的降低生产加工成本,又能兼顾不同结构形式D-dot传感器的测量优点,并能减小由于馈电结构加工带来的测量误差,还能根据测量场合与待测电场水平高低调节测量灵敏度,以此来满足不同电场水平、不同场合的电场测量需求。
发明内容
本发明的目的就是解决加工多种不同结构形式的D-dot传感器成本高,馈电结构加工影响测量结果的技术问题。为此本发明提供一种电介质加载D-dot 电场测量传感器,通过在棒状偶极子上更换不同介质材料、不同轮廓面的电介质加载层来等效目前大部分具有旋转对称结构的D-dot传感器,以此来满足不同电平、不同场合的电场测量需求。
为解决上述技术问题达到上述技术效果,本发明的技术方案如下:
一种电介质加载D-dot电场测量传感器,包括棒状偶极子(1)、电介质加载层(2);
所述棒状偶极子(1)的各极子由金属材料制成的圆柱形构成;
所述电介质加载层(2)为旋转对称结构即横截面为圆环形,与棒状偶极子 (1)相配合,且电介质加载层(2)的圆环形横截面内径与棒状偶极子(1)的半径相同;
所述的棒状偶极子(1)与电介质加载层(2)可拆卸,并通过更换不同轮廓面的电介质加载层(2)以等效具有不同轮廓面、不同测量特点的金属D-dot 传感器。
进一步地,电介质加载层(2)的长度小于或等于棒状偶极子(1)的长度。
进一步地,电介质加载层(2)的横截面圆环形外径为常数或随长度变化。
进一步地,所述电介质加载层(2)的电介质材料相对介电常数的取值范围为1<εrd<10,相对磁导率为1。
进一步地,所述的棒状偶极子(1)的径长比不大于1/50,且棒状偶极子(1) 加工完成后可作为一系列介质加载D-dot电场测量传感器的基础组成单元。
进一步地,所述的电介质加载层(2)的外径与内径之比小于3εrd
进一步地,本发明对单极子传感器同样适用。
进一步地,所述电介质加载层(2)外轮廓面包括但不限于圆柱状、半球状、渐近圆锥状、圆锥状等。
本发明的有效收益如下:
1、本发明所提出的电介质加载D-dot电场测量传感器,可通过基础棒状偶极子与不同轮廓面、不同电介质的介质加载层相组合,等效目前大多数具有旋转对称结构的D-dot电场测量传感器;
2、本发明中提出的电介质加载D-dot电场测量传感器,在使用中棒状偶极子天线作为传感器的基本组成单元保持不变,因此避免了由于馈电结构带来的测量不确定性;
3、本发明所提出的电介质加载D-dot电场测量传感器,可通过在基础棒状偶极子天线的基础上更换具有不同电介质、不同轮廓面的介质加载层,满足不同电场水平、不同场合的电场测量需求,而无须加工多种不同结构形式和测量优点的D-dot传感器。
附图说明
图1为本发明电介质加载渐近圆锥D-dot传感器;
图1(a)为电介质加载的渐近圆锥D-dot传感器;
图1(b)为磁介质加载的渐近圆锥D-dot传感器;
图1(c)为渐近圆锥D-dot传感器;
图2为本发明电介质加载D-dot电场测量传感器
图2(a)为棒状偶极子;
图2(b)为圆柱形电介质加载D-dot传感器;
图2(c)渐近圆锥形电介质加载D-dot传感器;
图2(d)双锥型电介质加载D-dot传感器。
其中:1-棒状偶极子、2-电介质加载层、3-金属偶极子、4-磁介质加载层、 5-基本棒状偶极子、6-圆柱形介质加载层、7-渐近圆锥介质加载层、8-双锥形介质加载层。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行详细的阐述和说明。
本发明的一种电介质加载D-dot电场测量传感器属于电小天线,在电场测量中,一种电介质加载D-dot电场测量传感器可等效为一个集总电容。
参见本发明的图1,该图示出了本发明实施例中一种可以等效金属材料的渐近圆锥D-dot传感器的电介质加载D-dot传感器以及等效和设计的过程。
电介质加载的偶极子天线可通过准静态电磁学方法近似等效为磁介质加载的偶极子,对于用于电场测量的可视为电小天线的D-dot传感器,其本身可等效为一个集总电容,磁介质加载层并不影响传感器的等效电容,因此电介质加载的D-dot传感器可等效为无加载的具有相似轮廓面的金属D-dot传感器。
如图1(a)所示,本发明所示的电介质加载的D-dot传感器由棒状偶极子 1与电介质加载层2构成,电介质加载层为旋转对称结构,即横截面为圆环形,其电介质材料的相对介电常数为εrd,相对磁导率为1。
其中所述棒状偶极子1的各极子为由金属材料制成的圆柱形;所述电介质加载层2的电介质材料相对介电常数的取值范围为1<εrd<10,相对磁导率为1。棒状偶极子1的径长比不大于1/50,且棒状偶极子1加工完成后可作为一系列介质加载D-dot电场测量传感器的基础组成单元,半径为a0
所述的电介质加载层2是旋转对称结构,即横截面为圆环形,其外轮廓面包括但不限于圆柱状、半球状、渐近圆锥状、圆锥状等。所述的电介质加载层2 与棒状偶极子1相配合,电介质加载层2的横截面圆环形内径与棒状偶极子1 的半径相同,为a0;电介质加载层2的横截面圆环形外径可为常数,也可随天线长度变化,令一种电介质加载D-dot电场测量传感器沿z轴放置,电介质加载层2的外径曲线为b(z);根据等效原理,电介质加载层2的长度可小于或等于棒状偶极子1的长度,其中电介质加载层2的长度等于棒状偶极子1的长度,是比较理想的状态,如果电介质加载层的长度小于棒状偶极子的长度时,可以不限定电介质加载层在棒状偶极子上的加载位置,此时,所等效的金属D-dot 传感器同样与电介质加载D-dot电场测量传感器具有相似的轮廓面。所述的电介质加载层2的外径与内径之比小于3εrd
由此,本发明的电介质加载D-dot电场测量传感器可等效为与之具有相同轮廓面的磁介质加载D-dot电场测量传感器。所述的磁介质加载D-dot传感器,包括金属偶极子3和磁介质加载层4。其中磁介质加载层4为磁介质材料,相对磁导率为μrm,相对介电常数为1,μrm=εrd
金属偶极子3各极子是由金属制成的旋转对称结构,其具有与一种电介质加载D-dot传感器相似的轮廓面。金属偶极子3的外轮廓面曲线为:
磁介质加载层4的外轮廓面与电介质加载层2一致,磁介质加载层4的厚度随长度的变化曲线为:
t(z)=b(z)-a1(z) (2)
其中,磁介质加载D-dot传感器的磁介质加载层4并不影响金属偶极子3 的等效电容,即磁介质加载D-dot传感器在进行电场测量时可等效为金属偶极子3。
所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器在用于电场测量时可等效为金属偶极子3。
所述的棒状偶极子1与电介质加载层2可拆卸,并通过更换不同轮廓面的电介质加载层2以等效具有不同轮廓面、不同测量特点的金属D-dot传感器,即金属偶极子3来完成不同电平、不同场合的电场测量需求。
基于上述等效过程,实际设计中可先设计出金属D-dot电场测量传感器,然后选用合适的电介质材料来获得与之等效的电介质加载D-dot电场测量传感器。也可直接通过棒状偶极子与电介质加载层的组合来获得具有不同结构、不同测量特点的金属D-dot电场测量传感器。下面通过具体实施例,进一步的说明阐释本发明。
实施例1:
通过等效电荷法设计了一种渐近圆锥D-dot电场测量传感器,即图1(c) 中的渐近圆锥偶极子3。其单个极子长度为6.505mm,上下顶点高度分别为0.828 mm与7.333mm,最宽处半径为1.569mm,外轮廓面随极子长度的变化曲线为 a1(z)。
基于上述等效原理,可将所设计的渐近圆锥D-dot电场测量传感器等效为电介质加载D-dot电场测量传感器,其组成如图1(a)所示,由棒状偶极子1和电介质加载层2组成。棒状偶极子1的半径为a0=0.1mm。
为实现上述目的,在所设计的渐近圆锥偶极子3的外部增加磁介质加载层4,磁介质加载层的材料相对磁导率为7,相对介电常数为1,所加载的磁介质加载层并不影响D-dot传感器的等效电容。其中,磁介质加载层4的外轮廓面b(z) 可根据式(1)获得。
所得的磁介质加载D-dot电场测量传感器参见图1(b),由金属材料制成的渐近圆锥偶极子3与磁介质加载层4组成。磁介质加载层4的磁介质材料的相对介电常数为1,相对磁导率为7;长度与渐近圆锥偶极子3的长度一致,上下顶点高度分别为0.828mm与7.333mm,磁介质套筒最宽处外径为2.483mm。根据发明内容中的等效原理,磁介质加载D-dot电场测量传感器可等效为电介质加载D-dot电场测量传感器,参见图1(a)。所等效的电介质加载D-dot电场测量传感器由金属材料制成的棒状偶极子1与近似渐近圆锥状的电介质加载层2组成。棒状偶极子1的半径为0.1mm,单个极子长度为6.505mm,上下顶点高度分别为0.828mm与7.333mm;电介质加载层2的电介质材料相对介电常数与磁介质加载层相对磁导率相同,为7;电介质加载层材料相对磁导率为1,其横截面为圆环形,圆环形外径随极子长度变化,为一条渐近圆锥曲线,外轮廓面曲线与磁介质加载层4外轮廓面曲线相同,均为b(z),电介质加载层最宽处外径为2.483mm,电介质加载层最宽处的厚度为2.383mm。
实施例2:
参见图2(a),该图示出了基本棒状偶极子5,其高度为17.715mm,上下顶点高度分别为20.000mm与2.285mm,半径为0.2mm。
图2实施例中,所加载的圆柱形介质加载层6、渐进圆锥介质加载层7以及双锥形介质加载层8的材料均为相对介电常数为7、相对磁导率为1的电介质材料。
基于上述等效原理,本实施例中,图2(b)中圆柱形介质加载层6的外径为1.000mm,其与图2(b)中棒状偶极子5组合,可等效高度为17.715mm,上下顶点高度分别为20.000mm与2.285mm,半径为0.795mm的由金属材料制成的圆柱形D-dot传感器。
基于上述等效原理,本实施例中,图2(c)中的渐近圆锥介质加载层7最宽处外径为6.239mm,其与图2(c)中棒状偶极子5组合,可等效高度为17.715 mm,上下顶点高度分别为20.000mm与2.285mm,最宽处为3.817mm的由金属材料制成的渐近圆锥D-dot传感器。
基于上述等效原理,本实施例中,图2(d)中的双锥形介质加载层8的母线与对称轴之间的夹角为30°,其与图2(d)中的棒状偶极子5组合,可等效高度为17.715mm,上下顶点高度分别为20.000mm与2.285mm,上顶点高度位置处半径为5.830mm,母线与对称轴夹角约为18°的由金属材料制成的近似双锥形D-dot传感器。
实施例2则与实施例1相反,直接通过棒状偶极子和不同外轮廓面的电介质加载层相配合,获得多个不同外轮廓面的金属D-dot传感器。
实际使用过程中,根据不同的电场测量需求,选用不同结构形式的电介质加载层,将其与基本偶极子相组合,获得与相应金属D-dot传感器具有相似优点的D-dot传感器,来完成不同电平、不同场合的电场测量。

Claims (8)

1.一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,包括棒状偶极子(1)、电介质加载层(2);
所述棒状偶极子(1)的各极子由金属材料制成的圆柱形构成;
所述电介质加载层(2)为旋转对称结构即横截面为圆环形,与棒状偶极子(1)相配合,且电介质加载层(2)的圆环形横截面内径与棒状偶极子(1)的半径相同;
所述的棒状偶极子(1)与电介质加载层(2)可拆卸,并通过更换不同轮廓面的电介质加载层(2)以等效具有不同轮廓面、不同测量特点的金属D-dot传感器。
2.如权利要求1所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述电介质加载层(2)的长度小于或等于棒状偶极子(1)的长度。
3.如权利要求1所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述电介质加载层(2)的横截面圆环形外径为常数或随长度变化。
4.如权利要求1所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述电介质加载层(2)的电介质材料相对介电常数的取值范围为1<εrd<10,相对磁导率为1。
5.如权利要求1所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述的棒状偶极子(1)的径长比不大于1/50,且棒状偶极子(1)加工完成后可作为一系列介质加载D-dot电场测量传感器的基础组成单元。
6.如权利要求1所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述的电介质加载层(2)的外径与内径之比小于3εrd
7.如权利要求1-6任一权利要求所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,所述电介质加载层(2)外轮廓面包括但不限于圆柱状、半球状、渐近圆锥状、圆锥状等。
8.如权利要求7所述的一种电介质加载D-dot电场测量传感器,其特征在于,
对于单极子传感器同样适用。
CN201910599231.1A 2019-07-04 2019-07-04 一种电介质加载D-dot电场测量传感器 Active CN110308336B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910599231.1A CN110308336B (zh) 2019-07-04 2019-07-04 一种电介质加载D-dot电场测量传感器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910599231.1A CN110308336B (zh) 2019-07-04 2019-07-04 一种电介质加载D-dot电场测量传感器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110308336A true CN110308336A (zh) 2019-10-08
CN110308336B CN110308336B (zh) 2021-05-07

Family

ID=68079128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910599231.1A Active CN110308336B (zh) 2019-07-04 2019-07-04 一种电介质加载D-dot电场测量传感器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110308336B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111537808A (zh) * 2020-04-28 2020-08-14 中国人民解放军63660部队 一种基于水介质的超宽谱高功率微波传感器

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1338133A (zh) * 1998-12-29 2002-02-27 赛伦特尔有限公司 一种天线
WO2006001394A1 (ja) * 2004-06-24 2006-01-05 Sony Corporation 機能性分子素子及び機能性分子装置
CN101343656A (zh) * 2008-08-22 2009-01-14 重庆大学 一种基于绝缘体上硅结构的细胞分离微芯片
CN101926046A (zh) * 2008-01-23 2010-12-22 维旺医药公司 扼流电介质加感电极端偶极微波天线
US20110248900A1 (en) * 2009-06-17 2011-10-13 De Rochemont L Pierre Frequency-selective dipole antennas
CN103217571A (zh) * 2013-03-22 2013-07-24 重庆大学 差分式D-dot电压互感器及其电压检测方法
CN104636693A (zh) * 2013-11-11 2015-05-20 恩智浦有限公司 用于销售点终端应用的uhf-rfid天线
CN106249024A (zh) * 2016-07-01 2016-12-21 重庆大学 基于D‑dot电场传感器的输电线路电压测量方法
CN107078385A (zh) * 2014-03-26 2017-08-18 汤姆森许可公司 具有电介质加载的天线结构
CN108646152A (zh) * 2018-05-11 2018-10-12 哈动国家水力发电设备工程技术研究中心有限公司 一种极化/去极化电流法检测评估定子线棒绝缘老化状态的方法
CN208272144U (zh) * 2018-05-31 2018-12-21 北京邮电大学 介质加载实现宽带基站天线波束收敛的装置

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1338133A (zh) * 1998-12-29 2002-02-27 赛伦特尔有限公司 一种天线
WO2006001394A1 (ja) * 2004-06-24 2006-01-05 Sony Corporation 機能性分子素子及び機能性分子装置
CN101926046A (zh) * 2008-01-23 2010-12-22 维旺医药公司 扼流电介质加感电极端偶极微波天线
CN101343656A (zh) * 2008-08-22 2009-01-14 重庆大学 一种基于绝缘体上硅结构的细胞分离微芯片
US20110248900A1 (en) * 2009-06-17 2011-10-13 De Rochemont L Pierre Frequency-selective dipole antennas
US20160006127A1 (en) * 2009-06-17 2016-01-07 L. Pierre de Rochemont Frequency-selective dipole antennas
CN103217571A (zh) * 2013-03-22 2013-07-24 重庆大学 差分式D-dot电压互感器及其电压检测方法
CN104636693A (zh) * 2013-11-11 2015-05-20 恩智浦有限公司 用于销售点终端应用的uhf-rfid天线
CN107078385A (zh) * 2014-03-26 2017-08-18 汤姆森许可公司 具有电介质加载的天线结构
CN106249024A (zh) * 2016-07-01 2016-12-21 重庆大学 基于D‑dot电场传感器的输电线路电压测量方法
CN108646152A (zh) * 2018-05-11 2018-10-12 哈动国家水力发电设备工程技术研究中心有限公司 一种极化/去极化电流法检测评估定子线棒绝缘老化状态的方法
CN208272144U (zh) * 2018-05-31 2018-12-21 北京邮电大学 介质加载实现宽带基站天线波束收敛的装置

Non-Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SANTAMARIA, F.等: "PPPS-2013: ELECTRIC FIELD SENSORS EFFECT ON PULSED POWER MEASUREMENTS", 《2013 ABSTRACTS IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON PLASMA SCIENCE》 *
YAN YOU-JIE等: "E-field Generation Setup for UWB-SP Sensor Calibration", 《2012 IEEE》 *
YOUJIE YAN等: "Study of the time-domain electromagnetic pulse standard field generation setup and its application", 《AIP PUBLISHING》 *
张宇等: "D-dot场式电压传感器试验系统", 《重庆大学学报》 *
王启武等: "纳秒电磁脉冲测量用D-dot探头设计及实验", 《强激光与粒子束》 *
马自龙等: "基于波导结构的紧凑型电介质加载双极化天线研究", 《南京信息工程大学学报(自然科学版)》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111537808A (zh) * 2020-04-28 2020-08-14 中国人民解放军63660部队 一种基于水介质的超宽谱高功率微波传感器

Also Published As

Publication number Publication date
CN110308336B (zh) 2021-05-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108594023A (zh) 基于渐变型同轴谐振腔的材料复介电常数测试系统及方法
CN103969690B (zh) 一种磁场传感器
CN101413922A (zh) 阵列式柔性涡流探头高灵敏度无损检测方法及其探头装置
CN101201368A (zh) 一种宽频开尔文双电桥及测量方法、自控系统及方法和应用
CN105548283A (zh) 单一平面电容测量板及电容式检测装置
CN103499022A (zh) 一种区分管道内外表面腐蚀缺陷的传感器
CN110308336A (zh) 一种电介质加载D-dot电场测量传感器
CN108351262A (zh) 用于非接触式检测转矩、扭转固有频率和/或扭转振动的装置和方法
CN205263204U (zh) 瞬态电场传感器
CN109031166B (zh) 一种磁探针装置
CN103940493A (zh) 基于计算电容原理的新型电容式液位传感器及其应用
CN103123400A (zh) 一种高精度金属检测传感器装置
CN107607893B (zh) 一种高平坦度中强磁场测量线圈的设计方法
Brown Jr et al. The Fluxball A Test Coil for Point Measurements of Inhomogeneous Magnetic Fields
CN110865096A (zh) 一种旋流状态下射频含水率测量仪及方法
CN101393461A (zh) 射频导纳物位控制器
CN104062355B (zh) 涡流线圈中心校准装置及校准方法
CN103486956B (zh) 一种实现高精度测量竖直移动方向的装置及方法
CN108007980A (zh) 一种润滑油品质检测电容传感探头
CN203930030U (zh) 瞬态磁场微分传感器
CN208537619U (zh) 新型电压互感器
CN202938780U (zh) 基于电磁检测原理的提高间隙测量范围与线性度的装置
CN207851157U (zh) 利用电阻分压器采集对比电流信号的高压介损测试装置
CN102997836B (zh) 基于电磁检测原理的提高间隙测量范围与线性度的装置
CN207571188U (zh) 一种直流电流测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant