CN110287077B - 一种性能测试方法、电子设备及存储介质 - Google Patents

一种性能测试方法、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN110287077B
CN110287077B CN201910556848.5A CN201910556848A CN110287077B CN 110287077 B CN110287077 B CN 110287077B CN 201910556848 A CN201910556848 A CN 201910556848A CN 110287077 B CN110287077 B CN 110287077B
Authority
CN
China
Prior art keywords
speed
read
storage medium
determining
physical storage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910556848.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110287077A (zh
Inventor
郝心
闫亚闯
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Kingsoft Internet Security Software Co Ltd
Original Assignee
Beijing Kingsoft Internet Security Software Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Kingsoft Internet Security Software Co Ltd filed Critical Beijing Kingsoft Internet Security Software Co Ltd
Priority to CN201910556848.5A priority Critical patent/CN110287077B/zh
Publication of CN110287077A publication Critical patent/CN110287077A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110287077B publication Critical patent/CN110287077B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2268Logging of test results
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273Test methods
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)

Abstract

本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质,用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能,以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题,该方法应用于设置有硬盘的电子设备,硬盘包括缓存和物理存储介质,包括:确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度;根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度;确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度;根据第一写速度确定硬盘的最大写速度;确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度;根据第一读速度确定硬盘的最大读速度;确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度;根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。可以提高性能测试的准确性。

Description

一种性能测试方法、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,具体涉及一种性能测试方法、电子设备及存储介质。
背景技术
硬盘是计算机、手机等电子设备的重要组成部分,因此,保证电子设备的硬盘具有良好的性能非常重要。由于不同规格的硬盘对应的缓存(cache)不同,因此,可以通过测试不同的缓存来测试不同硬盘的性能。然而,虽然不同规格的硬盘具有不同的缓存,但缓存不等同于硬盘,缓存的性能也不等同于硬盘的性能,以致降低了硬盘性能测试的准确性。
发明内容
本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质,用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能,以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题。
第一方面提供一种性能测试方法,所述方法应用于设置有硬盘的电子设备,所述硬盘包括缓存和物理存储介质,包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度;
确定对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度;
确定对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度;
根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度;
确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;
根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
作为一种可能的实施方式,所述确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度的加权平均确定为通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度包括:
确定对所述物理存储介质的随机写速度,得到第四写速度;
确定对所述物理存储介质的随机读速度,得到第四读速度;
根据所述第四写速度和所述第四读速度确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述确定对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度包括:
将第一数据集合中的数据顺序写入所述物理存储介质;
将所述第一数据集合的写入速度确定为对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
所述确定对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度包括:
从所述物理存储介质中顺序读取所述第一数据集合中的数据;
将所述第一数据集合的读取速度确定为对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度。
作为一种可能的实施方式,所述方法还包括:
根据所述硬盘对应用程序的读写速度、所述硬盘的最大写速度、所述硬盘的最大读速度以及所述文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告;
输出所述测试报告。
第二方面提供一种电子设备,所述电子设备设置有硬盘,所述硬盘包括缓存和物理存储介质,包括:
确定单元,用于确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度;
所述确定单元,还用于确定对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度;
所述确定单元,还用于确定对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度;
所述确定单元,还用于确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;
所述确定单元,还用于根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
作为一种可能的实施方式,所述确定单元确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述确定单元根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度的加权平均确定为通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述确定单元确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度包括:
确定对所述物理存储介质的随机写速度,得到第四写速度;
确定对所述物理存储介质的随机读速度,得到第四读速度;
根据所述第四写速度和所述第四读速度确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度。
作为一种可能的实施方式,所述确定单元确定对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度包括:
将第一数据集合中的数据顺序写入所述物理存储介质;
将所述第一数据集合的写入速度确定为对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
所述确定单元确定对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度包括:
从所述物理存储介质中顺序读取所述第一数据集合中的数据;
将所述第一数据集合的读取速度确定为对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度。
作为一种可能的实施方式,所述电子设备还包括:
生成单元,用于根据所述硬盘对应用程序的读写速度、所述硬盘的最大写速度、所述硬盘的最大读速度以及所述文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告;
输出单元,用于输出所述测试报告。
第三方面提供了一种电子设备,包括处理器和存储器,所述处理器和所述存储器相互连接,其中,所述存储器用于存储支持所述电子设备执行上述性能测试方法的计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述处理器被配置用于调用所述程序指令,执行本发明实施例第一方面或第一方面任一实施例提供的性能测试方法。
第四方面提供了一种存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行本发明实施例第一方面或第一方面任一实施例提供的性能测试方法。
第五方面提供了一种应用程序,该应用程序用于在运行时执行本发明实施例第一方面或第一方面任一实施例提供的性能测试方法。
本发明实施例中,设置有包括缓存和物理存储介质的硬盘的电子设备根据通过缓存对物理存储介质的读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度,根据对物理存储介质的顺序写速度确定硬盘的最大写速度,根据对物理存储介质的顺序读速度确定硬盘的最大读速度,根据对物理存储介质的随机读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。可见,不仅测试了缓存,而且测试物理存储介质,由它们共同结果来确定硬盘的性能,可以提高性能测试的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种性能测试方法的流程示意图;
图2是本发明实施例提供的另一种性能测试方法的流程示意图;
图3是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图;
图4是本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质,用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能,以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题。以下分别进行详细说明。
请参阅图1,图1是本发明实施例提供的一种性能测试方法的流程示意图。其中,该性能测试方法适用于设置有硬盘的电子设备。如图1所示,该性能测试方法可以包括以下步骤。
101、确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度,根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度。
硬盘包括缓存和物理存储介质,缓存为硬盘中暂时存放数据的地方。物理存储介质为硬盘中实际存放数据的介质,可以为盘片,也可以为芯片,还可以为其它具体同样功能的装置。
在需要测试硬盘性能的情况下,可以确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度,以便根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度。可以确定通过缓存对物理存储介质的随机写速度得到第二写速度,确定通过缓存对物理存储介质的随机读速度得到第二读速度,确定通过缓存对物理存储介质的顺序写速度得到第三写速度,确定通过缓存对物理存储介质的顺序读速度得到第三读速度,之后根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度。可以将第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度的加权平均确定为通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度。其中,此处的应用程序为一般的应用程序,有些特殊应用程序的读写是不经过缓存的。
具体地,可以将多个数据通过缓存随机写入物理存储介质,即这多个数据中第一数据的写入地址与第二数据的写入地址可以为连续地址,也可以为非连续地址,第一数据与第二数据为这多个数据中写入顺序相邻的两个数据。例如,可以将数据1写入物理存储介质的地址1,可以将数据2写入物理存储介质的地址2,数据1为数据2之前写入的前一个数据,地址1与地址2可以连续,也可以不连续,地址1与地址2是文件系统随机分配的,没有固定的规律。这多个数据的大小相同,大小可以为4096字节,也可以为其它值。之后可以将这多个数据的写入速度确定为硬盘的第二写入速度。写入速度即每秒的写入数据量。这多个数据的写入速度可以为这多个数据中所有数据的写入速度的平均值,也可以为这多个数据中最大的写入速度,还可以为这多个数据中最小的写入速度,还可以为这多个数据中重复次数最多的写入速度,还可以为这多个数据中的其它写入速度。
具体地,将这多个数据通过缓存随机写入物理存储介质之后,可以通过缓存从物理存储介质随机读取这多个数据,即这多个数据中第三数据的读取地址与第四数据的读取地址可以为连续地址,也可以为非连续地址,第三数据与第四数据为这多个数据中读取顺序相邻的两个数据。可以将这多个数据的读取速度确定为硬盘的第二读取速度。读取速度即每秒的读取数据量。这多个数据的读取速度可以为这多个数据中所有数据的读取速度的平均值,也可以为这多个数据中最大的读取速度,还可以为这多个数据中最小的读取速度,还可以为这多个数据中重复次数最多的读取速度,还可以为这多个数据中的其它读取速度。
其中,确定通过缓存对物理存储介质的顺序写速度得到第三写速度与上述确定第二写速度的过来类似,区别在于写入顺序相邻的两个数据的地址是连续的,即先写入一个数据,写完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着写入下一个数据,而不需要文件系统重新分配地址。确定通过缓存对物理存储介质的顺序读速度得到第三读速度的过程与上述确定第二读速度的过来类似,区别在于读取顺序相邻的两个数据的地址是连续的,即先读取一个数据,读完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着读下一个数据,而不需要文件系统重新分配地址。
102、确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度,根据第一写速度确定硬盘的最大写速度。
在执行步骤102-步骤104的过程中,缓存是关闭的,即缓存不可用,也即所有数据的写入和读取都不经过缓存。可以确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度,之后可以根据第一写速度确定硬盘的最大写速度。可以将第一数据集合中的数据顺序写入物理存储介质,将第一数据集合的写入速度确定为对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度。由于顺序写入物理存储介质的数据不需要文件系统频繁地分配地址和寻找地址,也不需要经过缓存,因此,可以根据第一写速度确定硬盘的最大写速度。
103、确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度,根据第一读速度确定硬盘的最大读速度。
可以确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度,之后可以根据第一读速度确定硬盘的最大读速度。可以从物理存储介质中顺序读取第一数据集合中的数据,可以将第一数据集合的读取速度确定为对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度。由于从物理存储介质中顺序读取数据不需要文件系统频繁地分配地址和寻找地址,也不需要经过缓存,因此,可以根据第一读速度确定硬盘的最大读速度。
104、确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度,根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
可以确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度。由于对物理存储介质的随机读写不经过缓存,因此,影响第二读写速度的主要因素为文件系统分配地址和寻址地址的能力,因此,可以根据第二写入速度确定文件系统随机分配地址和寻址地址的能力。
可以确定对物理存储介质的随机写速度得到第四写速度,确定对物理存储介质的随机读速度得到第四读速度,之后根据第四写速度和第四读速度确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度。具体地过程可以参考步骤101。
在图1所描述的性能测试方法中,不仅测试了缓存,而且测试物理存储介质,由它们共同结果来确定硬盘的性能,可以提高性能测试的准确性。
请参阅图2,图2是本发明实施例提供的另一种性能测试方法的流程示意图。其中,该性能测试方法适用于设置有硬盘的电子设备。如图2所示,该性能测试方法可以包括以下步骤。
201、确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度,根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度。
其中,步骤201与步骤101相同,具体描述可以参考步骤101,在此不再赘述。
202、确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度,根据第一写速度确定硬盘的最大写速度。
其中,步骤202与步骤102相同,具体描述可以参考步骤102,在此不再赘述。
203、确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度,根据第一读速度确定硬盘的最大读速度。
其中,步骤203与步骤103相同,具体描述可以参考步骤103,在此不再赘述。
204、确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度,根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
其中,步骤204与步骤104相同,具体描述可以参考步骤104,在此不再赘述。
205、根据硬盘对应用程序的读写速度、硬盘的最大写速度、硬盘的最大读速度以及文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告。
206、输出测试报告。
确定硬盘对应用程序的读写速度、硬盘的最大写速度、硬盘的最大读速度以及文件系统分配地址和寻找地址的能力之后,可以根据硬盘对应用程序的读写速度、硬盘的最大写速度、硬盘的最大读速度以及文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告。之后可以输出测试报告。输出测试报告可以是直接显示测试报告,也可以是将测试报告发送给邮箱、其它电子设备等。
在图2所描述的性能测试方法中,不仅测试了缓存,而且测试物理存储介质,由它们共同结果来确定硬盘的性能,可以提高性能测试的准确性。
请参阅图3,图3是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。其中,该电子设备设置有硬盘,硬盘包括缓存和物理存储介质。如图3所示,该电子设备可以包括:
确定单元301,用于确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
确定单元301,还用于根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度;
确定单元301,还用于确定对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
确定单元301,还用于根据第一写速度确定硬盘的最大写速度;
确定单元301,还用于确定对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度;
确定单元301,还用于根据第一读速度确定硬盘的最大读速度;
确定单元301,还用于确定对物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;
确定单元301,还用于根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
在一个实施例中,确定单元301确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过缓存对物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过缓存对物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过缓存对物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过缓存对物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
在一个实施例中,确定单元301根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度的加权平均确定为通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
在一个实施例中,确定单元301根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度的加权平均确定为通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
在一个实施例中,确定单元301确定对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度包括:
将第一数据集合中的数据顺序写入物理存储介质;
将第一数据集合的写入速度确定为对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
确定单元301确定对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度包括:
从物理存储介质中顺序读取第一数据集合中的数据;
将第一数据集合的读取速度确定为对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度。
在一个实施例中,该电子设备还可以包括:
生成单元302,用于根据硬盘对应用程序的读写速度、硬盘的最大写速度、硬盘的最大读速度以及文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告;
输出单元303,用于输出测试报告。
在图3所描述的电子设备中,不仅测试了缓存,而且测试物理存储介质,由它们共同结果来确定硬盘的性能,可以提高性能测试的准确性。
可以理解的是,本实施例的电子设备的确定单元301、生成单元302和输出单元303的功能可以根据上述方法实施例中的方法具体实现,其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述,此处不再赘述。
请参阅图4,图4是本发明实施例提供的另一种电子设备的结构示意图。其中,该电子设备设置有硬盘,硬盘包括缓存和物理存储介质。如图4所示,该电子设备可以包括处理器401、存储器402和总线403,处理器401和存储器402通过总线403连接。其中:
存储器402用于存储支持电子设备执行上述性能测试方法的计算机程序,计算机程序包括程序指令,处理器401用于调用该程序指令执行以下步骤:
确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度;
确定对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
根据第一写速度确定硬盘的最大写速度;
确定对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度;
根据第一读速度确定硬盘的最大读速度;
确定对物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;
根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
在一个实施例中,处理器401确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过缓存对物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过缓存对物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过缓存对物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过缓存对物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
在一个实施例中,处理器401根据第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度确定通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将第二写速度、第二读速度、第三写速度和第三读速度的加权平均确定为通过缓存对物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
在一个实施例中,处理器401确定对物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度包括:
确定对物理存储介质的随机写速度,得到第四写速度;
确定对物理存储介质的随机读速度,得到第四读速度;
根据第四写速度和第四读速度确定对物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度。
在一个实施例中,处理器401确定对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度包括:
将第一数据集合中的数据顺序写入物理存储介质;
将第一数据集合的写入速度确定为对物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
处理器401确定对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度包括:
从物理存储介质中顺序读取第一数据集合中的数据;
将第一数据集合的读取速度确定为对物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度。
在一个实施例中,处理器401还用于调用该程序指令执行以下步骤:
根据硬盘对应用程序的读写速度、硬盘的最大写速度、硬盘的最大读速度以及文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告;
输出测试报告。
其中,步骤101-步骤104以及步骤201-步骤206可以由电子设备中的处理器401和存储器402来执行。
其中,确定单元301、生成单元302和输出单元303可以由电子设备中的处理器401和存储器402来实现。
在一个实施例中提供了一种存储介质,该存储介质存储有计算机程序,计算机程序包括程序指令,程序指令当被处理器执行时使处理器执行图1-图2的性能测试方法。
在一个实施例中提供了一种应用程序,该应用程序用于在运行时执行图1-图2的性能测试方法。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储介质中,存储介质可以包括:闪存盘、只读存储器(read-only memory,ROM)、随机存取器(random accessmemory,RAM)、磁盘或光盘等。
以上对本发明实施例进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种性能测试方法,其特征在于,所述方法应用于设置有硬盘的电子设备,所述硬盘包括缓存和物理存储介质,包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度;
关闭所述缓存以使所述缓存不可用,确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度,所述顺序写速度为写入一个数据,写完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着写入下一个数据的速度;
根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度;
确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度,所述顺序读速度为读取一个数据,读完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着读下一个数据的速度;
根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度;
确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
将所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度的加权平均确定为通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度包括:
确定对所述物理存储介质的随机写速度,得到第四写速度;
确定对所述物理存储介质的随机读速度,得到第四读速度;
根据所述第四写速度和所述第四读速度确定对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,所述确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度包括:
将第一数据集合中的数据顺序写入所述物理存储介质;
将所述第一数据集合的写入速度确定为对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度;
所述确定对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度包括:
从所述物理存储介质中顺序读取所述第一数据集合中的数据;
将所述第一数据集合的读取速度确定为对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述硬盘对应用程序的读写速度、所述硬盘的最大写速度、所述硬盘的最大读速度以及所述文件系统分配地址和寻找地址的能力,生成测试报告;
输出所述测试报告。
7.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备设置有硬盘,所述硬盘包括缓存和物理存储介质,包括:
确定单元,用于确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度;
所述确定单元,还用于关闭所述缓存以使所述缓存不可用,确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第一写速度,所述顺序写速度为写入一个数据,写完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着写入下一个数据的速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度;
所述确定单元,还用于确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第一读速度,所述顺序读速度为读取一个数据,读完这个数据之后在这个数据的存储地址之后接着读下一个数据的速度;
所述确定单元,还用于根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度;
所述确定单元,还用于确定所述缓存不可用时对所述物理存储介质的随机读写速度,得到第二读写速度;
所述确定单元,还用于根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其特征在于,所述确定单元确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度包括:
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机写速度,得到第二写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的随机读速度,得到第二读速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序写速度,得到第三写速度;
确定通过所述缓存对所述物理存储介质的顺序读速度,得到第三读速度;
根据所述第二写速度、所述第二读速度、所述第三写速度和所述第三读速度确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度,得到第一读写速度。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述处理器与所述存储器相互连接,其中,所述存储器用于存储支持所述电子设备执行上述性能测试方法的计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述处理器被配置用于调用所述程序指令,执行如权利要求1-6任一项所述的性能测试方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1-6任一项所述的性能测试方法。
CN201910556848.5A 2019-06-25 2019-06-25 一种性能测试方法、电子设备及存储介质 Active CN110287077B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910556848.5A CN110287077B (zh) 2019-06-25 2019-06-25 一种性能测试方法、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910556848.5A CN110287077B (zh) 2019-06-25 2019-06-25 一种性能测试方法、电子设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110287077A CN110287077A (zh) 2019-09-27
CN110287077B true CN110287077B (zh) 2023-05-26

Family

ID=68005898

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910556848.5A Active CN110287077B (zh) 2019-06-25 2019-06-25 一种性能测试方法、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110287077B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117012266A (zh) * 2023-06-30 2023-11-07 珠海妙存科技有限公司 基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质
CN117472294B (zh) * 2023-12-28 2024-04-09 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器及其数据处理方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102147757A (zh) * 2010-02-08 2011-08-10 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种测试装置和测试方法
CN104360919A (zh) * 2014-10-24 2015-02-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种自动进行ssd性能、功能及稳定性测试的方法
CN108121628A (zh) * 2017-12-19 2018-06-05 珠海市君天电子科技有限公司 一种读写速度的测试方法、装置及电子设备
CN109256173A (zh) * 2018-08-13 2019-01-22 中国航空无线电电子研究所 机载存储设备测试系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050283566A1 (en) * 2003-09-29 2005-12-22 Rockwell Automation Technologies, Inc. Self testing and securing ram system and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102147757A (zh) * 2010-02-08 2011-08-10 安凯(广州)微电子技术有限公司 一种测试装置和测试方法
CN104360919A (zh) * 2014-10-24 2015-02-18 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种自动进行ssd性能、功能及稳定性测试的方法
CN108121628A (zh) * 2017-12-19 2018-06-05 珠海市君天电子科技有限公司 一种读写速度的测试方法、装置及电子设备
CN109256173A (zh) * 2018-08-13 2019-01-22 中国航空无线电电子研究所 机载存储设备测试系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN110287077A (zh) 2019-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108121628B (zh) 一种读写速度的测试方法、装置及电子设备
US10481817B2 (en) Methods and apparatus to optimize dynamic memory assignments in multi-tiered memory systems
CN110287077B (zh) 一种性能测试方法、电子设备及存储介质
CN109656779A (zh) 内存监控方法、装置、终端和存储介质
US11907164B2 (en) File loading method and apparatus, electronic device, and storage medium
US8988951B2 (en) Method and device for writing block data to an embedded DRAM free of address conflicts
CN104156323A (zh) 一种高速缓冲存储器的数据块长度自适应读取方法及装置
EP3271920A1 (en) Systems and methods to refresh storage elements
CN112506823A (zh) 一种fpga数据读写方法、装置、设备及可读存储介质
US10977180B2 (en) Hit-based allocation of quotas of a cache space of a cache memory
CN115033185A (zh) 访存处理方法和装置、存储装置、芯片、板卡、电子设备
CN109298941A (zh) 一种文件生成方法和装置
CN117215485A (zh) Zns ssd管理方法及数据写入方法、存储装置、控制器
US11720486B2 (en) Memory data access apparatus and method thereof
CN114822675A (zh) 存储器检测方法及装置、电子设备和存储介质
CN112015672A (zh) 一种存储系统中数据处理方法、装置、设备及存储介质
CN115424658B (zh) 存储单元的测试方法、装置、电子设备、存储介质
US11360901B2 (en) Method and apparatus for managing page cache for multiple foreground applications
CN111782136B (zh) 面向多应用程序的自适应闪存固态盘通道分配方法及装置
CN112580297B (zh) 一种编解码数据的方法、电子设备及存储介质
US9811469B2 (en) Sequential access of cache data
CN117149447B (zh) 带宽调整方法、装置、设备及存储介质
CN111367836B (zh) 一种针对数据库的处理方法及装置
US20200058095A1 (en) Allocating device buffer on gpgpu for an object with metadata using access boundary alignment
CN117476065A (zh) 内存刷新周期确定方法及装置、存储介质及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant