CN117012266A - 基于emmc的性能测试方法、装置及其存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长；对存储芯片进行多次顺序写入操作；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长；根据顺序读写操作的时长和随机读写操作的时长，得到存储芯片的性能结果，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下EMMC芯片对不同数据的读取存储性能，提高EMMC芯片的性能测试准确性。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，尤其是一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质。
背景技术
嵌入式多媒体卡(Embeded Multi Media Card，EMMC)，是一种嵌入式非易失性存储器系统，由闪存和闪存控制器两部组成。EMMC的一个明显优势是在封装中集成了一个闪存控制器，它采用JEDEC标准球状引脚栅格阵列封装(Ball Grid Array，BGA)，并采用统一闪存接口管理闪存。为了保证能准确地获取EMMC的性能参数，以便于优化产品，需要对EMMC的读取和存储速度进行规范化测试。而现有的EMMC芯片的读取存储测试方法，无法灵活、快速地设置测试参数，比如不同模式和不同的总线宽度下，EMMC芯片对不同数据的读取存储性能无法得到充分的体现。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质，通过分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作和随机读写操作，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下EMMC芯片对不同数据的读取存储性能，提高EMMC芯片的性能测试准确性。
本发明解决其问题所采用的技术方案是：
第一方面，本申请实施例提供一种基于EMMC的性能测试方法，所述方法包括：读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。
第二方面，本申请实施例提供一种基于EMMC的性能测试装置，包括：分配模块，用于读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；顺序模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；写入模块，用于对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；随机模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；计算模块，用于根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。
第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如上所述的基于EMMC的性能测试方法。
第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上所述的基于EMMC的性能测试方法。
本申请实施例，通过读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长；对存储芯片进行多次顺序写入操作；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长；根据顺序读写操作的时长和随机读写操作的时长，得到存储芯片的性能结果。，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下EMMC芯片对不同数据的读取存储性能，提高EMMC芯片的性能测试准确性。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
图1为本发明实施例一种基于EMMC的性能测试方法的流程图；
图2为图1中步骤S1000的流程图；
图3为图1中步骤S2000的流程图；
图4为图1另一实施例中步骤S2000的流程图；
图5为图1中步骤S4000的流程图；
图6为图1另一实施例中步骤S4000的流程图；
图7为图1中步骤S5000的流程图；
图8为本发明实施例一种基于EMMC的性能测试装置的结构图；
图9是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明实施例涉及的基于EMMC的性能测试方法及其装置，是基于EMMC快速读写的测试方法。其中，EMMC是对多媒体卡(Multi Media Card，EMMC)的一个拓展，具有体积小，功耗低，容量大等优点，非常适合用作智能手机、平板电脑、移动互联网设备等消费类电子设备的存储介质。EMMC是一种嵌入式、非易失的存储系统，它主要由闪存、闪存控制器和EMMC协议接口等组成，以BGA的形式封装在一起。EMMC在封装中集成一个控制器，提供标准接口，管理闪存，使手机厂商可以专注于产品开发的其他部分，缩短上市时间。因此，需要快速地对EMMC芯片进行不同模式、不同读写方式、不同读写文件以及不同的总线宽度下的快速读写测试，以满足配套电子设备的开发需求。
然而，在实际测试过程中，在EMMC的性能测试过程中，为了保证测试的准确性和全面性，需要修改EMMC芯片的不同技术参数，分别测试其在不同环境下的数据读写能力。由于这个过程耗时较长，影响了存储芯片的测试效率。
基于以上，本发明实施例提供一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质，通过分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作和随机读写操作，能精准地得到不同模式和不同的总线宽度下EMMC芯片对不同数据的读取存储性能，提高EMMC芯片的性能测试准确性。
请参见图1，图1示出了本发明实施例提供的一种基于EMMC的性能测试方法的流程。如图1所示，本发明实施例的基于EMMC的性能测试方法包括以下步骤：
步骤S1000、读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数。
可以理解的是，EMMC与主机端通过CLK、CMD、Data Strobe和DAT0-7等信号连接。其中DATO-7信号主要用于主机端和EMMC之间的数据传输。在EMMC上电或者软复位后，只有DATO可以进行数据传输，完成初始化后，可配置DAT0-3或者DATO-7进行数据传输，即数据总线可以配置为4bits或者8bits模式。
可以理解的是，测试文件的大小应该根据实际需求和测试目的来确定。如果只是测试存储的读写速度和稳定性，能使用一些小文件进行测试，例如1MB、10MB、100MB等大小的文件。如果需要测试存储设备的容量和极限性能，可以使用大文件进行测试，例如1GB、10GB或更大的文件。在实际测试过程中，测试文件的大小不应超过存储设备的实际容量，否则会导致测试失败或数据丢失。此外，文件大小还应考虑测试环境的限制，例如网络带宽、处理能力等。通过确定存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，能对存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数进行分配，以满足不同的测试环境。
请参见图2，图2示出了上述步骤S1000的另一实施例的具体实现过程示意图。如图2所示，步骤S1000至少包括以下步骤：
步骤S1100、读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小。
可以理解的是，为了保证存储芯片的测试结果能充分反应出存储芯片的性能，存储芯片的总线宽度为8bits。具体地，存储芯片的模式为HS400工作在VCCQ为1.8V或者1.2V的IO电压下。同时，在HS400模式下，总线宽度设置为8线双倍速率模式。在实际应用中，主机端完成对EMMC的初始化之后，再读取ext_csd寄存器的DEVICE_TYPE字段来查看EMMC是否支持HS400模式，接着会在改变时钟频率大于52MHz这一步之前于EMMC中使能HS400模式。
可以理解的是，测试文件的大小应该根据实际需求和测试目的来确定，在本实施例中，测试文件的大小为512MB。此外，测试文件的格式也需要根据实际应用场景来确定。例如，如果测试存储设备的读写速度，能使用一些常见的文件格式，如txt、docx、pdf等。如果测试存储设备的多媒体存储和播放性能，则使用一些音频、视频文件进行测试，如mp3、mp4等。测试存储性能用多大文件应该根据实际需求来确定，并需要综合考虑存储芯片的容量、测试环境限制、文件格式等因素。
步骤S1200、根据存储芯片的总线宽度，确定存储芯片的单次传送文件大小。
可以理解的是，在获取存储芯片的总线宽度后，在对存储芯片进行测试过程中，能通过限定每次对存储芯片读写数据的大小，来测试存储芯片对不同数据包大小文件的处理能力。具体地，由于存储芯片的总线宽度为8bits，单次传送文件大小能设置为512KB、256KB、128KB、64KB、32KB、8KB、4KB等。
步骤S1300、根据测试文件的大小和存储芯片的单次传送文件大小，获取测试次数。
可以理解的是，在获取测试文件的大小和存储芯片的单次传送文件大小后，由于单次传送文件大小的总和等于测试文件的大小，因此，通过将测试文件的大小除以存储芯片的单次传送文件大小，就能计算出测试次数。具体地，在测试文件的大小为512MB，单次传送文件大小能设置为512KB的情况下，测试次数为1024次。
步骤S2000、根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长。
可以理解的是，在EMCC读写过程中，顺序读写是在连续相邻地址上的进行，随机读写则是无序位置的存取，前者能够反应理想状况下EMCC芯片的数据吞吐量，后者则展现了实际使用中复杂多变的情形。顺序读写是EMCC芯片进行大容量文件读写的时候具备的性能，例如大文件拷贝、视频编辑等的任务。具体地，假如要使用EMCC芯片拷贝几GB或者更大的视频文件，这时候发挥作用的就是连续读写性能。
请参见图3和图4，图3和图4示出了上述步骤S2000的另一实施例的具体实现过程示意图。如图3和图4所示，步骤S2000至少包括以下步骤：
步骤S2100、按照单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按顺序写入存储芯片中。
可以理解的是，为了测试存储芯片的写入速度等性能，需要按照上述步骤获取的单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按顺序写入存储芯片中。其中，在测试文件的大小为512MB的情况下，每次写入EMCC芯片的数据大小是512KB，一共需要进行1024次写入操作。
步骤S2200、记录顺序写入操作的时长。
可以理解的是，为了精准获取存储芯片的写入速度，还需要精准地记录顺序写入操作的时长。在实际测试过程中，能通过现有的指令，从写入首个数据包到存储芯片开始计时，一直到最后一个数据包写入存储芯片中终止计时，两个时间差即为存储芯片的写入测试文件所用的时间。当然，在实际应用中，也能通过调取系统运行的日志来获取顺序写入操作的时长，属于现有技术，此处不再赘述。
步骤S2300、按照单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按顺序从存储芯片中读取出来。
可以理解的是，为了测试存储芯片的读取速度等性能，需要按照上述步骤获取的单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按顺序从存储芯片中读取出来。其中，在测试文件的大小为512MB的情况下，每次读取EMCC芯片的数据大小是512KB，一共需要进行1024次读取操作。
步骤S2400、记录顺序读取操作的时长。
可以理解的是，为了精准获取存储芯片的读取速度，还需要精准地记录顺序读取操作的时长。在实际测试过程中，能通过现有的指令，从读取首个数据包到存储芯片开始计时，一直到从存储芯片中读取最后一个数据包终止计时，两个时间差即为从存储芯片中读取测试文件所用的时间。当然，在实际应用中，也能通过调取系统运行的日志来获取顺序读取操作的时长，属于现有技术，此处不再赘述。
步骤S3000、对存储芯片进行多次顺序写入操作。
可以理解的是，为了更好地发挥EMCC芯片的随机读写性能，在进行随机读写操作前，对存储芯片进行多次顺序写入操作，以减少EMCC芯片内空闲的区域，使EMCC芯片的随机读写性能更能达到其实际读写能力。
步骤S4000、根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长。
可以理解的是，随机读写速度的单位是IOPS，就是每秒进行的IO操作次数，可以理解为吞吐量指标，数值越高读写性能越强。随机读写也能从字面意思理解，就是不遵循文件的先后顺序，当EMMC芯片读写操作的时候能够任意跳到某个文件，主要作用是针对零碎文件(病毒扫描、启动程序等)任务。
请参见图5和图6，图5和图6示出了上述步骤S2000的另一实施例的具体实现过程示意图。如图5和图6所示，步骤S4000至少包括以下步骤：
步骤S4100、按照单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按照随机地址从存储芯片中读取出来。
可以理解的是，为了测试存储芯片的随机读取速度等性能，需要按照上述步骤获取的单次传送文件大小和测试次数，将测试文件从存储芯片中按照随机地址读取出来。其中，在测试文件的大小为512MB的情况下，每次随机读取EMCC芯片的数据大小是4KB，一共需要进行131072次读取操作。
可以理解的是，在随机读取的过程中，为了保证数据读取的效率，尽管读取的地址是随机的，但需要遵循4K对齐。其中，4K对齐是因固态硬盘和闪存的出现而兴起。由于固态硬盘和闪存的内部结构不同于机械硬盘，其读写的最小单位是“页”，相当于机械硬盘的物理扇区，并且常见尺寸为4KB。固态硬盘存颗粒不允许像机械硬盘一样覆盖写入，因此在有数据的地方要写入新数据，就需要先进行擦除操作，而擦除的最小单位是块(每个块都由很多个页组成)。因此，4K这个数值是顺应了硬盘设备的发展而得出。以固态硬盘为例，固态硬盘的页大小为4KB，传统分区偏移尺寸为31.5KB。如果4K不对齐，那么用户的数据都会跨两个页，导致每次的写入操作都变成了读-擦-写操作，造成性能下降。写入一个4KB的数据，实际运行时会有两次写入操作，4K对齐就让是操作系统的最小分配单元和闪存的一个页对应起来，这样操作系统写入一个4KB的数据，一次就能完成。因此，4K对齐能够提升存储芯片工作效率，延长存储芯片的寿命，提升文件操作的稳定性与安全性。
步骤S4200、记录随机读取操作的时长。
可以理解的是，为了精准获取存储芯片的读取速度，还需要精准地随机读取操作的时长。在实际测试过程中，能通过现有的指令，从读取首个数据包到存储芯片开始计时，一直到从存储芯片中读取最后一个数据包终止计时，两个时间差即为从存储芯片中读取测试文件所用的时间。当然，在实际应用中，也能通过调取系统运行的日志来获取随机读取操作的时长，属于现有技术，此处不再赘述。
步骤S4300、按照单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按照随机地址从写入存储芯片中。
可以理解的是，为了测试存储芯片的随机写入速度等性能，需要按照上述步骤获取的单次传送文件大小和测试次数，将测试文件按照随机地址写入到存储芯片中。其中，在测试文件的大小为512MB的情况下，每次随机写入EMCC芯片的数据大小是4KB，一共需要进行131072次写入操作。
可以理解的是，在随机写入的过程中，为了保证数据写入的效率，尽管写入的地址是随机的，但需要遵循4K对齐。
步骤S4400、记录随机写入操作的时长。
可以理解的是，为了精准获取存储芯片的写入速度，还需要精准地记录随机写入操作的时长。在实际测试过程中，能通过现有的指令，从写入首个数据包到存储芯片开始计时，一直到最后一个数据包写入存储芯片中终止计时，两个时间差即为存储芯片的写入测试文件所用的时间。当然，在实际应用中，也能通过调取系统运行的日志来获取随机写入操作的时长，属于现有技术，此处不再赘述。
请参见图7，图7示出了上述步骤S5000的另一实施例的具体实现过程示意图。如图7所示，步骤S5000至少包括以下步骤：
步骤S5100、根据顺序写入操作的时长、顺序读取操作的时长、随机读取操作的时长和随机写入操作的时长，得到存储芯片的写入速度和读取速度。
可以理解的是，根据上述步骤S2000和S4000对EMMC芯片进行数据读写操作后，得到顺序写入操作的时长、顺序读取操作的时长、随机读取操作的时长和随机写入操作的时长。再根据测试文件的大小，计算出不同下存储芯片的写入速度和读取速度。在实际测试中，EMMC芯片的顺序写入速度介乎于220-285MB/s，EMMC芯片的顺序读取速度介乎于300-320MB/s，EMMC芯片的随机读取速度介乎于35-55MB/s，EMMC芯片的随机写入速度介乎于55-80MB/s。
步骤S5200、根据存储芯片的写入速度和读取速度，得到存储芯片的性能结果。
可以理解的是，根据上述步骤S5100获取的存储芯片的写入速度和读取速度，能综合分析得到存储芯片的性能结果，即通过EMMC芯片的顺序写入速度、顺序读取速度、随机读取速度和随机写入速度与理想值是否存在差异，进而判断存储芯片的写入速度和读取速度是否达到设计需求。另外，上述EMMC芯片的测试参数能根据实际测试需求进行调整，以快速迎合产品的测试需求。
参见图8，图8是本申请实施例提供的基于EMMC的性能测试装置600的结构示意图，本申请实施例提供的基于EMMC的性能测试方法的整个流程中涉及基于EMMC的性能测试装置中的以下模块：分配模块610、顺序模块620、写入模块630、随机模块640和计算模块650。
其中，分配模块610，用于读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；
顺序模块620，用于根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺序读写操作的时长；
写入模块630，用于对存储芯片进行多次顺序写入操作；
随机模块640，用于根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行随机读写操作，并记录随机读写操作的时长；
计算模块650，用于根据顺序读写操作的时长和随机读写操作的时长，得到存储芯片的性能结果。
需要说明的是，上述装置的模块之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。
图9示出了本申请实施例提供的电子设备700。该电子设备700包括但不限于：
存储器701，用于存储程序；
处理器702，用于执行存储器701存储的程序，当处理器702执行存储器701存储的程序时，处理器702用于执行上述的基于EMMC的性能测试方法。
处理器702和存储器701可以通过总线或者其他方式连接。
存储器701作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序，如本申请任意实施例描述的基于EMMC的性能测试方法。处理器702通过运行存储在存储器701中的非暂态软件程序以及指令，从而实现上述的基于EMMC的性能测试方法。
存储器701可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储执行上述的基于EMMC的性能测试方法。此外，存储器701可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，比如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器701可选包括相对于处理器702远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器702。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
实现上述的基于EMMC的性能测试方法所需的非暂态软件程序以及指令存储在存储器701中，当被一个或者多个处理器702执行时，执行本申请任意实施例提供的基于EMMC的性能测试方法。
本申请实施例还提供了一种存储介质，存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于执行上述的基于EMMC的性能测试方法。
在一实施例中，该存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个控制处理器702执行，比如，被上述电子设备700中的一个处理器702执行，可使得上述一个或多个处理器702执行本申请任意实施例提供的基于EMMC的性能测试方法。
以上所描述的实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包括计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
Claims (10)
1.一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；
根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；
对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；
根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；
根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数，包括：
读取所述存储芯片的总线宽度和所述测试文件的大小；
根据所述存储芯片的总线宽度，确定所述存储芯片的单次传送文件大小；
根据所述测试文件的大小和所述存储芯片的单次传送文件大小，获取所述测试次数。
3.根据权利要求1所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长，包括：
按照所述单次传送文件大小和所述测试次数，将所述测试文件按顺序写入所述存储芯片中；
记录顺序写入操作的时长。
4.根据权利要求3所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长，还包括：
按照所述单次传送文件大小和所述测试次数，将所述测试文件按顺序从所述存储芯片中读取出来；
记录顺序读取操作的时长。
5.根据权利要求4所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长，包括：
按照所述单次传送文件大小和所述测试次数，将所述测试文件按照随机地址从所述存储芯片中读取出来；
记录随机读取操作的时长。
6.根据权利要求5所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长，还包括：
按照所述单次传送文件大小和所述测试次数，将所述测试文件按照随机地址从写入所述存储芯片中；
记录随机写入操作的时长。
7.根据权利要求6所述的一种基于EMMC的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果，包括：
根据所述顺序写入操作的时长、所述顺序读取操作的时长、所述随机读取操作的时长和所述随机写入操作的时长，得到所述存储芯片的写入速度和读取速度；
根据所述存储芯片的写入速度和读取速度，得到所述存储芯片的性能结果。
8.一种基于EMMC的性能测试装置，其特征在于，包括：
分配模块，用于读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配所述存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；
顺序模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行顺序读写操作，并记录所述顺序读写操作的时长；
写入模块，用于对所述存储芯片进行多次顺序写入操作；
随机模块，用于根据所述单次传送文件大小和所述测试次数，对所述存储芯片进行随机读写操作，并记录所述随机读写操作的时长；
计算模块，用于根据所述顺序读写操作的时长和所述随机读写操作的时长，得到所述存储芯片的性能结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至7任意一项所述的基于EMMC的性能测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至7任意一项所述的基于EMMC的性能测试方法。
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