CN110208228B

CN110208228B - 荧光寿命检测方法、装置、计算机设备和存储介质

Info

Publication number: CN110208228B
Application number: CN201910402102.9A
Authority: CN
Inventors: 潘江妮; 屈哲
Original assignee: Hangzhou Rougu Technology Co ltd
Current assignee: Hangzhou Rougu Technology Co ltd
Priority date: 2019-05-15
Filing date: 2019-05-15
Publication date: 2023-05-09
Anticipated expiration: 2039-05-15
Also published as: CN110208228A

Abstract

本申请涉及一种荧光寿命检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过根据获取的荧光电信号，计算得到第一时间，以及根据获取的参考光信号，计算得到第二时间。再根据第一时间以及第二时间计算得到荧光寿命。采用本方法能够避免了复杂的电路设计，提高了计算荧光寿命的准确性。

Description

荧光寿命检测方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本申请涉及荧光淬灭氧传感器技术领域，特别是涉及一种荧光寿命检测方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

氧气浓度的检测在医学、环境保护、石油化工、工业生产、食品保鲜、生产控制方面有着十分重要的意义，而基于荧光淬灭原理的氧传感器因具有检测精度高、灵敏度高、结构简单、可以在恶劣环境下工作、响应时间短、能够实现氧气浓度的实时连续监测等优点逐渐成为研究的新热点。

在现有技术中，先检测出荧光寿命，再通过荧光寿命与荧光分子周围的氧分子浓度的关系计算氧浓度值。一般通过相位检测的方法检测荧光寿命。而实现相位检测的电路为模拟锁相环或数字锁相环的时间数字转化器检测相位，主要用于全数字锁相环电路。锁相环电路基本元件包括鉴相器、环路滤波以及压控振荡器，电路易受到干扰，就易出现失锁问题，导致计算荧光寿命不准确。

发明内容

基于此，有必要针对现有技术中，利用相位检测的方法，计算荧光寿命不准确的问题，提供一种氧气浓度计算方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种荧光寿命检测方法，所述方法包括：

获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间；

获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间；

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命；。

在其中一个实施例中，所述获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间包括：

根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值；

根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

在其中一个实施例中，所述根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值包括：

获取所述荧光电信号的最大电压值；

根据所述最大电压值以及荧光有效光系数，计算得到荧光有效发光阈值。

在其中一个实施例中，周期性激发荧光物质获得多个荧光电信号，

根据所述多个荧光电信号，获取所述多个荧光电信号对应的多个荧光有效发光阈值；

根据多个荧光电信号对应的有效发光阈值，计算第一平均时间，

所述第一时间为所述第一平均时间。

在其中一个实施例中，根据荧光有效发光阈值生成第一方波信号，根据所述方波信号计算第一时间。

在其中一个实施例中，所述根据荧光有效发光阈值，生成第一方波信号包括：

将所述荧光电信号中大于等于所述荧光有效发光阈值的区域生成高电平；

将所述荧光电信号中小于所述荧光有效发光阈值的区域生成低电平；

根据所述高电平以及低电平，生成第一方波信号。

在其中一个实施例中，根据所述第一方波信号，计算第一时间包括：

获取第一方波信号的高电平数量以及高电平时长；

根据所述高电平数量以及高电平时长计算高电平总时长，将所述高电平时长作为第一时间。

在其中一个实施例中，所述获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间：

根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值；

根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

在其中一个实施例中，所述根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值包括：

获取所述参考光电信号的最大电压值；

根据所述最大电压值以及参考光有效光系数，计算得到参考光有效发光阈值。

在其中一个实施例中，周期性发出参考光信号；

根据多个所述参考光信号，获取所述参考光信号对应的多个参考光信号有效发光阈值；

根据多个参考光信号对应的有效发光阈值，计算第二平均时间，

其中，所述第二时间为所述第二平均时间。

在其中一个实施例中，根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间包括：

根据所述参考光有效发光阈值，生成第二方波信号，

根据所述第二方波信号，计算第二时间。

在其中一个实施例中，所述根据所述参考光电信号以及参考光有效发光阈值，生成第二方波信号包括：

将所述参考光电信号中大于等于所述参考光有效发光阈值的区域生成高电平；

将所述参考光电信号中小于所述参考光有效发光阈值的区域生成低电平；

根据所述高电平以及低电平，生成第二方波信号。

在其中一个实施例中，根据所述第二方波信号，计算第二时间包括：

获取第二方波信号的高电平数量以及高电平时长；

根据所述高电平数量以及高电平时长计算高电平总时长，将所述高电平时长作为第二时间。

在其中一个实施例中，所述根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命；

将所述第一时间与所述第二时间做差，计算得到荧光寿命。

一种荧光寿命检测装置，所述装置包括：

第一时间获取模块，用于获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间；

第二时间获取模块，用于获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间；

荧光寿命获取模块，用于根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

上述荧光寿命检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据获取的荧光电信号，计算得到第一时间，以及根据获取的参考光信号，计算得到第二时间。再根据第一时间以及第二时间计算得到荧光寿命，这样的计算方法避免了复杂的电路设计，提高了计算荧光寿命的准确性。

附图说明

图1为一个实施例中荧光寿命检测方法的流程示意图；

图2为一个实施例中计算第一时间的方法流程示意图；

图3为一个实施例中计算第二时间的方法流程示意图；

图4为一个实施例中荧光信号以及参考光信号电压随时间变化曲线示意图；

图5为一个实施例中的荧光寿命检测系统示意图；

图6为一个实施例中荧光寿命检测装置的结构框图；

图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

如图1所示，本发明提供了一种荧光寿命检测方法。

在本实施例中，所述荧光寿命检测方法包括：

步骤100，获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间。

首先，先通过激发光照射荧光物质，使荧光物质吸收激发光提供的能量后激发出荧光，并且使荧光先后通过滤光片以及光电探测装置，通过光电探测装置获取荧光电信号。再经过放大电路、滤波电路，最后得到波形较为平滑且放大的荧光电信号，便于在接下来的步骤中对荧光电信号进行处理。

在本实施例中，荧光物质光谱特性中荧光物质的吸收峰为510nm，反射峰为650nm。当荧光物质被中心波长为510nm的激光照射激发后，可发出中心波长为650nm的荧光。故在本实施例中，激发光采用激光，利用激发光中心波长为510nm的激光照射在荧光物质上，激发荧光物质发出中心波长为650nm的荧光。

在本实施例中，滤光片可滤去中心波长不为650nm的光，使通过滤光片达到光电探测装置的光为荧光，而阻止激发光以及其他背景光进入光电探测装置。

在本实施例中，光电探测装置，将荧光光信号转换为与荧光强度相关的荧光电信号。在本实施例中，荧光探测装置选用硅光电倍增管(SiPM),其自身增益数量级为10^-6，因此在之后在处理荧光电信号时，不需要额外的增加很高的增益。

在本实施例中，激发光调至信号为频率较快的脉冲信号。在本实施例中，激发光的发射时间为一秒，频率为2000赫兹的光脉冲。也就是说，激发光在一秒内激发了荧光物质2000次，使荧光物质可以产生相应次数的光信号，再通过光电探测装置转化为相应的荧光电信号。

在本实施例中，再通过处理荧光电信号后得到第一时间。第一时间为荧光在被激发光照射的一秒内的有效发光时间。

在其他实施例中，第一时间也可为荧光在一个脉冲信号的激发光照射下的有效发光时间。

步骤110，获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间。

参考光由参考灯发出，依次通过滤光片以及光电探测装置，通过光电探测装置获取参考光电信号。再经过放大、滤波电路，最后得到波形较为平滑且放大的参考光电信号，便于在接下来的步骤中对参考光电信号进行处理。

参考光模拟荧光波长，选择为与荧光波长中心相同的光源，在本实施例中，参考光选择为与荧光波长中心相同的650nm,由于滤光片可滤去中心波长不为650nm的光，这样在通过滤光片时，参考光可通过滤光片到达光电探测装置。并且，参考光的调制信号与激发光一致，发射时间为1秒，频率为2000赫兹的脉冲光信号。再由光电探测装置转化为与参考光强度相关的参考光电信号。

在本实施例中，再通过处理参考光电信号后得到第二时间。第二时间为参考光在1秒内有效发光时间。

在其他实施例中，第二时间也可为参考光在一个脉冲信号的有效发光时间。

步骤120，根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

在本实施例中，荧光寿命为，当荧光物质被激发光激发后，荧光物质的分子吸收能量后从基态跃迁到某一激发态上，再以辐射跃迁的形式发出荧光回到基态，当去掉激发光后，荧光强度降到激发时的荧光最大强度的1/e所需要的时间。因为激发光照射到荧光物质上，到荧光物质发出荧光的这段时间非常短。因此，荧光有效发光时间中还包括激发光照射到荧光物质上的时间。

在本实施例中，步骤100中计算得到第一时间为在一秒内，激发光在激发荧光物质荧光有效发光时间，步骤110中计算得到的第二时间为在一秒内，参考光有效发光时间也就是激光照射荧光物质，使荧光物质吸收能量到峰值的时间。

在本实施例中，利用参考光模拟激发光，以计算出激发光照射在荧光物质上的有效发光时间。因此，发出激发光的激发灯以及发出参考光的参考灯利用同一个信号调制装置，使激发光调制信号，与参考光调制信号保持一致，从而减少误差。

在步骤120中还包括所述第一时间与所述第二时间做差，得到时间差。在根据所述时间差以及高电平数量，计算得到荧光寿命。

如图4所示，其中实线为在激发光一个脉冲光的激发下，随时间变化的荧光电信号的电压值曲线，虚线为参考光发出一个脉冲光的参考光电信号，随时间变化的电压值曲线。此时，荧光物质受激发光照射后，荧光电信号一定时间内，电压值不断的上升，可以看做在激发光有效激发时间内，荧光物质的分子不断吸收激发光能量直至达到峰值。当激发光照射结束后，荧光开始不断衰减直至荧光电信号最大电压值的1/e的位置。荧光电信号的电压值从最大电压值的1/e增长的最大电压值，再衰退为最大电压值的1/e的时间为T。则在一个脉冲光的激发下，T为荧光物质发出荧光有效光的时间，也就是第一时间。t为参考光模拟激发光照射荧光的物质的时间，也就是第二时间。则计算荧光寿命如方程(1)。

τ＝T-t (1)

在本实施例中，还可以通过将一秒内，荧光有效发光时间减去参考光发光的有效时间，得到两者的时间差。再用时间差除以高电平数量，也就是通过时间差除以一秒内激发光照射荧光物质的次数，计算得到荧光寿命。

在本实施例中，由于波长中心为510nm的激发光照射在荧光物质上，荧光物质可发出波长中心为650nm的荧光，并且荧光在波长中心为650nm时强度最大。在一段时间内，可调节激发光周期性照射了N次，所以荧光物质在一段时间内也可发出N次的波长中心为650nm的荧光。当将这些荧光信号转换为荧光电信号后，当荧光强度最大时，相应的荧光电信号电压也为最大，则相应的可看为高电平。则高电平数量也为激发光照射的次数。

在本实施例中，在一秒中内，激发光激发了荧光物质2000次，则荧光寿命等于第一时间以及第二时间之间的时间差除以2000，如方程(2)。

在方程(2)中，T_总为荧光物质在激光一秒内照射下发出的荧光有效光的总时间，利用多个荧光信号的有效光的总时间除以激光照射次数，得到每个激光脉冲下荧光有效光的平均时间(T_总/2000)，也就是第一时间。t_总为参考光模拟激发光在一秒内照射荧光物质的总时间，利用多个参考光信号的有效光的总时间除以参考光个数，得到每个脉冲参考光照射荧光物质的平均时间(t_总/2000)，也就是第二时间。

如图2所示，所述获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间包括：

步骤101，根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值。

在本实施例中，周期性激发荧光物质获得多个荧光电信号，并且根据多个荧光电信号，获取多个荧光电信号对应的多个荧光有效阈值。在步骤101中还包括获取所述荧光电信号的最大电压值，再根据所述最大电压值以及荧光有效光系数，计算得到荧光有效发光阈值。

在本实施例中，荧光电信号通过模数转化电路后，转化为荧光数字信号。将得到的最大电压值，也就是荧光强度最大值，乘以荧光有效光系数得到荧光有效光阈值。此时，荧光有效阈值为数字信号，再通过数模转换电路转化为模拟信号。在本实施例中，荧光有效光系数为1/e。则利用1/e计算得到荧光有效阈值为与荧光寿命相关的阈值。

步骤102，根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

在本实施例中，根据多个荧光电信号对应的有效阀值，计算第一平均时间，则第一时间为第一平均时间。

在步骤102中，还包括根据荧光有效发光阈值生成第一方波信号，根据所述方波信号计算第一时间。

具体的，将荧光电信号中大于等于所述荧光有效发光阈值的区域生成高电平，将所述荧光电信号中小于所述荧光有效发光阈值的区域生成低电平。并且根据高电平以及低电平，生成第一方波信号。

在本实施例中，将步骤101中得到荧光有效阈值作为参考阈值，与荧光电信号的电压值进行对比。将荧光电信号电压值大于等于荧光有效阈值的荧光电信号转化为高电平，将荧光电信号电压值小于荧光有效阈值的荧光电信号转化为低电平，用上述转化方式对荧光电信号进行整形转化。将荧光电信号转换为由高低电平组成的第一方波。其中每个高电平的时间长度代表图4中T的长度。

进一步的，根据所述第一方波信号，计算第一时间。

根据累计在步骤102得到的第一方波中每个高电平的时长(T)，在激发光激发荧光物质一秒内，得到荧光电信号的有效总时间，再通过利用有效总时间以及方波数量，得到荧光有效发光的第一平均时间，也就是第一时间。如图3所示，获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间包括：

步骤111，根据所述参考光电信号，获取荧光有效发光阈值。

在本实施例中，周期性发出参考光信号，根据多个所述参考光信号，获取所述参考光信号对应的多个参考光信号有效发光阀值。

在步骤111中还包括根据所述参考光有效发光阈值，生成第二方波信号，并根据所述第二方波信号，计算第二时间。

具体的，获取所述参考光电信号的最大电压值，再根据所述最大电压值以及荧光有效光系数，计算得到荧光有效发光阈值。

在本实施例中，参考光电信号通过模数转化电路后，转化为参考光数字信号。将得到的最大电压值，也就是参考光强度最大值，乘以参考光有效光系数得到参考光有效光阈值。此时，参考光有效阈值为数字信号，再通过数模转换电路转化为模拟信号。在本实施例中，由于参考光为方波信号，方波信号只有高电平或者底电平组成，当参考光信号为高电平时则说明参考光为有效发光，且参考光从低电平到高电平的转换时间非常快，故参考光有效光系数可以选择不为零且小于1的自然数。在本实施例中，选择参考光有效光系数与荧光有效光系数相同为1/e。则利用1/e计算得到参考光有效阈值为与参考光寿命相关的阈值。

步骤112，根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

在本实施例中，根据多个参考光信号对应的有效发光阈值，计算第二平均时间，则第二时间为第二平均时间。

在步骤112中还包括将参考光电信号中大于等于所述参考光有效发光阈值的区域作为高电平，将所述参考光电信号中小于所述参考光有效发光阈值的区域作为低电平。并且根据高电平以及低电平，生成第二方波信号。

在本实施例中，将步骤112中得到参考光有效阈值作为参考阈值，与参考光电信号的电压值进行对比。将参考光电信号电压值大于等于参考光有效阈值的参考光电信号转化为高电平，将参考光电信号电压值小于参考光有效阈值的参考光电信号转化为低电平，用上述转化方式对参考光电信号进行整形转化。将参考光电信号转换为由高低电平组成的第二方波。其中每个高电平的时间长度代表图4中t的长度。

进一步的，根据所述第二方波信号，计算第二时间。

根据累计在步骤112得到的第二方波中每个高电平的时长(t)，在激发光激发参考光物质一秒内，得到参考光电信号的有效总时间，再通过利用有效总时间以及方波数量，得到参考光有效发光的第二平均时间，也就是第二时间。

如图5所示，提供了一种应用上述荧光寿命检测方法的荧光寿命检测系统，所述荧光寿命检测系统包括光信号提供装置1、光电转换装置2以及电信号处理装置3。

在本实施例中，光信号提供装置1包括激发灯11，参考灯12，分光镜13，以及滤光片14。参考灯12和激发灯11设置在同一直线上，且发光时，光线方向分别朝向对方。分光镜13设置在参考灯12以及激发灯11所在直线的中点处位置，而滤光片14设置在荧光物质4发出荧光的光路上。

在本实施例中，光电转换装置2包括依次电连接的光电探测器，放大电路以及滤波电路。光电探测器用于将通过滤光片的光信号转化为电信号。由于荧光强度较为微弱，所以通过放大电路将荧光电信号进行放大处理。将荧光电信号进行放大处理后，噪音也会随之放大，需用通过滤波电路对放大后的荧光电信号进行滤波。光电转换装置2与电信号处理装置3电连接，用于向电信号处理装置3传输转化后的电信号。

在本实施例中，电信号处理装置3与参考灯12以及激发灯11电连接，用于向参考灯12以及激发灯11发送发光指令，使参考灯12以及激发灯11发光；并且根据由光电转换装置2输出的荧光电信号以及参考光电信号，计算得到第一时间以及第二时间；再根据第一时间以及第二时间，计算得到荧光寿命。

如图5所示，在进行检测时，荧光物质4，分光镜13以及滤光片14设置在一条直线上，而参考灯12，分光镜13以及激发灯11设置在另外一条直线上，且这两条直线互相垂直。通过电信号处理装置3向激发灯11发出发光指令，使激发灯11发出激发光，激发光11通过设置在光路方向上的分光镜13反射到荧光物质4上，荧光物质4发出荧光后穿过分光镜13后在通过滤光片14，使荧光到达光电转换装置2转化为荧光电信号，荧光电信号再由电信号处理装置3处理得到第一时间。再通过电信号处理装置3向参考灯12发出发光指令，使参考灯发12出参考光，参考光通过设置在光路方向上的分光镜13反射后直接通过滤光片14，使参考光到达光电转换装置2转化为参考光电信号，参考光电信号再由电信号处理装置3处理得到第二时间。

在本实施例中，分光镜13为对于中心波长为510nm的光的反射率为90％，对于中心波长为650nm的光的反射率为3％，通过率为95％。这样设置使波长中间为510nm的激发光通过分光镜13时可以反射到荧光物质上，激发荧光物质4发出波长中心为650nm的荧光，波长中心为650nm的荧光顺利通过分光镜13到达滤光片14。而设置在分光镜13另一边的参考灯，发出中心波长为650nm的光通过分光镜13的折射有3％的参考光可以到达滤光片14。这样设置是因为参考光比荧光强度大很多，所以不需要所有的参考光进入电信号处理装置3。

在本实施例中，还设置有与电信号处理装置3相连接的显示装置，用于将相信好处理装置3处理后的结果显示，方便用户查看数据。

上述荧光寿命检测方法，通过根据获取的荧光电信号，计算得到荧光电信号有效时间，以及根据获取的参考光信号，计算得到参考光电信号有效时间。再根据荧光电信号有效时间以及参考光电信号有效时间之间的时间差，计算得到荧光寿命。这样的计算方法避免了复杂的电路设计，并且利用均值法计算荧光寿命，提高了计算荧光寿命的准确性。

应该理解的是，虽然图1-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种检测氧浓度的装置，包括：第一时间获取模块200、第二时间获取模块210以及荧光寿命获取模块220其中：

第一时间获取模块200，用于获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间。

第二时间获取模块210，用于获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间。

荧光寿命获取模块220，用于根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

在一个实施例中，第一时间获取模块200，包括：

根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值。根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

在一个实施例中，第二时间获取模块210，包括：

根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值。

根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

上述检测氧浓度的装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种检测氧浓度方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值。

根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值。

根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值。

根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值。

根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种荧光寿命检测方法，其特征在于，所述方法包括：

其中，所述第一时间为荧光物质在被激发光照射的一秒内的有效发光时间或荧光物质在一个脉冲信号的激发光照射下的有效发光时间；

其中，参考光的波长与荧光波长中心相同，所述第二时间为参考光在一秒内的有效发光时间或参考光在一个脉冲信号的有效发光时间；

根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命。

2.根据权利要求1所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述获取荧光电信号，并根据所述荧光电信号计算得到第一时间包括：

根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值；

根据荧光有效发光阈值计算第一时间。

3.根据权利要求2所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述根据所述荧光电信号，获取荧光有效发光阈值包括：

获取所述荧光电信号的最大电压值；

根据所述最大电压值以及荧光有效光系数,计算得到荧光有效发光阈值。

4.根据权利要求2所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，

周期性激发荧光物质获得多个荧光电信号，

根据多个荧光电信号对应的有效发光阈值，计算第一平均时间，所述第一时间为所述第一平均时间。

5.根据权利要求2或4所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，根据荧光有效发光阈值生成第一方波信号，根据所述方波信号计算第一时间。

6.根据权利要求5所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述根据荧光有效发光阈值，生成第一方波信号包括：

根据所述高电平以及低电平，生成第一方波信号。

7.根据权利要求5所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，根据所述第一方波信号，计算第一时间包括：

获取第一方波信号的高电平数量以及高电平时长；

8.根据权利要求2所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述获取参考光电信号，并根据所述参考光电信号计算得到第二时间：

根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值；

根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间。

9.根据权利要求8所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述根据所述参考光电信号，获取参考光有效发光阈值包括：

获取所述参考光电信号的最大电压值；

10.根据权利要求8所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，

周期性发出参考光获得多个参考光信号；

根据多个参考光信号对应的有效发光阈值，计算第二平均时间，所述第二时间为所述第二平均时间。

11.根据权利要求8或10所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，根据所述参考光有效发光阈值计算第二时间包括：

根据所述参考光有效发光阈值，生成第二方波信号，

根据所述第二方波信号，计算第二时间。

12.根据权利要求11所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述根据所述参考光电信号以及参考光有效发光阈值，生成第二方波信号包括：

根据所述高电平以及低电平，生成第二方波信号。

13.根据权利要求11所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，根据所述第二方波信号，计算第二时间包括：

获取第二方波信号的高电平数量以及高电平时长；

14.根据权利要求13所述的荧光寿命检测方法，其特征在于，所述根据所述第一时间以及所述第二时间，计算得到荧光寿命；

将所述第一时间与所述第二时间做差，计算得到荧光寿命。

15.一种荧光寿命检测装置，其特征在与，所述装置包括：

16.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至14中任一项所述方法的步骤。

17.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至14中任一项所述的方法的步骤。