CN110187186A - 一种改进型分段回路电阻测试仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种改进型分段回路电阻测试仪，包括：恒流源、调节单元、电压采样单元、电流采样单元、AD转换电路、单片机控制器单元，所述恒流源的正极与被测电阻的第一结点连接，所述恒流源的负极与被测电阻的第四结点连接，所述恒流源与被测电阻组成电流回路，电流采样单元的输出端连接至AD转换电路的第二输入端，所述电压采样单元的输出端与连接至AD转换电路的第一输入端，所述AD转换电路的输出端连接至单片机控制器单元的输入端。本发明通过调节单元的设计，增加了回路电阻测试时的测试节点，利用调节单元中第四触点悬空，实现了对接线夹接触是否良好的检测，本发明提高了检测效率，实用性强。

Description

一种改进型分段回路电阻测试仪

技术领域

本发明涉及测试技术领域，更具体地，涉及一种改进型分段回路电阻测试仪。

背景技术

电力设备的回路电阻是表征导电回路的联接是否良好的重要参数，其值的大小直接影响正常工作时的载流能力和短路电流的切断能力，因此回路电阻测试仪已成为电力系统常用的试验仪器。而在如今的回路电阻测试仪的使用中，由于测试仪的测试接点单一及接触不良等问题，经常出现使用人员需多次更改测试线的接线夹接点，严重影响工作人员的工作效率，这个问题在变电站中的110kV及以上的隔离开关设备维护检修中表现得最为明显。工作人员在进行110kV及以上的隔离开关维护检修中，因为测试电压线的接线夹接触不良导致放电，以及更改接线夹接点来确定隔离开关发热点，需多次登上隔离开关构架上进行操作，造成重复工作，浪费了大量的工作时间，并且增加了登高作业的安全隐患。

发明内容

本发明为克服上述现有技术中的回路电阻测试装置测试接点单一、无法检测接线夹接触是否良好、检测效率低的缺陷，提供一种改进型分段回路电阻测试仪。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案如下：

一种改进型分段回路电阻测试仪，包括：恒流源、调节单元、电压采样单元、电流采样单元、AD转换电路、单片机控制器单元，

所述恒流源的正极与被测电阻的第一结点连接，所述恒流源的负极与被测电阻的第四结点连接，所述恒流源与被测电阻组成电流回路，所述调节单元的第一触点与恒流源的正极连接，所述调节单元的第二触点与被测电阻的第二结点连接，所述调节单元的第三触点与被测电阻的第三结点连接，所述调节单元的可变触点的固定端与电流采样单元的输入端电连接，电流采样单元的输出端连接至AD转换电路的第二输入端，所述调节单元的可变触点的固定端与电压采样单元的输入端正极连接，电压采样单元的输入端负极连接至被测电阻的第四结点，所述电压采样单元的输出端与连接至AD转换电路的第一输入端，所述AD转换电路的输出端连接至单片机控制器单元的输入端。

本发明通过将恒流源施加在被测电阻的两端，通过调节单元调整触点选择后，利用电压采样单元采集接入回路的电阻两端电压，利用电流采样单元回路电流，所述电压和电流通过A/D转换电路接入单片机控制芯片输入端，本发明中调节单元中将第四触点悬空作为参考触点，当可变触点的调节端调整在第四触点时，所述调节单元与待测电阻为断路状态，电压采集值为零，即回路电压值为零，当可变触点的调节端与第一触点或第二触点或任第三触点连接时，若电压采集值为零，则表明与触点对应连接的回路电阻测试结点接触不良，即接线夹接触不良。

本方案中，所述电流采样单元包括：电流传感器JLB-11、放大器U4B、放大器U4B、放大器U5、电阻R15、电阻R16、电阻R12、电阻R11、电容C1；

电流采样单元具体连接为：所述调节单元的可变触点的固定端连接至电流传感器JLB-11的原边输入端，所述电流传感器JLB-11输出端连接至放大器U4B的同相输入端，所述放大器U4B的反向输入端连接至所述放大器U4B的输出端，所述放大器U4B的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U4B的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U4B的输出端连接至电阻R15的一端，电阻R15的另一端分别连接电阻R16的一端和电容C1的一端，所述电容C1的另一端接地，所述电阻R16的另一端连接至放大器U5的正向输入端，所述放大器U5的方向输入端分别连接至电阻R12的一端和电阻R11的一端，所述电阻R12的另一端接地，所述电阻R11的另一端连接至放大器U5的输出端，所述放大器U5的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U5的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U5的输出端连接至AD转换电路第二输入端AIN2。

本方案中，所述电压采样单元包括：放大器U1A、放大器U2B、放大器U2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7；

电压采样单元具体连接为：

所述调节单元的可变触点的固定端连接至放大器U1A的正向输入端，所述放大器U1A的反向输入端分别连接至电阻R1的一端和电阻R2的一端，所述电阻R2的另一端连接至放大器U1A的输出端，所述电阻R1的另一端分别连接至放大器U2B的反向输入端和电阻R3的一端，所述电阻R3的另一端连接至放大器U2B的输出端，所述放大器U1A的输出端连接至电阻R4的一端，所述电阻R4的另一端分别连接至电阻R5的一端和放大器U2的反向输入端，所述电阻R5的另一端连接至放大器U2的输出端，所述放大器U2B的正向输入端连接至恒流源的负极，所述放大器U2B的输出端连接至电阻R6的一端，所述电阻R6的另一端分别连接至电阻R7的一端和放大器U2的正向输入端，所述电阻R7的另一端接地，所述放大器U2的输出端连接至AD转换电路第一输入端AIN1，所述放大器U1A和U2B的电源正输入端均连接至正15V电源，所述放大器U1A和U2B的电源负输入端均连接至负15V电源，所述放大器U2的电源正输入端连接至正12V电源，所述放大器U2的电源负输入端连接至负12V电源。

本方案中，所述AD转换电路采用转换芯片AD7714。

本方案中，所述AD转换电路和单片机控制器单元包括：单片机控制芯片、AD转换芯片AD7714、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电阻R8、电阻R9、电阻R10、二极管D3、晶振Z2、光耦合器6N137；

AD转换电路和单片机控制单元的连接电路具体如下：

所述AD转换芯片AD7714的8脚，即AD转换电路的第二输入端AIN2连接至放大器U5的输出端，所述AD转换芯片AD7714的7脚，即AD转换电路的第一输入端AIN1连接至放大器U2的输出端，所述AD转换芯片AD7714的12脚，11脚，5脚均连接至正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的5脚同时来连接至电容C3的一端和电容C2的一端，所述C3的另一端和电容C2的另一端均接地，所述AD转换芯片AD7714的1脚，22脚，20脚，6脚分别对应连接至单片机控制芯片的16脚，17脚，20脚，14脚，所述AD转换芯片AD7714的17脚，18脚，14脚，13脚，24脚，19脚，4脚均接地，AD转换芯片AD7714的15脚分别连接至电阻R8的一端和二极管D3的负极，二极管D3的正极接地，所述电阻R8的另一端接正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的2脚分别连接至晶振Z2的一端和电容C5的一端，电容C5的另一端接地同时连接至电容C4的一端，电容C4的另一端连接至晶振Z2的另一端，所述AD转换芯片AD7714的21脚连接至光耦合器6N137的阴极，光耦合器6N137的阳极连接至电阻R8的一端，电阻R9的另一端接正3.3V电源，所述光耦合器6N137的使能脚分别连接至电阻R10的一端和单片机控制芯片的50脚，电阻R10的另一端接正3.3V电源。

本方案中，所述单片机控制芯片为STM32F103RBT6芯片。

本方案中，单片机控制器单元还包括晶振电路和辅助电路，所述晶振电路和辅助电路包括：

电阻R11、晶振Y1、二极管D2、电池BT1、电容C10、电容C9、电容C8、电容C7、电容C6、

具体连接为：所述单片机控制芯片的5脚分别连接至电阻R11的一端，晶振Y1的一端和电容C6的一端，所述电阻R11的另一端，晶振Y1的另一端及单片机控制芯片的6脚连接至电容C7的一端，所述电容C6的另一端和电容C7的另一端均接地；

所述单片机控制芯片的3脚分别连接至晶振Y2的一端、电容C8的一端，所述电容C8的另一端接地，所述单片机控制芯片的4脚分别连接至晶振Y2的另一端和电容C9的一端，所述电容C9的另一端接地；

所述单片机控制芯片的1脚连接至二极管D2的负极，所述二极管D2的正极连接至电池BT1的正极，电池BT1的负极接地；

所述单片机控制芯片的32脚，48脚，64脚，19脚，13脚均连接至电容C10的一端，所述电容C10一端连接至正3.3V电源，电容C10的另一端分别连接至单片机控制芯片的31脚，47脚，63脚，18脚，12脚，所述电容C10的另一端同时接地。

与现有技术相比，本发明技术方案的有益效果是：

本发明通过调节单元的设计，增加了回路电阻测试时的测试节点，利用调节单元中第四触点悬空，实现了对接线夹接触是否良好的检测，本发明提高了检测效率，实用性强。

附图说明

图1为一种改进型分段回路电阻测试仪原理图。

图2为电流采样电路原理图。

图3为电压采样电路原理图。

图4为AD转换电路与单片机控制芯片的电路连接原理图。

图5为一种改进型分段回路电阻测试仪工作连接示意图。

具体实施方式

附图仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；

对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

下面结合附图和实施例对本发明的技术方案做进一步的说明。

实施例1

如图1所示，一种改进型分段回路电阻测试仪，包括：恒流源、调节单元、电压采样单元、电流采样单元、AD转换电路、单片机控制器单元，

所述恒流源的正极与被测电阻的第一结点连接，所述恒流源的负极与被测电阻的第四结点连接，所述恒流源与被测电阻组成电流回路，所述调节单元的第一触点与恒流源的正极连接，所述调节单元的第二触点与被测电阻的第二结点连接，所述调节单元的第三触点与被测电阻的第三结点连接，所述调节单元的可变触点的固定端与电流采样单元的输入端电连接，电流采样单元的输出端连接至AD转换电路的第二输入端，所述调节单元的可变触点的固定端与电压采样单元的输入端正极连接，电压采样单元的输入端负极连接至被测电阻的第四结点，所述电压采样单元的输出端与连接至AD转换电路的第一输入端，所述AD转换电路的输出端连接至单片机控制器单元的输入端。

需要说明的是，本发明可在单片机控制器单元连接指示单元，如显示屏指示电路，用于显示单片机控制器单元的处理结果，同时单片机控制器单元还可以设置声光指示电路(如蜂鸣器和LED指示灯)用于接线夹接触不良的告警提示。同时本发明中还可以通信接口单元与单片机控制器单元连接，用于外部通过通信接口历史测试数据。

本发明通过将恒流源施加在被测电阻的两端，通过调节单元调整触点选择后，利用电压采样单元采集接入回路的电阻两端电压，利用电流采样单元回路电流，所述电压和电流通过A/D转换电路接入单片机控制芯片输入端，本发明中调节单元中将第四触点悬空作为参考触点，当可变触点的调节端调整在第四触点时，所述调节单元与待测电阻为断路状态，电压采集值为零，即回路电压值为零，当可变触点的调节端与第一触点或第二触点或任第三触点连接时，若电压采集值为零，则表明与触点对应连接的回路电阻测试结点接触不良，即接线夹接触不良，测试仪发出告警提示。

如图2所示，本方案中，所述电流采样单元包括：电流传感器JLB-11、放大器U4B、放大器U4B、放大器U5、电阻R15、电阻R16、电阻R12、电阻R11、电容C1；

所述电流采样单元具体连接为：所述调节单元的可变触点的固定端连接至电流传感器JLB-11的原边输入端，所述电流传感器JLB-11输出端连接至放大器U4B的同相输入端，所述放大器U4B的反向输入端连接至所述放大器U4B的输出端，所述放大器U4B的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U4B的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U4B的输出端连接至电阻R15的一端，电阻R15的另一端分别连接电阻R16的一端和电容C1的一端，所述电容C1的另一端接地，所述电阻R16的另一端连接至放大器U5的正向输入端，所述放大器U5的方向输入端分别连接至电阻R12的一端和电阻R11的一端，所述电阻R12的另一端接地，所述电阻R11的另一端连接至放大器U5的输出端，所述放大器U5的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U5的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U5的输出端连接至AD转换电路第二输入端AIN2。

如图3所示，本方案中，所述电压采样单元包括：放大器U1A、放大器U2B、放大器U2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7；

所述电压采样单元具体连接为：

所述调节单元的可变触点的固定端连接至放大器U1A的正向输入端，所述放大器U1A的反向输入端分别连接至电阻R1的一端和电阻R2的一端，所述电阻R2的另一端连接至放大器U1A的输出端，所述电阻R1的另一端分别连接至放大器U2B的反向输入端和电阻R3的一端，所述电阻R3的另一端连接至放大器U2B的输出端，所述放大器U1A的输出端连接至电阻R4的一端，所述电阻R4的另一端分别连接至电阻R5的一端和放大器U2的反向输入端，所述电阻R5的另一端连接至放大器U2的输出端，所述放大器U2B的正向输入端连接至恒流源的负极，所述放大器U2B的输出端连接至电阻R6的一端，所述电阻R6的另一端分别连接至电阻R7的一端和放大器U2的正向输入端，所述电阻R7的另一端接地，所述放大器U2的输出端连接至AD转换电路第一输入端AIN1，所述放大器U1A和U2B的电源正输入端均连接至正15V电源，所述放大器U1A和U2B的电源负输入端均连接至负15V电源，所述放大器U2的电源正输入端连接至正12V电源，所述放大器U2的电源负输入端连接至负12V电源。

本方案中，所述AD转换电路采用转换芯片AD7714。

如图4所示，本方案中，所述AD转换电路和单片机控制器单元包括：单片机控制芯片、AD转换芯片AD7714、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电阻R8、电阻R9、电阻R10、二极管D3、晶振Z2、光耦合器6N137；

AD转换电路和单片机控制单元的连接电路具体如下：

所述AD转换芯片AD7714的8脚，即AD转换电路的第二输入端AIN2连接至放大器U5的输出端，所述AD转换芯片AD7714的7脚，即AD转换电路的第一输入端AIN1连接至放大器U2的输出端，所述AD转换芯片AD7714的12脚，11脚，5脚均连接至正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的5脚同时来连接至电容C3的一端和电容C2的一端，所述C3的另一端和电容C2的另一端均接地，所述AD转换芯片AD7714的1脚，22脚，20脚，6脚分别对应连接至单片机控制芯片的16脚，17脚，20脚，14脚，所述AD转换芯片AD7714的17脚，18脚，14脚，13脚，24脚，19脚，4脚均接地，AD转换芯片AD7714的15脚分别连接至电阻R8的一端和二极管D3的负极，二极管D3的正极接地，所述电阻R8的另一端接正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的2脚分别连接至晶振Z2的一端和电容C5的一端，电容C5的另一端接地同时连接至电容C4的一端，电容C4的另一端连接至晶振Z2的另一端，所述AD转换芯片AD7714的21脚连接至光耦合器6N137的阴极，光耦合器6N137的阳极连接至电阻R8的一端，电阻R9的另一端接正3.3V电源，所述光耦合器6N137的使能脚分别连接至电阻R10的一端和单片机控制芯片的50脚，电阻R10的另一端接正3.3V电源。

本方案中，所述单片机控制芯片为STM32F103RBT6芯片。

本方案中，单片机控制器单元还包括晶振电路和辅助电路，所述晶振电路和辅助电路包括：

电阻R11、晶振Y1、二极管D2、电池BT1、电容C10、电容C9、电容C8、电容C7、电容C6、

具体连接为：所述单片机控制芯片的5脚分别连接至电阻R11的一端，晶振Y1的一端和电容C6的一端，所述电阻R11的另一端，晶振Y1的另一端及单片机控制芯片的6脚连接至电容C7的一端，所述电容C6的另一端和电容C7的另一端均接地；

所述单片机控制芯片的3脚分别连接至晶振Y2的一端、电容C8的一端，所述电容C8的另一端接地，所述单片机控制芯片的4脚分别连接至晶振Y2的另一端和电容C9的一端，所述电容C9的另一端接地；

所述单片机控制芯片的1脚连接至二极管D2的负极，所述二极管D2的正极连接至电池BT1的正极，电池BT1的负极接地；

所述单片机控制芯片的32脚，48脚，64脚，19脚，13脚均连接至电容C10的一端，所述电容C10一端连接至正3.3V电源，电容C10的另一端分别连接至单片机控制芯片的31脚，47脚，63脚，18脚，12脚，所述电容C10的另一端同时接地。

实施例1的使用过程如下：

如图5所示，在使用本发明进行110kV及以上的隔离开关维护检修工作时，先使用测试线接通隔离开关的导电回路后，测试电流线的接线夹接点为隔离开关的两端(即B点和M点)，测试电压线的接线夹接点包含隔离开关三点易发热点(接线板、将军帽与导电臂的连接点以及隔离开关触指连接点)，其中，图5中B点为第一结点，C点为第二结点，D点为第三结点，M点为第四结点，连接调节单元的第一触点，同时连接至恒流源正极，连接调节单元的第二触点，连接调节单元的第三触点,连接至恒流源负极，在测试之前，先将调节单元的可变触点的调节端调整至第一触点、第二触点、第三触点，判断对应的B点、C点、D点结点接线夹接触是否正常，在检测完成后，接通电源开始测试，先通过选择整组电阻测量功能，接通第一触点，测量隔离开关整组电阻，判断隔离开关是否存在电阻过大导致刀闸发热的缺陷；若存在发热缺陷，则选择分段电阻测量的功能，自动调节开关选择器的触点选择，对隔离开关存在的三点易发热点进行分段回路电阻测量，从而通过三段阻值的大小确定隔离开关发热点的准确位置。

相同或相似的标号对应相同或相似的部件；

附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；

显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，包括：恒流源、调节单元、电压采样单元、电流采样单元、AD转换电路、单片机控制器单元，

所述恒流源的正极与被测电阻的第一结点连接，所述恒流源的负极与被测电阻的第四结点连接，所述恒流源与被测电阻组成电流回路，所述调节单元的第一触点与恒流源的正极连接，所述调节单元的第二触点与被测电阻的第二结点连接，所述调节单元的第三触点与被测电阻的第三结点连接，所述调节单元的可变触点的固定端与电流采样单元的输入端电连接，电流采样单元的输出端连接至AD转换电路的第二输入端，所述调节单元的可变触点的固定端与电压采样单元的输入端正极连接，电压采样单元的输入端负极连接至被测电阻的第四结点，所述电压采样单元的输出端与连接至AD转换电路的第一输入端，所述AD转换电路的输出端连接至单片机控制器单元的输入端。

2.根据权利要求1所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，所述电流采样单元包括：电流传感器JLB-11、放大器U4B、放大器U4B、放大器U5、电阻R15、电阻R16、电阻R12、电阻R11、电容C1；

电流采样单元具体连接为：所述调节单元的可变触点的固定端连接至电流传感器JLB-11的原边输入端，所述电流传感器JLB-11输出端连接至放大器U4B的同相输入端，所述放大器U4B的反向输入端连接至所述放大器U4B的输出端，所述放大器U4B的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U4B的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U4B的输出端连接至电阻R15的一端，电阻R15的另一端分别连接电阻R16的一端和电容C1的一端，所述电容C1的另一端接地，所述电阻R16的另一端连接至放大器U5的正向输入端，所述放大器U5的方向输入端分别连接至电阻R12的一端和电阻R11的一端，所述电阻R12的另一端接地，所述电阻R11的另一端连接至放大器U5的输出端，所述放大器U5的电源正输入端连接正12V电源，所述放大器U5的电源负输入端连接负12V电源，所述放大器U5的输出端连接至AD转换电路第二输入端AIN2。

3.根据权利要求1所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，所述电压采样单元包括：放大器U1A、放大器U2B、放大器U2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7；

所述电压采样单元具体连接为：

所述调节单元的可变触点的固定端连接至放大器U1A的正向输入端，所述放大器U1A的反向输入端分别连接至电阻R1的一端和电阻R2的一端，所述电阻R2的另一端连接至放大器U1A的输出端，所述电阻R1的另一端分别连接至放大器U2B的反向输入端和电阻R3的一端，所述电阻R3的另一端连接至放大器U2B的输出端，所述放大器U1A的输出端连接至电阻R4的一端，所述电阻R4的另一端分别连接至电阻R5的一端和放大器U2的反向输入端，所述电阻R5的另一端连接至放大器U2的输出端，所述放大器U2B的正向输入端连接至恒流源的负极，所述放大器U2B的输出端连接至电阻R6的一端，所述电阻R6的另一端分别连接至电阻R7的一端和放大器U2的正向输入端，所述电阻R7的另一端接地，所述放大器U2的输出端连接至AD转换电路第一输入端AIN1，所述放大器U1A和U2B的电源正输入端均连接至正15V电源，所述放大器U1A和U2B的电源负输入端均连接至负15V电源，所述放大器U2的电源正输入端连接至正12V电源，所述放大器U2的电源负输入端连接至负12V电源。

4.根据权利要求1所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，所述AD转换电路采用转换芯片AD7714。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，所述AD转换电路和单片机控制器单元包括：单片机控制芯片、AD转换芯片AD7714、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电阻R8、电阻R9、电阻R10、二极管D3、晶振Z2、光耦合器6N137；

所述AD转换电路和单片机控制单元的连接电路具体如下：

所述AD转换芯片AD7714的8脚，即AD转换电路的第二输入端AIN2连接至放大器U5的输出端，所述AD转换芯片AD7714的7脚，即AD转换电路的第一输入端AIN1连接至放大器U2的输出端，所述AD转换芯片AD7714的12脚，11脚，5脚均连接至正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的5脚同时来连接至电容C3的一端和电容C2的一端，所述C3的另一端和电容C2的另一端均接地，所述AD转换芯片AD7714的1脚，22脚，20脚，6脚分别对应连接至单片机控制芯片的16脚，17脚，20脚，14脚，所述AD转换芯片AD7714的17脚，18脚，14脚，13脚，24脚，19脚，4脚均接地，AD转换芯片AD7714的15脚分别连接至电阻R8的一端和二极管D3的负极，二极管D3的正极接地，所述电阻R8的另一端接正5V电源，所述AD转换芯片AD7714的2脚分别连接至晶振Z2的一端和电容C5的一端，电容C5的另一端接地同时连接至电容C4的一端，电容C4的另一端连接至晶振Z2的另一端，所述AD转换芯片AD7714的21脚连接至光耦合器6N137的阴极，光耦合器6N137的阳极连接至电阻R8的一端，电阻R9的另一端接正3.3V电源，所述光耦合器6N137的使能脚分别连接至电阻R10的一端和单片机控制芯片的50脚，电阻R10的另一端接正3.3V电源。

6.根据权利要求5所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，所述单片机控制芯片为STM32F103RBT6芯片。

7.根据权利要求6所述的一种改进型分段回路电阻测试仪，其特征在于，单片机控制器单元还包括晶振电路和辅助电路，所述晶振电路和辅助电路包括：

电阻R11、晶振Y1、二极管D2、电池BT1、电容C10、电容C9、电容C8、电容C7、电容C6、

具体连接为：所述单片机控制芯片的5脚分别连接至电阻R11的一端，晶振Y1的一端和电容C6的一端，所述电阻R11的另一端，晶振Y1的另一端及单片机控制芯片的6脚连接至电容C7的一端，所述电容C6的另一端和电容C7的另一端均接地；

所述单片机控制芯片的3脚分别连接至晶振Y2的一端、电容C8的一端，所述电容C8的另一端接地，所述单片机控制芯片的4脚分别连接至晶振Y2的另一端和电容C9的一端，所述电容C9的另一端接地；

所述单片机控制芯片的1脚连接至二极管D2的负极，所述二极管D2的正极连接至电池BT1的正极，电池BT1的负极接地；

所述单片机控制芯片的32脚，48脚，64脚，19脚，13脚均连接至电容C10的一端，所述电容C10一端连接至正3.3V电源，电容C10的另一端分别连接至单片机控制芯片的31脚，47脚，63脚，18脚，12脚，所述电容C10的另一端同时接地。