CN110166143B - 一种基站性能的测试方法、设备及系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种基站性能的测试方法、设备及系统，包括：该性能测试系统中包含球形探头墙、信道模拟器和测试设备，根据被测设备的信道模型，可以对球形探头墙中分布的探头进行选择，并利用选择的探头采集被测设备发射的测试信号，进而通过信道模拟器模拟实际传播信道，对测试信号进行处理，这样通过测试设备接收到的处理结果可以评估被测设备的性能。这样，针对不同拥有不同天线数量的被测设备，都可以通过本测试系统完成测试，有效保证信道模拟测试的精确度。

Description

一种基站性能的测试方法、设备及系统

技术领域

本申请涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种基站性能的测试方法、设备及系统。

背景技术

随着通信技术的发展，通信行业的服务内容从语音业务转向数据业务，例如：视频直播业务、在线游戏业务等，这些数据业务的快速发展，要求移动通信网络具备高容量、广覆盖、低时延等特点。为了提升峰值速率和频谱效率，在通信技术领域引入Massive(大规模)MIMO(Multiple-Input Multiple-Output；多输入多输出)技术。采用这种技术，基站设备配置64阵子、128天线，并行传输高达16路的独立数据，相比传统8天线2路的独立数据传输方式，在不增加系统带宽的情况下，基站设备的峰值速率提升8倍。

目前采用线缆级联的方式对Massive MIMO基站设备的天线性能进行测试。具体地，信道模拟器模拟基站设备与终端设备之间由于空气传播带来的损耗，被测基站设备发射的信号传输至信道模拟器，多台多信道模拟器的输出信号经过合路后进入终端设备，这样通过分析终端设备接收到的信号能够得出被测基站设备在衰落场景下的吞吐量性能，进而评估被测基站设备在真是场景下的覆盖和峰值性能。

但是，这种测试方式存在以下问题：Massive MIMO基站设备通道数较多，以64通道基站设备为例，若需要测试8路数据的传输性能，需要信道模拟器具备64收、8发的双向射频功能，具备1024路逻辑通道。这就意味着Massive MIMO基站设备按照传统的线缆级联方式进行测试，存在连线复杂，测试效率低的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种基站性能的测试方法、设备及系统，用于解决Massive MIMO基站设备的天线性能测试问题。

本申请实施例提供了一种基站性能的测试系统，包括：

信号采集设备，包含球形探头墙，通过所述球形探头墙上分布的探头采集待测基站设备发射的下行业务数据信号，并将所述下行业务数据信号传输至信道模拟器，所述探头对应的探头插孔的位置是根据所述待测基站设备的信道模型确定的；

信道模拟器，接收所述信号采集设备发送的所述下行业务数据信号，通过信道衰落模型产生衰落信号，并将所述下行业务数据信号和所述信道衰落进行卷积，得到卷积结果；以及接收所述测试设备的上行数据，通过信道衰落模型产生信道衰落，并通过选择的探头将所述信道衰落发送给所述待测基站设备，使得所述待测基站设备根据所述信道衰落分析其性能；

测试设备，接收所述信道模拟器发送的卷积结果，根据所述卷积结果，分析所述待测基站设备的性能。

本申请实施例提供了一种基站性能的测试方法，包括：

根据信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置；

通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器；

通过所述信道模拟器产生信道衰落，将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果；

将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

本申请实施例还提供了一种基站性能的测试设备，包括：

选择单元，用于根据被测设备的信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置；

发送单元，用于通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器；

处理单元，用于通过所述信道模拟器产生信道衰落，将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果；

测试单元，用于将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

本申请提供的至少一个实施例所达到的有益效果如下：

本申请实施例提供了基站性能测试系统，该基站性能测试系统中包含球形探头墙、信道模拟器和测试设备，根据被测设备的信道模型，可以对球形探头墙中分布的探头进行选择，并利用选择的探头采集被测设备发射的测试信号，进而通过信道模拟器模拟实际传播信道，对测试信号进行处理，这样通过测试设备接收到的处理结果可以评估被测设备的性能。这样，针对不同拥有不同天线数量的被测设备，都可以通过本测试系统完成测试，有效保证信道模拟测试的精确度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种基站性能的测试系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的球形探头墙上分布探头的位置示意图；

图3为本申请实施例提供的球形探头墙上分布探头的位置示意图；

图4为本申请实施例提供的一种基站性能的测试系统的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的一种基站性能的测试方法的流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种基站性能的测试设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，本申请实施例提供了一种基站性能的测试方法、设备及系统，该天线性能测试系统中包含球形探头墙、信道模拟器和测试设备，根据被测设备的信道模型，可以对球形探头墙中分布的探头进行选择，并利用选择的探头采集被测设备发射的测试信号，进而通过信道模拟器模拟实际传播信道，对测试信号进行处理，这样通过测试设备接收到的处理结果可以评估被测设备的性能。这样，针对不同拥有不同天线数量的被测设备，都可以通过本测试系统完成测试，有效保证信道模拟测试的精确度。

需要说明的是，本申请实施例中记载的天线性能测试系统可以测试基站设备的天线的下行性能，也可以测试基站设备的天线的上行性能，这里不做具体限定。

在本申请实施例中以天线性能测试系统以测试基站设备的天线的下行性能为例进行说明。

下面结合说明书附图对本申请作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

图1为本申请实施例提供的一种基站性能的测试系统的结构示意图。所述测试系统包括：信号采集设备101、信道模拟器102和测试设备103，其中：

信号采集设备101，包含球形探头墙，通过所述球形探头墙上分布的探头采集待测基站设备发射的下行业务数据信号，并将所述下行业务数据信号传输至信道模拟器，所述探头对应的探头插孔的位置是根据所述待测基站设备的信道模型确定的；

信道模拟器102，接收所述信号采集设备发送的所述下行业务数据信号，通过信道衰落模型产生信道衰落，并将所述下行业务数据信号和所述信道衰落进行卷积，得到卷积结果；以及接收所述测试设备的上行数据，通过信道衰落模型产生信道衰落，并通过选择的探头将所述信道衰落发送给所述待测基站设备，使得所述待测基站设备根据所述信道衰落分析其性能；

测试设备103，接收所述信道模拟器发送的卷积结果，根据所述卷积结果，分析所述待测基站设备的性能。

需要说明的是，这里的测试设备可以为终端设备。从图1中可以看出，信道模拟器可以为两个，一个信道模拟器用于接收基站设备发送的下行业务数据信号，用于评估基站设备的下行业务性能；另一个信道模拟器用于接收终端设备发送的上行业务数据信号，用于评估基站设备的上行业务性能。

具体地，本申请实施例中记载的信号采集设备可以为大规模阵列天线暗室，被测设备(这里可以是指Massive MIMO基站设备)位于大规模阵列天线暗室内，被固定在三维转台上，可实现俯仰角和水平角的精确控制。被测设备的物理中心位于球形探头墙的球心，通过球形探头墙中分布的探头采集被测设备发射的测试信号，并经射频线缆发送至位于暗室外的信道模拟器中。

需要说明的是，本申请实施例中记载的球形探头墙的水平展宽和垂直展宽可以根据被测设备的天线的覆盖能力确定。不同的被测设备的天线的覆盖能力不同，那么球形探头墙的水平展宽和垂直展宽也可以不同。例如：球形探头墙的水平展宽的取值可以为±60°，垂直展宽的取值可以为±30°。

球形探头上分布由探头插孔，用于采集被测设备发射的被测信号的探头可以被布置在选定的探头插孔上。

下面详细说明球形探头墙上分布的探头插孔的位置关系情况。

第一种方式：所述球形探头墙上分布多个探头插孔，相邻两个水平分布的探头插孔与相邻两个垂直分布的探头插孔之间的间距相同。

其中，相邻两个探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足设定条件。

需要说明的是，这里所记载的设定条件可以根据信道模拟精度和探头之间的互耦关系确定。例如：相邻两个探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角为3°。

图2为本申请实施例提供的球形探头墙上分布探头的位置示意图。

从图2中可以看出，探头插孔1、探头插孔2与球形探头墙的球心之间的夹角为3°；探头插孔1、探头插孔3与球形探头墙的球心之间的夹角为3°。

第二种方式：所述球形探头墙上分布多个探头插孔，不同行的探头插孔交错分布，其中，相邻两个水平分布的探头插孔之间的间距为相邻两个垂直分布的探头插孔之间的间距的2倍。

其中，相邻两个水平探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足第一设定阈值；

相邻两个垂直探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足第二设定阈值；

所述第一设定阈值与所述第二设定阈值不同。

需要说明的是，相邻两个水平探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角可以为6°；相邻两个垂直探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角可以为3°。

图3为本申请实施例提供的球形探头墙上分布探头的位置示意图。

从图3中可以看出，探头插孔1、探头插孔2与球形探头墙的球心之间的夹角为6°；探头插孔1、探头插孔3与球形探头墙的球心之间的夹角为3°。

探头插入球形探头墙分布的探头插孔中，可上下左右微调角度，使其指向被测设备的物理中心。

若被测设备发射的被测信号为毫米波信号，那么探头在探测到毫米波信号之后，还需要将该毫米波信号传输至下变频设备中，对该被测信号进行变频处理，以便于将变频处理后的被测信号传输给信道模拟器。

图4为本申请实施例提供的一种基站性能的测试系统的结构示意图。在图1的基础之上，该测试系统还包含下变频设备401和上变频设备402，其中：

所述下变频设备401一端连接所述球形探头墙上分布的探头，另一端连接所述信号模拟器102；

所述上变频设备402一端连接所述信号模拟器，另一端连接所述测试设备103。

图4中所示的测试系统可以应用在毫米波Massive MIMO基站设备中，信号采集设备接收到Massive MIMO基站设备发送的毫米波测试信号，通过下变频设备401将该毫米波测试信号变频至信道模拟器支持的低频信号。

信道模拟器叠加包含大尺度衰落和小尺度衰落的信道模型(也可以称之为衰落信号)后输出至上变频设备402。

由上变频设备402将信道模拟器输出的低频信号变频至毫米波信号，并将该毫米波信号传输给配合测试的终端设备。

由于该性能测试系统中包含球形探头墙、信道模拟器和测试设备，那么根据被测设备的信道模型，可以对球形探头墙中分布的探头进行选择，并利用选择的探头采集被测设备发射的测试信号，进而通过信道模拟器模拟实际传播信道，对测试信号进行处理，这样通过测试设备接收到的处理结果可以评估被测设备的性能。这样，针对不同拥有不同天线数量的被测设备，都可以通过本测试系统完成测试，有效保证信道模拟测试的精确度。

下面详细描述本申请实施例提供的基站性能测试系统的测试方法，进一步说明如何对球形探测墙中分布的探头插孔进行选择。

图5为本申请实施例提供的一种基站性能的测试方法的流程示意图。所述方法可以如下所示。

步骤501：根据被测设备的信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

在本申请实施例中，为了适应各种被测设备的性能测试需要，球形探测墙中包含了多个探头插孔(又可称之为探头位置)，那么针对不同的被测设备，参与测试的探头插孔可能不同，因此，需要根据被测设备选择用于测试的探头插孔，进而利用选择的探头插孔上部署的探头采集被测采集设备发射的被测信号。

具体地，根据被测设备的信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置，包括：

首先，根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重。

具体地，通过以下方式得到被测设备的空间目标相关性：

通过以下方式得到被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性：

当空间目标相关性与拟合相关性满足：

且

的情况下，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重；

其中，

为被测设备中第m对天线中天线u的位置矢量，

为被测设备中第m对天线中天线v的位置矢量，

为信号角度矢量，ω_n,n∈(1,N)为第n个探头位置的权重，

为第n个探头位置的位置矢量，ρ(Ω)为三维角度功率谱。

其次，根据所述权重，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

具体地，按照所述权重值的大小，筛除设定数量的的探头位置；

在剩余的探头位置数量大于被测设备中天线的数量的情况下，继续执行根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与剩余探头位置之间的拟合相关性，得到所述剩余的各个探头位置的权重的操作；

在剩余的探头位置数量不大于被测设备中天线的数量的情况下，将剩余的探头位置确定为用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

也就是说，当总探头位置数与被测设备所使用的探头位置数不同(总探头数大于被测设备所使用的探头数)时，需要通过遍历的方式确定使得空间相关性拟合效果最优的被测设备所使用的探头位置。

例如：在每次遍历的时候，可以优先筛除权重值最小的或者优先从权重值最下开始筛除，筛除设定数量的探头位置。由于权重最小的探头位置对空间相关性拟合贡献最低，将权重最小的探头位置筛除后对剩下的探头位置进行新一轮的优化，再筛除权重最小的探头位置。依次重复执行操作，使得最后剩余满足被测设备所使用的探头位置数的探头位置。

较优地，在确定需要筛除的探头位置的情况下，还可以进一步判断最小权重值是否大于设定权重值，如果大于，那么本次筛除1个探头位置。之后重复执行操作，这样能够提高探头位置的优化速度和测试精度。

步骤502：通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器。

在本申请实施例中，安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，通过射频线缆将所述测试信号传输至信道模拟器。

步骤503：通过所述信道模拟器产生信道衰减，将所述信道衰减和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果。

在本申请实施例中，通过所述信道模拟器产生信道衰减；

确定被测信号的信道系数，并利用所述信道系数将所述信道衰减和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果。

这里可以通过以下方式确定被测信道的实际传播信道的信道系数。

假设本申请实施例中使用OTA探头，其为理想的全向天线，则对于信号采集设备采集到N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA垂直极化探头k至接收天线u的信道系数为：

同样地，对于N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA水平极化探头k至接收天线u的信道系数为：

其中：P_n为第n簇归一化功率；θ_n,m,ZOA,φ_n,m,AOA分别为第n簇中第m个径的ZOA，AOA；F_rx,u,θ,F_rx,u,φ分别为UE终端的水平及垂直极化增益；k_n,m为极化功率比；

为初始相位；

为接收信号方向单位矢量；

为接收天线位置矢量；λ₀为波长；

为速度方向矢量；w_k,n为第n簇、第k个探头上的优化权重值。

步骤504：将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

需要说明的是，本申请实施例中记载的测试性能包括但不限于：天线的发射功率、接收灵敏度、增益、方向性、波瓣宽度、前后比的测量等等。

通过本申请实施例提供的技术方案，可以同时支持6GHz以下和毫米波频段的Massive MIMO基站性能测试，可支持多种信道模型、用户数目和移动速度，无需大量信道模拟器和探头，测试成本低。

图6为本申请实施例提供的一种基站性能的测试设备的结构示意图。所述测试设备包括：选择单元601、发送单元602、处理单元603和测试单元604，其中：

选择单元601，用于根据被测设备的信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置；

发送单元602，用于通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器；

处理单元603，用于通过所述信道模拟器产生信道衰减，将所述信道衰减和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果；

测试单元604，用于将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

在本申请的另一个实施例中，所述选择单元601根据被测设备的信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置，包括：

根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重；

根据所述权重，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

在本申请的另一个实施例中，所述选择单元601根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重，包括：

通过以下方式得到被测设备的空间目标相关性：

通过以下方式得到被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头之间的拟合相关性：

当空间目标相关性与拟合相关性满足：

且

的情况下，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重；

其中，

为被测设备中第m对天线中天线u的位置矢量，

为被测设备中第m对天线中天线v的位置矢量，

为信号角度矢量，ω_n,n∈(1,N)为第n个探头位置的权重，

为第n个探头位置的位置矢量，ρ(Ω)为三维角度功率谱。

在本申请的另一个实施例中，所述选择单元601根据所述权重，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置，包括：

按照所述权重值的大小，筛除设定数量的的探头位置；

在剩余的探头位置数量大于被测设备中天线的数量的情况下，继续执行根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与剩余探头位置之间的拟合相关性，得到所述剩余的各个探头位置的权重的操作；

在剩余的探头位置数量不大于被测设备中天线的数量的情况下，将剩余的探头位置确定为用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

在本申请的另一个实施例中，所述处理单元603通过所述信道模拟器产生信道衰减，将所述信道衰减和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果，包括：

通过所述信道模拟器产生信道衰减；

确定被测信号的信道系数，并利用所述信道系数将所述信道衰减和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果。

需要说明的是，本申请实施例提供的测试设备可以通过软件方式实现，也可以通过硬件方式实现，这里不做具体限定。本申请实施例提供的测试设备中包含球形探头墙、信道模拟器和测试设备，根据被测设备的信道模型，可以对球形探头墙中分布的探头进行选择，并利用选择的探头采集被测设备发射的测试信号，进而通过信道模拟器模拟实际传播信道，对测试信号进行处理，这样通过测试设备接收到的处理结果可以评估被测设备的性能。这样，针对不同拥有不同天线数量的被测设备，都可以通过本测试系统完成测试，有效保证信道模拟测试的精确度。

本领域的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、装置(设备)、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、装置(设备)和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (12)

1.一种基站性能的测试系统，其特征在于，包括：

信号采集设备，包含球形探头墙，通过所述球形探头墙上分布的探头采集待测基站设备发射的下行业务数据信号，并将所述下行业务数据信号传输至信道模拟器，所述探头对应的探头插孔的位置是根据信道模型确定的；

信道模拟器，接收所述信号采集设备发送的所述下行业务数据信号，通过信道衰落模型产生信道衰落，并利用信道系数将所述下行业务数据信号和所述信道衰落进行卷积，得到卷积结果；以及接收测试设备的上行数据，通过信道衰落模型产生信道衰落，并通过选择的探头将所述信道衰落发送给所述待测基站设备，使得所述待测基站设备根据所述信道衰落分析其性能；

使用OTA探头，对于信号采集设备采集到N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA垂直极化探头k至接收天线u的信道系数为：

对于N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA水平极化探头k至接收天线u的信道系数为：

其中：P_n为第n簇归一化功率；θ_n,m,ZOA,φ_n,m,AOA分别为第n簇中第m个径的ZOA，AOA；F_rx,u,θ,F_rx,u,φ分别为UE终端的水平及垂直极化增益；k_n,m为极化功率比；

为初始相位；

为接收信号方向单位矢量；

为接收天线位置矢量；λ₀为波长；

为速度方向矢量；w_k,n为第n簇、第k个探头上的优化权重值；

测试设备，接收所述信道模拟器发送的卷积结果，根据所述卷积结果，分析所述待测基站设备的性能。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述球形探头墙上分布多个探头插孔，相邻两个水平分布的探头插孔与相邻两个垂直分布的探头插孔之间的间距相同。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，相邻两个探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足设定条件。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述球形探头墙上分布多个探头插孔，不同行的探头插孔交错分布，其中，相邻两个水平分布的探头插孔之间的间距为相邻两个垂直分布的探头插孔之间的间距的2倍。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，相邻两个水平探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足第一设定阈值；

相邻两个垂直探头插孔与所述球形探头墙的球心之间的夹角满足第二设定阈值；

所述第一设定阈值与所述第二设定阈值不同。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，若待测基站设备支持毫米波频段，则所述测试系统还包含下变频设备和上变频设备，其中：

所述下变频设备一端连接所述球形探头墙上分布的探头，另一端连接所述信道模拟器；

所述上变频设备一端连接所述信道模拟器，另一端连接所述测试设备。

7.一种基站性能的测试方法，其特征在于，包括：

根据信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集被测设备发射的测试信号的探头的探头位置；

通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器；

通过所述信道模拟器产生信道衰落，利用信道系数将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果；

使用OTA探头，对于信号采集设备采集到N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA垂直极化探头k至接收天线u的信道系数为：

对于N簇被测信号，针对其中第n簇被测信号，从OTA水平极化探头k至接收天线u的信道系数为：

其中：P_n为第n簇归一化功率；θ_n,m,ZOA,φ_n,m,AOA分别为第n簇中第m个径的ZOA，AOA；F_rx,u,θ,F_rx,u,φ分别为UE终端的水平及垂直极化增益；k_n,m为极化功率比；

为初始相位；

为接收信号方向单位矢量；

为接收天线位置矢量；λ₀为波长；

为速度方向矢量；w_k,n为第n簇、第k个探头上的优化权重值；

将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，根据信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置，包括：

根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重；

根据所述权重，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重，包括：

通过以下方式得到被测设备的空间目标相关性：

通过以下方式得到被测设备的天线与所述球形探头墙上分布的探头位置之间的拟合相关性：

当空间目标相关性与拟合相关性满足：

且

的情况下，得到所述球形探头墙上分布的各个探头位置的权重；

其中，

为被测设备中第m对天线中天线u的位置矢量，

为被测设备中第m对天线中天线v的位置矢量，

为信号角度矢量，ω_n,n∈(1,N)为第n个探头位置的权重，

为第n个探头位置的位置矢量，ρ(Ω)为三维角度功率谱。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，根据所述权重，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置，包括：

按照所述权重值的大小，筛除设定数量的探头位置；

在剩余的探头位置数量大于被测设备中天线的数量的情况下，继续执行根据被测设备的空间目标相关性和被测设备的天线与剩余探头位置之间的拟合相关性，得到所述剩余的各个探头位置的权重的操作；

在剩余的探头位置数量不大于被测设备中天线的数量的情况下，将剩余的探头位置确定为用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置。

11.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，通过所述信道模拟器产生信道衰落，将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果，包括：

通过所述信道模拟器产生信道衰落；

确定被测信号的信道系数，并利用所述信道系数将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果。

12.一种基站性能的测试设备，用于实现权利要求7～11任意一项所述方法，其特征在于，包括：

选择单元，用于根据信道模型，从球形探头墙上分布的探头位置中选择用于采集所述被测设备发射的测试信号的探头位置；

发送单元，用于通过安装在选择的所述探头位置上的探头接收所述被测设备发射的测试信号，将所述测试信号传输至信道模拟器；

处理单元，用于通过所述信道模拟器产生信道衰落，将所述信道衰落和所述测试信号进行卷积，得到卷积结果；

测试单元，用于将所述卷积结果发送给测试设备，由所述测试设备根据所述卷积结果判断所述被测设备的性能。

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