CN110149159A - 基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法 - Google Patents

基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种基于NB‑IoT的天线灵敏度测试方法，包括：采用传统TIS测试方法或TIS快速测试方法对NB‑IoT被测物进行灵敏度测试；如果NB‑IoT被测物因信噪比差而导致无法测出误码率，则后面的测试实验逐步增加探头装置发出信号数据包的重传次数，直至NB‑IoT被测物接收到信号，测出NB‑IoT被测物的误码率，记录下此时重传次数Nr。利用该方法能够完成信噪比差的NB‑IoT被测物的灵敏度测试，可以准确测出NB‑IoT被测物的误码率。

Description

基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法
技术领域
本发明涉及天线测量技术领域，尤其是涉及一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法。
背景技术
在天线测量的过程中，主要对天线的发射性能和接受性能进行测试。对天线的发射性能的测试一般是对天线的全向辐射功率(即TRP)测试，而对天线的接受性能的测试一般是对天线的全向灵敏度(即TIS)测试。
对天线的最小全向灵敏度的测试过程一般是：以探头装置作为信号发射源而将天线作为被测物，通过探头装置从球面空间的某一点发射信号照射天线，对天线接收到的信号进行处理得出误码率。一般，探头装置发出的信号的发射功率越小，天线接收到的信号的误码率就会越高。根据CTIA(无线通信和互联网协会)制定的标准，天线的最小灵敏度是指天线接收到的信号的误码率为2.44％时该信号的发射功率。
上述中的现有技术方案存在以下缺陷：由于每一次灵敏度测试由探头装置发出的信号数据包都只有一次，然而部分NB-IoT(Narrow Band Internet of Things,窄带物联网)产品的信噪比差，导致灵敏度感应不灵敏，可能存在完全无法接收到信号数据包的情况，其直接表现为无法测出误码率。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，能够完成信噪比差的NB-IoT被测物的灵敏度测试，可以准确测出NB-IoT被测物的误码率。
本发明的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，包括：
采用传统TIS测试方法或TIS快速测试方法对NB-IoT被测物进行灵敏度测试；
如果NB-IoT被测物因信噪比差而导致无法测出误码率，则后面的测试实验逐步增加探头装置发出信号数据包的重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号，测出NB-IoT被测物的误码率，记录下此时重传次数Nr。
通过采用上述技术方案，采用了最基本的通俗原理：说一遍听不清，就多说几遍，在NB-IoT被测物因信噪比差而无法接收到探头装置发射出的信号数据包时，重新增加每次测试信号数据包的发射次数，即：重传，这样NB-IoT被测物能够接收到信号的机会就会变大，随着重传的增加，最终NB-IoT被测物基本都能接收到信号，从而测出NB-IoT被测物的误码率。该方法不直接将重传次数设置为最大的原因是：1.重传次数的增加必然会导致测试时间的增加，从而导致测试效率变低；2.重传次数每翻一倍，都会导致3dB左右的发射功率增益，从而会影响该测试实验结果的精度，由此上述测试方法不仅仅效率最快，而且精度最准，同时还能突破目前的技术瓶颈，规避信噪比差所带来的问题，完美测出NB-IoT被测物的误码率。
本发明进一步设置为，在对同型号的其他NB-IoT被测物进行测试时，直接将重传次数设置为Nr，测出NB-IoT被测物的误码率；如果NB-IoT被测物依旧无法接收到信号，则在Nr的基础上，再增加重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号。
通过采用上述技术方案，由于同型号(同类型、同规格)的NB-IoT被测物具有一定的类似性，所以一般情况下其信噪比也差不多，因此将重传次数直接设置为Nr，同型号的其他NB-IoT被测物是可以直接接收到信号的，从而测出待测物的误码率；实在无法测出误码率的情况，只有再次在Nr的基础上增加重传次数，直至测出NB-IoT被测物的误码率。
本发明进一步设置为，重传次数的数值具体为2n，所述重传次数的上限为2048。
本发明进一步设置为，所述传统TIS测试方法包括：
S11.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S12.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S13.对球面空间的其他测试点重复S12步骤，直至所有的测试点均被测试；
S14.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
本发明进一步设置为，所述TIS快速测试方法包括：
S21.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S22.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S23.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S21步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数；
S24.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；
S25.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向NB-IoT被测物发射测试信号，根据信号发射源与NB-IoT被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与NB-IoT被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；
S26.对球面空间的其他测试点重复S25步骤，直至所有的测试点均被测试；
S27.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
通过采用上述技术方案，可以以NB-IoT被测物向球面空间发射信号，测得发射信号在球面空间各个测试点处的发射功率，得到球面数据，再从球面空间中的一个测试点处向NB-IoT被测物发射测试信号，得出测试信号最小发射功率，将该测试点处测试到的信号发射功率与该测试点的最小发射功率进行运算得出偏差系数，将偏差系数与球面空间各个测试点处测试到信号发射功率进行运算得到各个从测试点处向NB-IoT被测物发射测试信号的初始测试功率的预估值，对各个点的测试可以从其预估的初始测试功率开始，而无需按照传统的测试方式对各个测试点都从某一固定的发射功率开始测试，减少了测试的数据量，避免花掉不必要的时间，从而大幅减少TIS的测试时间，提高测试效率。
本发明进一步设置为，对信号发射源的发射功率进行调节的步骤为：
(a)对NB-IoT被测物的接收信号进行检测，以判断发射源与NB-IoT被测物的连接是否掉线；
(b)检测到掉线时，以一定的幅度上调发射源的信号发射功率并重复(a)步骤，直至发射源与NB-IoT被测物重新连线；
(c)以发射源与NB-IoT被测物重新连线时的发射功率的实际值作为测试点的最小发射功率测试的新的初始测试功率。
通过采用上述技术方案，在某一个测试点发射测试信号的初始预估功率小于NB-IoT被测物对于该测试点的最小灵敏度时，通过上调测试信号初始功率并检测发射源与NB-IoT被测物的连接情况，实现初始测试功率的自动调整和掉线自动重连的功能，克服传统测试过程中掉线后需要靠复杂的人工操作的弊端，简化了测试的整个过程。
本发明进一步设置为，所述TIS快速测试方法包括：
S31.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S32.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S33.将该预测试点的最小发射功率与在S31步骤中NB-IoT被测物发射的信号在该点的发射功率进行运算得到该点的偏差系数，重复该步骤得到所有预测试点的偏差系数；
S34.将测得的所有预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数；
S35.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的平均偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的最小发射功率的估测值；
S36.将所有测试点的最小发射功率的估测值进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
通过采用上述技术方案，将各个预测试点处测得的发射功率与其最小发射功率进行运算得到各个预测试点的偏差系数，将所有的预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数，将平均偏差系数与球面空间各个测试点处测得的发射功率进行运算得到各个测试点的最小发射功率的估测值，在将球面空间所有的测试点的最小发射功率值进行运算得到TIS结果，避免花掉不必要的时间，大幅减少TIS的测试时间，提高测试效率。
本发明进一步设置为，在对所有预测试点的偏差系数进行平均运算的之前还包括对预测试点的偏差系数进行筛选的步骤，具体步骤为：
(1)将运算得到的所有的预测试点的偏差系数与参考值进行方差运算；
(2)根据数据的波动性判断本组预测试点的偏差系数是否为可取数据；
(3)根据判断结果放弃不可取的数据，重新选取另一组预测试点，得到新选取的预测试点的偏差系数，重复前面两个步骤，直至选取的预测试点的偏差系数为可取数据。
通过采用上述技术方案，可以筛选出能够被用来进行平均运算的数据，避免因数据异常数据对运算结果造成过大影响，从而保证运算结果的准确性。
综上所述，本发明的有益技术效果为：
其一，采用了最基本的通俗原理：说一遍听不清，就多说几遍，在NB-IoT被测物因信噪比差而无法接收到探头装置发射出的信号数据包时，重新增加每次测试信号数据包的发射次数，即：重传，这样NB-IoT被测物能够接收到信号的机会就会变大，随着重传的增加，最终NB-IoT被测物基本都能接收到信号，从而测出NB-IoT被测物的误码率。该方法不直接将重传次数设置为最大的原因是：1.重传次数的增加必然会导致测试时间的增加，从而导致测试效率变低；2.重传次数每翻一倍，都会导致3dB左右的发射功率增益，从而会影响该测试实验结果的精度，由此上述测试方法不仅仅效率最快，而且精度最准，同时还能突破目前的技术瓶颈，规避信噪比差所带来的问题，完美测出NB-IoT被测物的误码率；
其二，由于同型号(同类型、同规格)的NB-IoT被测物具有一定的类似性，所以一般情况下其信噪比也差不多，因此将重传次数直接设置为Nr，同型号的其他NB-IoT被测物是可以直接接收到信号的，从而测出待测物的误码率；实在无法测出误码率的情况，只有再次在Nr的基础上增加重传次数，直至测出NB-IoT被测物的误码率。
附图说明
图1是TIS测试系统的结构示意图。
附图标记：1、处理装置；2、探头阵列装置；3、探头控制装置；4、信号发射与解调装置；5、辅助装置；6、微波暗室；7、转台。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
实施例一：
参照图1，为本发明公开的一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，基于TIS测试系统以及微波暗室6提供的测试环境。
TIS测试系统包括处理装置1，拱形的探头阵列装置2，探头控制装置3，信号发射与解调装置4，辅助装置5，转台7。其中，探头阵列装置2包括多个垂直交叉双极化探头，探头用于向外发射测信号以及接受NB-IoT被测物发射出的信号，探头控制装置3与探头阵列装置2上的探头连接并连接处理装置1，探头控制装置3可以控制不同方向上的探头和极化使能；信号发射与解调装置4与探头控制装置3和处理装置1连接，信号发射与解调装置4从探头阵列装置2获取采样到的信号并对采样到的信号进行解调分析或生成调制信号照射源；辅助装置5，连接NB-IoT被测物和处理装置1，控制NB-IoT被测物发射信号或读取NB-IoT被测物接收信号结果；转台7用于放置NB-IoT被测物并带动NB-IoT被测物相对于探头阵列装置2做旋转；处理装置1，与探头控制装置3信号发射与解调装置4连接，处理装置1搭载有运算软件，信号发射与解调装置4将经过解调分析的采样信号发送给处理装置1，处理装置1利用其运算软件对采样数据的整体或部分进行微积分运算处理得出NB-IoT被测物的整体或部分辐射和接收性能数据。信号发射与解调装置4可发射调制信号和解调调制信号。
该天线灵敏度测试方法包括：
S11.将NB-IoT被测物放置在转台7上，利用辅助装置5控制NB-IoT被测物向外发出信号，该信号向外辐射形成球面信号空间，转台7以30度的角度间隔逐次转动，转台7的角度依次为0度、30度、60度、90度、120度以及150度，转台7处于某一角度时，探头阵列装置2上的各个探头接收NB-IoT被测物发出的信号，各个探头接收的信号经信号发射与解调装置4解调后得到信号的发射功率，这样当转台7转过150度时，探头阵列装置2就能采集到NB-IoT被测物发出的信号在球面空间的各个测试点处的信号，通过信号发射与解调装置4对探头阵列装置2采集到的信号进行解调可以得到NB-IoT被测物发出的信号在球面空间各个测试点的功率值，所有测试点处的信号功率值构成球面数据，球面数据被存储在处理装置1中；
S12.利用软件从球面空间中任意选取一个测试点作为预测试点，对预测试点进行最小发射功率测试，测试的流程为：利用转台7转动驱动NB-IoT被测物与探头阵列装置2发生相对转动，使探头阵列装置2上某一个探头与该测试点的位置相对应，再通过处理装置1控制信号发射与解调装置4生产调制信号，再通过探头控制装置3控制探头阵列装置2使该探头向外发射经调制的测试信号，测试信号的初始功率一般为-70dBm，测试信号照射在NB-IoT被测物上，利用辅助装置5读取NB-IoT被测物接收到的信号，辅助装置5读取到的信号发送给信号发射与解调装置4，信号发射与解调装置4对NB-IoT被测物接收到的信号进行解调，辅助装置5对解调信息经行收集和基带处理并将结果上报至处理装置1，处理装置1通过自带的软件分析上述解调信息，判断误码率是否达到规定值，如未达到则信号发射与解调装置4对调制信号强度进行调整，以降低探头阵列装置2对外发出的测试信号的发射功率，并重新进行上述判断，直到误码率达到规定值，并将误码率达到规定值是的测试信号发射功率确定为该测试点的最小发射功率——即NB-IoT被测物对该测试点发射的测试信号的接收灵敏度。
S13.对球面空间的其他测试点重复S12步骤，直至所有的测试点均被测试。
S14.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
采用上述传统TIS测试方法对NB-IoT被测物进行灵敏度测试的过程中；如果NB-IoT被测物因信噪比差而导致无法测出误码率，则后面的测试实验逐步增加探头装置发出信号数据包的重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号，测出NB-IoT被测物的误码率，记录下此时重传次数Nr。
在对同型号的其他NB-IoT被测物进行测试时，直接将重传次数设置为Nr，测出NB-IoT被测物的误码率；如果NB-IoT被测物依旧无法接收到信号，则在Nr的基础上，再增加重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号。由于同型号(同类型、同规格)的NB-IoT被测物具有一定的类似性，所以一般情况下其信噪比也差不多，因此将重传次数直接设置为Nr，同型号的其他NB-IoT被测物是可以直接接收到信号的，从而测出待测物的误码率；实在无法测出误码率的情况，只有再次在Nr的基础上增加重传次数，直至测出NB-IoT被测物的误码率。
重传次数的数值具体为2n，重传次数的上限为2048。
本实施例的实施原理为：采用了最基本的通俗原理：说一遍听不清，就多说几遍，在NB-IoT被测物因信噪比差而无法接收到探头装置发射出的信号数据包时，重新增加每次测试信号数据包的发射次数，即：重传，这样NB-IoT被测物能够接收到信号的机会就会变大，随着重传的增加，最终NB-IoT被测物基本都能接收到信号，从而测出NB-IoT被测物的误码率。该方法不直接将重传次数设置为最大的原因是：1.重传次数的增加必然会导致测试时间的增加，从而导致测试效率变低；2.重传次数每翻一倍，都会导致3dB左右的发射功率增益，从而会影响该测试实验结果的精度，由此上述测试方法不仅仅效率最快，而且精度最准，同时还能突破目前的技术瓶颈，规避信噪比差所带来的问题，完美测出NB-IoT被测物的误码率。
实施例二：
一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，与实施例一的区别之处在于，将传统TIS测试方法替换为TIS快速测试方法，TIS快速测试方法包括：
S21.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S22.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S23.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S21步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数；
S24.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；
S25.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向NB-IoT被测物发射测试信号，根据信号发射源与NB-IoT被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与NB-IoT被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；
S26.对球面空间的其他测试点重复S25步骤，直至所有的测试点均被测试；
S27.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
可以以NB-IoT被测物向球面空间发射信号，测得发射信号在球面空间各个测试点处的发射功率，得到球面数据，再从球面空间中的一个测试点处向NB-IoT被测物发射测试信号，得出测试信号最小发射功率，将该测试点处测试到的信号发射功率与该测试点的最小发射功率进行运算得出偏差系数，将偏差系数与球面空间各个测试点处测试到信号发射功率进行运算得到各个从测试点处向NB-IoT被测物发射测试信号的初始测试功率的预估值，对各个点的测试可以从其预估的初始测试功率开始，而无需按照传统的测试方式对各个测试点都从某一固定的发射功率开始测试，减少了测试的数据量，避免花掉不必要的时间，从而大幅减少TIS的测试时间，提高测试效率。
对信号发射源的发射功率进行调节的步骤为：
(a)对NB-IoT被测物的接收信号进行检测，以判断发射源与NB-IoT被测物的连接是否掉线；
(b)检测到掉线时，以一定的幅度上调发射源的信号发射功率并重复(a)步骤，直至发射源与NB-IoT被测物重新连线；
(c)以发射源与NB-IoT被测物重新连线时的发射功率的实际值作为测试点的最小发射功率测试的新的初始测试功率。在某一个测试点发射测试信号的初始预估功率小于NB-IoT被测物对于该测试点的最小灵敏度时，通过上调测试信号初始功率并检测发射源与NB-IoT被测物的连接情况，实现初始测试功率的自动调整和掉线自动重连的功能，克服传统测试过程中掉线后需要靠复杂的人工操作的弊端，简化了测试的整个过程。
全向(局部)灵敏度性能的算法如下：
其中，EISθ(θi,Φj)为单方向、垂直极化下的有效全向灵敏度,EISΦ(θi,Φj)为单方向、水平极化下的有效全向灵敏度；M,N为水平和垂直两个方向上采样点数，总采样个数为M*N。θ是采样方向与球面坐标系Z轴正向夹角；Φ为NB-IoT被测物与X轴正向夹角。
实施例三：
一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，与实施例二的区别之处在于：TIS快速测试方法有所不同。
TIS快速测试方法包括：
S31.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S32.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S33.将该预测试点的最小发射功率与在S31步骤中NB-IoT被测物发射的信号在该点的发射功率进行运算得到该点的偏差系数，重复该步骤得到所有预测试点的偏差系数；
S34.将测得的所有预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数；
S35.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的平均偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的最小发射功率的估测值；
S36.将所有测试点的最小发射功率的估测值进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
将各个预测试点处测得的发射功率与其最小发射功率进行运算得到各个预测试点的偏差系数，将所有的预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数，将平均偏差系数与球面空间各个测试点处测得的发射功率进行运算得到各个测试点的最小发射功率的估测值，在将球面空间所有的测试点的最小发射功率值进行运算得到TIS结果，避免花掉不必要的时间，大幅减少TIS的测试时间，提高测试效率。
在对所有预测试点的偏差系数进行平均运算的之前还包括对预测试点的偏差系数进行筛选的步骤，具体步骤为：
(1)将运算得到的所有的预测试点的偏差系数与参考值进行方差运算；
(2)根据数据的波动性判断本组预测试点的偏差系数是否为可取数据；
(3)根据判断结果放弃不可取的数据，重新选取另一组预测试点，得到新选取的预测试点的偏差系数，重复前面两个步骤，直至选取的预测试点的偏差系数为可取数据。
可以筛选出能够被用来进行平均运算的数据，避免因数据异常数据对运算结果造成过大影响，从而保证运算结果的准确性。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例，并非依此限制本发明的保护范围，故：凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，包括：
采用传统TIS测试方法或TIS快速测试方法对NB-IoT被测物进行灵敏度测试；
如果NB-IoT被测物因信噪比差而导致无法测出误码率，则后面的测试实验逐步增加探头装置发出信号数据包的重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号，测出NB-IoT被测物的误码率，记录下此时重传次数Nr。
2.根据权利要求1所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，在对同型号的其他NB-IoT被测物进行测试时，直接将重传次数设置为Nr，测出NB-IoT被测物的误码率；如果NB-IoT被测物依旧无法接收到信号，则在Nr的基础上，再增加重传次数，直至NB-IoT被测物接收到信号。
3.根据权利要求1所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，重传次数的数值具体为2n，所述重传次数的上限为2048。
4.根据权利要求1所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，所述传统TIS测试方法包括：
S11.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S12.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S13.对球面空间的其他测试点重复S12步骤，直至所有的测试点均被测试；
S14.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
5.根据权利要求1所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，所述TIS快速测试方法包括：
S21.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S22.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S23.将预测试点的最小发射功率值该预测试点在S21步骤中测得的数据值进行运算得到偏差系数；
S24.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的初始测试功率的预估值；
S25.对球面空间的某一测试点利用信号发射源以该测试点的初始测试功率向NB-IoT被测物发射测试信号，根据信号发射源与NB-IoT被测物的连线情况调节信号发射源的发射功率保证信号发射源与NB-IoT被测物连线正常，再确定该测试点的最小发射功率；
S26.对球面空间的其他测试点重复S25步骤，直至所有的测试点均被测试；
S27.将测试得到的所有测试点的最小发射功率数据进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
6.根据权利要求5所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，对信号发射源的发射功率进行调节的步骤为：
(a)对NB-IoT被测物的接收信号进行检测，以判断发射源与NB-IoT被测物的连接是否掉线；
(b)检测到掉线时，以一定的幅度上调发射源的信号发射功率并重复(a)步骤，直至发射源与NB-IoT被测物重新连线；
(c)以发射源与NB-IoT被测物重新连线时的发射功率的实际值作为测试点的最小发射功率测试的新的初始测试功率。
7.根据权利要求1所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，所述TIS快速测试方法包括：
S31.控制NB-IoT被测物向外发射信号并测试发射信号在球面空间上的各个测试点的发射功率得到球面数据；
S32.从球面空间中选取一个测试点作为预测试点，以预测试点作为信号发射源向NB-IoT被测物发射测试信号并测试NB-IoT被测物接收到的信号的误码率，逐步下调测试信号的发射功率，将误码率达到规定值时测试信号的发射功率确定为预测试点的最小发射功率；
S33.将该预测试点的最小发射功率与在S31步骤中NB-IoT被测物发射的信号在该点的发射功率进行运算得到该点的偏差系数，重复该步骤得到所有预测试点的偏差系数；
S34.将测得的所有预测试点的偏差系数进行运算得到平均偏差系数；
S35.将球面数据中的各个数值与上一步骤得到的平均偏差系数进行运算得出球面空间各个测试点的最小发射功率的估测值；
S36.将所有测试点的最小发射功率的估测值进行运算得到NB-IoT被测物的TIS测试结果。
8.根据权利要求7所述的基于NB-IoT的天线灵敏度测试方法，其特征在于，在对所有预测试点的偏差系数进行平均运算的之前还包括对预测试点的偏差系数进行筛选的步骤，具体步骤为：
(1)将运算得到的所有的预测试点的偏差系数与参考值进行方差运算；
(2)根据数据的波动性判断本组预测试点的偏差系数是否为可取数据；
(3)根据判断结果放弃不可取的数据，重新选取另一组预测试点，得到新选取的预测试点的偏差系数，重复前面两个步骤，直至选取的预测试点的偏差系数为可取数据。
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