CN110095191B - 发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置，属于半导体技术领域。所述检验方法包括：获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。本发明可以实现LED芯片的有效分档，充分满足市场的要求。
Description
技术领域
本发明涉及半导体技术领域，特别涉及一种发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置。
背景技术
随着发光二极管(英文：Light Emitting Diode，简称：LED)芯片的应用普及，无论是表面贴装器件(英文：Surface Mounted Devices，简称：SMD)封装工艺，还是发展迅猛的板上芯片封装(英文：Chips on Board，简称COB)工艺，市场对LED芯片组装的显示屏的发光颜色的色差要求越来越严苛。
国内LED发光芯片厂通常采用主波长(英文简称：WLD)划分LED芯片的档位，将主波长相同的LED芯片归为同一档，以避免LED芯片组装的显示屏的发光颜色出现色差。但是在国际照明委员会(英文：International Commission on illumination，法文简称：CIE)色度图中，主波长为从表示白光的点E向色坐标值(x，y)对应的点作的延伸线与色度图的边缘的交点对应的波长值，因此这条延伸线上所有色坐标值对应的主波长都会是同一个，即同一个主波长对应的色坐标值的范围很宽，导致按照主波长划分的同一档LED芯片组装的显示屏的发光颜色实际上还是存在色差，并不能满足市场的要求。
为了满足市场的要求，目前国内外都在逐步发展采用色坐标值的范围进行分档，但是缺乏有效的参考理论设定色坐标值的范围，同时也缺乏有效的评估手段确定色坐标值的范围的设定是否合适，存在操作复杂、消耗时间长、实现成本高等诸多问题，还是无法满足市场的要求。
发明内容
本发明实施例提供了一种发光二极管芯片分档色差的检验方法和装置，能够解决现有技术不能有效对LED芯片分档，无法满足市场要求的问题。所述技术方案如下：
一方面，本发明实施例提供了一种发光二极管芯片分档色差的检验方法，所述检验方法包括：
获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；
当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；
按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
可选地，所述获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值，包括：
对所述发光二极管芯片进行光学测试，得到所述发光二极管芯片的色坐标值；
按照设定的对应关系，确定所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
进一步地，所述对所述发光二极管芯片进行光学测试，得到所述发光二极管芯片的色坐标值，包括：
接收所述发光二极管芯片发出的光线，得到所述发光二极管芯片的光谱分布；
基于所述发光二极管芯片的光谱分布，确定所述发光二极管芯片的色坐标值。
进一步地，所述按照设定的对应关系，确定所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值，包括：
基于CIE xyY颜色空间与CIE XYZ基色系统之间的转换关系，将所述发光二极管芯片的色坐标值表示的CIE xyY颜色空间中的三属性值转换为CIE XYZ基色系统中的三基色值；
基于CIE XYZ基色系统与CIE RGB基色系统之间的转换关系，将所述CIE XYZ基色系统中的三基色值转换为CIE RGB基色系统中的三基色值；
基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将所述CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值。
更进一步地，所述基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将所述CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值，包括：
将所述CIE RGB基色系统中的三基色值乘以255，得到显示参数值；
当所述显示参数值大于255时，将所述显示参数值修正为255；
当所述显示参数值小于0时，将所述显示参数值修正为0。
可选地，所述色坐标值范围在CIE色度图上的区域呈多边形、圆形或者椭圆形。
可选地，所述检验方法还包括：
接收所述色差取值范围。
进一步地，所述检验方法还包括：
在接收所述色差取值范围之后，重新判断属于所述第一档位的发光二极管芯片是否仍然属于所述第一档位；
按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
可选地，所述将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，包括：
按照属于所述第一档位的发光二极管芯片在显示屏中的排列方式，将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列成图像输出。
另一方面，本发明实施例提供了一种发光二极管芯片分档色差的检验装置，所述检验装置包括：
获取模块，用于获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；
判定模块，用于当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；
输出模块，用于按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：
本发明实施例通过获取发光二极管芯片的色坐标值，并基于发光二极管芯片的色坐标值是否在为各个档位设定的色坐标值范围内，确定发光二极管芯片所属的档位，然后按照属于同一个档位的多个发光二极管的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块并排列成图像输出，从而以此快速评估同一个档位内所有发光芯片在显示屏上的发光颜色是否存在色差，进而根据评估结果快速调整分档设置范围，最终实现消除分档色差，实现LED芯片的有效分档，充分满足市场的要求。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种发光二极管芯片分档色差的检验方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的另一种发光二极管芯片分档色差的检验方法的流程图；
图3是本发明实施例提供的发光二极管芯片的色坐标值、为第一档位设定的色坐标值范围内在CIE色度图上的示意图；
图4是本发明实施例提供的一种发光二极管芯片分档色差的检验装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明实施例提供了一种发光二极管芯片分档色差的检验方法。图1为本发明实施例提供的一种发光二极管芯片分档色差的检验方法的流程图。参见图1，该检验方法包括：
步骤101：获取发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
步骤102：当发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定发光二极管芯片属于第一档位，第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位。
步骤103：按照属于第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
本发明实施例通过获取发光二极管芯片的色坐标值，并基于发光二极管芯片的色坐标值是否在为各个档位设定的色坐标值范围内，确定发光二极管芯片所属的档位，然后按照属于同一个档位的多个发光二极管的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块并排列成图像输出，从而以此快速评估同一个档位内所有发光芯片在显示屏上的发光颜色是否存在色差，进而根据评估结果快速调整分档设置范围，最终实现消除分档色差，实现LED芯片的有效分档，充分满足市场的要求。
本发明打破了在发光二极管芯片封装为显示屏之后再观察显示屏发光颜色是否存在色差的传统方式，实现上更为灵活方便，同时也解决了采用色坐标值的范围进行分档时存在的操作复杂、消耗时间长、实现成本高等诸多问题。应用本发明后可以快速评估出能消除色差的分档方式，既提高了分档的准确性和评估色差的效率，又能节约传统方式中产生的额外成本。
本发明实施例提供了另一种发光二极管芯片分档色差的检验方法，是图1所示的发光二极管芯片分档色差的检验方法的具体实现。图2为本发明实施例提供的另一种发光二极管芯片分档色差的检验方法的流程图。参见图2，该检验方法包括：
步骤201：获取发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
可选地，该步骤201可以包括：
第一步，对发光二极管芯片进行光学测试，得到发光二极管芯片的色坐标值；
第二步，按照设定的对应关系，确定发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
通过上述过程实现发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值的获取。
需要说明的是，上述过程特别适用于初次获取发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值的时候。通常在初次获取发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值之后，可以对初次获取的数值进行存储，这样在再次获取发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值的时候，可以直接获取存储的数值，当然也可以再次进行上述过程获取。
进一步地，第一步可以包括：
接收发光二极管芯片发出的光线，得到发光二极管芯片的光谱分布；
基于发光二极管芯片的光谱分布，确定发光二极管芯片的色坐标值。
在实际应用中，发光二极管芯片的色坐标值可以直接从LED测试机(如惠特测试机、维明测试机)得到。LED测试机一般包括光接收组件和光谱仪(如海洋光谱仪)，光接收组件可以接收发光二极管芯片发出的光线，光谱仪对接收到的光线进行处理，确定发光二极管芯片的光谱分布，进而计算出色坐标值。
进一步地，第二步可以包括：
基于CIE xyY颜色空间与CIE XYZ基色系统之间的转换关系，将发光二极管芯片的色坐标值表示的CIE xyY颜色空间中的三属性值转换为CIE XYZ基色系统中的三基色值；
基于CIE XYZ基色系统与CIE RGB基色系统之间的转换关系，将CIE XYZ基色系统中的三基色值转换为CIE RGB基色系统中的三基色值；
基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值。
充分利用CIE定义的各个颜色系统之间的转换关系，得到发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
示例性地，CIE xyY颜色空间与CIE XYZ基色系统之间的转换关系可以如下：
CIE XYZ基色系统与CIE RGB基色系统之间的转换关系可以如下：
更进一步地，基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值，可以包括：
将CIE RGB基色系统中的三基色值乘以255，得到显示参数值；
当显示参数值大于255时，将显示参数值修正为255；
当显示参数值小于0时，将显示参数值修正为0。
通过上述过程，将显示参数值的取值范围限定在0～255内，可以适用于大部分图像输出设备。
步骤202：当发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定发光二极管芯片属于第一档位，第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位。
图3为本发明实施例提供的发光二极管芯片的色坐标值、为第一档位设定的色坐标值范围内在CIE色度图上的示意图。参见图3，由所有发光二极管芯片的色坐标值对应的点组成粗线A，为第一档位设定的色坐标值范围采用四边形B表示。粗线A的部分区域位于四边形B内，粗线A上位于四边形B内的点对应的色坐标值对应的发光二极管芯片属于第一档位；粗线A的其它区域位于四边形B外，粗线A上位于四边形B外的点对应的色坐标值对应的发光二极管芯片不属于第一档位。
在实际应用中，发光二极管芯片分档的档位可以有多个，为每个档位设定一个色坐标值范围。可以直接确定发光二极管芯片的色坐标值所在的色坐标值范围，即发光二极管芯片的色坐标值在为某个档位设定的色坐标值范围内时，这个档位明显为发光二极管芯片所属的档位。而且还可以先同时对所有发光二极管芯片都进行上述操作，得到所有发光二极管芯片所属的档位，进而得到属于同一个档位的所有发光二极管芯片。再将每个档位的所有发光二极管芯片依次作为属于第一档位的发光二极管芯片进行如下文步骤203所述的处理。
需要说明的是，为各个档位设定的色坐标值范围相互之间可能存在部分区域重合。如果某个发光二极管芯片的色坐标值在至少两个色坐标值范围的重合区域时，可以从这个重合区域所属的至少两个色坐标值范围中，任意选择一个色坐标值范围，作为发光二极管芯片的色坐标值所在的色坐标值范围。
如果只需要筛选出某个档位的发光二极管芯片，那么也可以分别将所有发光二极管芯片的色坐标值与为这个档位设定的色坐标值范围进行比较。若某个发光二极管芯片的色坐标值在为这个档位设定的色坐标值范围内，则将这个发光二极管芯片归为这个档位；反之，若这个发光二极管芯片的色坐标值在为这个档位设定的色坐标值范围外，则放弃这个发光二极管芯片。然后再将归到这个档位的所有发光二极管芯片依次作为属于第一档位的发光二极管芯片进行如下文步骤203所述的处理。
进一步地，属于同一个档位的发光二极管芯片的色坐标值等数值可以存储到同一个文件中，以方便后续处理。另外，如果后续确定属于同一个档位的发光二极管芯片没有色差，则属于同一个档位的发光二极管芯片也可以集中到同一个承载体(如具有粘性的薄膜)上，以方便后续处理。
可选地，色坐标值范围在CIE色度图上的区域可以呈多边形、圆形或者椭圆形。色坐标值范围可以根据实际情况对应CIE色度图上任何形状的封闭图形，适用范围广。
在实际应用中，色坐标值范围在CIE色度图上的区域的形状和大小都可以任意进行选择和调整，只要色坐标值范围对应档位的所有发光二极管芯片不存在色差即可。
进一步地，在选择色坐标值范围时，可以根据个人经验预估大概的范围，如基于CIE色度图选择没有色差的区域，该区域边缘对应的色坐标值组成一个色坐标值范围，再经过如步骤203所述的处理确认这个色坐标值范围对应档位的发光二极管芯片是否存在色差。
步骤203：按照属于第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
在实际应用中，可以利用Visual Studio.Net中的Color.FromArgb(R，G，B)、Microsoft Office等电脑软件实现颜色块的生成，再利用人眼观察输出的图像是否色差，快速判定属于同一个档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
可选地，该步骤203可以包括：
按照属于第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块；
按照属于第一档位的发光二极管芯片在显示屏中的排列方式，将属于第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列成图像输出。
在实际应用中，按照显示屏中发光二极管芯片的排列方式排列各个发光二极管芯片生成的颜色块，使得判断结果更贴近实际应用，有利于提高判断结果的准确性。例如，显示屏中的发光二极管芯片排成128*128的矩阵，则属于同一个档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块也排成128*128的矩阵。又如，显示屏中的发光二极管芯片排成1000*2000的矩阵，则属于同一个档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块也排成1000*2000的矩阵。
步骤204：接收色差取值范围。该步骤204为可选步骤。
在实际应用中，接收的色差取值范围可以为初始值，也可以为修正值。其中，修正值是在属于同一个档位的多个发光二极管芯片存在色差之后接收的，此时通过对色差取值范围进行修正，以使属于同一个档位的多个发光二极管芯片没有色差。也就是说，当接收的色差取值范围为初始值时，该步骤204在步骤202之前执行；当接收的色差取值范围为修正值时，该步骤204在步骤203之后执行。
步骤205：重新判断属于第一档位的发光二极管芯片是否仍然属于第一档位。该步骤205为可选步骤，在步骤204之后执行。
步骤206：按照属于第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。该步骤206在步骤205之后执行。
在实际应用中，当属于同一个档位的多个发光二极管芯片存在色差时，说明色差取值范围的设定存在问题，需要进行调整，即重新设定。在重新设定色差取值范围之后，会再次执行步骤201～步骤203(即执行步骤205～步骤206)，以确定重新设定的色差取值范围是否存在问题。如果属于同一个档位的多个发光二极管芯片还是存在色差，则说明重新设定的色差取值范围还是存在问题，需要继续进行调整。这样不断重复，直到属于同一个档位的多个发光二极管芯片没有色差，此时设定的色差取值范围没有问题，后续都可以采用这个色差取值范围划分发光二极管芯片的档位。
本发明实施例提供了一种发光二极管芯片分档色差的检验装置，适用于实现图1或图2所示的发光二极管芯片分档色差的检验方法。图4为本发明实施例提供的一种发光二极管芯片分档色差的检验装置的结构示意图。参见图4，该检验装置包括：
获取模块301，用于发光二极管芯片的色坐标值、以及发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；
判定模块302，用于当发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定发光二极管芯片属于第一档位，第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；
输出模块303，用于按照属于第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
可选地，该检验装置还可以包括：
接收模块，用于接收色坐标值范围。
需要说明的是：上述实施例提供的发光二极管芯片分档色差的检验装置在检验发光二极管芯片分档色差时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的发光二极管芯片分档色差的检验装置与发光二极管芯片分档色差的检验方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种发光二极管芯片分档色差的检验方法，其特征在于，所述检验方法包括：
获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；
当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；
按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
2.根据权利要求1所述的检验方法，其特征在于，所述获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值，包括：
对所述发光二极管芯片进行光学测试，得到所述发光二极管芯片的色坐标值；
按照设定的对应关系，确定所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值。
3.根据权利要求2所述的检验方法，其特征在于，所述对所述发光二极管芯片进行光学测试，得到所述发光二极管芯片的色坐标值，包括：
接收所述发光二极管芯片发出的光线，得到所述发光二极管芯片的光谱分布；
基于所述发光二极管芯片的光谱分布，确定所述发光二极管芯片的色坐标值。
4.根据权利要求2所述的检验方法，其特征在于，所述按照设定的对应关系，确定所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值，包括：
基于CIE xyY颜色空间与CIE XYZ基色系统之间的转换关系，将所述发光二极管芯片的色坐标值表示的CIE xyY颜色空间中的三属性值转换为CIE XYZ基色系统中的三基色值；
基于CIE XYZ基色系统与CIE RGB基色系统之间的转换关系，将所述CIE XYZ基色系统中的三基色值转换为CIE RGB基色系统中的三基色值；
基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将所述CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值。
5.根据权利要求4所述的检验方法，其特征在于，所述基于图像输出设备对三基色值的识别能力，将所述CIE RGB基色系统中的三基色值转换为显示参数值，包括：
将所述CIE RGB基色系统中的三基色值乘以255，得到显示参数值；
当所述显示参数值大于255时，将所述显示参数值修正为255；
当所述显示参数值小于0时，将所述显示参数值修正为0。
6.根据权利要求1～5任一项所述的检验方法，其特征在于，所述色坐标值范围在CIE色度图上的区域呈多边形、圆形或者椭圆形。
7.根据权利要求1～5任一项所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法还包括：
接收色差取值范围。
8.根据权利要求7所述的检验方法，其特征在于，所述检验方法还包括：
在接收所述色差取值范围之后，重新判断属于所述第一档位的发光二极管芯片是否仍然属于所述第一档位；
按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
9.根据权利要求1～5任一项所述的检验方法，其特征在于，所述将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，包括：
按照属于所述第一档位的发光二极管芯片在显示屏中的排列方式，将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列成图像输出。
10.一种发光二极管芯片分档色差的检验装置，其特征在于，所述检验装置包括：
获取模块，用于获取发光二极管芯片的色坐标值、以及所述发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值；
判定模块，用于当所述发光二极管芯片的色坐标值在为第一档位设定的色坐标值范围内时，判定所述发光二极管芯片属于所述第一档位，所述第一档位为用于发光二极管芯片分档的任意一个档位；
输出模块，用于按照属于所述第一档位的各个发光二极管芯片的色坐标值对应的显示参数值分别生成颜色块，并将属于所述第一档位的多个发光二极管芯片生成的颜色块排列形成的图像输出，以检验属于所述第一档位的多个发光二极管芯片是否存在色差。
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