CN110082005A - 一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法和设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法和设备，该方法通过确定所述棒料的测量区域；根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布；根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，从而对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证，进而改善等温挤压效果。

Description

一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法和设备

技术领域

本发明涉及高温超导应用技术领域，特别涉及一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法和设备。

背景技术

传统的电磁感应加热技术在钢铁加工工业领域得到了广泛的应用，但在加热非铁磁材料如铝或铜等材料时，其效率就会大大降低。高温超导直流感应加热是超导电力应用技术和感应加热技术的有机结合，充分利用了超导在直流环境中的低损耗特性，同时结合电磁感应技术，可实现上述非铁磁材料加工行业中挤压环节前的预热工作。相对于传统的交流感应加热技术，具有如下优点：

(1)节能，效率高。在高温超导直流感应加热技术中，产生0.5T稳定目标磁场的超导线圈中的功率损耗可忽略，整个系统的效率主要取决于带动棒料旋转的电机，而目前成熟的电机技术可轻易地达到90％以上效率，相对于传统感应加热炉约50％效率，节能效果十分明显；

(2)加热质量高。棒料幅向加热均匀且轴向温度梯度准确可控。可通过调整棒料的旋转速度和磁场的强度，调整涡流效应的透入深度以实现更均匀的轴向温度，目前棒料的转速控制为240～720rpm(相当于4～12Hz)，相对于传统加热炉可以得到更深入、更均匀的轴向温度分布；

(3)可高效加热有色金属材料。对于有色金属材料，传统交流感应加热加热质量不高，加热不均匀，而利用高温超导直流感应加热技术可高效均匀的对铝、铜等有色金属进行加热，国外研究者甚至已经将高温超导直流感应加热的目光投向了铝、铜以外的有色金属预加热挤压等领域；

(4)安装维护简单便捷。与常规的交流感应加热器相比，高温超导直流感应加热装置不需要大功率交流变频电源，不需要设计无功补偿装置，结构更加简单。

高温超导直流感应加热的工作原理为：让直流电通过由超导线圈组成的磁体产生强直流磁场并让电机驱动棒料在该直流磁场中旋转(即导体切割磁力线)，从而在棒料内形成涡流并进而产生焦耳热加热棒料。

在实际的工业挤压应用中，通过高温超导直流感应加热技术对棒料进行预热是一个关键工序，有时需要等温挤压，这就要求被预热的棒料呈现均匀的温度分布。然而，由于存在瑕疵部位，不同的磁场分布以及导体棒料的不同转速均可能使被预设的棒料出现内部温度异常区域，从而影响了等温挤压效果。现有技术在对预热的棒料进行温度测量时，只能测量棒料的表面温度，无法获取棒料内部的温度，因此，如何对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证，是本领域亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法，用以解决现有技术中对棒料温度的采样测量局限于表面的温度，无法对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证的问题，所述方法包括：

确定所述棒料的测量区域；

根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布；

根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；

根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；

按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

优选的，在所述确定所述棒料的测量区域之前，还包括：

根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

优选的，所述根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，具体为：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

优选的，所述根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布，具体为：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

优选的，获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，具体为：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。

相应地，本申请还提出了一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量设备，包括：

测量区域确定模块，用于确定所述棒料的测量区域；

二维坐标分布确定模块，用于根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布；

偏转角分布确定模块，用于根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；

三维坐标分布确定模块，用于根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；

钻孔模块，用于按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

获取模块，用于获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

优选的，还包括：

间隔确定模块，用于根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

优选的，所述二维坐标分布确定模块，具体用于：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

优选的，所述偏转角分布确定模块，具体用于：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

优选的，所述获取模块，具体用于：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。

由此可见，通过应用以上技术方案，确定所述棒料的测量区域；根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布；根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，从而对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证，进而便于对高温超导直流感应加热过程的监控，改善等温挤压效果，并且通过仅对重点区域进行采样，与对整个棒料进行均匀采样相比，减少了钻孔数量，降低了对棒料强度的破坏性。

附图说明

图1为本申请提出的一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法的流程示意图；

图2为本申请提出的一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量设备的结构示意图。

具体实施方式

如背景技术所述，现有技术中对棒料温度的采样测量局限于表面的温度，无法对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证。

为解决上述问题，本申请实施例提出了一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法，通过在棒料的测量区域进行钻孔，形成多个用于温度测量装置深入测量温度的孔，各个孔的沿轴方向位移和向轴方向深度呈非均匀阶梯分布，能灵活的对棒料内部易出现不均匀温度处的实际温度做重点验证。

如图1所示，为上述导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法的流程示意图，该方法包括以下步骤：

S101，确定所述棒料的测量区域。

具体的，导体棒料内部的某些区域会出现温度不均匀的情况，可将可能出现温度不均匀的区域作为测量区域。

需要说明的是，本领域技术人员可根据实际经验确定棒料的测量区域，可确定一个或多个测量区域，不同的确定方式均属于本申请的保护范围。

在对棒料进行钻孔时，为保证棒料维持一定的强度，在本申请的优选实施例中，在确定所述棒料的测量区域之前，还包括：

根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

具体的，以过小的沿轴采样间隔和偏转角间隔钻孔将破坏棒料的强度，因此需要根据棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，并使预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔，从而在钻孔后能保证棒料维持一定的强度。

需要说明的是，由于棒料的强度与多种因素有关，例如棒料材料的种类、形状、温度等，本领域技术人员可以根据实际情况需要灵活设置最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，不同的设置结果都属于本申请的保护范围。

S102，根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布。

具体的，为对确定的测量区域进行非均匀采样测量，可通过预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定采样点的二维坐标分布，该二维坐标分布包括在沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布。其中，沿轴方向位移是指沿棒料主轴方向的位移，向轴方向深度是指沿棒料外侧表面垂直指向轴心的深度，该深度为待钻孔的深度。

需要说明的是，对于预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔的数值，本领域技术人员可以根据采样精度的需要灵活设置，不同的设置结果都属于本申请的保护范围。

为准确对采样点的二维坐标分布进行确定，在本申请的优选实施例中，所述根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，具体为：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

具体的，可根据采样的精度确定非均匀沿轴采样间隔的数量和数值，根据预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，可确定所述沿轴方向位移分布；类似的，可根据采样的精度确定预设非均匀深度采样间隔的数量和数值，根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，可确定所述向轴方向深度分布。

需要说明的是，以上优选实施例的方案仅为本申请所提出的一种具体实现方案，其他根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布的方式均属于本申请的保护范围。

S103，根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布。

具体的，在确定各个待钻孔的位置时，还需确定各个待钻孔的偏转角，可根据预设非均匀偏转角间隔确定与采样点二维坐标分布对应的偏转角分布。

需要说明的是，对预设非均匀偏转角间隔，本领域技术人员可根据情况设置不同的数值，不同的设置结果并不影响本申请的保护范围。

为准确对采样点的偏转角分布进行确定，在本申请优选的实施例中，所述根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布，具体为：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

具体的，在360度范围内按预设的非均匀偏转角间隔确定各采样点二维坐标对应的偏转角度，从而确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布。

需要说明的是，以上优选实施例的方案仅为本申请所提出的一种具体实现方案，其他根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布的方式均属于本申请的保护范围。

S104，根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布。

具体的，为准确定位采样点，还需确定采样点的三维坐标分布，可根据二维坐标分布与偏转角分布确定采样点的三维坐标分布。

S105，按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔。

具体的，在确定了采样点的三维坐标分布后，为对棒料内部的温度进行采样，还需根据所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔。

需要说明的是，可根据实际需要采用不同的方式进行钻孔，不同钻孔方式都属于本申请的保护范围。

S106、获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

具体的，对钻孔后的棒料进行加热处理后，可获取所有孔内采样点的温度值，从而掌握棒料的温度分布情况。

为准确获取采样点的温度值，在本申请优选的实施例中，获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，具体为：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。

具体的，在完成对棒料的感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内，从而获取所有孔内采样点的温度值。

在此需要说明的是，以上优选实施例的方案仅为本申请所提出的一种具体实现方案，其他获取加热处理后的所述棒料上采样点的温度值的方式均属于本申请的保护范围。

通过应用以上技术方案，确定所述棒料的测量区域；根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布；根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，从而对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证，进而便于对高温超导直流感应加热过程的监控，改善等温挤压效果，并且通过仅对重点区域进行采样，与对整个棒料进行均匀采样相比，减少了钻孔数量，降低了对棒料强度的破坏性。

为了进一步阐述本发明的技术思想，现结合具体的应用场景，对本发明的技术方案进行说明。

本申请提供了一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法，用于验证棒料在高温超导直流感应加热设备中是否被均匀加热。通过在棒料的重点部位进行钻孔，形成多个用于温度测量装置深入测量温度的孔，各个孔的沿轴方向位移和向轴方向深度呈非均匀阶梯分布，能灵活的对棒料易出现不均匀温度处的实际温度做重点验证，降低了对棒料强度的破坏性，便于利用同一棒料做多次重复加热实验，验证加热效果的均匀性。

该非均匀采样测量方法步骤如下：

(1)将可能出现不均匀加热效果的区域作为测量区域，优选的，在确定测量区域之前，可根据强度保护的需要，确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，使预设的非均匀沿轴采样间隔不小于最小沿轴采样间隔，且预设的非均匀偏转角间隔不小于最小偏转角间隔；

(2)在向轴方向根据预设的非均匀深度采样间隔确定各孔向轴深度，在沿轴方向根据预设的非均匀沿轴采样间隔确定各孔的沿轴位移；

(3)按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与各孔对应的偏转角度，按各孔的沿轴位移、向轴深度和偏转角度构成的三维坐标从所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

(4)棒料被感应加热后，将温度测量探头分别插入预先的钻孔内，获取棒料所有孔内采样点的温度值。

通过应用以上技术方案，仅对重点区域进行采样，与对整个棒料进行均匀采样相比，减少了钻孔数量，并可设定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，降低了对棒料强度的破坏性，便于利用同一棒料做多次重复加热实验，可对棒料内部易出现温度异常的区域的实际温度进行重点验证，进而便于对高温超导直流感应加热过程的监控，改善等温挤压效果。

为了达到以上技术目的，本申请提出了一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量设备，如图2所示，包括：

测量区域确定模块201，用于确定所述棒料的测量区域；

二维坐标分布确定模块202，用于根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布；

偏转角分布确定模块203，用于根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；

三维坐标分布确定模块204，用于根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；

钻孔模块205，用于按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

获取模块206，用于获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

在具体的应用场景中，还包括：

间隔确定模块，用于根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

在具体的应用场景中，所述二维坐标分布确定模块，具体用于：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

在具体的应用场景中，所述偏转角分布确定模块，具体用于：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

在具体的应用场景中，所述获取模块，具体用于：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以通过硬件实现，也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括以若干指令的形式使一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施场景所述的方法。

本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。

本领域技术人员可以理解装置中的模块可以按照实施场景描述分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量方法，其特征在于，所述方法包括：

确定所述棒料的测量区域；

根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布；

根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；

根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；

按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述棒料的测量区域之前，还包括：

根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，具体为：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布，具体为：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

5.如权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值，具体为：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。

6.一种导体棒料内部温度的非均匀采样测量设备，其特征在于，包括：

测量区域确定模块，用于确定所述棒料的测量区域；

二维坐标分布确定模块，根据预设非均匀沿轴采样间隔和预设非均匀深度采样间隔确定所述测量区域的采样点二维坐标分布，其中所述二维坐标分布包括沿轴方向位移分布和向轴方向深度分布；

偏转角分布确定模块，根据预设非均匀偏转角间隔确定与所述采样点二维坐标分布对应的偏转角分布；

三维坐标分布确定模块，根据所述二维坐标分布与所述偏转角分布确定所述采样点的三维坐标分布；

钻孔模块，按照所述三维坐标分布由所述棒料外侧表面向轴心方向进行钻孔；

获取模块，获取加热处理后的所述棒料上与所述三维坐标分布对应的所有孔内采样点的温度值。

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，还包括：

间隔确定模块，用于根据所述棒料的强度确定最小沿轴采样间隔和最小偏转角间隔，其中，所述预设非均匀沿轴采样间隔不小于所述最小沿轴采样间隔，且所述预设非均匀偏转角间隔不小于所述最小偏转角间隔。

8.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述二维坐标分布确定模块，具体用于：

根据所述预设非均匀沿轴采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行沿轴方向划分，确定所述沿轴方向位移分布；

根据所述预设非均匀深度采样间隔的数量和数值对所述测量区域进行向轴方向划分，确定所述向轴方向深度分布；

根据所述沿轴方向位移分布和所述向轴方向深度分布确定所述二维坐标分布。

9.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述偏转角分布确定模块，具体用于：

按照所述预设非均匀偏转角间隔分割360度，确定与所述采样点二维坐标分布对应的各偏转角度；

根据所述各偏转角度确定所述偏转角分布。

10.如权利要求6-9任一项所述的设备，其特征在于，所述获取模块，具体用于：

对所述棒料进行感应加热；

在完成所述感应加热后，将温度测量探头分别插入与所述采样点坐标分布对应的所有孔内；

获取所述所有孔内采样点的温度值。