CN110049262A - 一种X光cmos探测器自校正方法 - Google Patents

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刘洋
朱海波
魏茂征
史艳涛
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Shanghai Aidisen Digital Medical Equipment Co Ltd International
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Addison Haian Digital Medical Equipment Co Ltd
Shanghai Aidisen Digital Medical Equipment Co Ltd International
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    • H04N23/80Camera processing pipelines; Components thereof
    • HELECTRICITY
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    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
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    • HELECTRICITY
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    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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Abstract

本发明涉及一种X光cmos探测器自校正方法,其特征在于:具体方法如下:S1:缓存器的增设;S2:图像数据的预处理;S3:图像数据的二级处理;S4:图像数据的输出;本发明中在cmos探测器中设置两个缓存器,校正的数据存储在探测器内,在图像输出时,探测器自己进行实时校正;降低了后续服务器和软件的工作量;服务器可以选择相对配置较低的服务器,降低了服务器成本和选型的难度;软件也不需要进行图像校正,减轻了软甲开发难度,流程简洁。

Description

一种X光cmos探测器自校正方法
技术领域
本发明涉及cmos探测器技术领域,尤其涉及一种X光cmos探测器自校正方法。
背景技术
现有cmos探测输出的时sensor原始数据,后续需要在服务器软件上进行图像的坏点校正、偏移校正和增益校正;因为是连续图像流,对服务器性能要求较高,一般需要用显卡进行加速;硬件成本高,软件结构复杂;因此需要一种能够把坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据存储在探测器里,在图像输出时,探测器进行实时的坏点和增益校正的处理系统。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种X光cmos探测器自校正方法,能够解决一般的cmos探测器系统连续图像流,对服务器性能要求较高,一般需要用显卡进行加速;硬件成本高,软件结构复杂的问题;
为解决上述技术问题,本发明的技术方案为:一种X光cmos探测器自校正方法,其创新点在于:具体方法如下:
S1:缓存器的增设:在cmos探测器内设置第一缓存器和第二缓存器;第一缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的处理芯片上;第二缓存器的输入端连接在cmos探测器内设置的处理芯片输出端上且第二缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的网络接口上;
S2:图像数据的预处理:将sensor采集下来的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据先缓存到第一缓存器内,第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据由处理芯片实时进行校正处理;
S3:图像数据的二级处理:将经过cmos探测器内设置的处理芯片进行校正处理的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据缓存至第二缓存器内;
S4:图像数据的输出:缓存第二缓存器内的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据进行读出由网络接口输出。
进一步的,所述S1中的处理芯片、第一缓存器和第二缓存器均为独立的电子处理模块。
进一步的,所述S4图像数据的由第二缓存器向网络接口输出的过程中,cmos探测器内设置的处理芯片对第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据同时处理。
本发明的优点在于:
1)本发明中在cmos探测器中设置两个缓存器,校正的数据存储在探测器内,在图像输出时,探测器自己进行实时校正;降低了后续服务器和软件的工作量;服务器可以选择相对配置较低的服务器,降低了服务器成本和选型的难度;软件也不需要进行图像校正,减轻了软甲开发难度,流程简洁。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1为本发明的一种X光cmos探测器自校正方法的流程图。
具体实施方式
下面的实施例可以使本专业的技术人员更全面地理解本发明,但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
如图1所示的一种X光cmos探测器自校正方法,具体方法如下:
S1:缓存器的增设:在cmos探测器内设置第一缓存器和第二缓存器;第一缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的处理芯片上;第二缓存器的输入端连接在cmos探测器内设置的处理芯片输出端上且第二缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的网络接口上;
S2:图像数据的预处理:将sensor采集下来的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据先缓存到第一缓存器内,第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据由处理芯片实时进行校正处理;
S3:图像数据的二级处理:将经过cmos探测器内设置的处理芯片进行校正处理的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据缓存至第二缓存器内;
S4:图像数据的输出:缓存第二缓存器内的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据进行读出由网络接口输出。
S1中的处理芯片、第一缓存器和第二缓存器均为独立的电子处理模块。
S4图像数据的由第二缓存器向网络接口输出的过程中,cmos探测器内设置的处理芯片对第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据同时处理。
本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (3)

1.一种X光cmos探测器自校正方法,其特征在于:具体方法如下:
S1:缓存器的增设:在cmos探测器内设置第一缓存器和第二缓存器;第一缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的处理芯片上;第二缓存器的输入端连接在cmos探测器内设置的处理芯片输出端上且第二缓存器的输出端连接在cmos探测器内设置的网络接口上;
S2:图像数据的预处理:将sensor采集下来的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据先缓存到第一缓存器内,第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据由处理芯片实时进行校正处理;
S3:图像数据的二级处理:将经过cmos探测器内设置的处理芯片进行校正处理的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据缓存至第二缓存器内;
S4:图像数据的输出:缓存第二缓存器内的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据进行读出由网络接口输出。
2.根据权利要求1所述的一种X光cmos探测器自校正方法,其特征在于:所述S1中的处理芯片、第一缓存器和第二缓存器均为独立的电子处理模块。
3.根据权利要求1所述的一种X光cmos探测器自校正方法,其特征在于:所述S4图像数据的由第二缓存器向网络接口输出的过程中,cmos探测器内设置的处理芯片对第一缓存器内采集的坏点校正数据、便宜校正数据和增益校正数据同时处理。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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RJ01 Rejection of invention patent application after publication
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