CN110044863B - 一种半自动免疫荧光分析系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种半自动免疫荧光分析系统，包含测试卡运送装置、光路结构、包含光路结构的光学分析装置。本发明灵敏度、准确性高。通过缩短凸透镜与检测区域的距离，从而让更大角度范围的荧光能够进入到检测光路，从而提高系统的检测灵敏度及准确性。结构精妙。本发明结构紧凑、密光性好、可靠性高、装配方便、实现了低成本下的高效率检测。实现了半自动化精确监测，填补了该领域空白。

Description

一种半自动免疫荧光分析系统

技术领域

本发明涉及光学分析技术领域，特别涉及一种半自动免疫荧光分析系统。

背景技术

微流控芯片是一种操控微小体积的流体在微小通道中流动的系统，可以通过毛细作用及离心等方式实现样本及试剂的制备、反应、分离等，在较小的、芯片大小的尺寸上实现大型设备才能实现的加样、混匀、反应等过程，并最终配合相应的设备实现信号的检测。

免疫荧光是根据抗原抗体反应的原理，先将已知的抗原或抗体标记上荧光素制成荧光标记物，再用这种荧光抗体(或抗原)与待检测样本中的抗原(或抗体)反应形成抗原抗体复合物。形成的抗原抗体复合物上含有荧光素，对其采用激发光照射，荧光素受激发光的照射而发出明亮的荧光(黄绿色或桔红色)，利用定量技术测定样本中的荧光强度，判定被测物质的浓度。现有没有相关针对微流控荧光免疫的芯片的半自动设备。现有的免疫层析方法使用的仪器灵敏度达不到微流控荧光免疫的要求。

如果能提供结构简单、灵敏度高、成本低廉、易于微型化的半自动分析系统，将是十分有意义的。

发明内容

为达到上述目的，本发明提供了一种半自动免疫荧光分析系统，包含测试卡运送装置、光路结构、包含光路结构的光学分析装置；

所述光路结构包括：

激发光源，用于提供激发光束；

激发光光路系统，用于将所述光源提供的激发光束转化为单色光，并在二色镜的反射下，使得单色光按照预设角度射入到被检测物体表面；

二色镜，用于反射单色光、透过激发产生的荧光；

检测光路系统，用于收集被测物体表面激发的荧光，并转化为平行光，传输给外界的光学检测器件；

所述光学分析装置包括所述光路结构、光学检测器件、控制分析电路；所述控制分析电路包括LED驱动电路、电流/电压转换电路、运算放大器、A/D转换电路、微处理器；所述微处理器连接LED驱动电路输入端及A/D转换电路输出端，电流/电压转换电路输出端连接两个运算放大电路的输入端，A/D转换电路的输入端则连接两个运算放大电路的输出端；

所述微处理器用于接收人机交互界面的指令，根据指令进行相关操作；控制电机运动、控制LED驱动电路，并接收A/D转换电路输出信号进行处理，根据所得到的信号值匹配对应的浓度值，进而得到测试卡内抗原或者抗体的浓度。

所述微处理器用于接收人机交互界面的指令，根据指令进行相关操作；控制电机运动、控制LED驱动电路，并接收A/D转换电路输出信号进行处理，根据所得到的信号值匹配对应的浓度值，进而得到测试卡内抗原或者抗体的浓度；

所述测试卡运送装置包括运送零件、支架导轨、电机、支架钣金、同步惰轮、同步带轮、同步带、卡圈；

所述支架钣金分为运送零件轨道部、电机安装部、连接零件轨道部和电机安装部的连接部；所述零件轨道部具有沿测试卡运动方向设置的通槽及若干安装孔，且远离连接部的一端底部设置有固定轴，电机安装部上设置有一个通孔及若干安装孔；

所述运送零件包括底板、设置于底板两侧且垂直于底板的第一挡板、设置于底板下方的夹带部；所述夹带部呈开口朝下的U型，内有与同步带齿形匹配的齿形结构；两侧的第一挡板上方设置有凸出的导轨；所述运送零件的一侧为插入口；

所述支架导轨成几字形，在其顶部下表面两侧设置有对应于导轨的导轨槽；支架导轨顶部设置有用于安装光学分析装置的通孔；

所述电机安装部用于安装电机，电机轴朝下；

所述固定轴用于安装同步惰轮，并通过卡圈固定；电机轴上安装同步带轮，同步惰轮、同步带轮之间通过同步带传动；

所述运送零件设置于支架钣金上，其夹带部穿过支架钣金上的通槽，把同步带卡入夹带部齿形结构；所述运送零件随着同步带的运动而运动；

所述支架导轨盖住支架钣金及运送零件，并与支架钣金固定在一起；其导轨槽与运送零件顶部导轨卡和；

光电传感器设置于支架导轨与支架钣金围成的腔体内，安装于支架导轨末端；

进一步的，所述激发光光路系统包括第一滤波片、第一凸透镜、第二凸透镜、第三凸透镜；

所述第一滤波片设置于激发光源前方，用于对激发光进行滤波后形成单色光出射到第一凸透镜；

所述第一凸透镜凸面朝向第一滤波片设置，用于将单色光进行汇聚处理后出射到二色镜；所述二色镜设置于被测物体上方，且朝单色光入射方向倾斜；

所述第二凸透镜和第三凸透镜重叠设置于被测物体与二色镜之间，且凸面朝向二色镜，用于聚焦二色镜反射的单色光并入射到被测物体表面；第二凸透镜和第三凸透镜为激发光光路系统与检测光路系统所共用。

进一步的，所述检测光路系统包括第二滤光片、第四凸透镜、第五凸透镜、第二凸透镜、第三凸透镜；

所述第二滤光片设置于二色镜上方，用于过滤被测物体表面激发出来的荧光后出射到第四凸透镜和第五凸透镜；

所述第四凸透镜设置于第二滤光片上方，且凸面朝向第二滤光片，用于聚焦反射光到光学检测器件上；

第三凸透镜与第二凸透镜用于收集被测物体表面激发出来的荧光，并将其转化为平行光照射到二色镜。

进一步的，所述检测光路系统包括第五凸透镜；

所述第四凸透镜和第五凸透镜重叠设置于第二滤光片上方，且凸面朝向第二滤光片，用于聚焦反射光到光学检测器件上。

进一步的，所述二色镜与激发光入射光线的水平入射方向呈45度。

进一步的，被检测物体与所述第二凸透镜和第三凸透镜组成的透镜组的距离等于该透镜组的焦距。

进一步的，在光学检测器件与控制分析电路之间设置有放大电路。

进一步的，所述运送零件底部设置有弹性凸出体，所述弹性凸出体从底部平面开始呈向上、向插入口方向逐渐凸起，当插入测试卡时被压紧至与底部上表面处于同一平面，当取出测试卡释放压力后凸出于底部上表面。

进一步的，所述运送零件的第一挡板在测试卡插入口处具有渐变形态，从插入口处开始逐渐变高、变厚，直到预定高度、厚度后稳定向后延伸。

进一步的，还包括光电传感器，所述光电传感器与支架导轨固定在一起。

本发明的有益效果为：

1.灵敏度、准确性高。通过缩短凸透镜与检测区域的距离，从而让更大角度范围的荧光能够进入到检测光路，从而提高系统的检测灵敏度及准确性。

2.结构精妙。本发明结构紧凑、密光性好、可靠性高、装配方便、实现了低成本下的高效率检测。

3.实现了半自动化精确监测，填补了该领域空白。

附图说明

图1为分析系统整体示图。

图2为传统光路结构示意图。

图3为本发明的光路结构示意图。

图4为传统光路光收集结构中凸透镜与检测区域距离图。

图5为本发明光路结构中凸透镜与检测区域距离示意图。

图6为光学分析装置结构示意图。

图7为控制分析电路示意图。

图8为运输装置结构爆炸图。

图9为运送装置俯视图。

图10为支架轨道仰视图。

图11为本发明组装后结构示意图。

图中：1.控制分析电路，2.人机交互模块，3.电机，4.光学分析装置，5.测试卡，6.打印功能按键模块，8.光路封装体，9.外壳，10.光学检测器件；a1.激发光源,a2.第一滤波片,a3.第一凸透镜,a4.二色镜上,a5.第二凸透镜,a6.测试卡，a7.第二滤光片，a8.第四凸透镜,a9.光学检测器件,a10.放大电路，a11.第三凸透镜,a12.第五凸透镜，12.运送零件，13.支架导轨，16.光电传感器，18.同步惰轮，17.支架钣金,19.同步带轮,20.同步带，21.卡圈，22.导轨，23.弹性凸出体，24.插入口，25.挡片，26.安装孔，27.导轨槽。

具体实施方式

下面结合附图1-11及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

本发明的设计构思为：传统共聚形光学系统(图2所示为典型的传统光路结构)对微弱荧光信号检测灵敏度低是因为激发出的荧光能被光学系统收集到的量太少，因此需要提高光学系统收集荧光的能力。在检测光路准直凸透镜直径一定的情况下，凸透镜离荧光发光点的距离越近能够收集到的荧光的角度范围越大，也就是进入检测光路的荧光的量更多，更多的荧光量达到光学检测器件检测下线的可能性就更大，从而能够提高该检测系统的灵敏度。本发明采用双透镜组合的方式来减小凸透镜与发光点的距离(如附图3所示)，从而提高荧光采集量，并结合自主研发的控制分析电路1对信号进行分析，获取精确的浓度值。同时，配备成本低、光密封性好的运送装置，增加整个装置的仪器灵敏度，并实现监测自动化。

如图1所示，本发明包括测试卡运送装置、包含光路结构的光学分析装置4、人机交互模块2三大部分，下面分别进行说明。

一.包含光路结构的光学分析装置4

下面先对光路结构进行说明。其包括：激发光源a1、激发光光路系统、二色镜a4、检测光路系统。

激发光源a1用于提供激发光束。激发光源a1的波长根据需要进行选择。

激发光光路系统用于将所述激发光源a1提供的激发光束转化为单色激发光后，按照预设角度射入到被检测物体表面。所述激发光光路系统包括第一滤波片a2、第一凸透镜a3、第二凸透镜a5、第三凸透镜a11。所述第一滤波片a2设置于激发光源a1前方，用于将激发光中的干扰光过滤掉后形成单色光出射到第一凸透镜a3。所述第一凸透镜a3凸面朝向第一滤波片a2设置，用于将单色光进行汇聚处理后出射到二色镜a4所述第二凸透镜a5和第三凸透镜a11重叠设置于被测物体与二色镜a4之间，且凸面朝向二色镜a4，用于聚焦二色镜a4反射的单色光并入射到被测物体表面；且将被测物体表面的反射光转化为平行光。

二色镜a4，用于折射单色光、透过激发产生的荧光。检测光路系统，用于将被测物体表面激发出来的荧光转化为平行光，传输给外界的光学检测器件a9。二色镜a4设置于被测物体上方，且朝单色光入射方向倾斜，与其水平照射方向成45°角倾斜。

检测光路系统用于将被测物体表面激发出来的荧光转化为平行光，传输给外界的光学检测器件a9。该系统包括第二滤光片a7、第四凸透镜a8。所述第二滤光片a7设置于二色镜a4上方，用于过滤被测物体表面激发出来的荧光后出射到第四凸透镜a8。所述第四凸透镜a8凸面朝向第二滤光片a7，用于聚焦反射光到光学检测器件a9上。为了进一步的缩小装置的体积，还设置有第五凸透镜a12，所述第四凸透镜a8、第五凸透镜a12重叠设置于第二滤光片a7上方，且凸面朝向第二滤光片a7，用于聚焦反射光到光学检测器件a9上。这样设计的好处是：在检测光路最后聚焦的透镜处也做成了双透镜组合的结构，能够减小焦距，降低后续所述光信号检测器件a9的位置，缩小装置的体积。

传统检测光路要么没有凸透镜准直收集荧光，要么只有一个凸透镜(如图2所示)，而由于凸透镜固有的特性决定了单个凸透镜的焦距很难减小。作为对现有技术的另一个贡献，本实施例中采用了双透镜组合的方式来减小凸透镜与发光点的距离：如图5所示，被测物体表面与第二凸透镜a5和第三凸透镜a11所形成的透镜组的距离为该透镜组的焦距，反射单色光在被测物体平面形成一定直径的一个圆形区域。距离参数根据透镜焦距不同而不同，检测点就在这个焦点上，焦距越近收集的角度越大。这样设计能最大限度的收集反光，从而提高荧光采集量。需要说明的是，前述距离是指的被测物体表面与透镜组中最接近其的凸透镜的距离。如图4、5所示，H1>H2，A1<A2。本实施例中，距离H2为4mm。被测物体反射光的最大夹角R2为74度。

优选的，光路中所有的凸透镜都是相同的型号这样能够降低装置的复杂程度和缩减其成本。

下面结合图3对上述光路的工作原理进行说明。

激发光源a1向水平方向发出激发光，通过第一滤波片a2的过滤，再由第一凸透镜a3准直调整激发光的照射范围后，又照在与激发光照射方向成45°角的二色镜a4上，该二色镜a4对激发光是截止的不能透过，但是可以折射，经二色镜a4折射后的激发光垂直向下照射，再经第二凸透镜a5和第三凸透镜a11双透镜的聚焦作用，把激发光照射在样本检测卡a6的检测区域上，为了扩大激发光的照射面积没有把样本检测卡a6放在激发光聚焦后的焦点上，这样既能够聚集激发光的能量，又能够扩大被照射的检测区域从而产生更多的荧光信号。荧光由样本检测卡a6被照射的检测区域发散出来，由于第二凸透镜a5和第三凸透镜a11组成的透镜组合焦距很短而且理论上的焦点就在检测区域上，所以被激发出来荧光经过第二凸透镜a5和第三凸透镜a11后变为垂直向上的平行光，照向二色镜a4上，而该二色镜a4能够让被激发出来的荧光透过，反射的极少，透过去的荧光再经第二滤光片a7过滤掉杂光，最后由第四凸透镜a8和第五凸透镜a12组成的透镜组聚焦在光学检测器件a9上。光学检测器件a9把光信号转换成电信号由放大电路a10放大后传输到控制分析电路1。其中所有的凸透镜都是相同的型号,这样能够降低装置的复杂程度和缩减其成本。

所述光学分析装置4，包括壳体9、封装于壳体9内的前述光路结构、光学检测器件10及控制分析电路1。需要说明的是，前述光路结构的各个零部件是封装固定的(如，光路是利用单独的光路封装壳8封装的)。下面分别进行介绍。

壳体9为黑色，它不仅起着固定其余零件的作用，而且能够隔离外界光源对光学系统的干扰。

光学检测器件10设置于第四凸透镜a8的焦点处或第四凸透镜a8和第五凸透镜a12组成的透镜组的焦点处。通过光学检测器件a9把光信号转换成电信号，传输到控制分析电路1，由控制分析电路1对该信号进行处理，最后得出相应的诊断结果。

优选的，在光路检测电路与控制分析电路1之间设置有放大电路a10，用于放大电信号，提高检测灵敏度。

如图6所示，所述控制分析电路1包括LED驱动电路、电流/电压转换电路、运算放大器、A/D转换电路、微处理器。连接关系为：

所述微处理器连接LED驱动电路输入端及A/D转换电路输出端，LED驱动电路输出端连接激发光源a1，电流/电压转换电路输出端连接两个运算放大电路的输入端，A/D转换电路的输入端则连接两个运算放大电路的输出端。

所述微处理器用于控制电机3运动、控制LED驱动电路，并接收A/D转换电路输出信号进行处理，根据所得到的信号值匹配对应的浓度值，进而得到测试卡5内抗原或者抗体的浓度。

电流/电压转换电路接收来自光学检测器件10的电流信号转换为电压信号后输出到两个运算放大电路，经放大后的电压信号输出到A/D转换电路，再把转换得到的数字信号发送给微处理器进行处理。

控制分析电路1的工作原理为：微处理器通过PWM调节LED灯功率(也就是激发光源a1所使用的灯)，并驱动电机3运动。当被测物体刚开始被送入检测位置时，控制电机3运动，使得测试卡5沿着预定轨道运动，当运动到指定位置时，微控制器LED等以较弱的光强进行照射，微流控荧光芯片发出的荧光信号经过电流/电压转换电路转换为电压信号，同时送入两路运算放大器进行放大，A/D转换电路同时采集不同放大倍率的电信号并进行滤波处理后存入微处理器；当被测物体伸出的时候，微处理器将LED灯功率调大，以较强(通常大于前述的较弱光强10倍光强)照射，将得到的较强的荧光信号同时放大之后进行采集。微控制器根据所得到的信号值匹配对应的浓度值，进而得到测试卡5内抗原或者抗体的浓度。应当理解，信号值与浓度值的对应关系是预先就确定并存储的。

二：测试卡运送装置

如图8所示，测试卡运送装置包括运送零件12、支架导轨13、电机3、支架钣金17、同步惰轮18、同步带轮19、同步带20以及卡圈21。下面对各个部分进行说明。

1.支架钣金17

所述支架钣金17分为运送零件轨道部、电机安装部、连接零件轨道部和电机安装部的连接部。所述零件轨道部沿着测试卡5的运送方向(一般为水平方向)设置，且具有一条该运动方向设置的通槽及若干安装孔。远离连接部的一端底部设置有固定轴，电机安装部上设置有一个通孔及若干安装孔。从图1中可以看出，电机安装部与运送零件轨道部不处于同一平面，是高于运送零件轨道部的，当然，这种形态不是绝对的，可根据实际情况设置。

通槽用于确定运送零件的运动轨迹。运送零件在传动带的作用下，能够沿着通槽前后移动。移动方向一般为水平方向。

所述固定轴用于安装同步惰轮18，通过卡圈21固定；同步惰轮18、同步带轮19之间通过同步带20传动。

2.运送零件12

如图9所示，所述运送零件12包括底板、设置于底板两侧的第一挡板(垂直于底板)、设置于底板上的弹性凸出体23、设置于底板下方的夹带部。

所述弹性凸出体23从底板所在平面开始呈向上、向插入口24方向逐渐凸起。被压紧时(插入测试卡5时)与底部上表面处于同一平面，放松后(取出测试卡5时)则凸出于底部上表面。设置弹性凸出是优选方案，是为了更好的固定测试卡5。优选的，运送零件12底部设置有两个弹性凸出体23。测试卡5上也应该设置有对应于弹性凸出体23的卡合部。

所述夹带部呈开口朝下的U型，内有与同步带20齿形匹配的齿形结构，用于夹紧传送带，使得运送零件12与传送带一起运动。

两侧的第一挡板上方设置有凸出的导轨22，用于与支架导轨13上导轨槽27的卡合。优选的，在底板也设置有限定测试卡5运行轨迹的第二导轨。

运送零件12设置于支架钣金17上，其夹带部穿过支架钣金17上的通槽，把一侧的同步带20加入夹带部齿形结构，所述运送零件12随着同步带20的运动而运动。

进一步的，为更方便的将测试卡5插入运送零件12，本发明对运送零件12的插入口24进行了独特设计。所述运送零件12的第一挡板从在测试卡5插入的地方开始逐渐变高、变厚，直到预定高度、厚度后向后稳定延伸。这样就形成了一个前大后小的喇叭形端口，方便测试卡5的插入及插入后的紧固。

进一步的，第一挡板形态非渐变区域(具有相同高度、厚度)上方平行于运送零件12底部的方向上设置有第二挡板，进一步增强了遮光性，且更有利于对测试卡5限位。应当理解，在设置了第二挡板时，导轨22就设置于第二挡板上方。更优选的，导轨22设置在第二挡板的后端，即相对于插入口24的一端。

3.支架导轨13

如图10所示，所述支架导轨13呈几字形，外观类似于一个盖子，其开口朝下，且还设置有若干安装孔26。所述支架导轨13的顶部下表面两侧设置有对应于导轨22的导轨槽27；支架导轨13上方设置有用于安装光学分析装置4的通孔。

所述支架导轨13用于与支架钣金17通过导轨22进行卡合，且通过安装孔26进行固定，与外部的光学分析装置4一起形成封闭空间。前述运送零件12、光电传感器16设置在封闭空间内。封闭空间能够隔离大部分外界的干扰光源，有利于提高光学分析装置4的灵敏度。

4.电机3

所述电机3采用的是现有技术中，通常选用步进电机、直流电机或者伺服电机。电机3为运送零件12的运动提供动能，其原理是：电机3下方设置有电机轴。电机轴插入到同步带轮19，并通过卡圈21固定，所述电机3驱动电机轴绕着轴线转动，带动同步带轮19转动，继而使得同步惰轮18同步转动。

5.光电传感器16

就运送装置整体而言，光电传感器16并不是实现运送功能所必须的。但是作为优选技术方案，有必要对其进行说明。

光电传感器16设置在支架导轨13与支架钣金17组合的封闭空间内，可为现有技术中的光电传感器16。本实施例采用的是U型光电传感器，通过安装孔26将其固定在支架导轮上，且为了配合该种传感器的形态，并达到更好的遮光效果，在运送零件12对应位置(如末端)设置有一个U型光电传感器的U型开口吻合的挡片25。

上述各个零部件的装配过程为：

首先在支架钣金17上安装步进电机3、同步带轮19和同步惰轮18以及卡圈21，然后将夹带部夹紧同步带20的某侧，再扣上支架导轨13让支架导轨13的导轨槽27与运送零件12的导轨22嵌合在一起，并优选涂抹少量固体润滑油在接触面。接下来安装光电传感器16和光学分析装置4，至此完成整个运送装置的安装，如图11所示。其中支架导轨13、和支架钣金17以及光学分析装置4组成一个密闭的腔体，能够隔离大部分外界的干扰光源，有利于提高光学分析装置4的灵敏度。

三：人机交互模块2

人机交互模块2接口与控制分析电路1的微控制器连接，用于显示人机交互界面，并显示分析结果，本实施例是通过触摸屏及微控制器内的相关软件程序实现人机交互。用户通过人机交互模块2实现对微控制器指令的输入，如启动指令、检测指令、停止指令等，并进行参数设定，并显示检测结果。人机交互模块2还设置有打印功能按键模块6，实现对检测结果的打印。

Claims (10)

1.一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，包含测试卡运送装置和光学分析装置；

所述光学分析装置包括光路结构、光学检测器件、控制分析电路；

所述光路结构包括：激发光源、激发光光路系统、二色镜和检测光路系统；

所述激发光源，用于提供激发光束；

所述激发光光路系统，包括第二凸透镜和第三凸透镜；所述第二凸透镜和所述第三凸透镜重叠设置于被测物体与所述二色镜之间，且凸面朝向所述二色镜，用于聚焦二色镜反射的单色光，并在二色镜的反射下，使得单色光按照预设角度射入到被检测物体表面；所述第二凸透镜和所述第三凸透镜为激发光光路系统与检测光路系统所共用；

所述二色镜，用于反射单色光、透过激发产生的荧光；

所述检测光路系统，用于收集被测物体表面激发的荧光，并转化为平行光，传输给外界的光学检测器件；

所述控制分析电路包括LED驱动电路、电流/电压转换电路、运算放大器、A/D转换电路、微处理器；所述微处理器连接LED驱动电路输入端及A/D转换电路输出端，电流/电压转换电路输出端连接两个运算放大电路的输入端，A/D转换电路的输入端则连接两个运算放大电路的输出端；

所述微处理器用于接收人机交互界面的指令，根据指令进行相关操作；控制电机运动、控制LED驱动电路，并接收A/D转换电路输出信号进行处理，根据所得到的信号值匹配对应的浓度值，进而得到测试卡内抗原或者抗体的浓度；

所述测试卡运送装置包括运送零件、支架导轨、电机、支架钣金、同步惰轮、同步带轮、同步带、卡圈；

所述支架钣金分为运送零件轨道部、电机安装部、连接零件轨道部和电机安装部的连接部；所述零件轨道部具有沿测试卡运动方向设置的通槽及若干安装孔，且远离连接部的一端底部设置有固定轴，电机安装部上设置有一个通孔及若干安装孔；

所述运送零件包括底板、设置于底板两侧且垂直于底板的第一挡板、设置于底板下方的夹带部；所述夹带部呈开口朝下的U型，内有与同步带齿形匹配的齿形结构；两侧的第一挡板上方设置有凸出的导轨；所述运送零件的一侧为插入口；

所述支架导轨成几字形，在其顶部下表面两侧设置有对应于导轨的导轨槽；支架导轨顶部设置有用于安装光学分析装置的通孔；

所述电机安装部用于安装电机，电机轴朝下；

所述固定轴用于安装同步惰轮，并通过卡圈固定；电机轴上安装同步带轮，同步惰轮、同步带轮之间通过同步带传动；

所述运送零件设置于支架钣金上，其夹带部穿过支架钣金上的通槽，把同步带卡入夹带部齿形结构；所述运送零件随着同步带的运动而运动；

所述支架导轨盖住支架钣金及运送零件，并与支架钣金固定在一起；其导轨槽与运送零件顶部导轨卡和；

光电传感器设置于支架导轨与支架钣金围成的腔体内，安装于支架导轨末端。

2.如权利要求1所述的半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，所述激发光光路系统还包括第一滤波片、第一凸透镜；

所述第一滤波片设置于激发光源前方，用于对激发光进行滤波后形成单色光出射到第一凸透镜；

所述第一凸透镜凸面朝向第一滤波片设置，用于将单色光进行汇聚处理后出射到二色镜；所述二色镜设置于被测物体上方，且朝单色光入射方向倾斜。

3.如权利要求1所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，所述检测光路系统还包括第二滤光片、第四凸透镜；

所述第二滤光片设置于二色镜上方，用于过滤被测物体表面激发出来的荧光后出射到第四凸透镜；

所述第四凸透镜设置于第二滤光片上方，且凸面朝向第二滤光片，用于聚焦反射光到光学检测器件上；

第三凸透镜与第二凸透镜用于收集被测物体表面激发出来的荧光，并将其转化为平行光照射到二色镜。

4.如权利要求3所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，所述检测光路系统包括第五凸透镜；

所述第四凸透镜和第五凸透镜重叠设置于第二滤光片上方，且凸面朝向第二滤光片，用于聚焦反射光到光学检测器件上。

5.如权利要求1所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，所述二色镜与激发光入射光线的水平入射方向呈45度。

6.如权利要求1～5任一项所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，被检测物体与所述第二凸透镜和第三凸透镜组成的透镜组的距离等于该透镜组的焦距。

7.如权利要求1所述的一种半自动免疫荧光分析系统，在光学检测器件与控制分析电路之间设置有放大电路。

8.如权利要求1或7所述的一种半自动免疫荧光分析系统，所述运送零件底部设置有弹性凸出体，所述弹性凸出体从底部平面开始呈向上、向插入口方向逐渐凸起，当插入测试卡时被压紧至与底部上表面处于同一平面，当取出测试卡释放压力后凸出于底部上表面。

9.如权利要求8所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，所述运送零件的第一挡板在测试卡插入口处具有渐变形态，从插入口处开始逐渐变高、变厚，直到预定高度、厚度后稳定向后延伸。

10.如权利要求1所述的一种半自动免疫荧光分析系统，其特征在于，还包括光电传感器，所述光电传感器与支架导轨固定在一起。

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