CN110007811A - 一种处理触控信息的方法、装置、计算机存储介质及终端 - Google Patents
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Abstract
一种处理触控信息的方法、装置、计算机存储介质及终端，包括：划分显示模组为两个或两个以上子区域；对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块(Sensor Pads)的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。本发明实施例降低了触摸检测的功耗。
Description
技术领域
本文涉及但不限于触控屏技术，尤指一种处理触控信息的方法、装置、计算机存储介质及终端。
背景技术
基于低温多晶硅技术(LTPS)技术的终端(手机、平板等)触控与显示驱动器集成(TDDI)显示模组均采用所有触摸块(Sensor Pad)独立，触摸(Touch)集成电路(IC)对每个Sensor Pad进行充电，并读取触摸块容值，根据读取的触摸块的容值判断是否存在触摸。相关技术中的触摸检测，以集成电路支持最大通道为648为例，当IC的Touch构架为1:9多路选择器(MUX)时，需要72个模数转换器(ADC)工作9次，才能完成1次Touch报点；图1为相关技术中显示模组的组成示意图，如图1所示，集成电路支持通道数为648(36*18)，所有SensorPad(图1中左斜线填充的小方框表示一个触控块)独立，Touch IC对每个Sensor Pad进行充电，并读取容值，以判断Sensor Pad是否存在触摸。上述判断是否发生触摸的方案，由于ADC功耗较大，造成显示模组功耗较大，影响终端的使用时长。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本发明实施例提供一种处理触控信息的方法、装置、计算机存储介质及终端，能够降低显示模块检测触摸的功耗。
本发明实施例提供了一种处理触控信息的方法，包括：
划分显示模组为两个或两个以上子区域；
对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
在一种示例性实施例中，所述划分显示模组为两个或两个以上子区域包括：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
在一种示例性实施例中，所述检测子区域内的一个或一个以上触摸块SensorPads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
在一种示例性实施例中，所述根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
另一方面，本发明实施例还提供一种处理触控信息的装置，包括：划分单元、第一检测单元和第二检测单元；其中，
划分单元用于：划分显示模组为两个或两个以上子区域；
第一检测单元用于：对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
第二检测单元用于：对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
在一种示例性实施例中，所述划分单元具体用于：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
在一种示例性实施例中，所述第一检测单元用于检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
在一种示例性实施例中，所述第一检测单元用于根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
再一方面，本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行上述处理触控信息的方法。
还一方面，本发明实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器；其中，
处理器被配置为执行存储器中的程序指令；
程序指令在处理器读取执行以下操作：
划分显示模组为两个或两个以上子区域；
对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：划分显示模组为两个或两个以上子区域；对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块SensorPads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。本发明实施例降低了触摸检测的功耗。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为相关技术中显示模组的组成示意图；
图2为本发明实施例处理触控信息的方法的流程图；
图3为本发明实施例划分的子区域的局部示意图；
图4为本发明实施例处理触控信息的装置的结构框图；
图5为本发明应用示例划分子区域的分布示意图；
图6为本发明应用示例的方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
图2为本发明实施例处理触控信息的方法的流程图，如图2所示，包括：
步骤201、划分显示模组为两个或两个以上子区域；
在一种示例性实施例中，划分显示模组为两个或两个以上子区域包括：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
需要说明的是，本发明实施例划分子区域的尺寸可以以单个触摸块作为最小单位尺寸；图3为本发明实施例划分的子区域的局部示意图，如图3所示，子区域1和子区域2相邻、子区域1和子区域3相邻、子区域4和子区域2相邻、子区域4和子区域3相邻，本发明实施例子区域的划分尺寸可以参照以下方式确定：触控子区域1时，子区域1内的触摸块可以检测到大于预设百分比阈值(与预设的标准电容相比)的电容变化，而子区域2、3、4内的触摸块无法检测大于预设百分比阈值的电容变化；触控子区域2时，子区域2内的触摸块可以检测到大于预设百分比阈值的电容变化，而子区域1、3、4内的触摸块无法检测大于预设百分比阈值的电容变化；触控子区域3时，子区域3内的触摸块可以检测到大于预设百分比阈值的电容变化，而子区域1、2、4内的触摸块无法检测大于预设百分比阈值的电容变化；触控子区域4时，子区域4内的触摸块可以检测到大于预设百分比阈值的电容变化，而子区域1、2、3内的触摸块无法检测大于预设百分比阈值的电容变化；
步骤202、对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块SensorPads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
在一种示例性实施例中，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
需要说明的是，本发明实施例检测子区域内的触摸块的个数和位置可以由本领域技术人员进行分析确定，只要检测的触摸块可以用于分析确定子区域中是否存在被触摸的触摸块即可。
在一种示例性实施例中，根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
需要说明的是，百分比阈值可以由本领域技术人员参照显示模组的属性参数进行分析确定，包括但不限于：参照显示模组包含的触摸块电容的最大值、最小值等进行分析确定。
步骤203、对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
需要说明的是，对子区域内的各触摸块进行检测时，可以参照相关理论及参数确定子区域内各触摸块是否被触摸。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：划分显示模组为两个或两个以上子区域；对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。本发明实施例降低了触摸检测的功耗。
图4为本发明实施例处理触控信息的装置的结构框图，如图4所示，包括：划分单元4-1、第一检测单元4-2和第二检测单元4-3；其中，
划分单元4-1用于：划分显示模组为两个或两个以上子区域；
在一种示例性实施例中，划分单元4-1具体用于：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
第一检测单元4-2用于：对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
在一种示例性实施例中，第一检测单元4-2用于检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
需要说明的是，本发明实施例检测子区域内的触摸块的个数和位置可以由本领域技术人员进行分析确定，只要检测的触摸块可以用于分析确定子区域中是否存在被触摸的触摸块即可。
在一种示例性实施例中，第一检测单元4-2第一检测单元用于根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
需要说明的是，百分比阈值可以由本领域技术人员参照显示模组的属性参数进行分析确定，包括但不限于：参照显示模组包含的触摸块电容的最大值、最小值等进行分析确定。
第二检测单元4-3用于：对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
需要说明的是，对子区域内的各触摸块进行检测时，可以参照相关理论及参数确定子区域内各触摸块是否被触摸。
与相关技术相比，本申请技术方案包括：划分显示模组为两个或两个以上子区域；对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。本发明实施例降低了触摸检测的功耗。
本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行上述处理触控信息的方法。
本发明实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器；其中，
处理器被配置为执行存储器中的程序指令；
程序指令在处理器读取执行以下操作：
划分显示模组为两个或两个以上子区域；
对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
以下通过应用示例对本发明实施例方法进行清楚详细的说明，应用示例仅用于陈述本发明，并不用于限定本发明的保护范围。
应用示例
本应用示例以图1所示的支持通道数为648(36*18)的显示模组作为示例进行说明，假设显示模组的IC架构为1:9MUX，则相关技术需要72个ADC工作9次，才能完成1次Touch报点；
图5为本发明应用示例划分子区域的分布示意图，如图5所示，将每9个SensorPads(横向3个触摸块*纵向3个触摸块)划分为一个子区域，以子区域的中心触摸块作为检测子区域是否被触摸的触摸块(以点填充的方框表示)；当确定子区域被触摸时，对子区域内的所有触摸块进行电容值检测，以确定被触摸的各触摸块。通过确定的被触摸的各触摸块进行触摸位置的报点。
假设IC的Touch构架仍然为1:9MUX，本发明应用于示例方法只需要24个ADC工作3次，就能完成1次Touch子区域的确定报点，再进行3个ADC工作3次就可以完成具体触摸位置的报点；
图6为本发明应用示例的方法流程图，如图6所示，包括：
步骤601、扫描检测划分的每个子区域的中心触摸块的电容值；
步骤602、根据检测到的中心触摸块的电容值确定子区域是否被触摸，子区域被触摸时，执行步骤603；子区域未被触摸时，返回步骤601，等待下一次触摸检测；
步骤603、对被触摸的子区域，检测子区域内除中心触摸块以外的其他各触摸块的电容值，并根据电容值判断被检测的触摸块是否被触摸；
步骤604、根据电容值判断被检测的触摸块被触摸，对被触摸的触摸块的位置进行位置报点；
以IC支持最大通道648、IC的Touch构架为1:9MUX为例，相关技术需要72个ADC工作9次，才能完成1次Touch报点；本发明应用示例Touch检测只需分时扫描每个子区域中心触摸块的电容值，再分时扫描被触摸的子区域内每个Sensor Pad的电容值，就可完成一次触摸位置的报点；相比相关技术，1次Touch报点，可以减少567次ADC工作的功耗，因此，可以降低显示模块进行触摸信息处理的功耗。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件(例如处理器)完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的每个模块/单元可以采用硬件的形式实现，例如通过集成电路来实现其相应功能，也可以采用软件功能模块的形式实现，例如通过处理器执行存储于存储器中的程序/指令来实现其相应功能。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种处理触控信息的方法，其特征在于，包括：
划分显示模组为两个或两个以上子区域；
对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述划分显示模组为两个或两个以上子区域包括：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
5.一种处理触控信息的装置，其特征在于，包括：划分单元、第一检测单元和第二检测单元；其中，
划分单元用于：划分显示模组为两个或两个以上子区域；
第一检测单元用于：对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
第二检测单元用于：对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述划分单元具体用于：
按照预设的划分尺寸，将显示模组划分为两个或两个以上所述子区域。
7.根据权利要求5或6所述的装置，其特征在于，所述第一检测单元用于检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值包括：
对划分的各子区域，检测子区域中心位置的一个触摸块。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一检测单元用于根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸包括：
与预设的标准电容相比，被检测的所述触摸块的电容值的变化率大于预设百分比阈值时，确定被检测的触摸块所在的子区域被触摸。
9.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1～4中任一项所述的处理触控信息的方法。
10.一种终端，包括：存储器和处理器；其中，
处理器被配置为执行存储器中的程序指令；
程序指令在处理器读取执行以下操作：
划分显示模组为两个或两个以上子区域；
对划分的各子区域，检测子区域内的一个或一个以上触摸块Sensor Pads的电容值，并根据检测到电容值确定各子区域是否被触摸；
对确定的被触摸的子区域，检测子区域内的各触摸块电容值，并根据检测到电容值确定被触摸的各触摸块。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190712 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |