CN109976587A - 触控装置及其驱动方法 - Google Patents
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Abstract
一种触控装置及其驱动方法。在触控装置中，触控面板具有多个触控区域。处理器用以对触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中测试数据具有对应于触控区域的多个测试数值；依据比较测试数据中的测试数值与预设值以判断测试数据为离群测试数据或集群测试数据；当测试数据中的多个连续测试数据皆为集群测试数据时，经由演算法对连续测试数据进行运算以获得补偿测试数据。
Description
技术领域
本发明是有关于一种触控技术，且特别是有关于一种触控装置及其驱动方法。
背景技术
随着信息技术、无线移动通讯以及信息家电等的快速发展及应用，为了达到更便利、体积更轻巧化以及更人性化的目的，许多信息产品的输入装置已由传统的键盘或鼠标等转变为触控面板(Touch Panel)，并且触控面板可配合显示面板一起使用以达到点选的功能。
在习知的触控装置中，当处理器对触控面板进行均匀性测试时，由于所述触控面板容易受到周遭环境(如，环境中的水气或贴附于触控面板上的塑胶模等)的影响，导致在所述触控面板上电之前，各个触控区域所对应的测试数值并非是均匀或相同的。因此，习知的触控装置通常需要通过额外的存储器来储存校正值(或权重值)，以对这些测试数值进行补偿，进而使各个触控区域所对应的测试数值是均匀且相等的。
然而，由于习知技术需通过额外的存储器来储存所述补偿值，并且在执行校正动作时，需要额外通过人力来进行操作。因此，所述触控装置整体的成本将会大幅的增加。换言之，如何有效地降低触控装置整体的成本，并且当处理器对触控面板进行均匀性测试时，处理器亦可动态地补偿各个触控区域所对应的测试数值，将是本领域相关技术人员重要的课题。
发明内容
本发明提供一种触控装置及其驱动方法，可降低触控装置整体的成本，并且藉由处理器动态的对各触控区域所对应的测试数值进行补偿，以进一步提升触控装置的效能。
本发明的触控装置包括触控面板以及处理器。触控面板具有多个触控区域。处理器用以对触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中测试数据具有对应于触控区域的测试数值；依据比较测试数据中的测试数值与预设值以判断测试数据为离群测试数据或集群测试数据；当测试数据中的多个连续测试数据皆为集群测试数据时，经由演算法对连续测试数据进行运算以获得补偿测试数据。
本发明的驱动方法包括：由处理器对触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中测试数据具有对应于触控面板的多个触控区域的多个测试数值；由处理器依据比较测试数据中的测试数值与预设值以判断测试数据为离群测试数据或集群测试数据；当测试数据中的多个连续测试数据皆为集群测试数据时，由处理器经由演算法对连续测试数据进行运算以获得补偿测试数据。
基于上述，本发明的触控装置可以利用处理器并通过一演算法(如，基因演算法)来动态的对属于集群测试数据的连续测试数据进行运算，以获得相关于多个触控区域所分别对应的多个测试数值的多个权重值。如此一来，本发明的触控装置可以不需要利用额外的存储器来储存所述权重值，并利用处理器依据这些权重值来对这些测试数值进行动态地补偿，进而降低触控装置整体的成本，并且进一步提升触控装置整体的效能。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1是依照本发明一实施例的触控装置的方块示意图。
图2是依照本发明一实施例的多个测试数据的情境示意图。
图3是依照本发明一实施例的处理器的操作流程图。
图4是依照本发明另一实施例的处理器的操作流程图。
图5是依照本发明一实施例的触控装置的驱动方法的流程图。
其中，附图标记：
100：触控装置
110：触控面板
120：处理器
CTD：补偿测试数据
TA1～TAN：触控区域
TD1～TDN：测试数据
TV1_1～TV1_N、TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N、TV4_1～TV4_N：测试数值
S310～S380、S410～S490、S510～S530：步骤
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：
在本发明说明书全文(包括权利要求书)中所使用的「耦接(或连接)」一词可指任何直接或间接的连接手段。举例而言，若文中描述第一装置耦接(或连接)于第二装置，则应该被解释成该第一装置可以直接连接于该第二装置，或者该第一装置可以通过其他装置或某种连接手段而间接地连接至该第二装置。另外，凡可能之处，在附图及实施方式中使用相同标号的元件/构件/步骤代表相同或类似部分。不同实施例中使用相同标号或使用相同用语的元件/构件/步骤可以相互参照相关说明。
图1是依照本发明一实施例的触控装置100的方块示意图。请参照图1，触控装置100包括触控面板110以及处理器120。处理器120耦接至触控面板110。触控面板110具有多个以阵列排列的触控区域TA1～TAN。在本发明实施例中，触控装置100可以利用处理器120来对触控面板110执行多次的均匀性测试，以判断各个触控区域TA1～TAN所对应的测试数值是否均匀且相同。值得一提的是，在多次的均匀性测试中，触控面板110可以对应的提供多个测试数据TD1～TDN至处理器120，并且，处理器120可以依据这些测试数据TD1～TDN以通过一演算法来获得补偿测试数据CTD。其中，上述的N为大于1的正整数。
在本实施例中，处理器120为具备运算能力的硬件(例如芯片组、处理器等)。处理器120可以例如是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、微处理器(micro-processor)、或是其他可程序化的处理单元(Microprocessor)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、可程序化控制器、专用电路(Application Specific IntegratedCircuits，ASIC)、可程序化逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)或其他类似装置。
图2是依照本发明一实施例的多个测试数据TD1～TDN的情境示意图。请同时参照图1以及图2，具体来说，在本实施例中，这些测试数据TD1～TDN分别具有触控区域TA1～TAN所对应的多个测试数值。举例来说，以图2中的测试数据TD1作为范例，测试数据TD1具有对应于触控区域TA1～TAN的多个测试数值TV1_1～TV1_N，而其余的测试数据TD2～TD4则可依此类推。其中，测试数据TD1～TD4中的多个方格分别可以表示为多个触控区域TA1～TAN。并且，为了方便说明，本实施例的图2仅以4个测试数据TD1～TD4来作为范例说明，但本发明实施方式并不限于此。
需注意到的是，由于在不同的时间点中，环境对于触控面板110的影响程度并不相同，因此，当处理器120对触控面板110执行多次的均匀性测试时，每一个测试数据TD1～TDN中所对应的多个测试数值将会随着环境的改变而有所变化。
关于处理器120在本发明一实施例中的操作细节，请同时参照图1至图3，
图3是依照本发明一实施例的处理器120的操作流程图。在步骤S310中，触控装置100可以启动处理器120，以使处理器120可以开始执行相关的操作动作。接着，在步骤S320中，在处理器120启动后的一初始时间中，触控装置100可以利用处理器120来对触控面板110执行多次的均匀性测试，并在接续的步骤S330中，处理器120可以对应的接收由触控面板110所提供的多个测试数据TD1～TD4，藉以在每一次的均匀性测试中获得多个触控区域TA1～TA4所分别对应的测试数值的状态。
特别一提的是，在本发明实施例中，处理器120可以分别对这些测试数据TD1～TD4中的多个测试数值执行线性尺度转换(Scale Transformation)的动作，以进一步将原先以模拟形式表示的测试数值转换为以数字形式表示的测试数值，并且依据这些以数字形式表示的测试数值以作为后续执行均匀性测试时的测试数值。
接着，在步骤S340中，处理器120可以判断这些测试数据TD1～TD4中的多个连续测试数据是否皆属于集群测试数据。详细来说，首先，处理器120可以先计算在各个测试数据TD1～TD4中，大于一预设值(例如预设值0.6，但本发明并不限于此)的多个测试数值的数量(对应为第一数量)。其中，在本实施例的图2中，在每一个测试数据TD1～TD4中，小于所述预设值(亦即预设值0.6)所对应的测试数值皆以斜线的绘制方式来表示。举例来说，如本实施例的图2所示，假设触控面板110是以3x10的矩阵排列方式来作为范例，在测试数据TD1中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值TV1_1～TV1_N的数量为21个；在测试数据TD2中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值TV2_1～TV2_N的数量为24个；在测试数据TD3中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值TV3_1～TV3_N的数量为29个；在测试数据TD4中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值TV4_1～TV4_N的数量为30个。
接着，处理器120可以进一步计算在各个测试数据TD1～TD4中，大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值。举例来说，在测试数据TD1中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为21个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值为70％；在测试数据TD2中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为24个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值为80％；在测试数据TD3中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为29个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值为96.6％；在测试数据TD4中，处理器120可以计算大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为30个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值为100％。
在此需特别注意到的是，在各个测试数据TD1～TD4中，若该笔测试数据(测试数据TD1～TD4的其中之一)中大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值未大于一预设比值(例如是预设比值80％，但本发明并不限于此)时，处理器120可以判断该笔测试数据属于一离群测试数据。相对的，若该笔测试数据中大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值大于所述预设比值(亦即预设比值80％)时，处理器120可以判断该笔测试数据属于一集群测试数据。其中，在本发明实施例中，当处理器120判断该笔测试数据属于所述离群测试数据时，则表示该笔测试数据中「大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量占所有测试数值的总数量的80％以下」。相对的，当处理器120判断该笔测试数据属于所述集群测试数据时，则表示该笔测试数据中「大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量占所有测试数值的总数量的80％以上」。
举例来说，如本实施例的图2所示，在测试数据TD1中，由于大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为21个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值(亦即比值为70％)未大于所述预设比值(亦即预设比值80％)。因此，处理器120可以判断测试数据TD1属于所述离群测试数据；在测试数据TD2中，由于大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为24个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值(亦即比值为80％)等于所述预设比值(亦即预设比值80％)。因此，处理器120可以判断测试数据TD2属于所述集群测试数据；在测试数据TD3中，由于大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为29个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值(亦即比值为96.6％)大于所述预设比值(亦即预设比值80％)。因此，处理器120可以判断测试数据TD3属于所述集群测试数据；在测试数据TD4中，由于大于所述预设值(亦即预设值0.6)的测试数值的数量(亦即数量为30个)与整体测试数值的总数量(亦即总数量为30个)的比值(亦即比值为100％)大于所述预设比值(亦即预设比值80％)。因此，处理器120可以判断测试数据TD4属于所述集群测试数据。
值得一提的是，在步骤S340中，当处理器120判断多个测试数据TD1～TDN中的多个连续测试数据(如，测试数据TD2～TD4)皆属于所述集群测试数据时，处理器120则会接续执行步骤S350的操作动作。反之，当处理器120判断多个测试数据TD1～TDN中的多个连续测试数据并未皆属于所述集群测试数据时，处理器120则会重新执行步骤S330的操作动作。需注意到的是，本实施例的多个测试数据TD1～TDN中的多个连续测试数据的数量可以为3个，但本发明实施例并不限于此。
特别一提的是，在本实施例中，所述预设值以及预设比值可根据设计需求来进行调整，本发明实施例中的所述预设值以及预设比值并不限于上述所举例的数值。此外，本发明实施例是以选取大于预设值0.6的测试数值来作为单点对整体的均匀性，并且根据每个测试数据中大于预设值0.6的测试数值的数量与整体测试数值的总数量的比值是否大于预设比值80％，以决定该笔测试数据属于所述离群测试数据或所述集群测试数据。换言之，本发明的触控装置100可以通过上述的方式，藉以使处理器120可以仅针对所述集群测试数据来进行运算，进而有效地缩短处理器120的计算时间。
请再次参照图3，在步骤S350中，处理器120可以通过演算法来对属于所述集群测试数据的连续测试数据TD2～TD4进行运算，以获得相关于多个测试数值(如，测试数值TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N以及TV4_1～TV_N)的多个权重值。
进一步来说，在本实施例中，处理器120可以通过本领域具有通常知识者所熟知的基因演算法(Genetic Algorithm，GA)来对测试数据TD2～TD4执行相关的运算动作(例如是基因演算法中的复制、交配以及突变等运算动作)，以使处理器120可以获得相关于多个测试数值(如，测试数值TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N以及TV4_1～TV_N)的多个权重值。换言之，有别于习知技术需通过额外的存储器来储存所述权重值，在本实施例中，处理器120可以通过基因演算法来动态的对属于所述集群测试数据的连续测试数据TD2～TD4进行运算，以进一步获得相关于多个测试数值(如，测试数值TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N以及TV4_1～TV_N)的多个权重值。如此一来，本发明实施例将可以有效地降低触控装置100整体的成本，并且进一步提升触控装置100整体的效能。
需注意到的是，针对处理器120计算出相关于多个测试数值的多个权重值的方法，本发明实施例并不仅限于上述的基因演算法，本发明实施例的处理器120亦可利用其它相关的演算法来计算出所述权重值。
接着，在步骤S360中，处理器120可以依据连续测试数据TD2～TD4中所分别对应的多个测试数值(如，测试数值TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N以及TV4_1～TV_N)以及相关于这些测试数值的多个权重值，以获得补偿测试数据CTD。换言之，本实施例的补偿测试数据CTD可以表示为经由多个权重值对这些测试数值(如，测试数值TV2_1～TV2_N、TV3_1～TV3_N以及TV4_1～TV_N)进行补偿后的测试数据。
接着，在步骤S370中，处理器120可以依据补偿测试数据CTD来判断触控面板110是否被触碰。举例来说，当处理器120判断触控面板110中的多个触控区域TA1～TAN被外部的触控媒介(例如手指)触碰，并且所述补偿测试数据CTD产生相对应的变化(例如是经补偿后的测试数值发生变化量)时，处理器120可以接续执行步骤S380以执行触控报点的操作动作。反之，当处理器120判断触控面板110的多个触控区域TA1～TAN未被外部的触控媒介(例如手指)触碰，并且所述补偿测试数据CTD并未产生相对应的变化(例如是经补偿后的测试数值并未发生变化量)时，处理器120则会重新执行步骤S360的操作动作。
另一方面，关于处理器120在本发明另一实施例中的操作细节，请同时参照图1至图4，图4是依照本发明另一实施例的处理器120的操作流程图。其中，图4中的步骤S410至步骤S470的操作动作皆分别相同或相似于图3中的步骤S310至步骤S370的操作动作，在此则不多赘述。需注意到的是，不同于图3实施例的是，在图4实施例中，在步骤S470中，当处理器120判断触控面板110的多个触控区域TA1～TAN未被外部的触控媒介(例如手指)触碰时，处理器120可以接续执行步骤S480的操作动作，以使处理器120可以执行休眠模式。反之，当处理器120判断触控面板110的多个触控区域TA1～TAN被外部的触控媒介(例如手指)触碰时，处理器120可以接续执行步骤S490以执行触控报点的操作动作。
进一步来说，在本实施例中，当处理器120执行休眠模式(步骤S480)时，处理器120亦可重新执行步骤S430的操作动作，以使处理器120在所述休眠模式下，同样可以持续的接收多个测试数据TD1～TDN。换言之，在本实施例中，当处理器120操作于所述休眠模式时，处理器120亦可持续的对多个测试数据中的多个测试数值进行补偿，以进一步提升触控装置100的效能。
图5是依照本发明一实施例的触控装置100的驱动方法的流程图。在步骤S510中，触控装置可以藉由处理器对触控面板110执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中各个测试数据具有对应于触控面板的多个触控区域的多个测试数值。在步骤S520中，触控装置可以藉由处理器依据比较各个测试数据中的多个测试数值与一预设值以判断各个测试数据为一离群测试数据或一集群测试数据。在步骤S530中，当处理器判断多个测试数据中的多个连续测试数据皆为所述集群测试数据时，触控装置可以藉由处理器经由一演算法对这些连续测试数据进行运算以获得补偿测试数据。
关于上述步骤的实施细节，在前述的实施例中已有详尽的说明，在此恕不多赘述。
综上所述，本发明的触控装置可以利用处理器并通过一演算法(如，基因演算法)来动态的对属于集群测试数据的连续测试数据进行运算，以获得相关于多个触控区域所分别对应的多个测试数值的多个权重值。如此一来，本发明的触控装置可以不需要利用额外的存储器来储存所述权重值，并利用处理器依据这些权重值来对这些测试数值进行动态地补偿，进而降低触控装置整体的成本，并且进一步提升触控装置整体的效能。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (16)
1.一种触控装置，其特征在于，包括：
一触控面板，具有多个触控区域；以及
一处理器，耦接至该触控面板，该处理器用以：
对该触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中各该测试数据具有对应于该些触控区域的多个测试数值；
依据比较各该测试数据中的该些测试数值与一预设值以判断各该测试数据为一离群测试数据或一集群测试数据；以及
当该些测试数据中的多个连续测试数据皆为该集群测试数据时，经由一演算法对该些连续测试数据进行运算以获得一补偿测试数据。
2.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，其中该处理器更用以：
计算各该测试数据中的该些测试数值大于该预设值的一第一数量，并判断该第一数量与该些测试数值的总数量的比值是否大于一预设比值以判断各该测试数据为该离群测试数据或该集群测试数据，其中，
当该第一数量与该些测试数值的总数量的比值大于该预设比值时，判断各该测试数据为该集群测试数据，
当该第一数量与该些测试数值的总数量的比值未大于该预设比值时，判断各该测试数据为该离群测试数据。
3.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，其中该处理器更用以：
依据经由该演算法对该些连续测试数据进行运算的运算结果以获得相关于该些测试数值的多个权重值，并依据该些测试数值以及该些权重值以获得该补偿测试数据。
4.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，其中该处理器更用以：
依据该补偿测试数据以判断该触控面板是否被触碰。
5.如权利要求4所述的触控装置，其特征在于，其中当该处理器判断该触控面板未被触碰时，该处理器重新经由该演算法对该些连续测试数据进行运算以获得该补偿测试数据。
6.如权利要求4所述的触控装置，其特征在于，其中当该处理器判断该触控面板未被触碰时，该处理器重新对该触控面板执行多次均匀性测试以获得该些测试数据。
7.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，其中该些测试数据中的该些连续测试数据的数量为3。
8.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，其中该演算法为一基因演算法。
9.一种触控装置的驱动方法，其特征在于，包括：
由一处理器对一触控面板执行多次均匀性测试以获得多个测试数据，其中各该测试数据具有对应于该触控面板的多个触控区域的多个测试数值；
由该处理器依据比较各该测试数据中的该些测试数值与一预设值以判断各该测试数据为一离群测试数据或一集群测试数据；以及
当该些测试数据中的多个连续测试数据皆为该集群测试数据时，由该处理器经由一演算法对该些连续测试数据进行运算以获得一补偿测试数据。
10.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，其中由该处理器依据比较各该测试数据中的该些测试数值与该预设值以判断各该测试数据为该离群测试数据或该集群测试数据的步骤包括：
计算各该测试数据中的该些测试数值大于该预设值的一第一数量，并判断该第一数量与该些测试数值的总数量的比值是否大于一预设比值以判断各该测试数据为该离群测试数据或该集群测试数据；
当该第一数量与该些测试数值的总数量的比值大于该预设比值时，由该处理器判断各该测试数据为该集群测试数据；以及
当该第一数量与该些测试数值的总数量的比值未大于该预设比值时，由该处理器判断各该测试数据为该离群测试数据。
11.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，其中当该些测试数据中的该些连续测试数据皆为该集群测试数据时，由该处理器经由该演算法对该些连续测试数据进行运算以获得该补偿测试数据的步骤包括：
依据经由该演算法对该些连续测试数据进行运算的运算结果以获得相关于该些测试数值的多个权重值，并依据该些测试数值以及该些权重值以获得该补偿测试数据。
12.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，其中该驱动方法更包括：
由该处理器依据该补偿测试数据以判断该触控面板是否被触碰。
13.如权利要求12所述的驱动方法，其特征在于，其中由该处理器依据该补偿测试数据以判断该触控面板是否被触碰的步骤包括：
当该处理器判断该触控面板未被触碰时，则重新经由该演算法对该些连续测试数据进行运算以获得该补偿测试数据。
14.如权利要求12所述的驱动方法，其特征在于，其中由该处理器依据该补偿测试数据以判断该触控面板是否被触碰的步骤包括：
当该处理器判断该触控面板未被触碰时，则重新对该触控面板执行多次均匀性测试以获得该些测试数据。
15.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，其中该些测试数据中的该些连续测试数据的数量为3。
16.如权利要求9所述的驱动方法，其特征在于，其中该演算法为一基因演算法。
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