CN109932578B - 对一个待测变压器进行温升试验的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种对一个待测变压器进行温升试验的方法，其中，待测变压器(1)的主边具有一个主边绕组(H)，而其副边具有至少两个副边绕组(LA、LB)，而且至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，温升试验方法包括：将补偿变压器(2)作为负载连接到所述待测变压器(1)的副边绕组，补偿变压器(2)具有至少两个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，且补偿绕组(LA’、LB’、LH’)接入所述待测变压器(1)，以使得补偿后的待测变压器(1)各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；通过向待测变压器(1)的主边绕组(H)加电，使得补偿后的待测变压器(1)运行；对运行的待测变压器(1)进行温升试验。

Description

对一个待测变压器进行温升试验的方法和装置

技术领域

本申请涉及变压器的温升测试领域，具体涉及对一个待测变压器进行温升试验的方法和装置。

背景技术

变压器的温升试验是制造厂在型式试验中鉴定产品质量的重要试验项目之一。温升试验的目的就是要确定变压器各种部件的温升条件下的各项参数是否符合有关标准规定的要求，从而为变压器长期安全运行提供可靠的依据。因此，温升试验不仅关系到变压器的安全性、可靠性、使用寿命，也关系到变压器的制造成本。

目前标准和文献中给出了使得变压器能够在接近实际运行的情况下进行温升试验的方法。以下列出主要几种：

1.以尽可能接近实际负载的方式，仅对待测变压器的某一绕组施加与适当的电流，而将其余绕组直接短接或外接适当的阻抗；

2.通过近似的方式，某些绕组不短路或不闭合，提高其他相关绕组的电流，直到获得所需的总损耗；

3.将损耗降低到基准值的80％，按照相应的公式进行修正；

4.通过移相并联接线的方法(如，在《变压器》期刊第51卷第7期(2014年7月)中所公开的《移相并联接线在特殊三绕组变压器温升试验中的应用》)。

在超过两电压系统的变压器中，例如以三电压系统变压器为例，往往变压器的副边绕组的阻抗与容量之间不能成反比关系或者说偏离反比关系，例如，副边的一组绕组的阻抗大于另一组绕组的阻抗，而两者的容量基本相同；又例如，副边的一组绕组的阻抗与另一组绕组的阻抗比与它们的容量比相同，诸如副边的一组绕组的阻抗与另一组绕组的阻抗比为3:5，副边的该组绕组的容量与另一组绕组的容量比也为3:5。即，各自绕组与其容量比成正比关系。然而，对于绕组的阻抗与其容量比不成反比关系的变压器，很难用上述常规方法进行温升试验。

发明内容

为了解决上述问题，本申请提供一种对一个待测变压器进行温升试验的方法和装置，其通能够使补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系能够满足反比关系。从而，在不增加成本的情况下，能够广泛地应用于温升试验。

根据本申请的一方面，提供一种对一个待测变压器进行温升试验的方法，其中，待测变压器的主边具有一个主边绕组，而其副边具有至少两个副边绕组，而且至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，该温升试验方法包括：将补偿变压器作为负载连接到待测变压器的副边绕组，其中，补偿变压器具有至少两个补偿绕组，且补偿绕组接入待测变压器，以使得补偿后的待测变压器各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；通过向待测变压器的主边绕组加电，使得补偿后的待测变压器运行；对运行的待测变压器进行温升试验。

以这样的方式，通过引入与待测变压器相似的补偿变压器作为负载，并将该补偿变压器与待测变压器相连接，使该补偿变压器内的绕组充当待测变压器的负载，使得补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系能够满足反比关系。

在一示意性实施方式中，连接补偿变压器的步骤包括：短接副边绕组中具有最大阻抗的副边绕组；将补偿变压器的各补偿绕组连接成补偿副边绕组中具有最小阻抗的副边绕组。

以这样的方式，能够对副边绕组中具有最小阻抗的副边绕组进行阻抗补偿。

在一示意性实施方式中，连接补偿变压器的步骤还包括：将补偿变压器的一个补偿绕组作为负载连接到最小阻抗的副边绕组；短接至少另一个补偿绕组，以使得补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗和其容量之间的对应关系满足反比关系。

以这样的方式，副边绕组中具有最小阻抗的副边绕组的阻抗得到补偿，使得补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗和其容量之间的对应关系满足反比关系。

在一示意性实施方式中，补偿变压器是一个与待测变压器相同的变压器。

以这样的方式，在不使用额外设备的情况下，使用与待测变压器相同的补偿变压器进行阻抗补偿，节省了成本。

在一示意性实施方式中，待测变压器具有第一副边绕组和第二副边绕组，其中第一副边绕组的阻抗远小于第二副边绕组的阻抗，并且第一副边绕组和第二副边绕组的容量大体相当；连接补偿变压器的步骤包括：将第二副边绕组的两端短接到地；连接补偿变压器的补偿绕组，使得补偿后第一副边绕组侧的等效阻抗大体等于第二副边绕组的阻抗。

以这样的方式，补偿后第一副边绕组侧的等效阻抗大体等于第二副边绕组的阻抗。

在一示意性实施方式中，连接补偿变压器的步骤包括：将一个位于副边的低容量的补偿绕组短接到地；将一个位于副边的高容量的补偿绕组保持开路。

以这样的方式，通过位于副边的低容量的补偿绕组进行阻抗补偿。

根据本申请的另一方面，提供一种用于对一个待测变压器进行温升试验的装置，其中，待测变压器的主边具有一个主边绕组，而副边具有至少两个副边绕组，而且至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，该装置包括：补偿变压器，其作为负载连接到待测变压器的副边绕组，其中，补偿变压器具有至少两个补偿绕组，且补偿绕组接入待测变压器，以使得补偿后的待测变压器各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；一个电源，其连接到待测变压器的主边绕组，使得补偿后的待测变压器运行，以便进行温升试验。

以这样的方式，通过该装置，使得在待测变压器的副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系的情况下，也能够进行温升试验。

本申请通过引入与待测变压器相似的补偿变压器作为负载，并将该补偿变压器与待测变压器相连接，使该补偿变压器内的绕组充当待测变压器的负载，使得补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系能够满足反比关系，从而，在没有引入任何电容器和电感器等额外的设备的情况下能够进行温升试验，从而降低了成本。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请的第一实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图；

图2是图1所示示例性试验接线图的简化电路原理图；

图3是根据本申请的第二实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图；

图4是图3所示示例性试验接线图的简化电路原理图；

图5是根据本申请的第三实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图；

图6是图5所示示例性试验接线图的简化电路原理图；

图7是根据本申请的第四实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图；

图8是图7所示示例性试验接线图的简化电路原理图；

图9是根据本申请的第五实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图；

图10是图9所示示例性试验接线图的简化电路原理图。

1：待测变压器；

2：补偿变压器；

H：主边绕组；

LA：第一副边绕组；

LB：第二副边绕组；

LC：第三副边绕组；

LA’、LA”：补偿第一绕组；

LB’、LB”：补偿第二绕组；

H’、H”：补偿第三绕组；

LC’、LC”：补偿第四绕组。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

为了解决变压器的绕组的阻抗与其容量比不成反比关系而无法实现温升试验的问题，发明人发现通过引入与待测变压器相似的补偿变压器作为负载，并将该补偿变压器与待测变压器相连接，使该补偿变压器内的绕组充当待测变压器的负载，能够很好的解决上述问题。并且，通过上述方法，补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系能够满足反比关系。这样，由于没有引入任何电容器和电感器等额外的设备，从而进行温升试验的成本也得到降低。

图1示出了根据本申请的第一实施例的用于对三绕组变压器进行温升试验的试验接线图。

在图1的例子中，待测变压器1例如包括位于主边的主边绕组H以及位于副边的第一副边绕组LA和第二副边绕组LB。副边的第一副边绕组LA和第二副边绕组LB均耦合到主边的主边绕组H。在此实施例中，待测变压器1的主边绕组H为高容量线圈，第一副边绕组LA和第二副边绕组LB分别为两个低容量线圈，并且主边绕组H的容量P_H为第一副边绕组LA和第二副边绕组LB容量之和，即，P_H＝P_LA+P_LB。第一副边绕组LA的等效阻抗远远小于第二副边绕组LB的等效阻抗。同时，出于实际需要，待测变压器1的两个副边绕组LA和LB的容量需要在大体相等，这就偏离了常规的阻抗与容量成反比的情况。为此，在图1的例子中，将一个补偿变压器2作为负载连接到待测变压器1的副边输出端，以便对待测变压器1的阻抗进行补偿。补偿变压器2为与该待测变压器1相同的一变压器。补偿变压器2包括补偿第一绕组LA’、补偿第二绕组LB’和补偿第三绕组H’。补偿第一绕组LA’和补偿第二绕组LB’能够耦合到补偿第三绕组H’。根据本申请的实施方式，补偿第一绕组LA’与第一副边绕组LA相同，补偿第二绕组LB’与第二副边绕组LB相同，补偿第三绕组H’与主边绕组H相同，即，至少它们的阻抗大体相同。即，补偿第一绕组LA’与第一副边绕组LA的阻抗相同，补偿第二绕组LB’与第二副边绕组LB的阻抗相同，补偿第三绕组H’与主边绕组H的阻抗相同。根据本申请的一实施方式，该待测变压器1可以为单相变压器或三相变压器，从而，补偿变压器2相应地也可以为单相变压器或三相变压器。

图1示出了补偿变压器与待测变压器1相连接的一个实施例。如图1所示，待测变压器1中等效阻抗较小的第一副边绕组LA的两端与补偿变压器2的补偿第一绕组LA’的两端分别对应连接。待测试的变压器1中等效阻抗较大的第二副边绕组LB的两端短接并接地，同时补偿变压器2的补偿第二绕组LB’的两端短接并接地。补偿变压器2的补偿第三绕组H’保持开路状态。上述待测变压器1和补偿变压器2连接之后，再将输入电源接入待测变压器1的主边绕组H，以便为温升试验做好准备。

图2示出了图1所示的示例性接线方式的等效电路图。参照图1，待测变压器1的主边绕组H接入电源，按照图1接线方式连接后的等效电路为连接在该电源和地电位之间的电路。如图2的等效电路所示，待测变压器1的第一副边绕组LA的阻抗ZLA与补偿变压器2的补偿第一绕组LA’的阻抗ZLA’和补偿第二绕组LB’的阻抗ZLB’串联，形成第一串联支路。待测变压器1的第一副边绕组LB的阻抗ZLB与该第一串联支路并联，再与待测变压器1的主边绕组H的阻抗ZH串联。

由图2给出的等效电路可见，通过上述连接方式，补偿变压器2用作待测变压器1的负载，以便对待测变压器1的输出阻抗进行补偿。待测变压器1中具有最大阻抗的第二副边绕组LB被短接，同时对阻抗最小的第一副边绕组LA进行补偿，即，将补偿变压器2中的补偿第一绕组LA’和补偿第二绕组LB’连接成与具有较小阻抗的第一副边绕组LA串联的方式。由此补偿待测变压器1的各副边绕组中阻抗最小的绕组。

通常，在温升试验中，两个副边绕组分配取决于各自支路的绕组等效阻抗比。该实施例中，待测变压器1的两个副边绕组的等效绕组阻抗相差很大，即第一副边绕组LA的阻抗ZLA远小于第二副边绕组LB的阻抗ZLB(ZLA<<ZLB)，然而两个副边绕组的容量大体在同一量级。在图1的例子中，通过接入补偿变压器2，使得在待测变压器1的第一副边绕组LA的阻抗与补偿变压器2的补偿第一绕组LA’的阻抗和补偿第二绕组LB’的阻抗串联。由于第一副边绕组LA的阻抗ZLA可以忽略不计，从而通过接入补偿变压器2的补偿第一绕组LA’的阻抗和补偿第二绕组LB’达到对第一副边绕组LA的阻抗ZLA的有效补偿，使得从待测变压器1的两个副边输出看，阻抗大体在同一量级，且进而可使得补偿后的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系。

在图1的例子中，待测变压器1的两个副边绕组的容量接近平衡。采用图2所示的电路图连接后，由于ZLA非常小，那么第一副边绕组LA所在的回路中所串联的补偿第一绕组LA’和补偿第二绕组LB’的等效阻抗大约等于第二副边绕组LB所在回路中的阻抗ZLB。因此，经过补偿后的两个副边绕组中的等效绕组阻抗接近平衡，进而两个副边绕组的容量得到平衡地分配，从而能够实现该类型变压器的温升试验。

本申请通过补偿待测变压器中副边绕组中阻抗最小的副边绕组来实现补偿后的待测变压器中各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的反比关系。这种补偿可以根据待测变压器主边绕组与副边各绕组的阻抗大小计算，从而接入或选用合适的补偿变压器，优选选用与该待测变压器相同的补偿变压器。选用与待测变压器相同的补偿变压器时可以接入补偿变压器中的任何绕组作为待测变压器的负载。下面，通过几个不同的实施例来进行说明。

图3是根据本申请的第二实施例的将待测变压器与补偿变压器相连接的试验接线图。该实施例中，与第一实施例相同，该补偿变压器2也与待测变压器1相同，并且将补偿变压器作为负载接入待测变压器。不同的是，该实施例中，将补偿变压器2的补偿第一绕组LA’与待测变压器1的第一副边绕组LA对接，将补偿第二绕组LB’开路并且一端接地，将补偿第三绕组H’短路并且接地。并且，待测变压器1的第二副边绕组LB短接并且接地。

图3所示的连接方式的等效电路图在图4中示出。如图4所示，按照图3的接线方式，待测变压器1的第一副边绕组LA的阻抗ZLA、补偿变压器2中的补偿第一绕组LA’的阻抗ZLA’和补偿第三绕组H’的阻抗ZH’构成第二串联支路。该第二串联支路与第二副边绕组LB的阻抗ZLB并联后再与主边绕组H的阻抗ZH串联。如此，从待测变压器1的第一副边输出看，其等效阻抗为ZLA+ZLA’+ZH’。该实施例通过补偿变压器2中的补偿第一绕组LA’和补偿第三绕组H’来对待测变压器1中的第一副边绕组LA中的阻抗进行补偿，从而使得补偿后的待测变压器1的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系。从而得以进行温升试验。

图5示出了另一实施例。该实施例与第一实施例类似，该补偿变压器2也与待测变压器1相同，并且将补偿变压器作为负载接入待测变压器。不同的是，该实施例中，待测变压器1的两个副边绕组的容量与其阻抗大体呈正比关系。例如，第一副边绕组LA的阻抗远小于第二副边绕组LB的阻抗，同时第一副边绕组LA的容量也小于第二副边绕组LB的容量。为了补偿这一正比关系，图5中将补偿变压器2中的补偿第二绕组LB’与待测变压器1的第一副边绕组LA对接，将补偿第一绕组LA’开路并且一端接地，将补偿第三绕组H’短路并且接地。同时，待测变压器1的第二副边绕组LB短接并且接地。

图5所示的连接方式的等效电路图在图6中示出。如图6所示，待测变压器1的第一副边绕组LA的阻抗ZLA与补偿变压器2中的补偿第二绕组LB’的阻抗ZLB’以及补偿第三绕组H’的阻抗ZH’串联形成第三串联支路。该第三串联支路与第二副边绕组LB并联之后再与主边绕组H串联。由此，从第一副边绕组LA的输出看，其等效阻抗为ZLA+ZLB’+ZH’，其大于ZLB。这一阻抗分布恰好能够和容量分配形成反比。该实施例中，通过接入补偿变压器2中的补偿第二绕组LB’和补偿第三绕组H’来对待测变压器1中的第一副边绕组LA中的阻抗进行补偿，从而使得补偿后的待测变压器1的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系。

图7示出了又一实施例，该实施例与第一实施例类似，该补偿变压器2也与待测变压器1相同，并且将该补偿变压器作为负载接入待测变压器。不同的是，图1中的实施例中，补偿第三绕组H’是开路并且尾端接地，而该实施例中，补偿第三绕组H’短路并且接地。

图7所示的连接方式的等效电路图在图8中示出。如图8所示，按照图7所示接线后的等效电路中，补偿第二绕组LB’的阻抗ZLB’和补偿第三绕组H’的阻抗ZH’并联后再与补偿第一绕组LA’的阻抗ZLA’、第一副边绕组LA的阻抗ZLA串联，形成第四串联支路。该第四串联支路与第二副边绕组LB的阻抗ZLB并联后再与主边绕组H的阻抗ZH串联。换言之，第一副边绕组LA一侧的等效阻抗为补偿第二绕组LB’阻抗ZLB’和补偿第三绕组H’的阻抗ZH’并联后得到的并联阻抗Z’与第一副边绕组LA的阻抗ZLA和补偿第一绕组LA’的阻抗ZLA’之和，即，ZLA+ZLA’+Z’。从而，通过上述补偿第一绕组LA’、补偿第二绕组LB’和补偿第三绕组H’对第一副边绕组LA的阻抗补偿，补偿后的待测变压器1的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系能够大体满足反比关系。

图9示出了再一实施例。该实施例中，待测变压器1包括位于主边的主边绕组H以及位于副边的第一副边绕组LA和第二副边绕组LB和第三副边绕组LC。副边的第一副边绕组LA、第二副边绕组LB和第三副边绕组LC均耦合到主边的主边绕组H。在此实施例中，待测变压器1的主边绕组H为高容量线圈，第一副边绕组LA和第二副边绕组LB以及第三副边绕组LC分别为低容量线圈。第一副边绕组LA的等效阻抗小于第二副边绕组LB的等效阻抗，并且，第二副边绕组LB的等效阻抗小于第三副边绕组LC的等效阻抗。

为了保证进行温升试验时待测变压器中各副边绕组的等效阻抗与其容量之间能够大体达到反比关系，引入两个与该待测变压器1相同的补偿变压器，即补偿变压器2和补偿变压器2’。同时，与图1所示的第一实施例类似，这两个补偿变压器2和2’均与该实施例中的待测变压器1相同。

补偿变压器2包括补偿第一绕组LA’、补偿第二绕组LB’和补偿第三绕组H’以及补偿第四绕组LC’。补偿第一绕组LA’、补偿第二绕组LB’和补偿第四绕组LC’均耦合到补偿第三绕组H’。补偿变压器2’包括补偿第一绕组LA”、补偿第二绕组LB”和补偿第三绕组H”以及补偿第四绕组LC”。补偿第一绕组LA”、补偿第二绕组LB”和补偿第四绕组LC”均耦合到补偿第三绕组H”。

图9示例性地示出了一种分别将两个补偿变压器2、2’作为负载接入待测变压器1的接线方式。如图9所示，补偿变压器2的补偿第一绕组LA’与待测变压器1的第一副边绕组LA对接。补偿变压器2的补偿第四绕组LC’的两端短接并接地，同时补偿变压器2的补偿第二绕组LB’和补偿第三绕组H’均开路且各自一端接地。

进而，补偿变压器2’的补偿第二绕组LB”与待测变压器1的第二副边绕组LB对接，而补偿变压器2’的补偿第四绕组LC”的两端短接并接地。同时，补偿变压器2’的补偿第一绕组LA”和补偿第三绕组H”均开路且各自绕组的一端接地。待测变压器1的第三副边绕组LC两端短接并接地。最后，待测变压器1的主边绕组H通电，以便为温升试验做好准备。

如图9所示，其通过引入两个补偿变压器2和2’，分别作为待测变压器1负载，对第一和第二副边绕组LA和LB的阻抗进行补偿。

图10示出了采用图9所示的接线方式下的等效电路图。经补偿后，待测变压器1的第一副边绕组LA支路上的等效阻抗为该第一副边绕组LA的阻抗ZLA、补偿变压器2的补偿第一绕组LA’的阻抗ZLA’、补偿第四绕组LC’的阻抗ZLC’之和，即，ZLA+ZLA’+ZLC’。待测变压器1的第二副边绕组LB支路上的等效阻抗为该第二副边绕组LB的阻抗ZLB、补偿变压器2’的补偿第二绕组的阻抗ZLB”、补偿第四绕组的阻抗ZLC”之和，即，ZLA+ZLB”+ZLC”。

该实施例中，通过补偿变压器2的补偿第一绕组LA’和补偿第四绕组LC’对待测变压器1的第一副边绕组LA进行阻抗补偿，同时通过另一补偿变压器2’的补偿第二绕组LB”和补偿第四绕组LC”对待测变压器1的第二副边绕组LB进行补偿，从而使得补偿后的待测变压器1的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系。

上述实施例仅仅通过示例的方式示出了通过接入与待测变压器相同的一个或两个补偿变压器作为负载来对待测变压器中的相应绕组进行阻抗补偿，但是，本申请不限于此，根据实际需要接入的补偿变压器个数还可以是两个以上。同时，待测试变压器1副边的第一副边绕组LA和第二副边绕组LB中任一个也可以为单个绕组线圈或具有多个串联绕组的线圈。

通过本申请所提供的补偿变压器，即使在变压器各副边绕组的阻抗与容量不成反比关系的情况下，也能够进行温升试验。并且，根据本申请的方法能够在不增加设备成本的情况下，得到最广泛的应用，并且能够从很大程度上降低绕组的过载程度。

以下给出了采用现有技术的常规方法以及本申请所提供的方法(此处，以图1所示的第一实施例为例)对同一多绕组变压器(以三系统变压器为例)进行温升试验，在实现三侧同时满负荷的情况下的效果比较。简便起见，下面以如上所述的第一实施例中的待测变压器1为例进行说明，即，该待测变压器1的两个低容量的等效绕组阻抗相差很大，第一副边绕组LA的阻抗ZLA远小于第二副边绕组LB的阻抗ZLB，ZLA<<ZLB。每一种现有的常规接线或测试方式视作一个比较例。

比较例1

在待测变压器1高容量侧的主边绕组H上施加与总损耗对应的电流，同时将该待测变压器低容量侧的第一副边绕组LA和第二副边绕组LB直接短接。

比较例2

在待测变压器1高容量侧的主边绕组H施加与总损耗对应的电流，同时对待测变压器1低容量侧的第一副边绕组LA加电抗器或者对待测变压器1低容量侧的第二副边绕组LA加电容器。

比较例3

使待测变压器低容量侧的第一副边绕组LA不短路并使低容量侧的第二副边绕组LB完全过载，提高待测变压器1高容量侧的主边绕组H的电流，直到获得所需的总损耗。

比较例4

根据上文提到的移相并联接线的方法对待测多绕组变压器1进行接线。

通过如上记载的比较例1-4的方法以及本申请所记载图1中所示的方法进行温升试验，得到如下数据：

表1

通过上面的表1可以看出，根据比较例1的方法，可能引起其中一个绕组严重过载，并且增加了材料成本和试验风险。

根据比较例2的方法，需要额外的大容量电容器或电感器，而且不同设计所用的补偿量不同，补偿设备无法通用，并且成本非常高。

根据比较例3的方法，不但少验证一个绕组，而且与实际负载方式差异性大，不能真实考核产品，并且绕组极端过载。

根据比较例4的方法，该方法适用范围有限，并且强制要求两个低压电流相等，当两个低压线电流相差较大时仍会造成严重过载。

而根据本申请的方法能够大大降低绕组过载的程度，使变压器更安全可靠，并且最经济实用。

根据本申请的另一方面，还提供用于对一个待测变压器进行温升试验的装置，该装置包括如上所述的作为负载连接到待测变压器的副边绕组的补偿变压器和用于对待测变压器进行供电的电源。上文中详细描述了补偿变压器的结构，在此不再描述。

根据本申请，通过将补偿变压器作为负载连接到待测变压器的副边绕组，使得补偿后的待测变压器的各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系，使得即使在变压器各副边绕组的阻抗与其容量偏离成反比关系的情况下，也能进行温升试验，并且能够降低绕组的过载程度。

而且，通常用户订购的变压器多于一套，因此，补偿变压器也可以作为用户所订购的产品进行正常使用，从而不会增加设备成本。

在本发明的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本发明保护范围的限制。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种对一个待测变压器进行温升试验的方法，其中，所述待测变压器(1)的主边具有一个主边绕组(H)，而其副边具有至少两个副边绕组(LA、LB)，而且所述至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，其特征在于，所述温升试验方法包括：

将补偿变压器(2)作为负载连接到所述待测变压器(1)的副边绕组，其中，所述补偿变压器(2)具有至少两个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，且所述补偿绕组(LA’、LB’、LH’)接入所述待测变压器(1)，以使得补偿后的所述待测变压器(1)各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；

通过向所述待测变压器(1)的主边绕组(H)加电，使得补偿后的所述待测变压器(1)运行；

对所述运行的待测变压器(1)进行温升试验，

其中，所述连接补偿变压器(2)的步骤包括：

短接所述副边绕组(LA、LB)中具有最大阻抗的副边绕组(LB)；

将所述补偿变压器(2)的各补偿绕组(LA’、LB’、LH’)连接成补偿所述副边绕组中具有最小阻抗的副边绕组(LA)，

其中，所述连接补偿变压器(2)的步骤还包括：

将所述补偿变压器(2)的一个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)作为负载连接到所述最小阻抗的副边绕组(LA)；

短接至少另一个补偿绕组(LB’)，以使得补偿后的待测变压器(1)的各副边绕组的等效阻抗和其容量之间的对应关系满足反比关系。

2.根据权利要求1所述的对一个待测变压器进行温升试验的方法，其特征在于，所述补偿变压器(2)是一个与所述待测变压器(1)相同的变压器。

3.根据权利要求2所述的对一个待测变压器进行温升试验的方法，其特征在于，所述待测变压器(1)具有第一副边绕组(LA)和第二副边绕组(LB)，其中所述第一副边绕组(LA)的阻抗远小于所述第二副边绕组(LB)的阻抗，并且所述第一副边绕组(LA)和所述第二副边绕组(LB)的容量大体相当；所述连接所述补偿变压器(2)的步骤包括：

将所述第二副边绕组(LB)的两端短接到地；

连接所述补偿变压器(2)的补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，使得补偿后所述第一副边绕组(LA)侧的等效阻抗大体等于所述第二副边绕组(LB)的阻抗。

4.根据权利要求3所述的对一个待测变压器进行温升试验的方法，其特征在于，连接所述补偿变压器(2)的步骤包括：

将一个位于副边的低容量的补偿绕组(LB’)短接到地；

将一个位于副边的高容量的补偿绕组(LH’)保持开路。

5.一种用于对一个待测变压器进行温升试验的装置，其中，所述待测变压器(1)的主边具有一个主边绕组(H)，而副边具有至少两个副边绕组(LA、LB)，而且所述至少两个副边绕组的各自阻抗与其容量之间的对应关系偏离反比关系，其特征在于，所述装置包括：

补偿变压器(2)，其作为负载连接到所述待测变压器(1)的副边绕组，其中，所述补偿变压器(2)具有至少两个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)，且所述补偿绕组(LA’、LB’、LH’)接入所述待测变压器(1)，以使得补偿后的所述待测变压器(1)各副边绕组的等效阻抗与其容量之间的对应关系满足反比关系；

一个电源，其连接到所述待测变压器(1)的主边绕组(H)，使得补偿后的所述待测变压器(1)运行，以便进行温升试验，

其中，

所述待测变压器(1)的所述副边绕组(LA、LB)中具有最大阻抗的副边绕组(LB)被短接到地；

所述补偿变压器(2)的各补偿绕组(LA’、LB’、LH’)连接成补偿所述副边绕组中具有最小阻抗的副边绕组(LA)；

所述补偿变压器(2)的一个补偿绕组(LA’、LB’、LH’)作为负载连接到所述最小阻抗的副边绕组(LA)；

所述补偿变压器(2)的至少另一个补偿绕组(LB’)被短接到地，以使得补偿后的各副边绕组的等效阻抗和其容量之间的对应关系满足反比关系，

其中，

所述补偿变压器(2)的一个位于副边的低容量的补偿绕组(LB’)短接到地；所述补偿变压器(2)的一个位于原边的高容量的补偿绕组(LH’)保持开路。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述补偿变压器(2)是一个与所述待测变压器(1)相同的变压器。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述待测变压器(1)具有第一副边绕组(LA)和第二副边绕组(LB)，其中所述第一副边绕组(LA)的阻抗远小于所述第二副边绕组(LB)的阻抗，并且所述第一副边绕组(LA)和所述第二副边绕组(LB)的容量大体相当；

所述第二副边绕组(LB)的两端短接到地；

所述补偿变压器(2)的补偿绕组(LA’、LB’、LH’)被连接成使得补偿后第一副边绕组(LA)侧的等效阻抗大体等于所述第二副边绕组(LB)的阻抗。