CN109873956B - 一种校正表生成方法、装置及图像校正方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种校正表生成方法、装置及图像校正方法，其中，应用于扫描设备，扫描设备上包括多个采样单元；该方法包括：在预设曝光时间段内扫描目标对象；通过多个采样单元对目标对象进行采样，得到预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；若预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个采样单元的校正系数；根据各个采样单元分别对应的校正系数，生成扫描设备对应的校正表。本申请实施例通过将所有的程序均设置在扫描仪内部，仅使用扫描仪对目标对象进行扫描即可生成归一化校正表，不在需要上位机与扫描仪之间进行大量的数据通讯，从而降低了系统的复杂程度。

Description

一种校正表生成方法、装置及图像校正方法

技术领域

本申请涉及扫描仪校正技术领域，具体而言，涉及一种校正表生成方法、装置及图像校正方法。

背景技术

固定接触式图像CIS传感器扫描仪扫描头使用CIS传感器，且在扫描过程中扫描头不动，被扫描件移动。为保证CIS传感器扫描仪扫描图像输出的质量，需要使用归一化校正表对CIS传感器扫描仪在出厂以及运行过程中定期进行归一化校正。

目前，CIS传感器扫描仪的归一化校正表生成的过程如下：上位机根据设置好的光长渐变区间与步长值控制扫描仪采样，扫描仪根据渐变区间和步长对被扫描件进行多次采样，并将每次采样的采样结果发送给上位机，上位机根据CIS传感器器件参数以及采样结果判断当前采样的光长值是否为合理的光长值，当光长值不为合理的光长值时，上位机将调整后的渐变区间和步长值发送给扫描仪，控制扫描仪根据调整后的渐变区间和步长重新对被扫描件进行采样；当光长值为合理的光长值时，上位机根据当前光长值生成归一化校正表。

上述CIS传感器扫描仪归一化校正表生成的过程中需要扫描仪进行数据采样，同时需要上位机对扫描仪采样的数据进行分析，在上述过程中上位机与扫描仪需要进行大量的数据通讯，从而使得系统的复杂程度增加，且在生成归一化校正表的过程中采用遍历的方式进行多次采样寻求最优光长效率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种校正表生成方法、装置及图像校正方法，以降低系统的复杂程度，提高寻找最优光长的效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种校正表生成方法，其中，所述方法应用于扫描设备，所述扫描设备上包括多个采样单元；所述方法包括：

在预设曝光时间段内扫描目标对象；

通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，确定预设曝光时间段符合预设条件，所述方法具体包括：

判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；

若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述方法还包括：

若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；

返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数，所述方法具体包括：

针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述目标对象包括多个扫描区域，所述扫描设备每次扫描一个扫描区域；根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表，具体包括：

针对每一个采样单元，根据所述扫描区域的个数，确定该采样单元对应的采样次数；

根据所述采样次数，确定该采样单元对应的校正系数的个数；

根据所述校正系数以及校正系数的个数，生成所述扫描设备对应的校正表。

第二方面，本申请实施例还提供了一种图像校正方法，其中，所述方法应用于扫描设备，所述方法包括：

在预设曝光时间段内扫描目标对象；

通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

基于预设校正表对被扫描目标对象的扫描结果进行校正；其中，所述预设校正表是基于权利要求1-5任一项所述的校正表生成方法生成的。

第三方面，本申请实施例还提供了一种校正表生成装置，其中，所述装置包括采样模块、校正系数确定模块和校正表生成模块；

所述采样模块，用于在预设曝光时间段内扫描目标对象；通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

所述校正系数确定模块，用于若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

所述校正表生成模块，用于根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表。

结合第三方面，本申请实施例提供了第三方面的第一种可能的实施方式，其中，所述校正系数确定模块包括第一判断单元；

所述第一判断单元，用于判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

结合第三方面的第一种可能的实施方式，本申请实施例提供了第三方面的第二种可能的实施方式，其中，所述装置还包括迭代调整模块；

所述迭代调整模块，用于若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

结合第三方面，本申请实施例提供了第三方面的第三种可能的实施方式，其中，所述校正系数确定模块，具体用于：

针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

本申请实施例提供的一种校正表生成方法、装置及校正方法，所有的程序均设置在扫描仪内部，仅使用扫描仪对目标对象进行扫描即可生成归一化校正表，不在需要上位机与扫描仪之间进行大量的数据通讯，从而降低了系统的复杂程度。

进一步，本申请实施例提供的一种校正表生成方法，通过迭代算法对曝光时间进行调整，逐次迭代得到最优的曝光时间，并根据最优曝光时间计算得到校正表，减少采样数据数量，简化采样的过程，提高得到校正表的效率。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了本申请实施例所提供的一种校正表生成方法的流程示意图；

图2示出了本申请实施例所提供的另一种校正表生成方法的流程示意图；

图3示出了本申请实施例所提供的一种校正表生成方法中生成校正表的流程示意图；

图4示出了本申请实施例所提供的一种图像校正方法的流程示意图；

图5示出了本申请实施例所提供的一种校正表生成装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图1为本申请实施例提供的一种校正表生成方法的流程示意图，如图1所示，所述方法应用于扫描设备，所述扫描设备上包括多个采样单元，所述方法包括以下步骤：

S101、在预设曝光时间段内扫描目标对象；

上述扫描设备为固定接触式图像CIS传感器扫描设备。

上述扫描设备上包含多个采样单元，且扫描设备上的采样单元按行排列或按列排列。

上述预设曝光时间段为扫描设备出厂商通过程序预先设置在扫描设备中的，所述预设曝光时间段根据该扫描设备数据手册中给定的扫描参数(这里的扫描参数指的是该扫描设备扫描头的最大曝光时间和最小曝光时间)设定的，一般设置为最大曝光时间的一半，也可以设置为最大曝光时间或最小曝光时间的一半或最小曝光时间，在此处由于预设曝光时间段为人为通过程序预先设置在扫描设备中的，在此不作具体限制。

上述目标对象为对扫描设备进行归一化校正时扫描的对象，一般为白纸或其它白色参照物，在此不作具体限制。

在生成归一化校正表的过程中，扫描设备上的多个按行或按列排列的采样单元在预设曝光时间段内对该目标对象的一行或者一列进行扫描。

S102、通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

上述多个采样单元对所述目标对象进行采样的过程具体为：每个采样单元在预设曝光时间段内发射光并对该采样单元对应采样区域的目标对象进行照射，目标对象对接收到的光进行折射和反射，各个采样单元接收经过折射和反射的光，并将光信号转换为电信号(即将上述经过折射和反射的光转化为电压值)，从而得到在预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值。

S103、若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

上述预设阈值为所述扫描设备使用手册上给定的该扫描设备采样典型值(即CIS器件参数，这里的CIS器件参数主要指CIS扫描器件输出的有效电压的最大值)。

上述预设条件为在当前预设曝光时间下，所述扫描设备每个采样单元的电压值至少存在一个等于该扫描设备采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值。

当预设曝光时间段符合上述预设条件时，则上述预设曝光时间为最优曝光时间，根据所述扫描设备的每个采样单元在该预设曝光时间段的电压值与上述采样典型值的比例，确定所述扫描设备的每个采样单元的校正系数。

S104、根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表。

上述校正表的生成方式具体如下：所述扫描设备的各个采样单元仅需要在预设曝光时间段内对目标对象(即白纸或其它白色参照物)进行单次采样(即该扫描设备按行排列或按列排列的各个采样单元对该目标对象的一行或者一列进行单独采样)，得到该扫描设备的各个采样单元对应的校正系数。根据所述扫描目标对象的尺寸和大小，确定该扫描设备对整个目标对象进行采样需要的采样次数，根据上述采样次数，得到扫描设备在对整个目标对象进行扫描过程中每个采样单元的采样区域上对应的校正系数，从而得到该扫描设备对应的校正表。

上述固定接触式图像CIS传感器扫描设备生成归一化校正表的具体流程如下：

人为根据CIS传感器扫描设备扫描参数的最大曝光时间和最小曝光时间，在扫描仪上通过程序预先设置预设曝光时间段。在预设曝光时间段内根据扫描设备的采样单元的排列方式(按行排列或按列排列)对目标对象(一行或一列)进行单次采样，得到各个采样单元对应的电压值。

判断上述每个采样单元对应的电压值是否至少存在一个等于该扫描设备采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值，当上述扫描设备至少存在一个采样单元对应的电压值等于该扫描设备的采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值时，则上述预设曝光时间为最优曝光时间(这里的最优曝光时间指的是所述扫描设备在该曝光时间下扫描被扫描件，得到的图像清晰度最好)，并根据每个采样单元对应的电压值和上述采样典型值，计算每个采样单元对应的电压值和上述采样典型值的比例值，将上述比例值作为每个所述采样单元的校正系数。

根据所述扫描目标对象的尺寸和大小，确定该扫描设备对整个目标对象进行采样需要的采样次数，根据上述采样次数和该扫描设备每个采样单元对应的校正系数，得到扫描设备在对整个目标对象进行扫描过程中每个采样单元的采样区域上对应的校正系数，从而得到该扫描设备对应的校正表。

本申请实施例提供了一种校正表生成方法，该方法应用于扫描设备，实现所述方法的所有程序均设置在扫描仪内部，使得扫描设备在生成归一化校正表时，仅需要通过扫描设备对白纸或其它白色参照物进行扫描即可，不需要上位机与扫描仪之间进行大量的数据通讯，从而降低了系统的复杂程度。

进一步的，本申请实施例中提供的校正表生成方法，所述确定预设曝光时间段符合预设条件，所述方法具体包括以下步骤A10-A11：

A10、判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；

判断上述扫描设备中每个采样单元对应的电压值是否小于等于上述扫描设备使用手册上的采样典型值。

A11、若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

当上述扫描设备中每个采样单元对应的电压值存在至少一个等于所述扫描设备使用手册上的采样典型值，其余的采样单元对应的电压值均小于所述扫描设备使用手册上的采样典型值时，则确定上述预设曝光时间段符合预设条件，此时预设曝光时间段为最优曝光时间，即所述扫描设备在该曝光时间下扫描被扫描件，得到的图像清晰度最佳。

进一步的，图2示出本申请实施例提供的另一种校正表生成方法的流程示意图，如图2所示，所述校正表生成方法还包括以下步骤：

S201、若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；

上述预设步长为通过程序预先设置在扫描设备中的，当预设曝光时间不符合预设条件时，使扫描设备按照该步长调节曝光时间，从而得到最优的曝光时间。

当扫描设备每个采样单元在预设曝光时间段内扫描白纸，得到的该扫描设备每个采样单元的电压值均不等于该扫描设备采样典型值(即该扫描设备每个采样单元的电压值均大于(或均小于)该扫描设备采样典型值)时，则此时预先设置在该扫描设备中的预设曝光时间不为最优的曝光时间，此时按照预设步长调节预设曝光时间，并将调节后得到的曝光时间作为预设曝光时间。

上述调节预设曝光时间的算法有很多种，本申请使用二分法对曝光时间进行调节，以提高得到最优曝光时间的效率。

S202、返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

扫描设备的每个采样单元在该调整后的预设曝光时间下，再次对白纸进行扫描，直到在该预设曝光时间下，上述扫描设备中每个采样单元对应的电压值存在至少一个等于所述扫描设备使用手册上的采样典型值，其余的采样单元对应的电压值均小于所述扫描设备使用手册上的采样典型值为止(即确定上述预设曝光时间段符合预设条件，此时预设曝光时间段为最优曝光时间)，或曝光时间调整次数达到该扫描设备中设置的调整次数最大值为止。

本申请实施例中，通过迭代算法对曝光时间进行调整，多次迭代的方法寻找最优光长，使每次归一化校正过程最多需要log2(N)次采样，从而极大提高了归一化校正的速度。

进一步的，本申请实施例提供的校正表生成方法，若所述预设的曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数，所述方法具体包括以下步骤A12-A13：

A12、针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

A13、针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

上述扫描设备每个采样单元的校正系数的表示方法有以下两种：

第一种表示方法：将扫描设备每个采样单元对应的电压值与该扫描设备采样典型值的比例值，作为上述扫描设备每个采样单元的校正系数。

第二种表示方法：将扫描设备采样典型值与该扫描设备每个采样单元对应的电压值的比例值，作为上述扫描设备每个采样单元的校正系数。

例如：假设上述扫描设备有4个采样单元，该扫描设备的采样典型值为4V。

当在预设曝光时间下，该扫描设备每个采样单元对应的电压值分别为1V、2V、3V、4V，用第一种表示方法生成的扫描设备每个采样单元的校正系数为1/4、1/2、3/4、1；用第二种表示方法生成的扫描设备每个采样单元的校正系数为4、2、4/3、1。

进一步的，图3示出本申请实施例提供的一种校正表生成方法中生成校正表的流程示意图，所述目标对象包括多个扫描区域，所述扫描设备每次扫描一个扫描区域；如图3所示，根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表，具体包括以下步骤：

S301、针对每一个采样单元，根据所述扫描区域的个数，确定该采样单元对应的采样次数；

上述目标对象包括多个扫描区域，且在扫描设备扫描目标对象的过程中，该扫描设备每次扫描一个扫描区域。

根据该目标对象的扫描区域的个数，确定每个采样单元的采样次数。

S302、根据所述采样次数，确定该采样单元对应的校正系数的个数；

根据上述每个采样单元的采样次数，确定每个采样单元对应的校正系数在校正表中出现的次数。

S303、根据所述校正系数以及校正系数的个数，生成所述扫描设备对应的校正表。

根据上述校正系数、校正系数出现的次数及该扫描设备对目标对象进行扫描的扫描方式，确定该扫描设备在扫描整个目标扫描区域时每个采样单元的校正系数，生成该扫描设备对应的归一化校正表。

本申请实施例中，在采样过程中不需要移动被扫描物，通过单次采样的方式能够得到该扫描设备扫描整个目标区域的归一化校正表，从而提高了归一化校正表的准确性，并且在生成校正表的过程中不需要人为参与，避免了可能因为机械等原因导致采样过程终止的情况；本申请使用静态采样的方式，在不移动被扫描物的前提下，提高了生成归一化校正表的准确率及效率。

以下为本申请实施例提供的生成归一化校正表的具体流程：

例如：假设所述CIS扫描参数的最大曝光时间为200ms，曝光时间段区间为[0-200ms]，且人为通过程序在扫描设备上设置的预设的曝光时间段为所述CIS扫描参数最大曝光时间段的一半即100ms；假设扫描设备按列排列的采样单元的个数为8个，且该扫描设备的CIS扫描器件输出电压的最大值为8V。假设：扫描的目标对象为白纸，且该扫描设备进行归一化校正表生成过程扫描的白纸分为3个扫描区域。

上述固定接触式图像CIS传感器扫描设备生成归一化校正表的具体流程包括以下几种情况，具体如下：

第一种情况：根据上述预设曝光时间段100ms，对白纸的一列进行单次采样，得到该单次采样下各个采样单元的电压值分别为1V、2V、3V、4V、5V、6V、7V、8V；上述扫描设备每个采样单元对应的电压值存在一个等于该扫描设备采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值，则上述预设曝光时间段100ms为最优曝光时间，该扫描设备在该曝光时间段内对被扫描物进行扫描，得到的扫描图像成像效果最佳。

第二种情况：根据上述预设曝光时间段100ms，对白纸的一列进行单次采样，得到该单次采样下各个采样单元的电压值分别为5V、2V、3V、4V、5V、6V、7V、6V；上述扫描设备每个采样单元对应的电压值均小于该扫描设备的采样典型值，则上述预设曝光时间段100ms不为最优曝光时间。

由于该扫描设备在上述预设曝光时间段100ms下的每个采样单元对应的电压值均小于该扫描设备的采样典型值，则需要采用二分法的方式调高曝光时间段，调高后的曝光时间段为150ms。

根据上述预设曝光时间段150ms，对白纸的一列进行单次采样，得到该单次采样下各个采样单元的电压值分别为11V、12V、13V、14V、15V、11V、10V、9V；上述扫描设备每个采样单元对应的电压值均大于该采样典型值，则上述预设曝光时间段150ms不为最优曝光时间。

由于该扫描设备在上述预设曝光时间段150ms下的每个采样单元对应的电压值均大于该扫描设备的采样典型值，则需要采用二分法的方式调低曝光时间段，调低后的曝光时间段为125ms。

根据上述预设曝光时间段125ms，对白纸的一列进行单次采样，得到该单次采样下各个采样单元的电压值分别为1V、2V、3V、4V、5V、6V、7V、8V；上述扫描设备每个采样单元对应的电压值存在一个等于该扫描设备采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值，则上述预设曝光时间段125ms为最优曝光时间，该扫描设备在该曝光时间段内对被扫描物进行扫描，得到的扫描图像成像效果最佳。

根据所述扫描设备的每个采样单元在最优曝光时间段的电压值与上述采样典型值，计算该扫描设备的每个采样单元对应的电压值与该扫描设备的采样典型值的比例值(或计算该扫描设备的采样典型值与该扫描设备的每个采样单元对应的电压值的比例值为8、4、8/3、2、8/5、4/3、8/7、1)为1/8、1/4、3/8、1/2、5/8、3/4、7/8、1，基于上述比例值，生成该扫描设备每个采样单元对应的校正系数。

根据上述得到的该扫描设备每个采样单元对应的校正系数、该扫描进行归一化校正需要扫描的3个目标区域及该扫描设备按列扫描的扫描方式，确定扫描设备在对整张白纸进行扫描过程中每个采样单元的采样区域上对应的校正系数，从而得到该扫描设备对应的校正表。

本申请实施例中，本申请实施例提供了一种校正表生成方法，该方法应用于扫描设备，实现所述方法的所有程序均设置在扫描仪内部，使得扫描设备在生成归一化校正表时，仅需要通过扫描设备对白纸进行扫描即可，不需要上位机与扫描仪之间进行大量的数据通讯，从而降低了系统的复杂程度；本申请中，通过迭代算法对曝光时间进行调整，多次迭代的方法寻找最优光长，使每次归一化校正过程最多需要log2(N)次采样，从而极大提高了归一化校正的速度；本申请中，在采样过程中不需要移动被扫描物，通过单次采样的方式能够得到该扫描设备扫描整个目标区域的归一化校正表，从而提高了归一化校正表的准确性，并且在生成校正表的过程中不需要人为参与，避免了可能因为机械等原因导致采样过程终止的情况；本申请使用静态采样的方式，在不移动被扫描物的前提下，提高了生成归一化校正表的准确率及效率。

图4为本申请实施例提供的一种图像校正方法的流程示意图，如图4所示，所述方法应用于扫描设备，所述方法包括以下步骤：

S401、在预设曝光时间段内扫描目标对象；

上述预设曝光时间段为基于上述校正表生成方法中得到的最优曝光时间段，扫描设备在最优曝光时间段内对被扫描物进行扫描，所述扫描设备每个采样单元的电压值至少存在一个等于该扫描设备采样典型值，其余采样单元的电压值均小于该采样典型值，得到被扫描物的最优扫描图像。

S402、通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

S403、基于预设校正表对被扫描目标对象的扫描结果进行校正；其中，所述预设校正表是基于权利要求1-5任一项所述的校正表生成方法生成的。

上述预设校正表为应用于上述校正表生成方法生成的，用于对该扫描设备的扫描结果进行归一化校正。

扫描设备在预设曝光时间段内(即最优曝光时间段)扫描被扫描物，得到该扫描设备每个采样单元对应的电压值，基于上述校正表生成方法生成的校正表，对该扫描设备每个采样单元对应的电压值进行校正，得到该被扫描物的最优成像结果。

图5为本申请实施例提供的一种校正表生成装置的结构示意图，如图5所示，所述装置包括所述装置包括采样模块501、校正系数确定模块502和校正表生成模块503；

所述采样模块，用于在预设曝光时间段内扫描目标对象；通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

所述校正系数确定模块，用于若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

所述校正表生成模块，用于根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表。

进一步的，本申请实施例提供的校正表生成装置，所述校正系数确定模块包括第一判断单元；

所述第一判断单元，用于判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

进一步的，本申请实施例提供的校正表生成装置，所述装置还包括迭代调整模块；

所述迭代调整模块，用于若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

进一步的，本申请实施例提供的校正表生成装置，所述校正系数确定模块，具体用于：

针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

进一步的，本申请实施例提供的一种校正表生成装置，所述目标对象包括多个扫描区域，所述扫描设备每次扫描一个扫描区域；所述校正表生成模块，具有用于：

针对每一个采样单元，根据所述扫描区域的个数，确定该采样单元对应的采样次数；

根据所述采样次数，确定该采样单元对应的校正系数的个数；

根据所述校正系数以及校正系数的个数，生成所述扫描设备对应的校正表。

本申请实施例所提供的进行校正表生成方法及图像校正方法的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

本申请实施例所提供的校正表生成的装置可以为设备上的特定硬件或者安装于设备上的软件或固件等。本申请实施例所提供的装置，其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例相同，为简要描述，装置实施例部分未提及之处，可参考前述方法实施例中相应内容。所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，前述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，均可以参考上述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请提供的实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围。都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种校正表生成方法，其特征在于，应用于扫描设备，所述扫描设备上包括多个采样单元；所述方法包括：

在预设曝光时间段内扫描目标对象；

通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表；

其中，确定所述预设曝光时间段符合所述预设条件，包括：

判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；

若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

2.根据权利要求1所述的校正表生成方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；

返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

3.根据权利要求1所述的校正表生成方法，其特征在于，若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数，所述方法具体包括：

针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

4.根据权利要求1所述的校正表生成方法，其特征在于，所述目标对象包括多个扫描区域，所述扫描设备每次扫描一个扫描区域；根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表，具体包括：

针对每一个采样单元，根据所述扫描区域的个数，确定该采样单元对应的采样次数；

根据所述采样次数，确定该采样单元对应的校正系数的个数；

根据所述校正系数以及校正系数的个数，生成所述扫描设备对应的校正表。

5.一种图像校正方法，其特征在于，应用于扫描设备，所述方法包括：

在预设曝光时间段内扫描目标对象；

通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

基于预设校正表对被扫描目标对象的扫描结果进行校正；其中，所述预设校正表是基于权利要求1-4任一项所述的校正表生成方法生成的。

6.一种校正表生成装置，其特征在于，所述装置包括采样模块、校正系数确定模块和校正表生成模块；

所述采样模块，用于在预设曝光时间段内扫描目标对象；通过多个采样单元对所述目标对象进行采样，得到所述预设曝光时间段内各个采样单元对应的电压值；

所述校正系数确定模块，用于若所述预设曝光时间段符合预设条件，则根据各个所述采样单元分别对应的电压值和预设阈值，确定对应于每个所述采样单元的校正系数；

所述校正表生成模块，用于根据各个所述采样单元分别对应的所述校正系数，生成所述扫描设备对应的校正表；

其中，所述校正系数确定模块包括第一判断单元；

所述第一判断单元，用于判断每个所述采样单元对应的电压值是否小于等于所述预设阈值；若存在至少一个采样单元对应的电压值等于预设阈值且除所述至少一个采样单元之外的其他采样单元对应的电压值均小于所述预设阈值，则确定预设曝光时间段符合预设条件。

7.根据权利要求6所述的校正表生成装置，其特征在于，所述装置还包括迭代调整模块；

所述迭代调整模块，用于若所述预设曝光时间段不符合预设条件，则按照预设步长调整所述预设曝光时间段，将调整后的曝光时间段作为所述预设曝光时间段；返回通过多个采样单元对所述目标对象进行采样的步骤，直至所述预设曝光时间段符合预设条件；或者，调整次数达到预设阈值。

8.根据权利要求6所述的校正表生成装置，其特征在于，所述校正系数确定模块，具体用于：

针对每一采样单元对应的电压值，计算该电压值与所述预设阈值的第一比值；确定该比值，作为该采样单元的校正系数；

或者，

针对每一采样单元对应的电压值，计算所述预设阈值与该电压值的第二比值；确定该第二比值，作为该采样单元的校正系数。

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