CN109856699A - 穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质。该方法包括：获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。通过该方法可以有效提高穿戴设备的佩戴检测准确度，避免在穿戴设备已离体时，因红外传感器前方存在障碍物而误判为未离体导致的一些可能出现的能量消耗和安全隐患。

Description

穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质。

背景技术

目前，市面上的智能穿戴设备越来越多。通过这些智能穿戴设备，用户可以记录日常生活中的运动、睡眠等数据；通过分析这些数据，可以对用户的健康生活提供众多服务。因此，提高穿戴设备的佩戴准确度显得至关重要。

传统技术中，对穿戴设备的佩戴进行检测的方法主要是红外检测方式。用户在佩戴上穿戴设备后，穿戴设备会向用户发送一个红外信号，该红外信号在用户身上进行反射后，会得到一个反射信号。穿戴设备接收到该反射信号后，根据该反射信号的强度就可以判断出用户是否佩戴着穿戴设备。

但是，在利用红外检测方式进行检测时，如果红外传感器前方存在障碍物，穿戴设备会错误地将离体状态识别成已佩戴，导致检测结果的准确度不高。

发明内容

基于此，有必要针对上述红外检测法检测穿戴设备的佩戴状态时，存在准确度不高的问题，提供一种穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质。

一种穿戴设备的佩戴检测方法，所述穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，所述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，所述可通断回路与所述穿戴设备的微处理器电连接，所述方法包括：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

在其中一个实施例中，所述根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态，包括：

若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；或者，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。

在其中一个实施例中，所述获取所述微处理器的引脚电压，包括：

按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。

在其中一个实施例中，所述根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态，包括：

若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电平的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

一种穿戴设备的佩戴检测装置，所述穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，所述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，所述可通断回路与所述穿戴设备的微处理器电连接，所述佩戴检测装置包括：

获取模块，用于获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

第一确定模块，用于若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

第二确定模块，用于根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

一种穿戴设备，包括：存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

上述穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质，先利用红外检测法获取穿戴设备的第一佩戴状态，在该第一佩戴状态为已佩戴时，利用微处理器的引脚电压，获取穿戴设备的第二佩戴状态。之后，根据该第二佩戴状态，确定穿戴设备的实际佩戴状态。通过该方法可以有效地提高穿戴设备的佩戴检测准确度，避免在穿戴设备已离体时，因红外传感器前方存在障碍物而误判为未离体导致的一些可能出现的能量消耗和安全隐患。

附图说明

图1为一个实施例提供的穿戴设备的结构示意图；

图2为一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法的流程示意图；

图3为一个实施例中可通断回路A的电路示意图；

图4为一个实施例中可通断回路B的电路示意图；

图5为另一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法的流程示意图；

图6为一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本发明实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法，可以适用于图1所示的穿戴设备。如图1所示，该穿戴设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该穿戴设备的处理器用于提供计算和控制能力。该穿戴设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该穿戴设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种穿戴设备的佩戴检测方法。另外，该穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，该第一电极、第二电极与活体形成可通断回路，该可通断回路与穿戴设备的微处理器电连接。可选的，该微处理器可以是上述处理器的一种。该穿戴设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该穿戴设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是穿戴设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

需要说明的是，图1中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的穿戴设备的限定，具体的穿戴设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在介绍具体的实施例之前，这里对本发明实施例中涉及的专业术语或者概念进行解释说明：

已佩戴检测：当用户将穿戴设备戴上时，穿戴设备可以准确地检测到“设备已佩戴”。

离体检测：当用户将穿戴设备取下时，穿戴设备可以准确地检测到“设备已离体”。

广义上，佩戴检测包括已佩戴检测、离体检测两部分。

传统的利用红外检测法对穿戴设备的佩戴状态进行检测时，当穿戴设备和活体之间存在障碍物时，穿戴设备会错误地将离体识别成已佩戴，导致穿戴设备对其佩戴状态的检测准确度不高。本发明实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法、装置、穿戴设备和存储介质，旨在解决传统技术的如上技术问题。

需要说明的是，下述方法实施例的执行主体可以是穿戴设备的佩戴检测装置，该装置可以通过软件、硬件或者软硬件结合的方式实现成为上述穿戴设备的部分或者全部。下述方法实施例以执行主体是穿戴设备为例进行说明。

图2为一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法的流程示意图。本实施例涉及的是穿戴设备如何进行佩戴状态检测的具体过程。如图2所示，该方法可以包括以下步骤：

S201，获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态。

具体的，本实施例中的红外检测法指的是穿戴设备对活体发射一个红外信号，该红外信号在活体上进行反射后，会得到一个反射信号，该反射信号可以被穿戴设备接收；之后，穿戴设备通过将接收到的反射信号强度与预设的信号强度阈值进行对比，就可以得到一个对比结果，根据该对比结果就可以确定出穿戴设备的佩戴状态。通过该红外检测法检测的佩戴状态记为第一佩戴状态。可选的，当穿戴设备接收到的反射信号强度大于和/或等于预设的信号强度阈值时，则确定该穿戴设备的第一佩戴状态为已佩戴；可选的，当穿戴设备接收到的反射信号强度小于预设的信号强度阈值时，则确定该穿戴设备的第一佩戴状态为离体。

S202，若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态。

在一种可能的实施方式中，图3为一个实施例中可通断回路A的电路示意图。如图3所示，上述穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，上述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，上述穿戴设备的微处理器引脚可以通过图3中的E点与上述可通断回路电连接；在上述图3中，使用RC滤波电路可以减少工频对第二电极的影响，从而使得在可通断回路接通时，在E点采样的电压更为准确，从而使得微处理器引脚也可以得到一个较为准确的电压。可选的，当可通断回路A中不包括RC滤波电路时，上述E点可以设置在上述第二电极远离第一电极的一侧。当穿戴设备根据上述S201的对比结果确定出第一佩戴状态为已佩戴时，穿戴设备可以测量上述微处理器的引脚电压，可选的，可以是测量微处理器的A/D采样引脚电压，还可以是测量微处理器的电平中断引脚电压。之后，穿戴设备可以根据上述测量的引脚电压确定穿戴设备的第二佩戴状态。可选的，穿戴设备可以是将引脚电压与预设的电压阈值进行对比，得到穿戴设备此时的佩戴状态，该佩戴状态记为第二佩戴状态。

在一种可能的实施方式中，图4为一个实施例中可通断回路B的电路示意图。如图4所示，上述穿戴设备的微处理器引脚通过图4中的D点与上述可通断回路电连接，当穿戴设备根据上述上述S201的对比结果确定出第一佩戴状态为已佩戴时，穿戴设备就可以测量上述微处理器的引脚电压，可选的，可以是测量微处理器的A/D采样引脚电压，还可以是测量微处理器的电平中断引脚电压。之后穿戴设备可以根据上述测量的引脚电压的大小得到穿戴设备此时的佩戴状态，该佩戴状态记为第二佩戴状态。

S203，根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

在一种可能的实施方式中，若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；可选的，穿戴设备可以是将引脚电压与预设的电压阈值进行对比，当上述穿戴设备测量的微处理器的引脚电压大于和/或等于预设的电压阈值时，穿戴设备就可以确定出其第二佩戴状态为已佩戴，则也就可以确定出上述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴。

在一种可能的实施方式中，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态；可选的，穿戴设备可以是将引脚电压与预设的电压阈值进行对比，当上述穿戴设备测量的微处理器的引脚电压小于预设的电压阈值时，穿戴设备就可以确定出其第二佩戴状态为离体，则也就可以确定出上述穿戴设备的实际佩戴状态为离体。

上述穿戴设备的佩戴检测方法，在对穿戴设备的已佩戴状态进行检测时，并不是利用单一的红外检测法来检测穿戴设备的佩戴情况的，而是在红外检测法检测的穿戴设备为已佩戴时，对穿戴设备再进行电压检测，从而得出穿戴设备的实际佩戴状态；因此，利用该方法确定出穿戴设备的实际佩戴状态更为准确。另外，在对穿戴设备的离体状态进行检测时，虽然利用红外检测法得到的穿戴设备的第一佩戴状态为已佩戴，但是在上述检测得到的穿戴设备的第二佩戴状态为离体状态时，就可以确定上述穿戴设备的实际佩戴状态为离体，因此，利用该方法可有效地提高穿戴设备的佩戴检测准确度，避免在穿戴设备已离体时，因红外传感器前方存在障碍物而误判为未离体导致的一些可能出现的能量消耗和安全隐患。

本实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法，穿戴设备通过获取利用红外检测法检测的穿戴设备的第一佩戴状态，在该第一佩戴状态为已佩戴时，穿戴设备可以获取微处理器的引脚电压，并根据该引脚电压确定穿戴设备的第二佩戴状态，之后穿戴设备可以根据该第二佩戴状态，确定穿戴设备的实际佩戴状态。通过该方法可以有效提高穿戴设备的佩戴检测准确度，避免在穿戴设备已离体时，因红外传感器前方存在障碍物而误判为未离体导致的一些可能出现的能量消耗和安全隐患。

图5为另一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法的流程示意图。本实施例涉及的是穿戴设备如何进行佩戴状态检测的一种可能的实施方式，如图5所示，上述方法还可以包括以下步骤：

S204，若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。也就是说，当上述穿戴设备检测的第一佩戴状态为离体状态时，则不获取上述微处理器的引脚电压，直接根据该第一佩戴状态确定穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

本实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法，当穿戴设备利用红外检测法对其佩戴状态进行检测时，当其接收到的反射信号强度小于预设的信号强度阈值时，则确定该穿戴设备的第一佩戴状态为离体。本实施例的方法，结合上述实施例，在得到穿戴设备的第一佩戴状态和/或第二佩戴状态中，只要有一个佩戴状态为离体状态，则确定上述穿戴设备的实际佩戴状态为离体，因此，利用该方法，可以在一定程度上，避免穿戴设备在离体时可能出现的一些能量消耗和安全隐患，也间接的提高了穿戴设备对其实际佩戴状态的检测准确度。

在一种可能的实施方式中，所述获取所述微处理器的引脚电压，包括：按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。

具体的，以图3的可通断回路A为例，在远离第二电极且靠近第一电极的一侧输入电压Vi，当活体未佩戴穿戴设备时，从E点输至微处理器的引脚电压，理想情况几乎为0v；当活体佩戴穿戴设备时，第一电极可以和第二电极连通，就会导致E点的电压发生变化，此时，穿戴设备可以根据预设的采样次数对微处理器的引脚电压进行采样；可选的，该采样次数可以为一次，也可以为多次；可选的，上述穿戴设备可以对微处理器的A/D采样引脚电压进行采集，也可以对微处理器的电平中断引脚的电压进行采集；可选的，穿戴设备在对微处理器的A/D采样引脚电压进行采集之后，可以根据该A/D采样引脚电压与预设的电压阈值进行对比，得到对比结果，再根据该对比结果就可以确定出穿戴设备的第二佩戴状态。

可选的，所述根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态，包括：若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电压的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

具体的，继续以图3的可通断回路A为例，上述当活体佩戴穿戴设备时，第一电极可以和第二电极连通，就会导致C点的电压从0v慢慢增高；可选的，上述穿戴设备可以对微处理器的A/D采样引脚电压进行采集，当多次采集的A/D采样引脚电压均大于预设的电压阈值时，就可以确定出上述第二佩戴状态为已佩戴；可选的，上述穿戴设备还可以对微处理器的电平中断引脚电压进行采集，当该电平中断引脚电压大于微处理器预设的中断触发电压时，则该电平中断引脚电压会触发微处理器的一个中断，进而启动电平检测函数，该电平检测函数是关于电平和时间的函数，当该电平中断引脚电压大于预设的中断触发电压的持续时间超过预设的时长时，则就可以确定出上述第二佩戴状态为已佩戴。

在上述得到穿戴设备的第二佩戴状态之后，结合上述得到的穿戴设备的第一佩戴状态，就可以得到穿戴设备的实际佩戴状态。若上述穿戴设备的第一佩戴状态为已佩戴，则可以确定穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；若上述穿戴设备的第一佩戴状态为离体，则可以确定穿戴设备的实际佩戴状态为离体。

本实施例提供的穿戴设备的佩戴检测方法，通过采集上述微处理器的A/D采样引脚电压或者微处理器的电平中断引脚电压，并将上述测得的A/D采样引脚电压与对应的预设电压阈值进行对比，得到穿戴设备的第二佩戴状态；或者将电平中断引脚电压大于预设电平触发中断电压的持续时间与预设时长进行对比，得到穿戴设备的第二佩戴状态；通过上述第二佩戴状态，就可以得到穿戴设备的实际佩戴状态。本实施例的方法，细化了测量微处理器引脚电压的具体方式，从而可以使穿戴设备测量确定的第二佩戴状态更为准确，进而使得到的穿戴设备的实际佩戴状态更为准确，即提高了穿戴设备对其佩戴状态进行检测的准确度。

应该理解的是，虽然图2和图5的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2和图5中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

图6为一个实施例提供的穿戴设备的佩戴检测装置的结构示意图。该穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，所述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，所述可通断回路与所述穿戴设备的微处理器电连接。如图6所示，该装置可以包括：获取模块10、第一确定模块11、第二确定模块12。

具体的，获取模块10，用于获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

第一确定模块11，用于若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

第二确定模块12，用于根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

可选的，上述第一确定模块11还可以用于若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。

可选的，上述第二确定模块12具体用于若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；或者，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

在一个实施例中，上述第一确定模块11具体用于按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电平的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

本实施例提供的穿戴设备的佩戴检测装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，提供了一种穿戴设备，所述穿戴设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；或者，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。

在另一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电平的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

在一个实施例中，提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；或者，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。

在另一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电平的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种穿戴设备的佩戴检测方法，其特征在于，所述穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，所述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，所述可通断回路与所述穿戴设备的微处理器电连接，所述方法包括：

获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

2.根据权利要求1所述的佩戴检测方法，其特征在于，所述根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态，包括：

若所述第二佩戴状态为已佩戴，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为已佩戴；或者，若所述第二佩戴状态为离体状态，则确定所述穿戴设备的实际佩戴状态为离体状态。

3.根据权利要求1所述的佩戴检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述第一佩戴状态为离体状态，则确定所述实际佩戴状态为离体状态。

4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述获取所述微处理器的引脚电压，包括：

按照预设采样次数，获取所述微处理器的A/D采样引脚的电压或者所述微处理器的电平中断引脚的电压。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态，包括：

若多次采样得到的所述A/D采样引脚的电压均大于预设的电压阈值，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴；或者，若所述电平中断引脚的电压大于预设的中断触发电压的时长大于预设时长，则确定所述第二佩戴状态为已佩戴。

6.一种穿戴设备的佩戴检测装置，其特征在于，所述穿戴设备朝向活体的一面设置有第一电极和第二电极，所述第一电极、所述第二电极与所述活体形成可通断回路，所述可通断回路与所述穿戴设备的微处理器电连接，所述佩戴检测装置包括：

获取模块，用于获取利用红外检测法检测的所述穿戴设备的第一佩戴状态；

第一确定模块，用于若所述第一佩戴状态为已佩戴，则获取所述微处理器的引脚电压，并根据所述引脚电压确定所述穿戴设备的第二佩戴状态；

第二确定模块，用于根据所述第二佩戴状态，确定所述穿戴设备的实际佩戴状态。

7.一种穿戴设备，包括：存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。

8.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。