CN109855998A - 显微维氏硬度分析用的试样制备装置 - Google Patents

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王坤
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Abstract

本发明涉及显微维氏硬度计领域，特别涉及一种显微维氏硬度分析用的试样制备装置。包括基座，基座一端设有上夹具，基座内与该上夹具相对位置设有下夹具，上夹具与下夹具相对的面为平行的平面，下夹具可在基座内朝向上夹具方向平移，所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置。本发明结构简单，造价低廉，采用本发明装置制作的试样不需要经过再次加工即可用于显微维氏硬度分析用。

Description

显微维氏硬度分析用的试样制备装置
技术领域
本发明涉及显微维氏硬度计领域，特别涉及一种显微维氏硬度分析用的试样制备装置。
背景技术
显微维氏硬度由于其测量硬度范围广，测量精度高，得到了广泛的应用。但是显微维氏压痕较小，因此也对试样表面粗糙度和试样表面的水平状态提出了很高的要求，例如在GB/T4340.1-2009《金属材料维氏硬度试验第一部分：试验方法》中明确指出，在平面压痕两对角线长度之差应不超过对角线长度平均值的5％。而当试样被测量不平整时，测量压痕会发生变形从而超过5％。导致测试结果误差较大，降低了测试的准确性。
目前为保证试样上下表面水平，一般有两种方法：
1、将试样上下表面打平，放置在水平工作台上。手工打磨容易磨斜，线切割可以尽量保证试样上下表面平行，但是加工费时费力，同时对一些不导电的样品则无能为力。
2、使用目前最为通用的平口钳。但平口钳无法夹持外形不规则的样品(譬如圆形、椭圆形等)，即使强行夹持，在后期测试过程中，试样也会在加载工程中发生倾斜。
中国实用新型专利CN 203949824 U提供了一种显微维氏硬度计的万能夹具，原理是利用4个定位卡脚穿过定位孔固定腔体内的被测样品。但是对于底部直径大、上部直径小的圆柱样品仍旧无法固定牢固。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的上述缺陷，提供一种造价低，且能快速、方便地使试样的上下表面保持平行的显微维氏硬度分析用的试样制备装置。
本发明包括基座，基座一端设有上夹具，基座内与该上夹具相对位置设有下夹具，上夹具与下夹具相对的面为平行的平面，下夹具可在基座内朝向上夹具方向平移，所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置。
使用时，将待测样品的待测面与下夹具朝向上夹具的面贴合，将下夹具移动到与上夹具合适的位置并与基座固定，再在上夹具和下夹具之间的基座空间内放入填充粉，使其融化并固化后移除上夹具和下夹具，并从基座中取出即制得显微维氏硬度分析用的试样。本发明结构简单，造价低廉，采用本发明装置制作的试样不需要经过再次加工即可用于显微维氏硬度分析用。
本发明的进一步技术解决方案是所述的基座上设有容纳上夹具的卡槽，所述的上夹具可进入和脱离该卡槽。
本发明的进一步技术解决方案是所述的基座的侧面设有垂直于下夹具的开槽，下夹具设有相应的凸块穿过该开槽并露出。
本发明的进一步技术解决方案是基座在开槽边上的外表面上设有高度标尺。
本发明的进一步技术解决方案是下夹具的凸块上设有螺母与基座实现固定。
附图说明
以下结合附图及实施例进一步阐明本发明的具体内容。
图1：本实施例的结构示意图。
图2：图1的侧视图。
具体实施方式
如图所示，本实施例包括基座1，基座1一端设有上夹具2，基座1内与该上夹具2相对位置设有下夹具3，上夹具2与下夹具3相对的面为平行的平面，下夹具3可在基座1内朝向上夹具2方向平移，所述的下夹具3与基座1之间设有固定连接装置。
所述的基座1上设有容纳上夹具2的卡槽12，所述的上夹具2可进入和脱离该卡槽12。
所述的基座1的侧面设有垂直于下夹具3的开槽13，下夹具3设有相应的凸块31穿过该开槽13并露出。所述的开槽13可以是一个，也可以是多个，可以设置在基座1的一个侧面上，也可以设置在基座1的多个侧面上。所述的下夹具3可以通过凸块31与开槽13的配合实现下夹具3的移动导向。
基座1在开槽13边上的外表面上设有高度标尺14。通过观察高度标尺14上的刻度可以知道下夹具3在基座1内的位置。在实际使用时，根据待测样品的大小计算下夹具3和上夹具2之间的合适距离，再通过该高度标尺14上的刻度可以设置下夹具3在基座1内的位置。
下夹具3的凸块31上设有外螺纹，位于基座1外侧部分的凸块31上的设有相配的螺母4与凸块31配合，旋紧螺母4可以将下夹具3固定在基座1上。本发明也可以在凸块上设置内螺纹，基座外侧设置相配的螺钉实现下夹具的固定。还可以是其它的固定结构。

Claims (5)

1.一种显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：包括基座，基座一端设有上夹具，基座内与该上夹具相对位置设有下夹具，上夹具与下夹具相对的面为平行的平面，下夹具可在基座内朝向上夹具方向平移，所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置。
2.根据权利要求1所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的基座上设有容纳上夹具的卡槽，所述的上夹具可进入和脱离该卡槽。
3.根据权利要求1或2所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的基座的侧面设有垂直于下夹具的开槽，下夹具设有相应的凸块穿过该开槽并露出。
4.根据权利要求3所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：基座在开槽边上的外表面上设有高度标尺。
5.根据权利要求3所述的显微维氏硬度分析用的试样制备装置，其特征在于：所述的下夹具与基座之间设有固定连接装置是在下夹具的凸块上设有螺母与基座实现固定连接。
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