CN109808174A - 用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置(1)，该校准装置(1)包括至少一个确定单元(2，3)和至少一个校准单元(16，17)，其中所述至少一个确定单元(2)适于确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(17)适于根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5)，和/或其中所述至少一个确定单元(3)适于确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(16)适于根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。

Description

用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置
技术领域
本发明涉及一种用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置。
背景技术
一般而言，已知用于添加式地制造三维物体的设备，其包括在设备内部提供要在制造过程中固化的(粉末状)建造材料的粉末模块或能与所述粉末模块连接。相应的粉末模块可承载一定体积的建造材料，其选择性地固化以添加式地制造三维物体。根据承载元件的位置，可以将新的建造材料层施加到先前固化的建造材料层上。
为了将新的建造材料提供到承载元件上或由承载元件承载的建造材料的上表面上，通常设置了适于将建造材料施加到建造平面上的施加单元。为了确保可将新的建造材料层精确地施加到建造平面上，施加单元和承载元件的精确定位和校准是必不可少的。
通常，在制造过程之前，维护人员手动调节施加单元，其中在可以开始制造过程之前至少必须手动调节施加单元。
发明内容
一个目的是提供一种用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置，其中改进了施加单元的校准。
该目的通过根据权利要求1所述的校准装置来创造性地实现。本发明的有利实施例记载于从属权利要求。
本文所描述的校准装置为一种用于通过依次逐层地选择性固化由能借助能量源——例如能量束、特别是激光束或电子束——固化的粉末状的建造材料(“建造材料”)构成的层来添加式地制造三维物体(例如，技术结构件)的设备的校准装置。相应的建造材料可以为金属、陶瓷或聚合物粉末。相应的能量束可以是激光束或电子束。相应的设备可以为例如选择性激光烧结设备、选择性激光熔化设备或选择性电子束熔化设备。或者，建造材料的依次逐层选择性固化可经由至少一种粘结材料来执行。该粘结材料可使用对应的施加单元施加并且例如利用合适的能量源——例如UV光源——进行照射。
设备可包括在其运行期间使用的多个功能单元。示例性的功能单元为：过程室；照射装置，其适于使用至少一个能量束选择性地照射设置在过程室中的建造材料层；和如上所述的流产生装置，其适于产生具有给定的流动特性——例如给定的流动轮廓、流速等——的至少部分地流经过程室的气态流体流。所述气态流体流在流经过程室的同时能够携带未固化的颗粒状建造材料，尤其是在设备运行期间产生的烟雾或烟雾残留物。所述气态流体流典型为惰性的，也就是典型为惰性气体——例如氩气、氮气、二氧化碳等——的流。
本发明的校准装置用于校准承载元件和/或施加单元，以确保在承载元件上施加新的建造材料满足由使用相应设备执行的添加式制造过程规定的品质要求。
本发明基于以下构思：校准装置包括至少一个确定单元和至少一个校准单元，其中所述至少一个确定单元适于确定粉末模块的承载元件的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元适于根据承载元件的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节设备的施加单元，和/或其中所述至少一个确定单元适于确定设备的施加单元的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元适于根据施加单元的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件。
因此，本发明的校准装置允许确定承载元件的至少一个几何参数并且根据所确定的几何参数特别是自动地调节施加单元。例如，可测量承载元件的高度并且可调节施加单元，以便在设备内部的整个添加式制造过程中满足承载元件与施加单元之间的规定相对位置。
另外，本发明的校准装置允许确定施加单元的至少一个几何参数，其中可根据施加单元的所确定的几何参数特别是自动地调节承载元件。例如，可测量施加单元的至少一个构件，特别是施加单元的涂覆刮板的高度。因而，校准装置适于确定影响承载元件与用于将建造材料施加到承载元件上的施加单元之间的相对位置的至少一个几何参数。尤其是，可确定涂覆刮板的高度，以便能够做出涂覆刮板是否适于将建造材料适当地施加到承载元件上或是否需要调节承载元件或涂覆刮板的结论。
承载元件可被建造为可以布置在粉末模块——例如建造模块——的粉末室内部的建造板。建造板承载粉末模块内部的建造材料，其中建造板通常随着制造过程进行而降低。通过降低建造板，粉末模块提供用于要在由建造板承载的(选择性地固化的)建造材料的最上表面上施加的新建造材料的容积。
通常使用具有至少一个涂覆元件——特别是涂覆刮板或耙子——的涂覆单元作为施加单元。涂覆元件将建造材料例如从计量平面运送到建造平面(由承载元件、特别是建造板承载的建造材料的最上表面)，并且在建造平面中分配建造材料以产生可以在制造过程中固化的新建造材料层。
有利地，施加单元和承载元件不必关于彼此被手动调节，而是可以基于几何参数的确定来执行承载元件和/或施加单元的自动调节。因而，可以显著减少调节施加单元和/或承载元件所需的时间，因为不需要维护人员执行几何参数的手动测量并手动调节承载元件和/或施加单元。因而，可以减少用于添加式地制造三维物体的相应设备的停机时间。此外，本发明允许判定承载元件和/或施加单元的所述至少一个几何参数是否偏离规定条件，例如开始条件或制造规范。如果判定出偏离这种规定条件，则可以相应地调节承载元件和/或施加单元。
为了确定所述至少一个几何参数，可以使用不同方法。一般而言，可使用任何适于测量承载元件和/或施加单元——特别是施加单元的施加元件——的至少一个几何参数的传感器。优选地，所述至少一个几何参数可经由以下单元来确定：
-光学确定单元，和/或
-触觉确定单元，和/或
-超声确定单元。
因此，相应的传感器可以是光学传感器，诸如摄像机(CCD或CMOS)，或适于光学地测量相应构件的几何参数的激光干涉仪。也可以设置适于与施加单元和/或承载元件的表面接触并确定所述至少一个几何参数的触觉传感器。此外，也可以设置使用超声波来确定所述至少一个几何参数的至少一个超声确定单元。
当然，用于确定所述至少一个几何参数的确定单元可不仅包括一个而且包括多于一个、特别是多个传感器，以确定所述至少一个几何参数。此外，不同确定单元的任意组合是可以的，其中可使用与用于确定承载元件的所述至少一个几何参数的确定单元相同的确定单元或其它确定单元来确定施加单元的所述至少一个几何参数。
确定单元可进一步适于确定施加单元的施加元件相对于施加元件托架的取向或施加元件与施加元件托架之间的距离。因此，该确定单元可进一步判定施加元件是否相对于承载施加元件的施加元件托架倾斜。换而言之，施加单元包括连接至施加元件的施加元件托架。优选地，可以经由施加元件与施加元件托架的连接来调节施加元件相对于承载元件的位置(在其中施加单元将建造材料施加到建造平面上的涂覆状态下)。换而言之，施加元件托架限定施加元件相对于承载元件的相对位置和涂覆状态。当然，施加单元可包括适于驱动和定位施加元件托架和附接在施加元件托架上的施加元件的另外的驱动装置。
因此，确定单元可判定施加元件的取向是否满足预定要求，例如该取向是否与承载元件的表面的取向匹配。校准单元可适于根据判定结果来在沿施加元件的至少一个位置调节施加元件托架与施加元件的边缘之间的距离。因而，校准单元可校准施加元件托架与施加元件的(在涂覆状态下)面向承载元件的边缘之间的距离。这允许施加元件的边缘与承载元件的相对距离在建造材料施加到建造平面(或建造板)上期间的规定调节。因而，可以避免建造平面(或建造板)与施加元件之间的间隙或超大配合。
校准装置的改进之处还可以在于，校准装置可适于在沿施加元件的至少一个位置调节施加元件托架与施加元件的边缘之间的距离。因而，可以补偿施加元件、特别是施加元件的面向建造板的边缘的倾斜或斜率。当然，也可以经由施加元件的规定调节来补偿建造板的倾斜或斜率。通过调节施加元件的边缘相对于施加元件托架的距离，可以规定施加元件的边缘在施加过程中的位置。当建造材料被施加到建造平面上时，施加元件托架移过承载施加元件的建造平面。因而，施加元件的边缘的精确定位确保了建造材料可被适当地施加到建造平面上。施加元件的边缘与施加元件托架(例如，施加元件托架的中心或面向施加元件的边缘)之间的距离的调节可通过将施加元件与施加元件托架连接的相应定位装置——诸如具有对应的螺母的主轴或螺杆——来执行。特别地，例如经由锁紧螺母在调节距离之后固定施加元件。
校准单元还可适于调节针对沿施加元件的至少两个位置的至少两个不同的距离。例如，如果施加元件不均匀地磨损，则可针对沿施加元件的两个位置来对施加元件的边缘与施加元件托架之间的距离进行不同的调节，以补偿该不均匀磨损。
可经由以下单元来确定距离和/或取向：
-光学确定单元，和/或
-触觉确定单元，和/或
-超声确定单元。
因此，相应的传感器可以是光学传感器，诸如摄像机(CCD或CMOS)，或适于光学地测量施加元件相对于施加元件托架的距离和/或取向的激光干涉仪。也可以设置触觉确定单元或超声确定单元。当然，不必关于施加元件托架执行距离和/或取向的确定。也可以设置另一基准点或基准平面，诸如承载元件。
校准装置的校准单元和确定单元可形成一组合模块。因此，包含校准单元和确定单元的组合模块可适于确定承载元件和/或施加单元的所述至少一个几何参数，并且特别是自动地调节承载元件和/或施加单元。因而，可以将施加单元分配给承载元件，其中，例如，用于承载元件和/或施加单元的几何参数的确定值可被存储在数据储存器中。因而，组合模块可产生包括承载元件和对应的施加单元的组合，其中承载元件和/或施加单元被特别是自动地互相调节，以使该组合的承载元件和施加单元就所述至少一个几何参数而言彼此匹配。对应的组合然后可被提供给要在制造过程中使用的设备，其中不必测量承载元件和/或施加单元，而是可在没有任何校准需求的情况下使用该组合。因而，可以显著减少设备的停机时间，因为不需要在制造过程之前的校准。
根据校准装置的另一实施例，校准装置与或可与设备相连接，特别是校准装置可集成在用于添加式地制造三维物体的设备中。因而，可在设备的内部特别是在过程状态中(在过程室内部的惰化状态下)执行校准例程。因此，可以节省用于使过程室惰性化的时间和过程气体，因为维护人员不必打开过程室并手动调节承载元件和/或施加元件，而是校准装置可集成在设备中，以便使得可在不需要打开过程室并且不影响过程气氛的情况下执行校准例程。
此外，本发明涉及一种用于通过依次逐层地选择性照射和固化由能借助能量源固化的建造材料构成的层来添加式地制造三维物体的设备，其中设置了校准装置，特别是本发明的校准装置，该校准装置包括至少一个确定单元和至少一个校准单元，其中所述至少一个确定单元适于确定粉末模块的承载元件的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元适于根据所述承载元件的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节设备的施加单元，和/或其中所述至少一个确定单元适于确定设备的施加单元的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元适于根据施加单元的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件。
如上所述，校准装置可布置在设备的外部，或校准装置可至少部分地——特别是校准装置的校准单元——集成在设备中。
此外，可设置控制单元，其适于将经校准的施加单元分配给使用对应的承载元件的制造过程，其中已根据对应的承载元件的所述至少一个几何参数执行施加单元的调节。因而，校准例程可独立于制造过程而被执行并且施加单元和对应的承载元件可用于今后的制造过程中。因此，可在制造过程之前设定用于添加式地制造三维物体的设备，因为校准例程可在制造过程开始之前、特别是在建造材料(例如使用计量模块)插入过程室中之前开始。
当然，控制单元也可适于将经校准的承载元件分配给使用对应的施加元件的制造过程，其中已根据对应的施加单元的所述至少一个确定的几何参数执行承载元件的调节。
优选地，校准装置可适于在施加元件布置在设备内部和/或承载元件布置在粉末模块内部的状态下特别是自动地调节施加元件和/或承载元件，和/或校准装置可适于确定在承载元件布置在设备内部的状态下的承载元件的所述至少一个几何参数和/或在施加单元布置在设备内部的状态下的施加单元的所述至少一个几何参数。
如上所述，校准例程可在承载元件和/或施加单元就位——即布置在设备的过程室内部——的状态下执行。因此，过程室内部的过程条件不必受打开过程室的影响，因为可以在不需要将承载元件和/或施加元件从过程室取出或从设备的外部干涉过程室的内部的情况下测量并相应地调节承载元件和/或施加元件。
根据设备的另一实施例，校准装置可适于对确定的几何参数设定规定的偏离值。该偏离值可考虑影响承载元件和施加单元——特别是施加元件(施加元件的边缘)——的相对位置的设备特定参数。例如，该偏离值可考虑承载元件的初始位置。优选地，校准装置可设定的偏离值由制造商预先确定并且不能由设备的用户变更。
此外，可向确定单元、特别是光学传感器分配显示单元，其中该显示单元——优选地监视器——适于显示通过分配给确定单元的光学传感器捕获的数据。例如，显示单元可用于实时向用户显示通过光学传感器捕获的数据。因而，可实时向用户显示经由光学传感器记录的施加元件的边缘的图像。另外，可设置适于接收用户的输入的用户输入界面，其中该用户输入界面适于将用户输入传输至控制单元。因而，可根据用户输入来调节施加元件。因此，用户可以查看经由显示单元显示的捕获数据并经由用户输入相应地调节施加元件。
因而，用户可以根据承载元件的所确定的几何参数来调节施加元件的距离。用户可将确定单元定位在相对于施加元件的边缘的规定位置，例如施加元件的左下角附近的区段。确定单元——特别是光学传感器——允许测量在对应位置的该距离，其可经由显示单元向用户显示。
然后向用户显示边缘相对于承载元件的所确定的几何参数——例如承载元件的高度——的位置，其中用户可根据所显示的边缘的位置来手动调节定位装置和锁紧螺母。可对边缘的至少一个另一部分——例如施加元件的右下角附近——重复相同步骤。在施加元件——特别是边缘——的定位完成之后，用户可经由确定单元来查验边缘的调节。当然，用户也可相应地根据施加元件的至少一个几何参数来调节承载元件。
此外，本发明涉及一种用于操作至少一个用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置——特别是本发明的校准装置——的方法，其中确定粉末模块的承载元件的至少一个几何参数并且根据承载元件的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节设备的施加单元，和/或确定设备的施加单元的至少一个几何参数并且根据施加单元的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件。
关于本发明的校准装置描述的所有细节、特征和优点可全部转移至本发明的设备和本发明的方法。当然，关于本发明的设备描述的所有细节、特征和优点也可全部转移至本发明的校准装置和本发明的方法。
附图说明
参考附图描述本发明的示例性实施例。该唯一的图1是示意图并且示出了本发明的校准装置。
具体实施方式
唯一的图1示出了用于添加式地制造三维物体的设备(未示出)的校准装置1，该校准装置1包括两个确定单元3、3，其中确定单元2适于确定承载元件4——特别是建造板——的几何参数，并且确定单元3适于确定施加单元5——特别是施加元件6、例如涂覆器刮板——的几何参数。
确定单元2包括适于确定承载元件4的高度(通过箭头7描绘)的光学传感器(未示出)。确定单元2可将所确定的结果——特别是承载元件4的高度——传送至控制单元8。确定单元2可确定承载元件4在承载元件4的多个位置的高度。因而，确定单元2可确定承载元件4的表面是否包含斜率或相对于保持结构9倾斜。
确定单元3也包括光学传感器10，其中确定单元3适于测量施加元件6的高度(通过箭头12描绘)。确定单元3还适于测量施加元件6相对于与施加元件6相连接的施加元件托架11的取向。特别地，确定单元3可确定施加元件6的边缘14与施加元件托架11的表面15之间的距离13。当然，也可以使用另一基准点或与施加元件托架11的表面15不同的另一基准平面。在施加元件6处于其中建造材料经由施加元件6施加到建造平面上的涂覆状态下，施加元件6的边缘14面向承载元件4或建造平面。确定单元3可将施加元件6的几何参数的确定结果传送至控制单元8。
校准装置1可包括驱动装置(未示出)，该驱动装置适于驱动确定单元3，以便可以在沿施加元件6的多个位置测量距离13。此外，可沿施加元件6的长度确定施加元件的边缘14的品质。
校准装置1包括分别适于特别是自动地调节承载元件4或施加单元5的两个校准单元16、17。校准单元16被分配为特别是自动地调节承载元件4，其中可以根据经由确定单元3确定的施加元件6的至少一个几何参数来进行承载元件4或保持承载元件4的保持结构9的自动调节。因此，校准单元16可与承载元件4或保持结构9相互作用，以使承载元件4的上表面18可相对于保持结构9定位。
此外，也可以根据承载元件4的所述至少一个几何参数——特别是高度——来执行施加单元5的调节。因而，校准单元17可与将施加元件6连接至施加元件托架11的定位装置19相互作用。因而，可通过与定位装置19相互作用来变更距离13。特别地，施加元件6可通过与定位装置19相互作用来相对于施加元件托架11伸出或缩回。
因而，施加元件6的边缘14离施加元件托架11的表面15的距离13可根据承载元件4的所述至少一个几何参数——特别是承载元件4的高度(通过箭头7描绘)——而变更。在已设定距离13之后，可以经由锁紧螺母20锁紧定位装置19。
如从附图可以进一步得知的，校准装置1形成组合模块，其中可以测量承载元件4并且可以调节施加单元5，反之亦然。
也可以使校准装置1仅包括一个确定单元2、3和一个校准单元16、17，或两个确定单元2、3和仅一个校准单元16、17。例如，校准装置1可包括确定单元2，该确定单元适于确定承载元件4的所述至少一个几何参数，特别是承载元件4的高度。根据承载元件4的所确定的几何参数，可以调节施加元件5的距离13，其限定施加元件6的边缘14与施加元件托架11的基面15之间的距离13(并由此限定在涂覆状态下的相对位置)。距离13的调节可以基于制造商特有的标准距离。另外，可以经由确定单元3来确定距离13。
因此，也可以使校准装置1经由确定单元3来确定距离13并且经由校准单元16特别是自动地调节承载元件4。当然，可以经由确定单元2来查验校准。
此外，可向确定单元3——特别是光学传感器10分配显示单元(未示出)，其中该显示单元——优选地监视器——适于显示光学传感器10捕获的数据。例如，显示单元可用于实时向用户显示通过光学传感器10捕获的数据。因而，可实时向用户显示经由光学传感器10记录的施加元件6的边缘14的图像。另外，可设置适于接收用户的输入的用户输入界面(未示出)，其中该用户输入界面适于将用户输入传输至控制单元8。因而，可根据用户输入来调节施加元件6。因此，用户可以查看经由显示单元显示的捕获数据并相应地调节施加元件6。
因而，用户可以根据承载元件4的所确定的几何参数来调节施加元件5的距离13。用户可将确定单元3定位在相对于施加元件6的边缘14的规定位置，例如边缘14的在施加元件6的左下角附近的区段。光学传感器10允许测量在对应位置的距离13，其可经由显示单元向用户显示。
然后向用户显示边缘14相对于承载元件4的所确定的几何参数——例如承载元件4的高度——的位置，其中用户可根据所显示的边缘14的位置手动调节定位装置19和锁紧螺母20。可对边缘的至少一个另一部分——例如施加元件6的右下角附近——重复相同步骤。在施加元件6——特别是边缘14——的定位完成之后，用户可经由确定单元3来查验边缘14的调节。
校准装置1可布置在用于添加式地制造三维物体的设备内部，特别是过程室(未示出)内部。这允许在不需要从过程室内部的过程气氛取出承载元件4或施加单元5的情况下执行设备内部的校准例程。
当然，本发明的方法可以在校准装置1上执行。

Claims (15)

1.一种用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置(1)，该校准装置(1)包括至少一个确定单元(2，3)和至少一个校准单元(16，17)，其中所述至少一个确定单元(2)适于确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(17)适于根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5)，和/或其中所述至少一个确定单元(3)适于确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(16)适于根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。
2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述至少一个几何参数经由以下单元来确定：
-光学确定单元(2，3)，和/或
-触觉确定单元(2，3)，和/或
-超声确定单元(2，3)。
3.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述确定单元(3)适于确定所述施加单元(5)的施加元件(6)相对于施加元件托架(11)的取向或所述施加元件(6)与所述施加元件托架(11)之间的距离(13)。
4.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述校准单元(17)适于在沿所述施加元件(6)的至少一个位置调节所述施加元件托架(11)与所述施加元件(6)的边缘(14)之间的距离(13)。
5.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述校准单元(17)适于调节针对沿所述施加元件(6)的至少两个位置的至少两个不同的距离(13)。
6.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述距离和/或所述取向经由以下单元来确定：
-光学确定单元(2，3)，和/或
-触觉确定单元(2，3)，和/或
-超声确定单元(2，3)。
7.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述校准单元(16，17)和所述确定单元(2，3)形成组合模块。
8.根据前述权利要求中任一项所述的校准装置，其特征在于，所述校准装置(1)与或能与所述设备相连接，特别是集成在所述设备中。
9.一种用于通过依次逐层地选择性照射和固化由能借助能量源固化的建造材料构成的层来添加式地制造三维物体的设备，其特征在于具有校准装置(1)，特别是根据前述权利要求中任一项所述的校准装置(1)，该校准装置(1)包括至少一个确定单元(2，3)和至少一个校准单元(16，17)，其中所述至少一个确定单元(2)适于确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(17)适于根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5)，和/或其中所述至少一个确定单元(3)适于确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且所述至少一个校准单元(16)适于根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。
10.根据权利要求9所述的设备，其特征在于，所述校准装置(1)布置在所述设备的外部，或所述校准装置(1)至少部分地——特别是所述校准单元——集成在所述设备中。
11.根据权利要求9或10所述的设备，其特征在于具有控制单元(8)，所述控制单元适于将经校准的施加单元(5)分配给使用对应的承载元件(4)的制造过程，其中已根据对应的承载元件(4)的所述至少一个几何参数执行所述施加单元(5)的调节。
12.根据权利要求9至11中任一项所述的设备，其特征在于具有控制单元(8)，所述控制单元适于将经校准的承载元件(4)分配给使用对应的施加单元(5)的制造过程，其中已根据对应的施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数执行所述承载元件(4)的调节。
13.根据权利要求9至12中任一项所述的设备，其特征在于，所述校准装置(1)适于在所述施加元件(6)布置在所述设备内部和/或所述承载元件(4)布置在所述粉末模块内部的状态下特别是自动地调节所述施加元件(6)和/或所述承载元件(4)，和/或所述校准装置(1)适于确定在所述承载元件(4)布置在所述设备内部的状态下的所述承载元件(4)的所述至少一个几何参数和/或在所述施加单元(5)布置在所述设备内部的状态下的所述施加单元(5)的所述至少一个几何参数。
14.根据权利要求9至13中任一项所述的设备，其特征在于，所述校准装置(1)适于对所确定的几何参数设定规定的偏离值。
15.一种用于操作至少一个用于添加式地制造三维物体的设备的校准装置(1)——特别是根据权利要求1至8中任一项所述的校准装置(1)——的方法，其特征在于，确定粉末模块的承载元件(4)的至少一个几何参数并且根据所述承载元件(4)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节所述设备的施加单元(5)，和/或确定所述设备的施加单元(5)的至少一个几何参数并且根据所述施加单元(5)的所确定的至少一个几何参数特别是自动地调节粉末模块的承载元件(4)。
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