CN109791173B - 一种测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

一种测试系统及方法，其中系统包括1台电源设备(103)、N台待测试设备(101)和1台负载(102)，N台待测试设备(101)通过串联连接，N台待测试设备(101)串联连接后一端与负载(102)连接，另一端与电源设备(103)连接，其中，N为大于或等于2的整数，N台待测试设备(101)中位于串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，N台待测试设备(101)中位于串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，可提高对待测试设备的测试效率。

Description

一种测试系统及方法

技术领域

本发明涉及电子信息技术领域，尤其涉及一种测试系统及方法。

背景技术

在电子产品的生产中，为了检测产品的可靠性以及筛选出不良品，常采用老化的方法对电子产品进行测试，即让电子产品在高温下带载长时间运行，使得电子设备老化，通常情况下采用的老化方法都是使每个电子产品带一个固定的负载运行，从而实现对该电子产品的老化，因此在对电子设备进行测试并使得电子设备老化时需要的负载设备较多，会降低对电子产品的测试效率，而且会消耗大量的能量，特别是当某一生产批次中电子产品数量较大时，由于需要对该生产批次进行老化的数量大，更会导致测试效率的下降并会加大对能量的消耗。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试系统及方法，可提高对待测试设备的测试效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种测试系统，该系统包括：1台电源设备、N台待测试设备和1台负载；

所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，N为大于或等于2的整数；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式。

其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备在预设时长后切换到第二工作模式；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备在预设时长后切换到第一工作模式。

其中，所述第一工作模式为整流模式且所述第二工作模式为逆变模式；

或者，所述第一工作模式为逆变模式且所述第二工作模式为整流模式。

其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的后级设备是前一级待测试设备的负载。

其中，所述后级设备包括所述前一级待测试设备后的待测试设备和所述负载。

第二方面，本发明实施例提供了一种测试方法，该方法包括：

将N台待测试设备、1台电源设备和1台负载进行串联连接，其中，N为大于或等于2的整数；

将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备设置为第一工作模式；

将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备设置为第二工作模式。

其中，所述测试方法还包括：

在预设时长后，将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备切换到第二工作模式，并将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备切换到第一工作模式。

其中，所述第一工作模式为整流模式且所述第二工作模式为逆变模式；

或者，所述第一工作模式为逆变模式且所述第二工作模式为整流模式。

其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的后级设备是前一级待测试设备的负载。

其中，所述后级设备包括所述前一级待测试设备后的待测试设备和所述负载。

在本发明实施例中，N台待测试设备通过串联连接，该N台待测试设备串联后的一端与负载连接，另一端与电源设备连接，该N台待测试设备中位于串联连接奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，并且该N台待测试设备中位于串联连接偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，实现了将N台待测试设备进行串联测试，可以将原先需要N台负载进行老化的需求减少到只需要1台，因此该测试系统实现了对N台待测试设备的老化的同时，可提高对待测试设备的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图2a是本发明实施例提供的另一种测试系统的结构示意图；

图2b是本发明实施例提供的另一种测试系统的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1，是本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图，如图1所示，该测试系统可包括：N台待测试设备101、1台负载102和1台电源设备103。

其中，N台待测试设备101通过串联连接，该N台待测试设备101串联后的一端和负载102相连，另一端和电源设备103相连，该N为大于或等于2的整数，该N台待测试设备101中位于该串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，该N台待测试设备101中位于该串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，该电源设备103用于使该N台待测试设备101处于工作状态而被老化，其中该测试系统中的N台待测试设备101例如可以是AC/DC变换器等，在本发明实施例中不做限定。

可选的，如果该N台待测试设备101只有一种工作模式，可将该N台待测试设备101和该负载102及电源设备103串联连接，而使得该N台待测试设备101被老化，其中，该N台待测试设备101都处于第一工作模式或第二工作模式。

在一个实施例中，如果该N台待测试设备101是N台AC/DC变换器，由于该N台AC/DC变换器具有两种工作模式，即第一工作模式和第二工作模式，要实现对该N台AC/DC变换器中两种工作模式的测试(老化)，可将该N台AC/DC变换器和负载及电源设备串联连接，该N台AC/DC变换器中位于串联的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，该N台待测试设备中位于串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，或者，该N台AC/DC变换器和负载及电源设备串联连接后，该N台AC/DC变换器中位于串联的奇数位置的待测试设备处于第二工作模式，该N台AC/DC变换器中位于串联连接的偶数位置的待测试设备处于第一工作模式。

在一个实施例中，将N台具有两种工作模式的待测试设备进行串联连接之前，需要先确定进行串联连接的两台设备的端口是否相同，只有相同的端口才能建立正确的连接关系，不同的端口不能连接，也就是说，如果该N台待测试设备101是N台AC/DC变换器，可知该N台AC/DC变换器可供连接选择的有AC口和DC口，为了建立正确的连接关系，需将AC口和AC口相连接，DC口和DC口相连接，才能实现对该N台AC/DC变换器的正确串联。

其中，当N的值越大时，说明该测试系统中进行老化的待测试设备越多，由于使用该测试系统进行老化时的负载只需要1台，因此，使用该测试系统对待测试设备进行老化时，串联的待测试设备越多(即N值越大时)，则可节约更多的能源。

其中，在达到预设时长后，可将该N台待测试设备101中位于该串联连接奇数位置的待测试设备切换到第二工作模式，同时将该N台待测试设备101中位于该串联连接的偶数位置的待测试设备切换到第一工作模式，用以测试待测试设备在另一种工作模式下的性能，实现了通过简单的工作模式的切换，使得每台测试设备的两种工作模式都得到测试，提高了测试效率。

在一个实施例中，将该N台待测试设备101的工作模式切换后，由于工作模式的切换使得之前串联的端口发生变化，为了不改变该N台待测试设备101的连接位置，可交换该负载102和电源设备103的位置，从而确保不改变该N台待测试设备的连接关系。

具体的，该N台待测试设备101中位于该串联连接奇数位置的待测试设备可先按照第一工作模式运行预设时长，当到达该预设时长时，可将该N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备的第一工作模式切换到第二工作模式，并在该第二工作模式下同样运行该预设时长，以完成对该N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备的老化测试；同样的，此时该N台待测试设备101中位于该串联连接偶数位置的待测试设备可先按照第二工作模式运行预设时长，当到达该预设时长时，可将该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备的第二工作模式切换到第一工作模式，并在该第一工作模式下运行该预设时长，则完成了对该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备的老化测试。

可选的，当该N台待测试设备101只有一种工作模式时，可直接按照该N台待测试设备101的第一工作模式或第二工作模式工作预设时长，则完成对该N台待测试设备101的老化测试，该只有一种工作模式的待测试设备例如可以是DC/DC变换器。

可选的，将该N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备的第一工作模式切换到第二工作模式的切换方式，或者将该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备的第二工作模式切换到第一工作模式的切换方式可采用人为切换的方式，即到达预设时长时，采用人为方式使得该N台待测试设备101的工作模式得到切换；也可采用自动切换的方式，即可根据预设时长在该N台待测试设备101中设置切换时间，当该N台待测试设备101到达该切换时间时，可将该N台待测试设备的当前工作模式自动切换到另一工作模式，其中，当该当前工作模式为第一工作模式时，该另一工作模式为第二工作模式，当该当前工作模式为第二工作模式时，该另一工作模式为第一工作模式。

需要说明的是，该预设时长例如可以是10小时，24小时等，在本发明实施例中不做限定，该预设时长可根据不同的待测试设备进行测量时需要的不同测试时间而设置不同的预设时长。

其中，该第一工作模式为整流模式且第二工作模式为逆变模式，或者该第一工作模式为逆变模式且第二工作模式为整流模式。

其中，将该N台待测试设备101和电源设备103进行连接之前，需要判断该第一台待测试设备的工作模式，从而确定电源设备103提供的电流模式，例如，如果该第一台待测试设备处于整流模式，则将提供交流电的电源设备和该第一台待测试设备相连，如果该第一台待测试设备处于逆变模式，则将提供直流电的电源设备和该第一台待测试设备相连。

例如，如果该N台待测试设备101中位于该串联连接奇数位置的待测试设备的第一工作模式为整流模式，则该第一台待测试设备为整流模式，则确定将供应交流电的电源设备103和该第一台待测试设备串联，该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备的第一工作模式为逆变模式，并假设预设时长为24小时时，该N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备按照整流模式工作24小时，同时，该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备按照逆变模式工作24小时，然后，将该N台待测试设备中位于该串联奇数位置的待测试设备的整流模式转换为逆变模式，并将该N台待测试设备中位于该串联偶数位置的待测试设备的逆变模式转换为整流模式，同时改变电源设备103和负载102的位置，并在模式切换后根据切换模式后的第一台待测试设备的工作模式确定此时电源设备103提供的电流为交流电或直流电，该N台待测试设备按照该工作模式运行24小时后，完成对该N台待测试设备的老化测试。

需要说明的是，该测试系统中N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备和该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备的工作模式在同一预设时长中可以是相同的，也可以是不同的，可根据该待测系统中串联的N台待测试设备101包括的运行模式确定，即如果该N台待测试设备101有且只有一种运行模式，该N台待测试设备101可串联后按照第一工作模式或第二工作模式运行预设时长即完成对该N台待测试设备101的老化测试。

可选的，如果该N台待测试设备101例如是N台AC/DC变换器时，由于存在两种运行模式，为了实现对该N台AC/DC变换器的老化，该N台AC/DC变换器需要在两种运行模式下分别得到验证，因此为了实现对该N台AC/DC变换器的串联，该N台待测试设备101中位于该串联奇数位置的待测试设备和该N台待测试设备101中位于该串联偶数位置的待测试设备在同一预设时长中的工作模式是不同的。

例如，对N台AC/DC变换器进行老化时，该N台AC/DC变换器具有整流和逆变两种工作模式，由于在对该N台AC/DC变换器进行老化时，该N台AC/DC变换器需要在上述两种工作模式下分别验证该N台AC/DC变换器的老化结果，因此，为了实现对该N台AC/DC变换器的串联，当第1台AC/DC变换器的工作模式为整流模式时，第2台AC/DC变换器的工作模式需要为逆变模式，第3台AC/DC变换器为整流模式，并以此类推第N台AC/DC变换器的工作模式，即该N台AC/DC变换器中串联的奇数位置的待测试设备和该N台AC/DC变换器中串联的偶数位置的待测试设备的在同一预设时长中的工作模式是不同的，如果该N台AC/DC变换器中串联的奇数位置的待测试设备如果为整流模式，则N该台AC/DC变换器中串联的偶数位置的待测试设备为逆变模式，或者，如果该N台AC/DC变换器中串联的奇数位置的待测试设备如果为逆变模式，则N该台AC/DC变换器中串联的偶数位置的待测试设备为整流模式。

其中，由于在整流模式下运行的AC/DC变换器的功率流是由电源流向负载，在逆变模式下运行的AC/DC变换器的功率流是由负载流向电源的，串联的N台AC/DC变换器中相邻AC/DC变换器的工作模式不同时，保证了串联的N台AC/DC变换器的电流流向始终是由第1台AC/DC变换器流向第2台AC/DC变换器直至流向第N台AC/DC变换器，再到负载的，从而在实现了对能源消耗的减少的同时，也有效地防止了由于电流回流导致的对AC/DC变换器的损坏。

可选的，如果该N台待测试设备101只有一种工作模式，当将该N台待测试设备101和负载102及电源设备103串联老化时，为了防止电流回流导致的对待测试设备的危害，每2台待测试设备之间可串联一二极管，从而保证该N台待测试设备101的电流流向为：从第1台待测试设备到第2台待测试设备直至第N台待测试设备。

其中，由于该N台待测试设备101中位于该串联的后级设备是前一级待测试设备的负载，该后级设备包括该前一级待测试设备后的待测试设备和该负载。需要说明的是，第N台待测试设备的负载只包括该负载102，使得该测试系统在对该N台待测试设备101进行老化时，可只用一台负载102即可实现对该N台待测试设备101的老化，在实现对该N台待测试设备101同时老化的同时，可降低对能源的消耗。

具体的，如图1所示，第k台待测试设备的负载为第k+1台待测试设备至第N台待测试设备和该负载102，其中，k为大于或等于1且小于N的整数，由于后级设备是前一级待测试设备的负载使得该测试系统可以实现采用1台老化负载(即上述负载102)实现对N台待测试设备的老化，实现了对能源的节约。

举例来说，当N为3且待测试设备为AC/DC变换器时，组成的测试系统结构示意图如图2a所示，该测试系统可包括1台电源设备205、3台AC/DC变换器和1台负载204，其中第1台AC/DC变换器201，第2台AC/DC变换器202和第3台AC/DC变换器203及该负载204和该电源设备205依次串联，如果该第1台AC/DC变换器201的工作模式为整流模式，则该电源设备205为该第1台AC/DC变换器提供交流电，那么该第2台AC/DC变换器202的工作模式设置为逆变模式，且第3台AC/DC变换器203的工作模式为整流模式，并且该第3台AC/DC变换器203的另一端与该负载204(老化负载)相连，当该3台AC/DC变换器按照上述的工作模式工作24小时(即预设时长)后，可人为将该3台AC/DC变换器的工作模式切换成如图2b所示的结构示意图中的工作模式，即将第1台AC/DC变换器201的工作模式切换为逆变模式，将第2台AC/DC变换器202的工作模式切换为整流模式，将第3台AC/DC变换器203的工作模式切换为逆变模式，同时交换该电源设备205和负载204的位置后，与该3台AC/DC变换器连接，此时的电源设备205为此时的第3台AC/DC变换器203提供交流电，该3台AC/DC变换器依旧运行24小时后完成对该3台AC/DC变换器的老化测试。

同样的，当N为3且待测试设备为AC/DC变换器时，可先组成如图2b所述的测试系统结构示意图，其中，该第1台AC/DC变换器201的工作模式为逆变模式，该第2台AC/DC变换器202的工作模式为整流模式，该第3台AC/DC变换器203的工作模式为逆变模式，此时的电源设备205与该第3台AC/DC变换器203串联并提供直流电，并且将该第1台AC/DC变换器201与负载204连接，当该3台AC/DC变换器按照上述模式工作24小时后，可人为将该3台AC/DC变换器的工作模式切换成如图2a所述的结构示意图，即将第1台AC/DC变换器201的工作模式切换为整流模式，将第2台AC/DC变换器202的工作模式切换为逆变模式，将第3台AC/DC变换器203的工作模式切换为整流模式，并按照如图2a的连接方式连接，此时的电源设备205为此时的第1台AC/DC变换器201提供交流电，该3台AC/DC变换器依旧运行24小时后完成对该3台AC/DC变换器的老化测试。

其中，在对该3台AC/DC变换器进行测试并使其老化的过程中，该第1台AC/DC变换器201的负载包括该第2台AC/DC变换器202、第3台AC/DC变换器203和该负载204；该第2台AC/DC变换器202的负载为该第3台AC/DC变换器203和该负载204；该第3台AC/DC变换器203的负载为该负载204。

在本发明实施例中，N台待测试设备通过串联连接，该N台待测试设备串联后与电源设备及负载连接，该N台待测试设备中位于串联连接奇数位置的待测试设备处于第一工作模式，并且该N台待测试设备中位于串联连接偶数位置的待测试设备处于第二工作模式，实现了将N台待测试设备进行串联测试，可以将原先需要N台负载进行老化的需求减少到只需要1台，因此该测试系统实现了对N台待测试设备的老化的同时，可提高对待测试设备的测试效率，并可降低对能源的消耗。

参见图3，是本发明实施例提供的一种测试方法的示意流程图，如图3所示，该方法可包括：

S301，将N台待测试设备、1台电源设备和1台负载进行串联连接，其中，N为大于或等于2的整数。

S302，将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备设置为第一工作模式。

S303，将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备设置为第二工作模式。

S304，在预设时长后，将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备切换到第二工作模式，并将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备切换到第一工作模式。

其中，所述第一工作模式为整流模式且所述第二工作模式为逆变模式；

或者，所述第一工作模式为逆变模式且所述第二工作模式为整流模式。

其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的后级设备是前一级待测试设备的负载。

其中，所述后级设备包括所述前一级待测试设备后的待测试设备和所述负载。

在本发明实施例中，通过将N台待测试设备串联，并将该N台待测试设备中位于该串联连接的奇数位置的待测试设备设置为第一工作模式，并将该N台待测试设备中位于该串联连接的偶数位置的待测试设备设置为第二工作模式，使得该N台待测试设备按照上述的工作模式运行预设时长后，将该N台待测试设备中位于该串联连接的奇数位置的待测试设备切换到第二工作模式，并将该N台待测试设备中位于该串联连接的偶数位置的待测试设备切换到第一工作模式，并再次使得该N台待测试设备运行预设时长，即完成对该N台待测试设备的老化，实现了对N台具有不同工作模式的待测试设备的串联老化，可提高对待测试设备的测试效率，并可降低对能源的消耗。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种测试系统，其特征在于，包括：1台电源设备、N台待测试设备和1台负载；

所述N台待测试设备通过串联连接，所述N台待测试设备串联连接后一端与所述负载连接，另一端与所述电源设备连接，其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的后级设备是前一级待测试设备的负载，N为大于或等于2的整数；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备处于第一工作模式；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备处于第二工作模式；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备在预设时长后切换到第二工作模式；

所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备在预设时长后切换到第一工作模式。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第一工作模式为整流模式且所述第二工作模式为逆变模式；

或者，所述第一工作模式为逆变模式且所述第二工作模式为整流模式；

其中，根据第一台待测试设备所处的模式确定所述电源设备提供的电流模式。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述后级设备包括所述前一级待测试设备后的待测试设备和所述负载。

4.一种测试方法，其特征在于，包括：

将N台待测试设备、1台电源设备和1台负载进行串联连接，其中，所述N台待测试设备中位于所述串联连接的后级设备是前一级待测试设备的负载，N为大于或等于2的整数；

将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备设置为第一工作模式；

将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备设置为第二工作模式；

在预设时长后，将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的奇数位置的待测试设备切换到第二工作模式，并将所述N台待测试设备中位于所述串联连接的偶数位置的待测试设备切换到第一工作模式。

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述第一工作模式为整流模式且所述第二工作模式为逆变模式；

或者，所述第一工作模式为逆变模式且所述第二工作模式为整流模式。

6.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述后级设备包括所述前一级待测试设备后的待测试设备和所述负载。

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