CN109753260A - 一种电子设备及其控制方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种电子设备，包括：显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容的出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置；检测装置，用于获得检测数据；处理装置，至少用于依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；调整装置，用于在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。

Description

一种电子设备及其控制方法

技术领域

本申请涉及信息处理技术，尤其涉及一种电子设备及其控制方法。

背景技术

目前电子设备多包括显示装置，用于输出显示内容。显示装置工作时向外发射出射光线，出射光线发散至外部空间，用户便可感知到显示内容。显示装置不工作时，环境光线会沿着与出射光线相反的路径传输到显示装置，由于光线会导致显示装置的局部区域的光照强度过大，可能影响显示装置的性能。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请实施例期望提供一种电子设备及其控制方法。

第一方面，本申请实施例中提供了一种电子设备，包括：

显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容的出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置；

检测装置，用于获得检测数据；

处理装置，至少用于依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；

调整装置，用于在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。

第二方面，本申请实施例中还提供了一种电子设备的控制方法，所述方法包括：

获得检测数据；

依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；

在所述控制指令的控制下，减少显示装置受到来自所述环境光线的影响；

其中，所述显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置。

采用上述技术方案，通过对电子设备的状态进行检测获取检测数据，当电子设备处于第一条件所指示的状态时，控制调整装置工作，以减少环境光线对电子设备显示装置的影响。

附图说明

图1为本申请实施例中电子设备的组成结构示意图1；

图2A为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图1；

图2B为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图2；

图2C为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图3；

图2D为本申请实施例中显示组件上光线汇聚示意图；

图3为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图4；

图4为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图5；

图5为本申请实施例中电子设备的组成结构示意图2；

图6为本申请实施例中电子设备的控制方法的流程示意图。

图7A为本申请实施例中光线汇聚示意图；

图7B为本申请实施例中显示装置受影响示意图1；

图7C为本申请实施例中显示装置受影响示意图2。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本申请实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本申请实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本申请实施例。

本申请实施例中提供了一种电子设备，图1为本申请实施例中电子设备的组成结构示意图1，如图1所示该电子设备包括：

显示装置11，用于依据显示信号输出对应显示内容的出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置；

检测装置12，用于获得检测数据；

处理装置13，至少用于依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；

调整装置14，用于在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。

其中，上述各个装置通过总线系统15耦合在一起。可理解的是，总线系统15用于实现各个装置之间的连接通信。总线系统15除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线等，图中将各种总线都标为总线系统15。

这里，电子设备可以为包含显示装置的任何电子设备，处理装置用于控制显示装置输出显示内容。

本实施例提供了多种具体处理场景，下面分别进行说明：

场景1、

显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，出射光线口径大于初始光线口径，显示组件很小时，光学组件(比如透镜组)能够改变显示组件的初始光线传播了路径，对显示组件上的显示内容可以形成放大的虚像，被用户感知，因此，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于反向的入射光线具有汇聚作用。

图2A为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图1，如图2A所示，显示装置包括：显示组件21和光学组件22，实线箭头为显示装置出射光方向，虚线箭头为显示装置入射光方向。显示装置工作时显示组件21和光学组件22之间的实线箭头相当于初始光线，初始光线经过光学组件22后光路被改变得到发散的出射光线，出射光线发散至电子设备的外部空间被用户感知。显示装置不工作时环境光线会沿着出射光线的反方向(即图中虚线箭头所指的方向)经过光学组件22汇聚到显示组件21。需要说明的是，图2A中仅示例性的给出一种出射光光路和入射光光路，以对显示装置的工作原理进行说明，并不是用来限定显示装置的实际光路。

这里，由于光学组件对环境光线的汇聚作用，环境光线经光学组件抵达显示组件时被汇聚到显示组件的部分区域，使部分区域的光照强度(也称“光照强度”)增大。因此需要降低这些区域的光照强度，来避免这些区域由于长时间光照强度过大导致温度过高，损害显示组件，从而出现发黄现象，影响再次使用的显示效果。

实际应用中，调整装置，具体用于在所述控制指令的控制下，改变所述显示装置的光学参数减少所述显示组件的单位区域光照强度差异。

这里，减少所述显示组件的单位区域光照强度差异实质上是降低单位区域上的最大光照强度。单位区域可以是将显示组件划分成的子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素或50*50像素等，单位区域的划分粒度可以根据实际需求而定。具体的，显示组件可以划分为多个子区域，将子区域内的平均光强作为该子区域的光强或者将子区域中心位置光强作为该子区域的光强，如果入射光线在显示组件上汇聚太厉害，就会出现某个子区域的光强和其他子区域的光强存在较大差别，如果通过改变焦距降低汇聚程度，那么原本光强较大的子区域和其他子区域的光强差值肯定会降低，因此，也可以将光强差作为衡量调整效果的依据。

单位区域光照强度差异可以显示组件的最大光强与最小光强的差值，或者最大光强与整个显示组件的平均光强的差值。比如，将显示组件划分为4个子区域，调整装置在改变显示装置的光学参数之前，4子区域的光强分别为3、5、7、3，平均光强为4.5，最大光强和最小光强的差值为4，最大光强和平均光强的差值2.5。在改变显示装置的光学参数之后，4个子区域的光强分别为3、3、4、3，平均光强为3.25。最大光强和最小光强的差值为1，最大光强和平均光强的差值为0.75。很明显调整装置通过改变显示装置的光学参数，减小了显示组件的单位区域光照强度差异。

这里，光学参数可以为光学组件的焦距。在一种实施方式中，所述光学组件具有第一模式和第二模式，所述第一模式具有第一焦距，所述第二模式具有第二焦距，所述调整装置用于将所述光学组件从第一模式调整至第二模式。其中，光学组件为第二焦距时焦点与显示组件的距离大于第一焦距时焦点与显示组件的距离。

也就是说，通过改变光学组件的焦距使光学组件的焦点落在显示组件以外的空间，如显示组件之前或者之后的空间。在总的光照强度不变的情况下，焦距的改变将总的光照强度分散到更大的区域中，以减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2B为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图2，如图2B所示，光学组件22的焦距为L1时，焦点落在显示组件21上，可以理解为入射光线全部汇聚到焦点附近，光学组件22的焦距为L2(L2大于L1)时，焦点落在显示组件之后，原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2C为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图3，如图2C所示，光学组件22的焦距为L1时，焦点落在显示组件21上，可以理解为入射光线全部汇聚到焦点附近，光学组件22的焦距为L3(L3小于L1)时，焦点落在显示组件之前，同样原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2D为本申请实施例中显示组件上光线汇聚示意图，如图2D所示，当光学组件的焦距为L1时，在显示组件21上对应的光照区域为21a；当光学组件的焦距为L2时，在显示组件21上对应的光照区域为21b；当光学组件的焦距为L3时，在显示组件21上对应的光照区域为21c；其中，光照区域的颜色越深表示光照强度越大，在入射光线相同时，光照区域越大表明单位面积接收到的最大光强越小，因此在光照区域21c中平均光照强度小于光照区域21b，光照区域21b中平均光照强度小于光照区域21a。

实际应用中，调整显示装置焦距的方法还可以包括：在光学组件为单一光学器件时，通过改变光学器件的光学特性，比如凸透镜的厚度可调节，具体的凸透镜具有弹性侧壁和液体/气体填充物，通过控制弹性侧壁形变来改变焦距。比如，凸透镜侧壁为具有一定弹性形变能力的透明材料，凸透镜内部空间装有液体或气体，通过向凸透镜内部灌入液体或充入气体使凸透镜体积变大，如此来改变凸透镜的厚度、曲率半径、折射率等至少一项参数，增大凸透镜的焦距；或者从凸透镜内排除部分液体或气体使凸透镜体积变小，如此来改变凸透镜的厚度、曲率半径、折射率等至少一项参数，减小凸透镜的焦距。这里，折射率的改变与液体和气体自身的折射率也有关系。在光学组件内包含多个光学器件时，比如透镜组，调整透镜之间的位置关系，来改变焦距。

在另一种实施方式中，光学组件和显示组件具有第一位置关系和第二位置关系，调整装置用于将所述光学组件和显示组件的位置关系从第一位置关系调整至第二位置关系。其中，第二位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离大于第一位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离。

也就是说，还可以通过改变光学组件和显示组件的之间的位置关系，使光学组件的焦点落在显示组件以外的空间。

图3为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图4，如图3所示，第一位置关系为显示组件21位于第一位置时与光学组件22之间的位置关系，第二位置关系为显示组件21位于第二位置时与光学组件22之间的位置关系。图中显示组件21位于第一位置时，光学组件的焦点落在显示组件21上，显示组件21位于第二位置时，光学组件的焦点落在显示组件21之前的空间。显示组件21从第一位置移动至第二位置时，原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

实际应用中，除上述调节显示组件的位置实现位置关系的调整外，还可以通过调节光学组件的位置，或者同时调节二者的位置实现位置关系的调整，这里不再赘述。

本申请实施例中，调整装置除了响应控制指令之外，还可以响应调整输入，实现机械调节。调整输入可以是通过焦距调节旋钮输入的焦距调整指令，即通焦距调节旋钮实现手动焦距调节。

这里，调整装置除了实现本申请实施例中上述功能之外，调整装置，还能用于调整依据所述初始光线形成的所述出射光线，使得所述出射光线能让观看者感知所述显示内容。

也就是说，调整装置是电子设备原有的用于调节显示效果的装置，本申请实施例给出的电子设备可以复用原有的调整装置，无需增加额外的硬件单元便可实现本申请实施例所述的控制方法。

在另一种实施方式中，所述检测装置，用于获得第一检测数据；所述处理装置，用于如果所述第一检测数据满足第一条件，生成第一子指令；所述调整装置，用于响应所述第一子指令，以第一方式调整；其中，所述检测装置，用于再次获得第二检测数据；所述处理装置，用于如果所述第二检测数据相对于所述第一检测数据的变化趋势不满足远离所述第一条件，生成第二子指令；所述调整装置用于响应所述第二子指令，以与所述第一方式相反的第二方式调整。

这里，第一条件可以包括：检测数据的参数值大于参数阈值，和/或，参数值变化量大于变化量阈值。比如，检测数据可以为温度数据时，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。温度阈值可以是显示组件工作温度范围的上限值，比如40摄氏度，显示组件的最大温度值大于40摄氏度时第一条件满足。温度变化量阈值用来衡量温度变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大温度变化量，比如，1小时内允许的最大温度变化量为5摄氏度，若检测到显示组件的温度值在1小时内的温度变化量大于5摄氏度时第一条件满足。

第一方式可以为将光学组件从第一模式调整至第二模式，或将所述光学组件和所述显示组件的位置关系从第一位置关系调整至第二位置关系；第二方式可以为将光学组件从第二模式调整至第一模式，或将所述光学组件和所述显示组件的位置关系从第二位置关系调整至第一位置关系。这里，光学组件为第二焦距时焦点与显示组件的距离与为第一焦距时焦点与显示组件的距离大小不定。第二位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离与第一位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离大小不定。

也就是说，在第一检测数据满足第一条件时，生成第一子指令；响应第一子指令，改变光学组件的焦距，或者改变光学组件与显示组件之间的位置关系；在一定时间后，再次获取第二检测数据，基于第二检测数据判断之前的第一方式是否减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响，即第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势是否满足远离第一条件。这里，满足远离第一条件可以理解为，第一检测数据的参数值与参数阈值之差大于第二测量数据的参数值与参数阈值之差；第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势为从接近参数阈值到越来越小于参数阈值，即满足远离第一条件。不满足远离第一条件可以理解为，第一检测数据的参数值与参数阈值之差小于第二测量数据的参数值与参数阈值之差；第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势为越来越大于参数阈值，即不满足远离第一条件。

在第二检测数据相对于第一检测数据不满足远离第一条件时，生成第二子指令，响应第二子指令，第二方式调整。这里，第一方式与第二方式相反是指，若第一方式将焦距增大则第二方式将焦距缩小；若第一方式将焦距缩小则第二方式将焦距增大。若第一方式增大显示组件与光学组件之间的距离第二方式则减小；若第一方式减小显示组件与光学组件之间的距离第二方式则增大。

本发明实施例中，在无法确定调整方向时，通过判断第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势是否满足远离所述第一条件，能够确定当前调整方式是使焦点靠近显示组件，还是远离显示组件，若是靠近(即不满足远离第一条件)则表明当前调整方向与期望方向相反，通过生成第二子指令，能够实现调整方向的自动调整，或者提示用户进行手动调整。若是远离(即满足远离第一条件)则表明当前调整方向与期望方向相同。因此，在无法确定调整方向时，通过此方法可以准确检测当前调整方向是否与期望方向一致，避免调整错误。

或者，最终将光学组件和显示组件之间的相对位置调整到一个完全不可能聚焦的特定位置。比如，将所述光学组件移动至沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的光路之外，即将显示组件或光学组件沿垂直光路方向移动，比如，左右移动或上下移动。或者将所述光学组件的焦距调整到所述显示装置正常显示时所允许的焦距变化范围之外，显示装置正常显示时所允许光学组件的焦距变化范围是指，焦距在该范围之内变化时可以实现在不同模式下的对焦操作，若焦距在该范围之外则不可能实现对焦，即光学组件的焦点一定不会落在显示组件上，显示装置无法正常显示。

示例性，检测数据可以为温度值。比如，温度值为显示组件表面的温度值时，显示组件被划分成多个子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素或50*50像素等，子区域的划分粒度可以根据实际需求而定。将子区域中心位置温度作为该子区域的温度，在测量子区域的温度时，可以通过金属引线来传导子区域中心位置处的温度至温度传感器，温度传感器检测不同子区域的温度获得至少一个温度值，从至少一个温度值中确定显示组件的最高温度值。金属引线的位置在显示组件表面均匀分布或不均匀分布，均匀分布时可以是设置在每一个子区域中心位置处，不均匀分布时金属引线在焦点区域的分布密度大于非焦点区域的分布密度，由于焦点区域显示屏表面接收到的光照强度最大，最高温度值多出现焦点处，因此，将温度传感器设置在焦点附近可以提高温度值的检测效率。在检测多个金属引线所传导的温度时，可以是同时检测，或者以轮训的方式依次检测。这里，金属引线的设置方式不会遮挡显示组件，用户在观看时不会感知到金属引线的存在。

比如，温度值为电子设备显示组件附近的温度值，比如，环境光线的入射量越大电子设备显示组件附近亮度越大，温度传感器设置在靠近显示组件且处于入射光路以外的位置处，通过实验确定温度阈值，在非工作状态下若检测到的温度值小于温度阈值表明入射到电子设备内部的光照强度在允许的范围之内，否则入射到电子设备内部的光照强度超出允许的范围，环境光线的入射量过大，可能导致显示组件表面温度过高。

检测数据还可以为光照强度，比如，光照强度为显示组件表面的光照强度，在电子设备内部设置图像采集单元(如摄像头)，图像采集单元能够采集到显示组件中至少部分显示区域的图像，且处于入射光路以外的位置处。由于光照强度越强显示组件表面越亮，图像采集单元采集到显示组件的图像后，进行图像处理获取到不同子区域图像的灰度值，灰度值越大表明子区域的光照强度越强。图像的灰度值可以为子区域中心位置像素的灰度值，或者子区域中像素灰度值的平均值。

检测数据为电子设备显示组件附近的光照强度，在电子设备显示组件附近设置亮度传感器，环境光线的入射量越大电子设备显示组件附近亮度大，亮度传感器设置在靠近显示组件且处于入射光路以外的位置处。通过实验确定亮度阈值，在非工作状态下若检测到的亮度值小于亮度阈值表明入射到电子设备内部的光照强度在允许的范围之内，否则入射到电子设备内部的光照强度超出允许的范围，环境光线的入射量过大，可能导致显示组件表面光强过大。

相应的，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。温度阈值可以是显示组件工作温度范围的上限值，温度变化量阈值用来衡量温度变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大温度变化量。

或者，第一条件为光强大于光强阈值；和/或，光强变化量大于变化量阈值。光强阈值可以是显示组件所能承受的最大光强值，显示组件接收到的光强若大于光强阈值则影响显示效果。光强变化量阈值用来衡量光强变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大光强变化量。

场景2、

所述调整装置，具体用于在所述控制指令的控制下，改变沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的所述环境光线的入射量。

这里，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响实质上是减少环境光的入射量。

在一些实施例中，所述调整装置包括遮挡组件；所述遮挡组件设置在沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的光路中，具有第一状态和第二状态；其中，所述遮挡组件在第一状态下，所述环境光线的第一比例能入射到所述显示装置，所述遮挡组件在第二状态下，所述环境光线的第二比例能入射到所述显示装置，所述第一比例大于所述第二比例。

示例性的，在所述第一状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第一截面；在所述第二状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第二截面；其中，所述第一截面小于所述第二截面。

具体的，在第一状态，遮挡组件处于第一姿态；在第二状态，遮挡组件处于第二姿态。遮挡组件为可伸缩件时，第一姿态为折叠姿态或缠绕姿态，第二姿态为平铺姿态。具体的，折叠姿态可以形似百叶窗，由多个遮光片堆叠在一起，相应的平铺姿态为多个遮光片在同一平面依次连接；缠绕姿态可以形似字画卷轴的闭合状态，相应的平铺姿态为字画卷轴的展开状态。

图4为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图5，如图4所示，遮挡组件为遮挡板42，假设沿出射光线反向入射到显示装置41的光路为图4中实线向左的平行箭头所指示的光路，遮挡板42位于第一状态时，无第一截面(也可以理解为第一截面面积为0)，第一比例为100％，遮挡板42对入射光路没有任何阻挡，入射光进入光通道入口抵达显示装置41；遮挡板42位于虚线所示的第二状态时，第二截面可以为光通道入口的截面，第二比例为0％，遮挡板将光通道入口完全遮挡住，入射光无法抵达显示装置41。这里，是在未考虑到光散射情况时的一种示例性说明，并不是用于限定实际的遮挡比例，实际遮挡比例与上述实例相比有所偏差。

在一些实施例中，所述遮挡组件在所述第一状态，具有第一透光率；在所述第二状态，具有第二透光率；其中，所述第一透光率高于所述第二透光率。

这里，遮挡组件可以为透镜，这类透镜在环境光较弱时透光率较高，在环境光较强时透光率较低。比如，透光率可变的眼镜镜片，这类透镜在接收到较强环境光线时会自动改变透光率。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

场景3、

电子设备还可以包括：穿戴装置。所述穿戴装置，用于保持所述电子设备和所述观看者的相对位置关系，使得所述电子设备被所述观看者穿戴后，所述出射光线朝向所述观看者。

这里，所述检测装置，用于获得表征所述电子设备是否被穿戴的数据；所述处理装置，用于如果表征所述电子设备是否被穿戴的数据满足所述第一条件，则生成控制指令；调整装置，用于在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。其中，第一条件是用于表征电子设备被穿戴的条件。

也就是说，电子设备为可穿戴设备，比如，头盔式设备、眼镜式设备、手环设备等。

图5为本申请实施例中电子设备的组成结构示意图2，如图5所示，电子设备为虚拟现实设备，该虚拟现实设备包括：头戴件51、护眼罩52、镜头53、显示屏54、主板55、前盖56和遮光板57。其中，护眼罩52上开有光通道入口，遮光板57安装在头戴件51的上方，虚拟现实设备被穿戴(工作状态)时遮光板57处于张开姿态(第一姿态)，允许光线进入，虚拟现实设备未被穿戴(空闲状态)时，控制遮光板57处于闭合姿态，阻止光线进入。

这里，表征电子设备是否被穿戴的数据可以为状态指示信息，比如，状态指示信息为电子设备的开机状态指示或关机状态指示，第一条件为状态指示信息为电子设备的开机状态指示。电子设备在被穿戴时说明用户准备使用或者正在使用电子设备，因此可以用开机状态来表征电子设备被穿戴。电子设备未被穿戴时说明用户未使用电子设备，因此用关机状态来表征电子设备未被穿戴。

表征电子设备是否被穿戴的数据可以为压力传感器采集到的压力值，第一条件压力值大于压力阈值。压力传感器设置在电子设备上与用户接触位置处，用户在佩戴电子设备时，会向电子设备施加一定的压力，若压力传感器检测到的压力值大于压力阈值，表明电子设备处于被穿戴状态；若压力传感器检测到的压力值小于或远远小于压力阈值，表明电子设备处于未被穿戴状态。这里，以压力值为判断依据能够更准确的表明电子设备是否被佩戴。

在一些实施例中，所述检测装置，用于获得表征所述电子设备是否进入关机状态的数据；相应的，所述处理装置，用于如果表征所述电子设备是否进入关机状态的数据满足第一条件，则生成控制指令。这里，第一条件为检测数据为表征所述电子设备进入关机状态，比如，检测数据为关机指令。

也就是说，当电子设备在接收到关机指令时，可直接生成控制指令，以减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。此方法相较于检测佩戴状态来生成控制指令，检测方法检测准确，虽然存在用户不佩戴时但电子设备仍处于开机状态时，环境光线对显示装置的影响，但这种影响时短时间的可忽略的。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

场景4、

所述检测装置，与所述显示装置连接，用于获得所述显示装置的环境参数；所述处理装置，用于如果所述环境参数满足所述第一条件，则生成控制指令。

其中，所述环境参数为所述显示装置的温度参数或光照强度参数；所述处理装置，具体用于如果所述温度参数或光照强度参数满足所述第一条件，则生成控制指令。

具体的，环境参数为温度参数时，显示装置被划分成多个子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素，50*50像素等，子区域的划分粒度可以根据实际需求而定。将子区域中心位置温度作为该子区域的温度，在测量子区域的温度时，可以通过金属引线来传导子区域中心位置处的温度至温度传感器，温度传感器检测不同子区域的温度获得至少一个温度值，从至少一个温度值中确定显示装置的最高温度值。金属引线的位置在显示组件表面均匀分布或不均匀分布，均匀分布时可以是设置在每一个子区域中心位置处，不均匀分布时金属引线在焦点区域的分布密度大于非焦点区域的分布密度，由于焦点区域显示屏表面接收到的光照强度最大，最高温度值多出现焦点处，因此，将温度传感器设置在焦点附近可以提高温度值的检测效率。在检测多个金属引线所传导的温度时，可以是同时检测，或者以轮训的方式依次检测。这里，金属引线的设置方式不会遮挡显示组件，用户在观看时不会感知到金属引线的存在。

相应的，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。

具体的，环境参数为显示装置的光照强度参数时，显示装置同样被划分成多个子区域，通过光照传感器检测不同子区域中的光强。

相应的，第一条件为光强大于光强阈值；和/或，光强变化量大于变化量阈值。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

这里，检测显示装置的环境参数可以是检测显示组件的环境参数。

采用上述技术方案，通过对电子设备的状态进行检测获取检测数据，当电子设备处于第一条件所指示的状态时，控制调整装置工作，以减少环境光线对电子设备显示装置的影响。比如，减少显示装置由于环境光线照射所引起的温度升高问题。

实施例二

发明实施例中还提供了一种电子设备的控制方法，如图6所示，电子设备的控制方法具体包括：

步骤601：获得检测数据；

步骤602：依据检测数据确定第一条件是否满足，如果第一条件满足，生成控制指令；

步骤603：在控制指令的控制下，减少显示装置受到来自所述环境光线的影响。

其中，所述显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置。

这里，电子设备可以为包含显示装置的任何电子设备。处理装置还用于控制显示装置输出显示内容，显示装置可以包括液晶显示屏、发光二极管显示屏、有机发光二极管显示屏、电子墨水屏等任何一种显示屏幕。

上述步骤601至603可以由电子设备中的一个或多个器件来实现。比如，步骤601可以由电子设备中的检测装置来实现，步骤602可以由电子设备的处理装置来实现，步骤603可以由电子设备的调整装置来实现。

本实施例提供了多种具体处理场景，下面分别进行说明：

场景1、

显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，出射光线口径大于初始光线口径，显示组件很小时，光学组件(比如透镜组)能够改变显示组件的初始光线传播了路径，对显示组件上的显示内容可以形成放大的虚像，被用户感知，因此，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于反向的入射光线具有汇聚作用。

图2A为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图1，如图2A所示，显示装置包括：显示组件21和光学组件22，实线箭头为显示装置出射光方向，虚线箭头为显示装置入射光方向。显示装置工作时显示组件21和光学组件22之间的实线箭头相当于初始光线，初始光线经过光学组件22后光路被改变得到发散的出射光线，出射光线发散至电子设备的外部空间被用户感知。显示装置不工作时环境光线会沿着出射光线的反方向(即图中虚线箭头所指的方向)经过光学组件22汇聚到显示组件21。需要说明的是，图2A中仅示例性的给出一种出射光光路和入射光光路，以对显示装置的工作原理进行说明，并不是用来限定显示装置的实际光路。

这里，由于光学组件对环境光线的汇聚作用，环境光线经光学组件抵达显示组件时被汇聚到显示组件的部分区域，使部分区域的光照强度(也称“光照强度”)增大。因此需要降低这些区域的光照强度，来避免这些区域由于长时间光照强度过大导致温度过高，损害显示组件，从而出现发黄现象，影响再次使用的显示效果。

实际应用中，调整装置，具体用于在所述控制指令的控制下，改变所述显示装置的光学参数减少所述显示组件的单位区域光照强度差异。

这里，减少所述显示组件的单位区域光照强度差异实质上是降低单位区域上的最大光照强度。单位区域可以是将显示组件划分成的子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素或50*50像素等，单位区域的划分粒度可以根据实际需求而定。具体的，显示组件可以划分为多个子区域，将子区域内的平均光强作为该子区域的光强或者将子区域中心位置光强作为该子区域的光强，如果入射光线在显示组件上汇聚太厉害，就会出现某个子区域的光强和其他子区域的光强存在较大差别，如果通过改变焦距降低汇聚程度，那么原本光强较大的子区域和其他子区域的光强差肯定会降低，因此，也可以将光强差作为衡量调整效果的依据。

单位区域光照强度差异可以显示组件的最大光强与最小光强的差值，或者最大光强与整个显示组件的平均光强的差值。比如，将显示组件划分为4个子区域，调整装置在改变显示装置的光学参数之前，4子区域的光强分别为3、5、7、3，平均光强为4.5，最大光强和最小光强的差值为4，最大光强和平均光强的差值2.5。在改变显示装置的光学参数之后，4个子区域的光强分别为3、3、4、3，平均光强为3.25。最大光强和最小光强的差值为1，最大光强和平均光强的差值为0.75。很明显调整装置通过改变显示装置的光学参数，减小了显示组件的单位区域光照强度差异。

这里，光学参数可以为光学组件的焦距。在一种实施方式中，所述光学组件具有第一模式和第二模式，所述第一模式具有第一焦距，所述第二模式具有第二焦距，所述调整装置用于将所述光学组件从第一模式调整至第二模式。其中，光学组件为第二焦距时焦点与显示组件的距离大于第一焦距时焦点与显示组件的距离。

也就是说，通过改变光学组件的焦距使光学组件的焦点落在显示组件以外的空间，如显示组件之前或者之后的空间。在总的光照强度不变的情况下，焦距的改变将总的光照强度分散到更大的区域中，以减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2B为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图2，如图2B所示，光学组件22的焦距为L1时，焦点落在显示组件21上，可以理解为入射光线全部汇聚到焦点附近，光学组件22的焦距为L2(L2大于L1)时，焦点落在显示组件之后，原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2C为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图3，如图2C所示，光学组件22的焦距为L1时，焦点落在显示组件21上，可以理解为入射光线全部汇聚到焦点附近，光学组件22的焦距为L3(L3小于L1)时，焦点落在显示组件之前，同样原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

图2D为本申请实施例中显示组件上光线汇聚示意图，如图2D所示，当光学组件的焦距为L1时，在显示组件21上对应的光照区域为21a；当光学组件的焦距为L2时，在显示组件21上对应的光照区域为21b；当光学组件的焦距为L3时，在显示组件21上对应的光照区域为21c；其中，光照区域的颜色越深表示光照强度越大，在入射光线相同时，光照区域越大表明单位面积接收到的最大光强越小，因此在光照区域21c中平均光照强度小于光照区域21b，光照区域21b中平均光照强度小于光照区域21a。

实际应用中，调整显示装置焦距的方法还可以包括：在光学组件为单一光学器件时，通过改变光学器件的光学特性，比如凸透镜的厚度可调节，具体的凸透镜具有弹性侧壁和液体/气体填充物，通过控制弹性侧壁形变来改变焦距。比如，凸透镜侧壁为具有一定弹性形变能力的透明材料，凸透镜内部空间装有液体或气体，通过向凸透镜内部灌入液体或充入气体使凸透镜体积变大，如此来改变凸透镜的厚度、曲率半径、折射率等至少一项参数，增大凸透镜的焦距；或者从凸透镜内排除部分液体或气体使凸透镜体积变小，如此来改变凸透镜的厚度、曲率半径、折射率等至少一项参数，减小凸透镜的焦距。这里，折射率的改变与液体和气体自身的折射率也有关系。在光学组件内包含多个光学器件时，比如透镜组，调整透镜之间的位置关系，来改变焦距。

在另一种实施方式中，光学组件和显示组件具有第一位置关系和第二位置关系，调整装置用于将所述光学组件和显示组件的位置关系从第一位置关系调整至第二位置关系。其中，第二位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离大于第一位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离。

也就是说，还可以通过改变光学组件和显示组件的之间的位置关系，使光学组件的焦点落在显示组件以外的空间。

图3为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图4，如图3所示，第一位置关系为显示组件21位于第一位置时与光学组件22之间的位置关系，第二位置关系为显示组件21位于第二位置时与光学组件22之间的位置关系。图中显示组件21位于第一位置时，光学组件的焦点落在显示组件21上，显示组件21位于第二位置时，光学组件的焦点落在显示组件21之前的空间。显示组件21从第一位置移动至第二位置时，原本汇聚到焦点附近的入射光线，被分散到较大的区域中，减少单位面积中接收到的最大光照强度。

实际应用中，除上述调节显示组件的位置实现位置关系的调整外，还可以通过调节光学组件的位置，或者同时调节二者的位置实现位置关系的调整，这里不再赘述。

本申请实施例中，调整装置除了响应控制指令之外，还可以响应调整输入，实现机械调节。调整输入可以是通过焦距调节旋钮输入的焦距调整指令，即通焦距调节旋钮实现手动焦距调节。

这里，调整装置除了实现本申请实施例中上述功能之外，调整装置，还能用于调整依据所述初始光线形成的所述出射光线，使得所述出射光线能让观看者感知所述显示内容。

也就是说，调整装置是电子设备原有的用于调节显示效果的装置，本申请实施例给出的电子设备可以复用原有的调整装置，无需增加额外的硬件单元便可实现本申请实施例所述的控制方法。

图7A是通过实验再现的太阳光对显示屏的照射原理，使用放大镜代替显示装置的光学组件，放大镜与显示屏之间的距离为放大镜的焦距，使放大镜的焦点刚好落在显示屏上，太阳光经放大镜汇聚后在显示屏焦点处形成亮斑，亮斑区域的温度高于其他区域，长时间的照射会使亮斑区域出现发黄现象，影响显示效果。图7B中示出了受太阳光和其他环境光线长时间照射的影响在显示屏上出现的第一发黄现象，椭圆形区域中偏亮的斑点即为受影响区域。图7C中示出了受太阳光和其他环境光线长时间照射的影响在显示屏上出现的第二发黄现象，圆形区域中偏亮的斑点即为受影响区域。

在另一种实施方式中，电子设备的控制方法具体包括：

步骤701：获得第一检测数据；

步骤702：如果所述第一检测数据满足第一条件，生成第一子指令；

步骤703：响应所述第一子指令，以第一方式调整；返回步骤701获得第二检测数据；

实际应用中，基于第二检测数据执行步骤702时，如果所述第二检测数据相对于所述第一检测数据的变化趋势不满足远离所述第一条件，生成第二子指令；执行步骤703，响应所述第二子指令，以与所述第一方式相反的第二方式调整。如果所述第二检测数据相对于所述第一检测数据满足远离所述第一条件，继续以第一方式调整。

这里，第一条件可以包括：检测数据的参数值大于参数阈值，和/或，参数值变化量大于变化量阈值。比如，检测数据可以为温度数据时，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。温度阈值可以是显示组件工作温度范围的上限值，比如40摄氏度，显示组件的最大温度值大于40摄氏度时第一条件满足。温度变化量阈值用来衡量温度变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大温度变化量，比如，1小时内允许的最大温度变化量为5摄氏度，若检测到显示组件的温度值在1小时内的温度变化量大于5摄氏度时第一条件满足。

第一方式可以为将光学组件从第一模式调整至第二模式，或将所述光学组件和所述显示组件的位置关系从第一位置关系调整至第二位置关系；第二方式可以为将光学组件从第二模式调整至第一模式，或将所述光学组件和所述显示组件的位置关系从第二位置关系调整至第一位置关系。这里，光学组件为第二焦距时焦点与显示组件的距离与为第一焦距时焦点与显示组件的距离大小不定。第二位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离与第一位置关系中光学组件的焦点与显示组件的距离大小不定。

也就是说，在第一检测数据满足第一条件时，生成第一子指令；响应第一子指令，改变光学组件的焦距，或者改变光学组件与显示组件之间的位置关系；在一定时间后，再次获取第二检测数据，基于第二检测数据判断之前的第一方式是否减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响，即第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势是否满足远离第一条件。这里，满足远离第一条件可以理解为，第一检测数据的参数值与参数阈值之差大于第二测量数据的参数值与参数阈值之差；第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势为从接近参数阈值到越来越小于参数阈值，即满足远离第一条件。不满足远离第一条件可以理解为，第一检测数据的参数值与参数阈值之差小于第二测量数据的参数值与参数阈值之差；第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势为越来越大于参数阈值，即不满足远离第一条件。

在第二检测数据相对于第一检测数据不满足远离第一条件时，生成第二子指令，响应第二子指令，第二方式调整。这里，第一方式与第二方式相反是指，若第一方式将焦距增大则第二方式将焦距缩小；若第一方式将焦距缩小则第二方式将焦距增大。若第一方式增大显示组件与光学组件之间的距离第二方式则减小；若第一方式减小显示组件与光学组件之间的距离第二方式则增大。

本发明实施例中，在无法确定调整方向时，通过判断第二检测数据相对于第一检测数据的变化趋势是否满足远离所述第一条件，能够确定当前调整方式是使焦点靠近显示组件，还是远离显示组件，若是靠近(即不满足远离第一条件)则表明当前调整方向与期望方向相反，通过生成第二子指令，能够实现调整方向的自动调整，或者提示用户进行手动调整。若是远离(即满足远离第一条件)则表明当前调整方向与期望方向相同。因此，在无法确定调整方向时，通过此方法可以准确检测当前调整方向是否与期望方向一致，避免调整错误。

或者，最终将光学组件和显示组件之间的相对位置调整到一个完全不可能聚焦的特定位置。比如，将所述光学组件移动至沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的光路之外，即将显示组件或光学组件沿垂直光路方向移动，比如，左右移动或上下移动。或者将所述光学组件的焦距调整到所述显示装置正常显示时所允许的焦距变化范围之外，显示装置正常显示时所允许光学组件的焦距变化范围是指，焦距在该范围之内变化时可以实现在不同模式下的对焦操作，若焦距在该范围之外则不可能实现对焦，即光学组件的焦点一定不会落在显示组件上，显示装置无法正常显示。

示例性，检测数据可以为温度值。比如，温度值为显示组件表面的温度值时，显示组件被划分成多个子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素或50*50像素等，子区域的划分粒度可以根据实际需求而定。将子区域中心位置温度作为该子区域的温度，在测量子区域的温度时，可以通过金属引线来传导子区域中心位置处的温度至温度传感器，温度传感器检测不同子区域的温度获得至少一个温度值，从至少一个温度值中确定显示组件的最高温度值。金属引线的位置在显示组件表面均匀分布或不均匀分布，均匀分布时可以是设置在每一个子区域中心位置处，不均匀分布时金属引线在焦点区域的分布密度大于非焦点区域的分布密度，由于焦点区域显示屏表面接收到的光照强度最大，最高温度值多出现焦点处，因此，将温度传感器设置在焦点附近可以提高温度值的检测效率。在检测多个金属引线所传导的温度时，可以是同时检测，或者以轮训的方式依次检测。这里，金属引线的设置方式不会遮挡显示组件，用户在观看时不会感知到金属引线的存在。

比如，温度值为电子设备显示组件附近的温度值，比如，环境光线的入射量越大电子设备显示组件附近亮度越大，温度传感器设置在靠近显示组件且处于入射光路以外的位置处，通过实验确定温度阈值，在非工作状态下若检测到的温度值小于温度阈值表明入射到电子设备内部的光照强度在允许的范围之内，否则入射到电子设备内部的光照强度超出允许的范围，环境光线的入射量过大，可能导致显示组件表面温度过高。

检测数据还可以为光照强度，比如，光照强度为显示组件表面的光照强度，在电子设备内部设置图像采集单元(如摄像头)，图像采集单元能够采集到显示组件中至少部分显示区域的图像，且处于入射光路以外的位置处。由于光照强度越强显示组件表面越亮，图像采集单元采集到显示组件的图像后，进行图像处理获取到不同子区域图像的灰度值，灰度值越大表明子区域的光照强度越强。图像的灰度值可以为子区域中心位置像素的灰度值，或者子区域中像素灰度值的平均值。

检测数据为电子设备显示组件附近的光照强度，在电子设备显示组件附近设置亮度传感器，环境光线的入射量越大电子设备显示组件附近亮度大，亮度传感器设置在靠近显示组件且处于入射光路以外的位置处。通过实验确定亮度阈值，在非工作状态下若检测到的亮度值小于亮度阈值表明入射到电子设备内部的光照强度在允许的范围之内，否则入射到电子设备内部的光照强度超出允许的范围，环境光线的入射量过大，可能导致显示组件表面光强过大。

相应的，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。温度阈值可以是显示组件工作温度范围的上限值，温度变化量阈值用来衡量温度变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大温度变化量。

或者，第一条件为光强大于光强阈值；和/或，光强变化量大于变化量阈值。光强阈值可以是显示组件所能承受的最大光强值，显示组件接收到的光强若大于光强阈值则影响显示效果。光强变化量阈值用来衡量光强变化快慢，可以是在单位时间内允许的最大光强变化量。

场景2、

所述调整装置，具体用于在所述控制指令的控制下，改变沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的所述环境光线的入射量。

这里，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响实质上是减少环境光的入射量。

在一些实施例中，所述调整装置包括遮挡组件；所述遮挡组件设置在沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的光路中，具有第一状态和第二状态；其中，所述遮挡组件在第一状态下，所述环境光线的第一比例能入射到所述显示装置，所述遮挡组件在第二状态下，所述环境光线的第二比例能入射到所述显示装置，所述第一比例大于所述第二比例。

示例性的，在所述第一状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第一截面；在所述第二状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第二截面；其中，所述第一截面小于所述第二截面。

具体的，在第一状态，遮挡组件处于第一姿态；在第二状态，遮挡组件处于第二姿态。遮挡组件为可伸缩件时，第一姿态为折叠姿态或缠绕姿态，第二姿态为平铺姿态。具体的，折叠姿态可以形似百叶窗，由多个遮光片堆叠在一起，相应的平铺姿态为多个遮光片在同一平面依次连接；缠绕姿态可以形似字画卷轴的闭合状态，相应的平铺姿态为字画卷轴的展开状态。

图4为本申请实施例中显示装置的组成结构示意图5，如图4所示，遮挡组件为遮挡板42，假设沿出射光线反向入射到显示装置41的光路为图4中实线向左的平行箭头所指示的光路，遮挡板42位于第一状态时，无第一截面(也可以理解为第一截面面积为0)，第一比例为100％，遮挡板42对入射光路没有任何阻挡，入射光进入光通道入口抵达显示装置41；遮挡板42位于虚线所示的第二状态时，第二截面可以为光通道入口的截面，第二比例为0％，遮挡板将光通道入口完全遮挡住，入射光无法抵达显示装置41。这里，是在未考虑到光散射情况时的一种示例性说明，并不是用于限定实际的遮挡比例，实际遮挡比例与上述实例相比有所偏差。

在一些实施例中，所述遮挡组件在所述第一状态，具有第一透光率；在所述第二状态，具有第二透光率；其中，所述第一透光率高于所述第二透光率。

这里，遮挡组件可以为透镜，这类透镜在环境光较弱时透光率较高，在环境光较强时透光率较低。比如，透光率可变的眼镜镜片，这类透镜在接收到较强环境光线时会自动改变透光率。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

场景3、

电子设备还可以包括：穿戴装置。所述穿戴装置，用于保持所述电子设备和所述观看者的相对位置关系，使得所述电子设备被所述观看者穿戴后，所述出射光线朝向所述观看者。

这里，步骤601具体包括：获得表征所述电子设备是否被穿戴的数据；步骤602具体包括：如果表征所述电子设备是否被穿戴的数据满足所述第一条件，则生成控制指令；步骤603具体包括：在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。其中，第一条件是用于表征电子设备被穿戴的条件。

也就是说，电子设备为可穿戴设备，比如，头盔式设备、眼镜式设备、手环设备等。

图5为本申请实施例中电子设备的组成结构示意图2，如图5所示，电子设备为虚拟现实设备，该虚拟现实设备包括：头戴件51、护眼罩52、镜头53、显示屏54、主板55、前盖56和遮光板57。其中，护眼罩52上开有光通道入口，遮光板57安装在头戴件51的上方，虚拟现实设备被穿戴(工作状态)时遮光板57处于张开姿态(第一姿态)，允许光线进入，虚拟现实设备未被穿戴(空闲状态)时，控制遮光板57处于闭合姿态，阻止光线进入。

这里，表征电子设备是否被穿戴的数据可以为状态指示信息，比如，状态指示信息为电子设备的开机状态指示或关机状态指示，第一条件为状态指示信息为电子设备的开机状态指示。电子设备在被穿戴时说明用户准备使用或者正在使用电子设备，因此可以用开机状态来表征电子设备被穿戴。电子设备未被穿戴时说明用户未使用电子设备，因此用关机状态来表征电子设备未被穿戴。

表征电子设备是否被穿戴的数据可以为压力传感器采集到的压力值，第一条件压力值大于压力阈值。压力传感器设置在电子设备上与用户接触位置处，用户在佩戴电子设备时，会向电子设备施加一定的压力，若压力传感器检测到的压力值大于压力阈值，表明电子设备处于被穿戴状态；若压力传感器检测到的压力值小于或远远小于压力阈值，表明电子设备处于未被穿戴状态。这里，以压力值为判断依据能够更准确的表明电子设备是否被佩戴。

在一些实施例中，步骤601具体包括：获得表征所述电子设备是否进入关机状态的数据；相应的，步骤602具体包括：如果表征所述电子设备是否进入关机状态的数据满足第一条件，则生成控制指令。这里，第一条件为检测数据为表征所述电子设备进入关机状态，比如，检测数据为关机指令。

也就是说，当电子设备在接收到关机指令时，可直接生成控制指令，以减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。此方法相较于检测佩戴状态来生成控制指令，检测方法检测准确，虽然存在用户不佩戴时但电子设备仍处于开机状态时，环境光线对显示装置的影响，但这种影响时短时间的可忽略的。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

场景4、

步骤601具体包括：获得所述显示装置的环境参数；步骤602具体包括：如果所述环境参数满足所述第一条件，则生成控制指令。

其中，所述环境参数为所述显示装置的温度参数或光照强度参数；步骤602具体包括：如果所述温度参数或光照强度参数满足所述第一条件，则生成控制指令。

具体的，环境参数为温度参数时，显示装置被划分成多个子区域，例如，子区域的尺寸可以为10*10像素，20*20像素，50*50像素等，子区域的划分粒度可以根据实际需求而定。将子区域中心位置温度作为该子区域的温度，在测量子区域的温度时，可以通过金属引线来传导子区域中心位置处的温度至温度传感器，温度传感器检测不同子区域的温度获得至少一个温度值，从至少一个温度值中确定显示装置的最高温度值。金属引线的位置在显示组件表面均匀分布或不均匀分布，均匀分布时可以是设置在每一个子区域中心位置处，不均匀分布时金属引线在焦点区域的分布密度大于非焦点区域的分布密度，由于焦点区域显示屏表面接收到的光照强度最大，最高温度值多出现焦点处，因此，将温度传感器设置在焦点附近可以提高温度值的检测效率。在检测多个金属引线所传导的温度时，可以是同时检测，或者以轮训的方式依次检测。这里，金属引线的设置方式不会遮挡显示组件，用户在观看时不会感知到金属引线的存在。

相应的，第一条件为温度值大于温度阈值；和/或，温度值变化量大于变化量阈值。

具体的，环境参数为显示装置的光照强度参数时，显示装置同样被划分成多个子区域，通过光照传感器检测不同子区域中的光强。

相应的，第一条件为光强大于光强阈值；和/或，光强变化量大于变化量阈值。

在一些实施例中，显示装置具体可以包括：显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。这里，初始光线口径大于出射光线口径，光学组件对于初始光线具有发散作用，对于入射光线具有汇聚作用。

这里，检测显示装置的环境参数可以是检测显示组件的环境参数。

采用上述技术方案，通过对电子设备的状态进行检测获取检测数据，当电子设备处于第一条件所指示的状态时，控制改变电子设备某些组件的状态，以减少环境光线对电子设备显示装置的影响。比如，减少显示装置由于环境光线照射所引起的温度升高问题。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，例如包括计算机程序的存储器，上述计算机程序可由终端的处理器执行，以完成前述一个或者更多个实施例中的方法步骤。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程示意图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程示意图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程示意图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程示意图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

以上，仅为本申请的较佳实施例而已，并非用于限定本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种电子设备，包括：

显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容的出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置；

检测装置，用于获得检测数据；

处理装置，至少用于依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；

调整装置，用于在所述控制指令的控制下，减少所述显示装置受到来自所述环境光线的影响。

2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述显示装置包括：

显示组件，用于输出对应显示内容的初始光线；

光学组件，位于所述初始光线的照射范围内，用于形成所述出射光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能通过所述光学组件入射到所述显示组件。

3.根据权利要求2所述的电子设备，其中，

所述调整装置，用于在所述控制指令的控制下，改变所述显示装置的光学参数减少所述显示组件的单位区域光照强度差异。

4.根据权利要求3所述的电子设备，其中，

所述光学组件具有第一模式和第二模式，所述第一模式具有第一焦距，所述第二模式具有第二焦距，所述调整装置用于将所述光学组件从第一模式调整至第二模式；或

所述光学组件和所述显示组件具有第一位置关系和第二位置关系，所述调整装置用于将所述光学组件和所述显示组件的位置关系从第一位置关系调整至第二位置关系。

5.根据权利要求3所述的电子设备，其中，

所述检测装置，用于获得第一检测数据；

所述处理装置，用于如果所述第一检测数据满足第一条件，生成第一子指令；

所述调整装置，用于响应所述第一子指令，以第一方式调整；

其中，所述检测装置，用于再次获得第二检测数据；所述处理装置，用于如果所述第二检测数据相对于所述第一检测数据的变化趋势不满足远离所述第一条件，生成第二子指令；所述调整装置用于响应所述第二子指令，以与所述第一方式相反的第二方式调整。

6.根据权利要求1所述的电子设备，其中，

所述调整装置，具体用于在所述控制指令的控制下，改变沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的所述环境光线的入射量。

7.根据权利要求6所述的电子设备，其中，

所述调整装置包括遮挡组件；所述遮挡组件设置在沿所述出射光线的反向入射到所述显示装置的光路中，具有第一状态和第二状态；其中，所述遮挡组件在第一状态下，所述环境光线的第一比例能入射到所述显示装置，所述遮挡组件在第二状态下，所述环境光线的第二比例能入射到所述显示装置，所述第一比例大于所述第二比例；

其中，

在所述第一状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第一截面；在所述第二状态，所述遮挡组件在所述光路中对应第二截面；其中，所述第一截面小于所述第二截面；或

所述遮挡组件在所述第一状态，具有第一透光率；在所述第二状态，具有第二透光率；其中，所述第一透光率高于所述第二透光率。

8.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述电子设备还包括：穿戴装置；

所述穿戴装置，用于保持所述电子设备和所述观看者的相对位置关系，使得所述电子设备被所述观看者穿戴后，所述出射光线朝向所述观看者；

所述检测装置，用于获得表征所述电子设备是否被穿戴的数据；

所述处理装置，用于如果表征所述电子设备是否被穿戴的数据满足所述第一条件，则生成控制指令。

9.根据权利要求1所述的电子设备，其中，

所述检测装置，与所述显示装置连接，用于获得所述显示装置的环境参数；

所述处理装置，用于如果所述环境参数满足所述第一条件，则生成控制指令；

其中，所述环境参数为所述显示装置的温度参数或光照强度参数；所述处理装置，具体用于如果所述温度参数或光照强度参数满足所述第一条件，则生成控制指令。

10.一种电子设备的控制方法，所述方法包括：

获得检测数据；

依据所述检测数据确定第一条件是否满足，如果所述第一条件满足，生成控制指令；

在所述控制指令的控制下，减少显示装置受到来自所述环境光线的影响；

其中，所述显示装置，用于依据显示信号输出对应显示内容出射光线，其中，所述出射光线是能用于让观看者感知所述显示内容的光线；其中，沿所述出射光线的反向，所述电子设备外的环境光线能入射到所述显示装置。