CN109737888B - 一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，本发明采用锥形光纤产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，在参考光路和测试光路分别使用旋转对称光栅、动态反射镜定量的补偿光学自由曲面中的像差成分，实现自由曲面的零位测量，通过解调干涉图得到自由曲面的面形误差。

Description

一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统

技术领域

本发明属于光学测量技术领域，特别是一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统。

背景技术

光学自由曲面是指不具有旋转对称性的、不规则的光学曲面。在1954年，美国的Luis W.Alvarez将光学自由曲面应用到医学中的眼科变焦镜头(Alvarez,Luis W."Two-element variable-power spherical lens."U.S.Patent No.3,305,294.21Feb.1967.)，这是光学自由曲面首次在成像光学系统中的应用。随着国防技术、航空航天、空间遥感等技术的飞速发展，光学自由曲面作为其中的关键部件，受到越来越多的关注。

相比于传统的球面、非球面光学元件，光学自由曲面具有更多的优点。在光学成像领域，光学自由曲面可以减小成像系统的像差，成像质量得到大幅度的提高；大大缩减了系统的光路结构，使光学系统布局更加灵活轻便。

光学自由曲面越来越多的应用对精度也提出了很高的要求。当前，测量光学自由曲面精度的方法有很多。干涉测量方法是检测光学自由曲面一种比较常用的方法。其中，干涉检测方法又分为零位检测法和非零位检测法。零位检测法是在光路中设计可以补偿自由曲面法线像差的补偿器，经过补偿器的补偿后，可以得到理想形状的波前。例如CGH(计算全息组)，1971年，CGH首次应用于非球面的检测(MacGovern,Alan J.,and James C.Wyant."Computer generated holograms for testing optical elements."Applied optics10.3(1971):619-624.)。理想波前经过CGH透过后，传播到被测面形成和被测面面型一致的波前，经被测面反射后原路返回；零位检测精度较高，但是需要设计专门的补偿器。非零位检测法不采用零位条件，被测量面的形状和参考面不是完全一致的，测试光经被测自由曲面反射后不能按照原光路返回，导致理论值和真实值存在偏差，产生回程误差。非零位检测比较灵活，但是具有一定的误差。

中国专利文献CN108592820A公开了一种基于动态波前调制结合计算全息片的干涉面形检测方法，用于解决大梯度变化的光学自由曲面元件面形高精度检测的问题。本发明将待测光学自由曲面元件的面形分为两部分：非球面面形和剩余自由曲面面形。其中非球面面形通过在测试光路中放置的CGH生成一个旋转对称非球面波前，补偿该待测自由曲面元件的非球面变化部分。而剩余自由曲面面形通过在参考光路中放置的纯相位型反射式空间光调制器动态调制补偿。但是，该专利只能检测同一非球面基底的光学自由曲面，检测动态范围有限；该专利采用传统的泰曼格林干涉检测装置，无法实现大数值孔径光学自由曲面面形的高精度测量；该专利利用传统的球面透镜组产生球面光，测量精度不高。

针对大数值孔径的光学自由曲面，目前还没有一种具体的检测方法。

发明内容

针对现有光学自由曲面干涉检测技术的不足，为了测量大数值孔径光学自由曲面，本发明提供了一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统；

本发明采用锥形光纤产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，在参考光路和测试光路分别使用旋转对称光栅、动态反射镜定量的补偿光学自由曲面中的像差成分，实现自由曲面的零位测量，通过解调干涉图得到自由曲面的面形误差。

本发明的技术方案为：

一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，包括激光器、第一半波片、第二半波片、四分之一波片、第三半波片、第一偏振分光镜、反射镜、PZT移相器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第一光纤、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、第一离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器；

激光器、第一半波片、第一偏振分光镜、四分之一波片、反射镜、PZT移相器依次设置；

激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第三半波片、第二光纤耦合器、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、CGH、第一离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器，构成测试光路；

激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第二半波片、第一光纤耦合器、第一光纤、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第二离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器，构成参考光路；

激光器发出的线偏振光先经过第一半波片，然后经过第一偏振分光镜分成S光和P光；

S光经过第一偏振分光镜反射，经过第三半波片，通过第三半波片的旋转角度调节光的偏振方向，再经过第二光纤耦合器进入第二光纤，衍射出标准的球面光，球面光作为测试光，测试光经第一分光镜反射后，经过CGH生成像散波，像散波经过待测自由曲面反射后，再次经过CGH，测试波经过第一离轴抛物面反射镜准直后入射到第二偏振分光镜，入射到成像透镜组；

P光经第一偏振分光镜透射，经过四分之一波片，到达由PZT移相器驱动的反射镜返回，再次经过四分之一波片，到达第一偏振分光镜反射出的光为S光，再经过第二半波片后，由第一光纤耦合器耦合进入第一光纤，衍射光波作为参考光；通过第二半波片的旋转角度调节参考光的偏振方向，使参考光和测试光的偏振方向一致；参考光经第二分光镜反射后，经第二离轴抛物面反射镜准直，准直光入射到变形镜，变形镜由很多驱动单元组合而成，每个驱动单元都有自己的控制器，在外加电压控制下，变形镜产生形变补偿待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分。经变形镜反射后，携带待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分，参考光再次经过第二离轴抛物面反射镜、经第三离轴抛物面反射镜反射后，入射到第二偏振分光镜，与测试光合束后进入成像透镜组，参考光与测试光发生干涉，被CCD探测器接收，通过解调干涉图得到被测自由曲面的面形误差。

使用PZT移相器驱动反射镜，通过改变光纤之间的光程差，来实现移相。在测试光路中加入对称分布的计算全息组，通过动态像散计算全息组补偿被测自由曲面面形中的像散。在参考波前中，通过变形镜补偿被测自由曲面面形中的其他像差成分。

根据本发明优选的，所述激光器为偏振氦氖激光器。

根据本发明优选的，所述第一光纤与所述第二光纤均为锥形光纤。

零位干涉检测系统采用双光纤点衍射装置，使用锥形光纤作为点衍射源，可以产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，提高点衍射干涉检测系统的可测量的数值孔径。

根据本发明优选的，在测试波前中，通过将被测件放置在其最佳拟合球面的位置补偿待测自由曲面的光焦度。

根据本发明优选的，最佳拟合球面的位置的求取过程如下：

非球面方程如式(Ⅰ)所示：

式(Ⅰ)中，c为顶点曲率，K为二次曲线常数，最佳拟合球面球心(0,a)，半径为R；原点为非球面顶点，x为垂直非球面光轴方向的径向偏移量，z轴为非球面旋转对称轴，z为矢高；

建立参数X＝(R,a)的最大非球面函数如式(Ⅱ)所示：

式(Ⅱ)中，δ_max表示最大非球面度，abs[]表示取绝对值；

通过求解最小值δ_max的非线性优化问题，得到最佳拟合球面的位置：

minf(X)＝min{δ_max(X)} (Ⅲ)

式(Ⅲ)中，X＝(R,a)，f(X)表示目标函数。

上述大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统的运行方法，包括步骤如下：

(1)将待测自由曲面固定在五维调整架上，通过调整待测自由曲面的俯仰、倾斜和平移，使其放置在最佳拟合球面的位置；

(2)根据待测自由曲面的面形信息，计算出其面形信息中的像散分量，求解出对应CGH的旋转角度，通过调节CGH的旋转角度，定量的补偿待测自由曲面的像散成分；

(3)根据待测自由曲面的面形信息，计算出其面形信息中的剩余高阶像差分量，通过控制驱动器，使变形镜产生形变，定量的补偿待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分；

(4)使用PZT移相器驱动反射镜移动实现移相，用CCD探测器拍摄干涉图序列，通过标准的空间移相算法解调干涉图，最终得到被测自由曲面的面形误差。

本发明的有益效果为：

与现有技术相比，本发明采用锥形光纤产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，在参考光路和测试光路分别使用旋转对称光栅、动态反射镜定量的补偿光学自由曲面中的像差成分，实现自由曲面的零位测量，通过解调干涉图得到自由曲面的面形误差。可以实现对光学自由曲面不确定度达到λ/20(PV值)。本发明利用锥形光纤产生标准的球面光，提高了测量精度；

附图说明

图1为本发明一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统示意图。

1、激光器；2、第一半波片；3、第二半波片；4、四分之一波片；5、第三半波片；6、第一偏振分光镜；7、反射镜；8、PZT移相器；9、第一光纤耦合器；10、第二光纤耦合器；11、第一光纤；12、第二光纤；13、第一分光镜；14、CGH；15、待测自由曲面；16、第一离轴抛物面反射镜；17、第二分光镜；18、第二离轴抛物面反射镜；19、变形镜；20、第三离轴抛物面反射镜；21、第二偏振分光镜；22、成像透镜组；23、CCD探测器。

具体实施方式

下面结合说明书附图和实施例对本发明作进一步限定，但不限于此。

实施例1

一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，如图1所示，包括激光器1、第一半波片2、第二半波片3、四分之一波片4、第三半波片5、第一偏振分光镜6、反射镜7、PZT移相器8、第一光纤耦合器9、第二光纤耦合器10、第一光纤11、第二光纤12、第一分光镜13、CGH14、待测自由曲面15、第一离轴抛物面反射镜16、第二分光镜17、第二离轴抛物面反射镜18、变形镜19、第三离轴抛物面反射镜20、第二偏振分光镜21、成像透镜组22、CCD探测器23；

激光器1、第一半波片2、第一偏振分光镜6、四分之一波片4、反射镜7、PZT移相器8依次设置；

激光器1发出的线偏振光依次经过第一半波片2、第一偏振分光镜6、第三半波片5、第二光纤耦合器10、第二光纤12、第一分光镜13、CGH 14、待测自由曲面15、CGH 14、第一离轴抛物面反射镜15、第二偏振分光镜21、成像透镜组22、CCD探测器23，构成测试光路；

激光器1发出的线偏振光依次经过第一半波片2、第一偏振分光镜6、第二半波片3、第一光纤耦合器10、第一光纤11、第二分光镜17、第二离轴抛物面反射镜18、变形镜19、第二离轴抛物面反射镜18、第二分光镜17、第三离轴抛物面反射镜20、第二偏振分光镜21、成像透镜组22、CCD探测器23，构成参考光路；

激光器1发出的线偏振光先经过第一半波片2，然后经过第一偏振分光镜6分成S光和P光；

S光经过第一偏振分光镜6反射，经过第三半波片5，通过第三半波片5的旋转角度调节光的偏振方向，再经过第二光纤耦合器10进入第二光纤，衍射出标准的球面光，球面光作为测试光，测试光经第一分光镜13反射后，经过CGH 14生成像散波，像散波经过待测自由曲面15反射后，再次经过CGH 14，测试波经过第一离轴抛物面反射镜16准直后入射到第二偏振分光镜21，入射到成像透镜组22；

P光经第一偏振分光镜6透射，经过四分之一波片4，到达由PZT移相器8驱动的反射镜7返回，再次经过四分之一波片4，到达第一偏振分光镜6反射出的光为S光，再经过第二半波片3后，由第一光纤耦合器9耦合进入第二光纤12，衍射光波作为参考光；通过第二半波片的旋转角度调节参考光的偏振方向，使参考光和测试光的偏振方向一致；参考光经第二分光镜17反射后，经第二离轴抛物面反射镜18准直，准直光入射到变形镜19，变形镜19由很多驱动单元组合而成，每个驱动单元都有自己的控制器，在外加电压控制下，变形镜19产生形变补偿待测自由曲面15面形中的剩余高阶像差成分。经变形镜19反射后，携带待测自由曲面15面形中的剩余高阶像差成分，参考光再次经过第二离轴抛物面反射镜18、经第三离轴抛物面反射镜20反射后，入射到第二偏振分光镜21，与测试光合束后进入成像透镜组22，参考光与测试光发生干涉，被CCD探测器23接收，通过解调干涉图得到被测自由曲面15的面形误差。

使用PZT移相器8驱动反射镜7，通过改变光纤之间的光程差，来实现移相。在测试光路中加入对称分布的计算全息组，通过动态像散计算全息组补偿被测自由曲面15面形中的像散。在参考波前中，通过变形镜19补偿被测自由曲面15面形中的其他像差成分。

实施例2

根据实施例1所述的一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其区别在于，激光器1为偏振氦氖激光器。

第一光纤11与第二光纤12均为锥形光纤。

零位干涉检测系统采用双光纤点衍射装置，使用锥形光纤作为点衍射源，可以产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，提高点衍射干涉检测系统的可测量的数值孔径。

在测试波前中，通过将被测件放置在其最佳拟合球面的位置补偿待测自由曲面15的光焦度。

最佳拟合球面的位置的求取过程如下：

非球面方程如式(Ⅰ)所示：

式(Ⅰ)中，c为顶点曲率，K为二次曲线常数，最佳拟合球面球心(0,a)，半径为R；原点为非球面顶点，x为垂直非球面光轴方向的径向偏移量，z轴为非球面旋转对称轴，z为矢高；

建立参数X＝(R,a)的最大非球面函数如式(Ⅱ)所示：

式(Ⅱ)中，δ_max表示最大非球面度，abs[]表示取绝对值；

通过求解最小值δ_max的非线性优化问题，得到最佳拟合球面的位置：

minf(X)＝min{δ_max(X)} (Ⅲ)

式(Ⅲ)中，X＝(R,a)，f(X)表示目标函数。

实施例1或2大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统的运行方法，包括步骤如下：

(1)将待测自由曲面固定在五维调整架上，通过调整待测自由曲面的俯仰、倾斜和平移，使其放置在最佳拟合球面的位置；

(2)根据待测自由曲面的面形信息，计算出其面形信息中的像散分量，求解出对应CGH的旋转角度，通过调节CGH的旋转角度，定量的补偿待测自由曲面的像散成分；

(3)根据待测自由曲面的面形信息，计算出其面形信息中的剩余高阶像差分量，通过控制驱动器，使变形镜产生形变，定量的补偿待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分；

(4)使用PZT移相器驱动反射镜移动实现移相，用CCD探测器拍摄干涉图序列，通过标准的空间移相算法解调干涉图，最终得到被测自由曲面的面形误差。

与现有技术相比，本发明采用锥形光纤产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前，在参考光路和测试光路分别使用旋转对称光栅、动态反射镜定量的补偿光学自由曲面中的像差成分，实现自由曲面的零位测量，通过解调干涉图得到自由曲面的面形误差。可以实现对光学自由曲面不确定度达到λ/20(PV值)。本发明利用锥形光纤产生标准的球面光，提高测量精度；与现有技术相比，本发明在数值孔径、测量精度、通用性及对高阶像差的检测范围的方面的数据如表1所示。

表1

Claims (5)

1.一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其特征在于，包括激光器、第一半波片、第二半波片、四分之一波片、第三半波片、第一偏振分光镜、反射镜、PZT移相器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第一光纤、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、第一离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器；

激光器、第一半波片、第一偏振分光镜、四分之一波片、反射镜、PZT移相器依次设置；

激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第三半波片、第二光纤耦合器、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、CGH、第一离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器，构成测试光路；

激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第二半波片、第一光纤耦合器、第一光纤、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第二离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器，构成参考光路；

激光器发出的线偏振光先经过第一半波片，然后经过第一偏振分光镜分成S光和P光；

S光经过第一偏振分光镜反射，经过第三半波片，通过第三半波片的旋转角度调节光的偏振方向，再经过第二光纤耦合器进入第二光纤，衍射出标准的球面光，球面光作为测试光，测试光经第一分光镜反射后，经过CGH生成像散波，像散波经过待测自由曲面反射后，再次经过CGH，测试波经过第一离轴抛物面反射镜准直后入射到第二偏振分光镜，入射到成像透镜组；

P光经第一偏振分光镜透射，经过四分之一波片，到达由PZT移相器驱动的反射镜返回，再次经过四分之一波片，到达第一偏振分光镜反射出的光为S光，再经过第二半波片后，由第一光纤耦合器耦合进入第一光纤，衍射光波作为参考光；参考光经第二分光镜反射后，经第二离轴抛物面反射镜准直，准直光入射到变形镜，经变形镜反射后，携带待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分，参考光再次经过第二离轴抛物面反射镜、经第三离轴抛物面反射镜反射后，入射到第二偏振分光镜，与测试光合束后进入成像透镜组，参考光与测试光发生干涉，被CCD探测器接收，通过解调干涉图得到被测自由曲面的面形误差。

2.根据权利要求1所述的一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其特征在于，所述激光器为偏振氦氖激光器。

3.根据权利要求1所述的一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其特征在于，所述第一光纤与所述第二光纤均为锥形光纤。

4.根据权利要求1所述的一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其特征在于，在测试波前中，通过将被测件放置在其最佳拟合球面的位置补偿待测自由曲面的光焦度。

5.根据权利要求1所述的一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统，其特征在于，最佳拟合球面的位置的求取过程如下：

非球面方程如式(Ⅰ)所示：

式(Ⅰ)中，c为顶点曲率，K为二次曲线常数，最佳拟合球面球心(0,a)，半径为R；原点为非球面顶点，x为垂直非球面光轴方向的径向偏移量，z轴为非球面旋转对称轴，z为矢高；

建立参数X＝(R,a)的最大非球面函数如式(Ⅱ)所示：

式(Ⅱ)中，δ_max表示最大非球面度，abs[]表示取绝对值；

通过求解最小值δ_max的非线性优化问题，得到最佳拟合球面的位置：

min f(X)＝min{δ_max(X)} (Ⅲ)

式(Ⅲ)中，X＝(R,a)，f(X)表示目标函数。

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