CN109731856A - 一种led支架等离子清洗工序的检测系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及等离子清洗物料的技术领域,具体公开了料盒,用于固定至少两个LED支架,以使所述至少两个LED支架同时置于等离子清洗机中进行等离子清洗;清洗感应装置,固定于所述料盒上,用于在所述至少两个LED支架进行等离子清洗工序时充电;电压检测装置,与所述清洗感应装置电连接,用于根据所述清洗感应装置的储蓄电压输出所述至少两个LED支架的清洗状态信号。本发明通过设置清洗感应装置和电压检测装置,实现批量的LED支架等离子清洗检测,操作方便,成本低,具有非常强的实用性。
Description
技术领域
本发明涉及等离子清洗物料的技术领域,特别涉及一种LED支架等离子清洗工序的检测系统
背景技术
目前,在LED灯珠的封装工序中,通常采用等离子清洗的方式对LED支架进行清洗,以保证产品品质,其清洗过程是:等离子清洗机将其腔体内的气体激发成等离子体,通过等离子体轰击LED支架的表面,以达到清洗的目的。然而,由于清洗后的LED支架表观上不会有明显的变化,因而需要对LED支架是否完成清洗进行检测。
现有技术通常采用水滴角测量仪来检测LED支架是否清洗干净,但是,在检测的过程中需要对LED支架逐个进行检测,其检测效率低。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明提供一种LED支架等离子清洗工序的检测系统,该装置能批量检测LED支架。
为了达到上述目的,本发明采用以下技术方案:
一种LED支架等离子清洗工序的检测系统,包括:料盒,用于固定至少两个LED支架,以使所述至少两个LED支架同时置于等离子清洗机中进行等离子清洗;清洗感应装置,固定于所述料盒上,用于在所述至少两个LED支架进行等离子清洗工序时充电;电压检测装置,与所述清洗感应装置电连接,用于根据所述清洗感应装置的储蓄电压输出所述至少两个LED支架的清洗状态信号
与现有技术相比,由于本发明的检测系统中设置料盒、清洗感应装置和电压检测装置,能够实现同时对至少两个LED支架的清洗检测,可有效提高清洗检测的检测效率;其中,在对LED支架进行等离子清洗工序时,将清洗感应装置,固定于料盒上以使该清洗感应装置在等离子清洗机的射频电压下进行充电,进而电压检测装置可通过清洗感应装置的储蓄电压输出LED支架的清洗状态信号;另外,由于料盒可同时固定至少两个LED支架,因而该检测系统可实现批量的LED支架等离子清洗检测,操作方便,成本低。
作为优选,所述电压检测装置包括电压检测电路;所述检测系统还包括:阻抗转换装置,连接于所述清洗感应装置和所述电压检测电路之间以进行阻抗转换;联锁装置,连接于所述电压检测电路和后续加工设备之间,用于根据所述电压检测电路输出的清洗状态联动控制所述后续加工设备供电或断电。
作为优选,还包括:与所述电压检测电路连接的报警装置;所述报警装置用于根据所述电压检测电路输出的未清洗状态信号发出警报。
作为优选,所述报警装置包括:三极管和蜂鸣器;其中,所述三极管的基极通过第七电阻连接至所述电压检测电路,集电极顺次连接有所述蜂鸣器和电源,发射极接地。
作为优选,还包括:连接于所述电压检测电路与所述清洗感应装置之间的放电回路;所述放电回路用于根据所述电压检测电路输出的清洗状态信号释放所述清洗感应装置上的储蓄电压。
作为优选,所述清洗感应装置包括:感应线圈、第一二极管和第一电容顺次连接的充电回路。
作为优选,所述充电回路包括单圈金属回路;所述第一二极管为整流二极管,所述第一电容为云母电容。
作为优选,所述阻抗转换装置包括:第二稳压二极管、第三稳压二极管、第一电阻和J-FET输入运算发大器;其中,所述J-FET输入运算发大器的同相输入端通过反向的所述第二稳压二极管和正向的所述第三稳压二极管接地,所述运算发大器的同相输入端通过所述第一电容接地,所述运算发大器的反相输入端与所述运算发大器的输出端连接,所述运算发大器的输出端通过所述第一电阻与所述电压检测装置连接。
作为优选,所述电压检测电路包括:电压比较器、和单片机;其中,所述电压比较器的同相输入端通过第一电阻与所述阻述抗转换装置的输出端连接,反相输入端通过可变电阻接地且通过第二电阻与电源连接,输出端通过第三电阻与所述电源连接,且与所述单片机连接;所述单片机用于根据所述电压比较器输出的高电平输出清洗状态信号,且根据所述电压比较器输出的低电平输出未清洗状态信号。
作为优选,所述料盒为长方体,所述清洗感应装置固定在所述料盒的侧面,所述料盒的对称的两个侧面上设置有若干条形卡槽,所述至少两个LED支架能够平行的卡在所述条形卡槽上。
附图说明
现结合附图与具体实施例对本发明作进一步说明:
图1是本发明系统框图;
图2是本发明的电路图。
图中:
1、电压感应电路;2、阻抗转换电路;3、电压检测电路;4、联锁电路;5、放电回路;11、清洗感应装置;22、阻抗转换装置;31、电压检测装置;32、联锁装置;6、料盒;7、后续加工设备;
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1和图2所示,本发明的一种LED支架等离子清洗工序的检测系统,包括:料盒6,用于固定至少两个LED支架,以使所述至少两个LED支架同时置于等离子清洗机中进行等离子清洗;清洗感应装置11,固定于所述料盒6上,用于在所述至少两个LED支架进行等离子清洗工序时充电;电压检测装置31,与所述清洗感应装置11电连接,用于根据所述清洗感应装置11的储蓄电压输出所述至少两个LED支架的清洗状态信号。
在本发明的检测系统中,电压检测装置31可以是万用表或电压检测电路3,当万用表的表笔与清洗感应装置11的输出端接触时,可通过万用表输出清洗感应装置存储的储蓄电压,例如,当万用表检测到的储蓄电压超过电压阈值时,则检测到LED支架为清洗状态;否则,检测到LED支架为未清洗状态。
与现有技术相比,由于本发明的检测系统中设置料盒、清洗感应装置11和电压检测装置31,能够实现同时对至少两个LED支架的清洗检测,可有效提高清洗检测的检测效率;其中,在对LED支架进行等离子清洗工序时,将清洗感应装置11,固定于料盒上以使该清洗感应装置11在等离子清洗机的射频电压下进行充电,进而电压检测装置31可通过清洗感应装置11的储蓄电压输出LED支架的清洗状态信号;另外,由于料盒可同时固定至少两个LED支架,因而该检测系统可实现批量的LED支架等离子清洗检测,操作方便,成本低。
优选的,该检测系统还包括电连接于所述清洗感应装置11和所述电压检测电路3之间的阻抗转换装置,用于进行阻抗转换;联锁装置32,连接于电压检测电路3和后续加工设备7之间,用于根据电压检测电路3输出的清洗状态联动控制后续加工设备7供电或断电。
在该实施方式中,通过电压检测电路3输出的未清洗状态信号可自动控制联锁装置32对后续加工设备7的联动控制,能够提高LED支架后续加工工艺的处理效率。
进一步地,该检测系统还包括:连接于所述电压检测电路3与所述清洗感应装置11之间的放电回路;所述放电回路用于根据所述电压检测电路3输出的清洗状态信号释放所述清洗感应装置11上的储蓄电压。其中,该放电回路包括第一三极管Q1和第二继电器K2,该第一三极管Q1的基极通过第八电阻R8与电压检测装置31连接,集电极通过该放电继电器K2的线圈K2与电源连接,发射极接地。当电压检测装置31输出已清洗状态信号时,该第一三极管Q1导通,该第二继电器K2线圈得电,放电回路5闭合,使得第一电容C1放电,进而实现清洗感应装置11的重复利用。
进一步地,该联锁装置32包括第二三极管Q2和第一继电器K1,该联锁继电器K2的线圈与该电压检测电路3的输出端连接,该第一继电器K1的常闭开关连接于后续加工设备7和电源之间,当电压检测电路3输出未清洗状态信号时,该第二三极管Q2导通、第一继电器K1的线圈得电、常闭开关断电、联锁电路4断开,后续加工设备7停止工作。
进一步地,该检测系统还包括:与所述电压检测电路3连接的报警装置;所述报警装置用于根据所述电压检测电路3输出的未清洗状态信号发出警报。
其中,该报警装置包括:第三三极管Q3和蜂鸣器;所述第三三极管Q3的基极通过第七电阻R7连接至所述电压检测电路3,集电极顺次连接有所述蜂鸣器和电源,发射极接地。当电压检测电路3输出未清洗状态信号时,该第三三极管Q3导通,蜂鸣器发出警报,以提示LED支架未清洗,便于筛选出未清洗LED支架。
优选的,所述清洗感应装置11包括感应线圈L、第一二极管D1、第一电容C1,所述感应线圈L、第一二极管D1、第一电容C1串联形成闭合的感应回路,以在LED支架进行等离子清洗工序时,经等离子清洗机内的射频电压对第一电容C1进行充电,实现对等离子清洗工序的检测。
优选的,所述感应回路为单圈金属回路,第一二极管D1为整流二极管,所述第一电容C1为云母电容。当采用等离子清洗时,由于等离子清洗会破坏油漆表面,且射频频率和洗料盒内的温度都很高;因此采用单圈金属回路,能克服油漆破坏而导致感应电路绝因缘失效的技术问题;同时使用不含电解液、耐高温的云母电容,能避免高温对第一电容C1的影响;且整流二极管具有高的截止频率高,能更适应射频的高频率。
优选的,所述清洗感应装置11设置于PCB板上,以便感应电路能够方便的固定在料盒6上,同时的将感应电路方便拆离料盒6。
进一步地如图2所示,该阻抗转换装置2包括第二稳压二极管D2、第三稳压二极管D3、第一电阻R1和J-FET输入运算发大器;所述J-FET输入运算发大器的同相输入端与第一二极管D1的负极连接,且通过反向的所述第二稳压二极管D2和正向的所述第三稳压二极管D3接地,所述J-FET运算发大器的反相输入端与输出端连接,所述J-FET运算发大器的输出端通过所述第一电阻R1与所述电压检测电路3连接。
所述电压检测电路3包括电压比较器、单片机、第九可变电阻R9、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第一三极管Q1、第二三极管Q2、第三三极管Q3、第一继电器K1、第二继电器K2、晶振X、开关按键S、报警器;所述电压比较器的同相输入端通过所述第一电阻R1和所述阻述抗转换电路2的输出端连接,所述电压比较器的反相输入端通过所述第九可变电阻R9接地,所述电压比较器的反相输入端通过所述第二电阻R2与电源连接,所述电压比较器的输出端通过所述第三电阻R3与电源连接,所述电压比较器的输出端与所述单片机的第三引脚I2连接;所述单片机的第一引脚VCC与电源连接,所述单片机的第一引脚VCC通过所述第四电阻R4和所述开关按键S接地,所述单片机的第一引脚VCC通过所述第五电阻R5和所述第二电容C2接地;所述单片机的第二引脚RST通过所述第五电阻R5与所述单片机的第一引脚VCC连接,所述单片机的第二引脚RST通过所述第二电容C2接地;所述单片机的第四引脚I1通过所述开关按键S接地;所述单片机的第五引脚通过所述第三电容C3接地,所述单片机的第六引脚通过所述第四电容C4接地,所述单片机的第五引脚通过所述晶振X和第六引脚连接,所述单片机的第七引脚接地;所述单片机的第八引脚O2通过所述第八电阻R8和所述第一三极管Q1的基极和所述第一三极管Q1的发射极接地,所述单片机的第八引脚O2通过所述第八电阻R8和所述第一三极管Q1的基极和所述第一三极管Q1的集电极和所述第二继电器K2与电源连接;所述单片机的第九引脚O1通过所述第六电阻R6和所述第二三极管Q2的基极和所述第二三极管Q2的集电极和所述第一继电器K1接接与电源连接,所述单片机的第九引脚O1通过所述第六电阻R6和所述第二三极管Q2的基极和所述第二三极管Q2的发射极接地;所述单片机的第十引脚O3通过所述第七电阻R7和所述第三三极管Q3的基极和所述第三三极管Q3的集电极和所述报警器接电源,所述单片机的第十引脚O3通过所述第七电阻R7和所述第三三极管Q3的基极和所述第三三极管Q3的发射极接地。
上述单片机优选89C2051型号,电压比较器优选LM324型号。
优选的,所述料盒为长方体,所述清洗感应装置固定在所述料盒的侧面,所述料盒安装支的对称的两个侧面上设置有若干条形卡槽,所述至少两个LED支架能够平行的卡在所述条形卡槽上。
本发明通过在两个对称面上设置有使LED支架能够平行架设在料盒6,使得料盒6能耐够容纳批量的LED支架,使得每一次的LED支架的等离子清洗工序检测都能够批量的进行,提供检测效率。
本发明并不局限于上述实施方式,如果对本发明的各种改动或变型不脱离本发明的精神和范围,倘若这些改动和变型属于本发明的权利要求和等同技术范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变动。
Claims (10)
1.一种LED支架等离子清洗工序的检测系统,其特征在于,包括:
料盒,用于固定至少两个LED支架,以使所述至少两个LED支架同时置于等离子清洗机中进行等离子清洗;
清洗感应装置,固定于所述料盒上,用于在所述至少两个LED支架进行等离子清洗工序时充电;
电压检测装置,与所述清洗感应装置电连接,用于根据所述清洗感应装置的储蓄电压输出所述至少两个LED支架的清洗状态信号。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述电压检测装置包括电压检测电路;所述检测系统还包括:
阻抗转换装置,连接于所述清洗感应装置和所述电压检测电路之间以进行阻抗转换;
联锁装置,连接于所述电压检测电路和后续加工设备之间,用于根据所述电压检测电路输出的清洗状态联动控制所述后续加工设备供电或断电。
3.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,还包括:
与所述电压检测电路连接的报警装置;
所述报警装置用于根据所述电压检测电路输出的未清洗状态信号发出警报。
4.如权利要求3所述的检测系统,其特征在于,所述报警装置包括:三极管和蜂鸣器;其中,
所述三极管的基极通过第七电阻连接至所述电压检测电路,集电极顺次连接有所述蜂鸣器和电源,发射极接地。
5.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,还包括:
连接于所述电压检测电路与所述清洗感应装置之间的放电回路;
所述放电回路用于根据所述电压检测电路输出的清洗状态信号释放所述清洗感应装置上的储蓄电压。
6.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述清洗感应装置包括:感应线圈、第一二极管和第一电容顺次连接的充电回路。
7.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述充电回路包括单圈金属回路;所述第一二极管为整流二极管,所述第一电容为云母电容。
8.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,所述阻抗转换装置包括:第二稳压二极管、第三稳压二极管、第一电阻和J-FET输入运算发大器;其中,
所述J-FET输入运算发大器的同相输入端通过反向的所述第二稳压二极管和正向的所述第三稳压二极管接地,所述运算发大器的同相输入端通过所述第一电容接地,所述运算发大器的反相输入端与所述运算发大器的输出端连接,所述运算发大器的输出端通过所述第一电阻与所述电压检测装置连接。
9.根据权利要求8所述的检测系统,其特征在于,所述电压检测电路包括:电压比较器、和单片机;其中,
所述电压比较器的同相输入端通过第一电阻与所述阻述抗转换装置的输出端连接,反相输入端通过可变电阻接地且通过第二电阻与电源连接,输出端通过第三电阻与所述电源连接,且与所述单片机连接;
所述单片机用于根据所述电压比较器输出的高电平输出清洗状态信号,且根据所述电压比较器输出的低电平输出未清洗状态信号。
10.根据权利要求1~9中任一项所述的检测系统,其特征在于,所述料盒为长方体,所述清洗感应装置固定在所述料盒的侧面,所述料盒的对称的两个侧面上设置有若干条形卡槽,所述至少两个LED支架能够平行的卡在所述条形卡槽上。
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