CN109719044A - 检测装置、筛选机台以及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测装置、筛选机台以及检测方法。此检测装置包含平台、取像装置以及处理装置。平台被配置为承载至少一个待测件，其中待测件具有螺孔。取像装置邻设于平台，取像装置被配置为拍摄待测件的螺孔，以获得至少一个待分析影像。处理装置连接取像装置。处理装置被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异，或比对同一个待测件的多个待分析影像之间的差异，并判断待测件的螺孔是否符合需求。本发明的检测装置、筛选机台以及检测方法是利用非接触式的影像比对方式来检测螺纹是否符合需求，以达到快速且精准地检测螺纹的目的。

Description

检测装置、筛选机台以及检测方法

技术领域

本发明是有关于一种检测装置及其应用，且特别是有关于一种检测螺纹瑕疵的检测装置、以及包含此检测装置的筛选机台，以及使用此检测装置的检测方法。

背景技术

螺丝、螺栓、螺帽以及螺钉等是常见的固定元件，其是利用螺纹的设计来达到互相结合或是结合于物品中的目的。当螺纹出现了瑕疵，例如斜牙、螺纹不规则等问题时，则会导致螺纹螺合不佳、卡住或是失去螺合的功能。因此，当螺丝、螺栓、螺帽以及螺钉等元件在制造完成后，需要经过螺纹检测程序，以排除具有瑕疵的元件。

目前常见的螺纹检测方式是人工利用治具或接触式探针来检查每一个固定元件的螺纹是否正常。此作法不但速度慢且精准度不佳。再者，利用接触式探针的方式来检查螺纹的方式则容易导致探针或固定元件损伤。

发明内容

因此，本发明的一目的是在提供一种检测装置、筛选机台以及检测方法，其是利用非接触式的影像比对方式来检测螺纹是否符合需求，以达到快速且精准地检测螺纹的目的。

根据本发明的上述目的，提出一种检测装置。此检测装置包含平台、取像装置以及处理装置。平台被配置为承载至少一个待测件，其中待测件具有螺孔。取像装置邻设于平台，其中取像装置被配置为拍摄待测件的螺孔，以获得至少一个待分析影像。处理装置连接取像装置，其中处理装置被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异，或比对同一个待测件的多个待分析影像之间的差异，并判断待测件的螺孔是否符合需求。

根据本发明一实施例，上述的取像装置为内视镜装置，设置在平台的上方，以从待测件的螺孔上方或螺孔的内部拍摄螺孔。

根据本发明另一实施例，上述的内视镜装置的光轴是与待测件的中心线重叠。

根据本发明又一实施例，上述的处理装置具有影像比对单元，被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的螺孔的螺距或螺纹厚度的差异，或是比对同一个待测件的多个待分析影像之间的螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

根据本发明再一实施例，上述的取像装置包含至少一个反射件以及至少一个摄影镜头。反射件被配置为伸入待测件的螺孔中，以反射螺孔的影像，摄影镜头被配置为取得反射件所反射的螺孔的影像，以产生待分析影像。

根据本发明再一实施例，上述的反射件的数量为二个以上，且每一个反射件的设置方位不相同，且反射件是被配置为分别伸入同一个待测件的螺孔中，以反射螺孔的多个影像。

根据本发明再一实施例，上述的处理装置具有影像比对单元，被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异，或是比对同一个待测件的多个待分析影像之间的螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。

根据本发明的上述目的，另提出一种筛选机台。此筛选机台包含前述的检测装置、驱动装置、送料装置以及排料装置。驱动装置被配置为改变平台与取像装置的相对位置。驱动装置被配置为改变平台与取像装置的相对位置。送料装置设置在平台的一侧，被配置为将待测件输送至平台上。排料装置设置在平台的一侧，被配置为将待测件从平台排出。

根据本发明的上述目的，提出一种检测方法。此检测方法包含以下步骤：利用取像装置拍摄至少一个待测件的螺孔，以取得至少一个待分析影像；以及利用处理装置比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异，或比对同一个待测件的多个待分析影像之间的差异，以判断待测件的螺孔是否符合需求。

根据本发明一实施例，上述的取得至少一个待分析影像的步骤还包含：利用内视镜装置从待测件的螺孔上方或螺孔的内部拍摄螺孔。

根据本发明另一实施例，上述的处理装置被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的螺孔的螺距或螺纹厚度的差异，或是比对同一个待测件的多个待分析影像之间的螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

根据本发明又一实施例，上述的取得至少一个待分析影像的步骤还包含：利用至少一个反射件伸入待测件的螺孔中，以反射螺孔的影像，以及利用摄影镜头取得至少一个反射件所反射的螺孔的影像，以产生至少一个待分析影像。

根据本发明再一实施例，上述的处理装置被配置为比对至少一个待分析影像与至少一个参考影像的螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异，或是比对同一个待测件的多个待分析影像之间的螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。

由上述可知，本发明是利用反射镜反射影像至摄影镜头的方式、或直接利用内视镜装置等非接触式的方式，来取得待测件的螺孔内部影像，故可避免传统检测方法速度较慢，或者利用接触式探针检测的方式容易破坏待测件或其本身易毁损的问题。再者，本发明是利用影像比对的方式判断螺孔中的螺纹是否符合标准，不但可大幅提升检测品质外，还可提升检测效率。

附图说明

为了更完整了解实施例及其优点，现参照结合所附附图所做的下列描述，其中：

图1是绘示依照本发明的第一实施方式的一种检测装置在初始状态时的示意图；

图2是绘示依照本发明的第一实施方式的一种检测装置在检测状态时的示意图；

图3A至图3H是绘示依照本发明的第一实施方式的两组待分析影像的照片，其中图3E至图3H的待测件与图3A至图3D的待测件为不同的待测件；

图4A至图4H是绘示依照本发明的第一实施方式的两组参考影像的照片，其中图4E至图4H的参考影像与图4A至图4D的参考影像为不同合格品所得到的参考影像；

图5是绘示依照本发明的第一实施方式的一种参考影像的简化示意图；

图6A是绘示依照本发明的第一实施方式的一种筛选机台的装置示意图；

图6B是绘示依照本发明的第一实施方式的一种检测方法的流程示意图；

图7是绘示依照本发明的第二实施方式的一种检测装置的装置示意图；

图8A及图8B是绘示依照本发明的第二实施方式的一种待分析影像的照片；

图9A及图9B是绘示依照本发明的第二实施方式的一种参考影像的照片；

图10A是绘示依照本发明的第二实施方式的一种筛选机台的装置示意图；以及

图10B是绘示依照本发明的第二实施方式的一种检测方法的流程示意图。

具体实施方式

以下实施例中所提到的方向用语，例如“之上”、“之下”、“前”、“后”等，仅是参考附加附图的方向。因此，使用的方向用语是用来说明，而非用来限制本发明。此外，为便于了解，尽可能地使用相同元件符号代表该等附图中共有的相同元件。

请同时参照图1及图2，其中图1及图2是分别绘示依照本发明的第一实施方式的一种检测装置在初始状态以及检测状态时的示意图。本实施方式的检测装置100主要是用来撷取待测件W的影像，并根据所撷取的待测件W的影像来判断待测件W是否有瑕疵。在一些实施例中，待测件W可为螺帽，其具有螺孔。在其他例子中，待测件W也可为其他具有螺孔的物件。在此所指的瑕疵，可以是指螺孔上的螺纹的斜牙、或残留在螺孔中的伤痕、溢料或异物等瑕疵。

请继续参照图1，检测装置100主要包含平台110、取像装置120以及处理装置130。平台110主要是被配置为承载待测件W。取像装置120邻设于平台110，且取像装置120被配置为拍摄待测件W的螺孔，以获得至少一个待分析影像(如图3A至图3D所示)。在本实施例中，取像装置120包含反射件121及摄影镜头122。反射件121架设在升降装置200上，通过升降装置200可带动反射件121升降，以使反射件121伸入待测件W的螺孔中，进而反射螺孔的内壁影像至取像装置120中。

请同时参照图2至图3D，其中图3A至图3D是绘示依照本发明的第一实施方式的其中一组待分析影像的照片。在本实施例中，可通过改变反射件121的设置方位来改变反射件121的反射方向，以取得待测件W的螺孔内壁至少两个以上的不同区域的影像。在本实施例中，取像装置120的数量选择为4组，且每一组取像装置120的反射件121的设置方位不同。因此，当待测件W分别经过不同取像装置120的下方时，每一组取像装置120所取得待测件W螺孔影像的区域不同。例如图3A至图3D所示，图3A至图3D是分别表示反射件121在待测件W的螺孔中的0度方位、90度方位、180度方位及270度方位所反射的内壁影像。需要说明的是，取像的方位可依据不同的需求而定，只要取得至少两个不同方位的内壁影像，即可达到最低限度的判断。因此，本发明实施例并不以0度方位、90度方位、180度方位及270度这四个方位的影像为限制。在一些例子中，反射件121可为45度角的棱镜、半透半反的光学镜、或反射镜。

在其他例子中，取像装置120的数量也可为一组，可利用适合的驱动单元来驱动反射件121深入待测件W的螺孔后，并进一步驱动反射件121在待测件W的螺孔中旋转，以反射螺孔中不同方位的内壁影像至摄影镜头122中。在一实施例中，待测件W的下方可选择性地加装光源140，以提供摄影镜头122所需照明。在其他例子中，光源140也可设于待测件W的上方，或直接由摄影镜头122提供，只要能够达到照明目的即可，并不以前述所列举例为限。

请同时参照图2及图3A至图3D，在本实施例中，取像装置120在取得待分析影像后，可将待分析影像传送至处理装置130。处理装置130包含影像比对单元131，其是被配置为判断待分析影像是否符合需求。在一实施例中，影像比对单元131可比对同一个待测件W的多个待分析影像之间的差异。例如图3A至图3D所示，待测件W的螺纹的厚度在不同区域处均不相同，例如图3C的左边的螺纹厚度明显较右边粗，这代表待测件W的螺纹出现斜牙现象。又例如，图3A的螺纹厚度(牙峰厚度)大于图3B的螺纹厚度，这也代表待测件W的螺纹可能出现斜牙现象。

另请参照图4A至图4B，图4A至图4D是绘示依照本发明的第一实施方式的其中一组参考影像的照片。在一实施例中，处理装置130可包含储存单元132，其可用来储存如图4A至图4D所示的参考影像。其中，参考影像是依据符合标准规格的合格品所建立的影像。在本实施例中，图4A至图4D分别表示反射件121在合格品的螺孔中的0度方位、90度方位、180度方位及270度方位所反射的内壁影像。如图4A至图4D所示，合格品的螺纹的厚度D在不同区域处均相同。

在一实施例中，处理装置130中的影像比对单元131也可通过比对待分析影像与参考影像的差异，来判断待测件W的螺孔是否符合需求。举例而言，虽然待测件W分别在90度与270度方位区域所拍摄的影像(如图3B及图3D所示)与图4A至图4D的合格品的参考影像相比差不多，但从待测件W分别在0度与180方位区域所拍摄的影像(如图3A及图3C所示)与图4A至图4D的合格品的参考影像相比，待测件W分别在0度与180方位区域明显粗细不等，这代表待测件W的螺纹出现斜牙现象。在一实施例中，处理装置130可包含运算单元133，其可将影像比对单元131比对出的差异数据化或比例化，以进一步判断多个待分析影像之间的差异、或是待分析影像与参考影像之间的差异是否超出使用者所设定的阈值。若判断结果为是，则判断待测件W不符合需求。

需要说明的是，前述实施例的处理装置130是根据待测件W的螺纹厚度来判断待测件W的螺孔是否符合需求。在其他实施例中，处理装置130也通过前述的影像比对的方式，来比对待分析影像与参考影像的螺孔的螺距或倾角、或是比对同一个待测件的多个待分析影像之间的螺孔的螺距或倾角的差异，来判断待测件W是否符合需求。例如图5所示，图5是绘示依照本发明的第一实施方式的一种参考影像的简化示意图。图5所表示的螺距B1是指螺孔中的螺纹之间的距离，也就是螺纹上任意一点到相邻螺纹的对应点，沿螺孔的中心线W1所测得的距离。在本实施例中，倾角的定义可依据观测需求而定，如图5所示的倾角θ1是定义为螺纹延伸方向与水平假想线H1之间的夹角，其中此水平假想线H1是与螺孔的中心线W1垂直。在其他例子中，图5所示的倾角θ2是定义为指螺纹延伸方向与垂直假想线H2的夹角，其中此垂直假想线H2是与螺孔的中心线W1平行。

另请同时参照图3E至图3H，其中图3E至图3H是绘示依照本发明的第一实施方式的另一组待分析影像的照片。图3E至图3H分别表示如图1及图2所示的反射件121在待测件的螺孔中的0度方位、90度方位、180度方位及270度方位所反射的内壁影像。需要说明的是，图3E至图3H的倾角定义是依照图5所示的倾角θ2的定义。在图3E至图3H中，假设可接受的倾角值为84～87度，虽然待测件分别在0度与180度的方位区域所拍摄的影像(如图3E及图3G)中倾角是符合可接受的倾角标准，但待测件在90度与270度的方位区域所拍摄的影像倾角(如图3F及3H)分别约为81.6度及89.1度，均超出可接受的倾角范围，代表待测件不符合需求。

另请同时参照图4E至图4H是绘示依照本发明的第一实施方式的另一组参考影像的照片。图4E至图4H分别表示图1及图2所示的反射件121在合格品的螺孔中的0度方位、90度方位、180度方位及270度方位所反射的内壁影像。假设可接受的倾角值为84～87度，从图4E至图4H可看出，合格品在不同的方位区域所拍摄的影像中倾角均符合可接受的倾角标准。

在本实施例中，检测装置100可应用于筛选机台中。请同时参照图1及图6A，图6A是绘示依照本发明的第一实施方式的一种筛选机台的装置示意图。本实施方式的筛选机台300主要包含前述的检测装置100、驱动装置310、送料装置320以及排料装置330。在一例子中，检测装置100包含4组取像装置120，分别设置在平台110的一侧。驱动装置310主要是可用来驱动检测装置100的平台110，进而改变平台110上的待测件W与各个取像装置120的相对位置。在一例子中，驱动装置310为马达，其可直接驱动平台110旋转，也可同时驱动如图1的升降装置200，以使反射件121相对平台110移动。在其他例子中，升降装置200也可连接其他独立的驱动装置，以达到其控制反射件121升降的目的。

请继续参照图1及图6A，送料装置320设置在平台110的一侧，且被配置为将待测件W运送至平台110上。在一例子中，送料装置320包含震动盘。在本实施例中，平台110为一分度盘，且具有凹槽111。因此，当送料装置320将待测件W运送至平台110后，待测件W可限位于凹槽111中，以确保待测件W位于取像装置120的取像范围内。

在本实施例中，4组取像装置120中的反射件121设置方位不同，故当待测件W依序经过每一组取像装置120的下方时，每一组取像装置120可分别取得不同角度的待测件W的螺孔内壁影像，进而提供处理装置130根据待分析影像来判断待测件W是否符合需求。在本实施例中，排料装置330设置在平台110的一侧，当处理装置130获得判断结果后，排料装置330则依据判断结果将待测件W分送至合格品集料处A1或不合格品集料处A2。需要说明的是，本实施例是以4组取像装置120示范说明用，并非用以限制本发明，取像装置120的数量以及设置方位均可依据需求而定。

以下进一步说明本发明的检测方法的操作流程。请同时参照图2、图6A及图6B，其中图6B是绘示依照本发明的第一实施方式的一种检测方法的流程示意图。在检测方法P1中，如图6B所示，首先进行步骤P11，利用取像装置120拍摄至少一个待测件W的螺孔，以取得至少一个待分析影像。在步骤P11中，可先利用升降装置200控制反射件121伸入待测件W的螺孔中，以反射螺孔的影像。接着，再利用摄影镜头122取得反射件121所反射的螺孔影像，以产生待分析影像。

请继续参照图2、图6A及图6B，在摄影镜头122产生待分析影像后，可进行步骤P12。步骤P12是利用处理装置130比对同一个待测件W的多个待分析影像的差异，例如比对同一个待测件W的螺孔内壁的不同区域的影像，以根据螺纹在不同区域的厚度、螺距或倾角的差异，来判断待测件W是否符合需求。同样地，处理装置130也可比对待分析影像与参考影像的差异，来判断待测件W是否符合需求。

需要说明的是，本发明的取像装置也可具有不同的设计。请参照图7，其是绘示依照本发明的第二实施方式的一种检测装置的装置示意图。本实施方式的检测装置400的结构大致上与前述检测装置100的结构相同，差异仅在于检测装置400的取像装置420具有不同的设计。在本实施例中，取像装置420设置在平台110的上方，同样是被配置为拍摄待测件W的螺孔，以取得待测件W的影像。在本实施例中，取像装置420为内视镜装置，用以从待测件W的上方拍摄待测件W的螺孔，不须将内视镜装置伸入螺孔内拍摄，可缩短检测时间。在其他实施例中，若欲检测的螺孔位置较深，也可将取像装置420架设在升降装置(未绘示)上，以直接伸入待测件W的螺孔内部拍摄螺孔。在一例子中，取像装置420的光轴S1是与待测件W的中心线W1重叠，以确保取像装置420可从待测件W的正中心拍摄影像。在一些实施例中，平台110可为不具有凹槽的玻璃盘，且送料装置320包含整料轮，通过整料轮也可达到将待测件W配送至玻璃盘的特定位置，以使待测件W位于取像装置120的取像范围内。

请同时参照图7至图8B，其中图8A及图8B是绘示依照本发明的第二实施方式的一种待分析影像的照片。在本实施例中，取像装置420是从待测件W的上方拍摄待测件W的螺孔，以获得如图8A及图8B所示的待分析影像。在取像装置420取得待分析影像后，可将待分析影像传送至处理装置130。处理装置130可进一步根据待分析影像来判断待测件W是否符合标准。举例而言，在图8A所示待测件的螺纹影像中可看出正上方的螺牙宽度明显大于正下方的螺牙宽度，又如图8B所示待测件的螺纹影像中，正下方的螺纹宽度明显大于正上方的螺牙宽度，这表示图8A及图8B所示的待测件螺纹宽度也不均匀。

另请参照图9A及图9B，图9A及图9B是绘示依照本发明的第二实施方式的一种参考影像的照片。在一实施例中，处理装置130的储存单元132可用来储存如图9A及图9B所示的参考影像。其中，参考影像是依据符合标准的合格品所建立的影像。如图9A及图9B所示，合格品的螺纹在各个方向上看起来宽度均相同。

在一实施例中，处理装置130中的影像比对单元131也可通过比对待分析影像与参考影像的差异，来判断待测件W的螺孔是否符合需求。举例而言，参考影像中的螺纹在各个位置的宽度大致上相同(如图9A及图9B所示)，代表螺纹的宽度变化量不大，而待分析影像中的螺纹在各个位置的宽度变化量较大(如图8A及图8B所示)，代表待测件W的螺纹出现瑕疵。同样地，在一实施例中，处理装置130的运算单元133可将影像比对单元131比对出的差异数据化或比例化，以进一步判断多个待分析影像之间的差异、或是待分析影像与参考影像之间的差异是否超出使用者所设定的阈值。若判断结果为是，则判断待测件W不符合需求。

在本实施例中，检测装置400同样可应用于筛选机台中。请同时参照图7及图10A，其中图10A是绘示依照本发明的第二实施方式的一种筛选机台的装置示意图。本实施方式的筛选机台500的结构大致上与前述的筛选机台300的结构相同，差异仅在于筛选机台500的检测装置400与筛选机台300的检测装置100具有不同的结构设计。

请继续参照图7及图10A，在本实施例中，送料装置320被配置为将待测件W运送至平台110上，驱动装置310是用来驱动平台110，进而改变平台110上的待测件W与检测装置400中的取像装置420的相对位置。当待测件W经过取像装置420的下方时，取像装置420取得待测件W的螺纹影像，进而提供处理装置130判断待测件W是否符合需求。同样地，当处理装置130获得判断结果后，排料装置330则依据判断结果将待测件W分送至合格品集料处A1或不合格品集料处A2。

另请一并参照图10B，其是绘示依照本发明的第二实施方式的一种检测方法的流程示意图。在检测方法P2中，首先进行步骤P21，利用取像装置420拍摄至少一个待测件W的螺孔，以取得至少一个待分析影像。在步骤P21中，可先利用内视镜装置从待测件W的螺孔上方、或从螺孔的内部拍摄待测件W的螺孔。

接着，在取像装置420产生待分析影像后，可进行步骤P22。步骤P22是利用处理装置130比对同一个待测件W的多个待分析影像的差异，例如比对同一个待测件W的多个螺孔内壁影像，以根据螺纹在不同区域的厚度、螺距或倾角的差异，来判断待测件W是否符合需求。同样地，处理装置130也可比对待分析影像与参考影像的差异，来判断待测件W是否符合需求。

由上述本发明实施例可知，本发明是利用反射镜反射影像至摄影镜头的方式、或直接利用内视镜装置等非接触式的方式，来取得待测件的螺孔内部影像，故可避免传统检测方法速度较慢，或者利用接触式探针检测的方式容易破坏待测件或其本身易毁损的问题。再者，本发明是利用影像比对的方式判断螺孔中的螺纹是否符合标准，不但可大幅提升检测品质外，更可提升检测效率。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定的为准。

Claims (13)

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包含：

平台，被配置为承载至少一个待测件，其中所述至少一个待测件具有螺孔；

取像装置，邻设于所述平台，其中所述取像装置被配置为拍摄所述待测件的所述螺孔，以获得至少一个待分析影像；

处理装置，连接所述取像装置，其中所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异，或比对同一个所述待测件的多个所述待分析影像之间的差异，并判断所述至少一个待测件的所述螺孔是否符合需求。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述取像装置为内视镜装置，设置在所述平台的上方，以从所述待测件的所述螺孔上方、或所述螺孔的内部拍摄所述螺孔。

3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述内视镜装置的光轴是与所述待测件的中心线重叠。

4.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述处理装置具有影像比对单元，被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异，或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述取像装置包含至少一个反射件以及至少一个摄影镜头，所述至少一个反射件被配置为伸入所述待测件的所述螺孔中，以反射所述螺孔的影像，所述摄影镜头被配置为取得所述至少一个反射件所反射的所述螺孔的影像，以产生所述待分析影像。

6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述至少一个反射件的数量为二个以上，且每个所述反射件的设置方位不相同，多个反射件是被配置为分别伸入同一个所述待测件的所述螺孔中，以反射所述螺孔的多个影像。

7.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述处理装置具有影像比对单元，被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异，或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。

8.一种筛选机台，其特征在于，所述筛选机台包含：

如权利要求1所述的检测装置；

驱动装置，被配置为改变所述平台与所述取像装置的相对位置；

送料装置，设置在所述平台的一侧，被配置为将所述至少一个待测件输送至所述平台上；以及

排料装置，设置在所述平台的一侧，被配置为将所述至少一个待测件从所述平台排出。

9.一种检测方法，其特征在于，所述检测方法包含：

利用取像装置拍摄至少一个待测件的所述螺孔，以取得至少一个待分析影像；以及

利用处理装置比对所述至少一个待分析影像与至少一个参考影像的差异，或比对同一个所述待测件的多个所述待分析影像之间的差异，以判断所述至少一个待测件的所述螺孔是否符合需求。

10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，取得所述至少一个待分析影像的步骤还包含：利用内视镜装置从所述待测件的所述螺孔上方、或所述螺孔的内部拍摄所述螺孔。

11.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异，或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距或螺纹厚度的差异。

12.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，取得所述至少一个待分析影像的步骤还包含：

利用至少一个反射件伸入所述待测件的所述螺孔中，以反射所述螺孔的影像；以及

利用摄影镜头取得所述至少一个反射件所反射的所述螺孔的影像，以产生所述至少一个待分析影像。

13.如权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述处理装置被配置为比对所述至少一个待分析影像与所述至少一个参考影像的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异，或是比对同一个所述待测件的多个待分析影像之间的所述螺孔的螺距、倾角或螺纹厚度的差异。