CN109711222B - 射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器的测试条件参数的值进行设置，测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，建立防碰撞参数值与测试条件参数取值组合的映射关系，对待测电子标签进行多次盘点，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。

Description

射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质

技术领域

本发明涉及射频识别技术领域，更具体地说，涉及一种射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质。

背景技术

射频识别通信过程中需要解决在同一个系统中多个设备之间同时通信的碰撞问题，尤其是单个读写器与多个标签通信的碰撞问题。限于成本和功耗的因素，标签只能够提供有限的功能用于实现防碰撞机制，目前多标签的防碰撞算法主要分为基于时隙的随机性算法(Al oha)和基于二叉树的确定性算法(B i nary Tree)两大类。

现有射频识别防碰撞性能测试方法，通常是将若干个被测标签排列为二维阵列，或者将若干个被测标签和若干个基准标签混合排列为二维阵列，使用基准读写器对上述标签阵列进行盘点，通过记录基准读写器从开始盘点到盘点结束所用的时间，以及记录基准读写器盘点到的标签数量，作为防碰撞性能的测试结果。

但这类测试方法受限于基准读写器能够提供的功能，往往导致测试结果不全面，其次这类测试方法无法对防碰撞性能得出定量的测试结果，在发生盘点时间长，以及盘点数量低时，无法找到导致问题发生的根本原因，从而无法指导读写器和标签如何改进以提高防碰撞性能。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种射频识别防碰撞性能测试方法及测试仪器。

为实现上述目的，本发明所采用的具体技术方案如下：

一种射频识别防碰撞性能测试方法，包括：

S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；

S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；

S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；

S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；

S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；

S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；

S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

进一步地，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。

进一步地，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：

针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。

进一步地，所述待测电子标签的数量为1个。

进一步地，在步骤S14之前，还包括:

S131：记录每次盘点过程中所述测试仪器产生的命令次数、所述待测电子标签产生的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种。

S132：建立所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系；

在步骤S15之后，且在步骤S16之前还包括：

S151：对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种进行累计，得到命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种，然后转至S152；

S152：计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种与预设的盘点次数总和的比值关系。

进一步地，当得到所述命令次数累计值、所述有效响应次数累计值和所述碰撞次数累计值时，所述方法还包括：

计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中至少两种累计值之间的比值关系。

进一步地，本发明还提供一种射频识别防碰撞性能测试仪器，包括：处理器、存储器及通信总线；

所述通信总线用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信；

所述处理器用于执行所述存储器中存储的一个或多个程序，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

进一步地，本发明还提供一种存储介质，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

通过本发明提供的射频识别防碰撞性能测试方法、测试仪器及存储介质，可以基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置，然后测试仪器基于这种设置对待测电子标签进行盘点，记录盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立产生的防碰撞参数值与测试条件参数当前的取值组合的映射关系，在当前的测试条件参数设置下对待测电子标签进行多次盘点，并记录每次盘点过程中建立的映射关系，从而得到每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种，然后对测试仪器的测试条件参数的值进行重新设置，直至按照上述过程遍历测试条件参数的所有取值组合，这样就可以得到各测试条件参数取值组合与对应的防碰撞参数相关的值的映射关系，然后基于该映射关系对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，从而可以得到更全面、可重现、更加准确的测试结果。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1为本发明实施例提供的一种射频识别防碰撞性能测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种射频识别防碰撞性能测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的射频识别防碰撞性能测试仪器的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本实施例提供一种射频识别防碰撞性能测试方法，请参见图1所示，包括：

S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置。

步骤S11中的测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。

比如，测试条件参数可以为标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数，此时这两种测试条件参数都应有其对应的测试值集合，假设标签接入数目控制参数对应的测试值集合为(A1，A2，A3)，接入帧时隙总数对应的测试值集合为(B1，B2)，则该测试仪器具有6种测试条件参数设置方式，该测试仪器的测试条件参数的所有取值组合为(A1,B1),(A1,B2),(A2,B1),(A2,B2),(A3,B1),(A3,B2)。

S12：测试仪器对待测电子标签进行一次盘点。

本实施例中的盘点也即是通信，步骤S12表示使测试仪器与待测电子标签进行一次通信。

S13：记录每次盘点过程中待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立防碰撞参数值和测试条件参数当前的取值组合的映射关系，防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种。

S14：针对测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12。

本实施例中预设的盘点次数总和可以由开发人员任意设置，比如可以设置为30次，40次，50次等等。

S15：分别对与测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种。

这里假设本实施例中的防碰撞参数包括时隙值、随机数值和链接时序值，则在步骤S13中会建立待测电子标签产生的时隙值、随机数值和链接时序值这三种值与测试条件参数当前的取值组合的映射关系，若针对当前的取值组合盘点多次，则测试条件参数当前的取值组合对应的时隙值、随机值和链接时序值都会有多个，然后可以分别针对时隙值、随机值和链接时序值计算最大值、最小值、平均值和方差，从而也就可以得到测试条件参数当前的取值组合与时隙最大值、时隙最小值、时隙平均值和时隙方差的映射关系，对于其他的防碰撞参数，也依此类推，这里不再赘述。

S16：判断是否遍历测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11。

应当说明的是，转至S11后，测试仪器可以针对测试条件参数设置新的取值组合，然后再按照上述步骤进行处理。

S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

根据上述步骤，测试仪器中就建立了各测试条件参数取值组合与防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种的映射关系，时隙最大值以及随机数最大值都是越接近各自对应的上限值，则说明待测电子标签的防碰撞性能越好，时隙最小值以及随机数最小值都是越接近各自对应的下限值，则说明待测电子标签的防碰撞性能越好，时隙平均值和随机数平均值越接近下述公式(1)中的计算值，则说明待测电子标签的防碰撞性能越好，时隙方差和随机数方差越接近下述公式(2)中的计算值，则说明待测电子标签的防碰撞性能越好。

上述公式中的b表示时隙上限值或随机数上限值，上述公式中的a表示时隙下限值或随机数下限值。

通常情况下，随机数的上限值为65535，随机数的下限值为0，时隙的上限值由测试仪器命令，时隙的下限值为0。对于链接时序值，可以先计算得到其最大值、最小值、平均值和方差、然后分别计算这四个值与理论链接时序值的差距，差距越小则说明待测电子标签的防碰撞性能越好，或者可以先计算链接时序值与理论链接时序值的差距，在针对这个差距计算最大值、最小值、平均值和方差，针对差距计算的最大值、最小值、平均值和方差越接近0，则说明待测电子标签的防碰撞性能越好。

所以根据上述介绍，便可基于三种防碰撞参数中的任意一种的最大值，和/或最小值，和/或平均值，和/或方差对待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

应当说明的是，步骤S17中还可以结合测试仪器的命令次数、待测电子标签的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种对待测电子标签的防碰撞性能进行评估，具体的，在下文中进行介绍。

步骤S12中待测电子标签的数量可以为多个，也可以为1个，当为多个时，步骤S13包括：针对每一待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和测试条件参数当前的取值组合的映射关系。

所以针对每一待测电子标签都可以得到各测试条件参数取值组合和上面所介绍的防碰撞参数的相关值的映射关系，从而可以对每一待测电子标签的性能进行评估。

请参见图2所示，在步骤S12中的待测电子标签为多个时，在图1中的步骤S14之前，还可以包括以下步骤：

S131：记录每次盘点过程中测试仪器产生的命令次数、待测电子标签产生的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种。

为了使评估结果更加全面，可选的，在步骤S131中可以对上述命令次数、有效响应次数和碰撞次数都进行记录。

S132：建立命令次数、有效响应次数和碰撞次数中的至少一种和测试条件参数当前的取值组合的映射关系。

测试仪器在对多个待测电子标签进行一次盘点后，就可以得到这个盘点过程中测试仪器发出的命令次数、待测电子标签的有效响应次数总和以及碰撞次数总和，然后再建立这三种参数与测试条件参数当前的取值组合的映射关系即可。

此时，在步骤S15之后，且在步骤S16之前还可以包括以下步骤：

S151：对与测试条件参数当前的取值组合对应的命令次数、有效响应次数和碰撞次数中的至少一种进行累计，得到命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种，然后转至S152；

S152：计算命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种与预设的盘点次数总和的比值关系。

对于此种示例，测试仪器可以结合步骤S152中的比值关系以及步骤S15中得到的碰撞参数的相关值对每一待测电子标签的碰撞性能进行评估，具体的评估方式可以视情况而定，需要说明的是，命令次数累计值和预设的盘点次数总和的比值越小，则说明整体的防碰撞性能越好，有效响应次数累计值和预设的盘点次数总和的比值越大，则说明整体的防碰撞性能越好，碰撞次数累计值和预设的盘点次数总和的比值越小，则说明整体的防碰撞性能越好，所以基于这种原则，就可以对待测电子标签整体的防碰撞性能进行评估，然后可以在整体的防碰撞性能基础上，对每一待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

再比如，可以先根据步骤S152中的比值关系评估多个待测电子标签组成的整体的防碰撞性能，然后再根据每一待测电子标签对应的防碰撞参数的相关值，对每一待测电子标签的防碰撞性能进行评估，以便于后续的应用，比如，若整体的防碰撞性能较好，则可以直接将这些待测电子标签作为一个整体来使用，此外，若整体的防碰撞性能不好，再根据每一待测电子标签对应的防碰撞参数的相关值筛选出防碰撞性能较好的待测电子标签。

所以根据本实施例提供的方法，也可以得到待测电子标签群在各种测试条件参数取值组合下的防碰撞性能，在一些不可对待测电子标签群中的标签进行替换的场合下，可以选择在合适的测试条件参数取值组合下使用这个标签群，因此通过本实施例提供的测试方法，还可以使电子标签得到更加合理的应用。

需要说明的是，在一些实施例中，在得到上述的命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值时，还可以计算命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中至少两种累计值之间的比值关系，也可以根据这种比值关系对多个待测电子标签整体的防碰撞性能进行评估。

本实施例还提供一种射频识别防碰撞性能测试仪器，请参见图3所示，包括：处理器31、存储器32及通信总线33，其中，通信总线33用于实现处理器31和存储器32之间的连接通信，处理器用于执行存储器中存储的一个或多个程序，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

本实施例还提供一种存储介质，该存储介质存储有一个或者多个程序，一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述任意一种射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

上面结合附图对本发明的实施例进行了描述，但是本发明并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本发明的启示下，在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本发明的保护之内。

Claims (8)

1.一种射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，包括：

S11：测试仪器基于预先设置的与每一测试条件参数对应的测试值集合对所述测试仪器相应的测试条件参数的值进行设置；

S12：所述测试仪器对待测电子标签进行一次盘点；

S13：记录每次盘点过程中所述待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立所述防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系，所述防碰撞参数值包括时隙值、随机数值和链接时序值中的至少一种；

S14：针对所述测试条件参数当前的取值组合，判断其盘点次数之和是否达到预设的盘点次数总和，如是，转至S15，否则，转至S12；

S15：分别对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的每一防碰撞参数值进行统计，根据统计结果计算每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种；

S16：判断是否遍历所述测试条件参数的所有取值组合，如是，转至S17，否则，转至S11；

S17：基于各测试条件参数取值组合对应的每一防碰撞参数的最大值、最小值、平均值和方差中的至少一种对各测试条件参数取值组合下的所述待测电子标签的防碰撞性能进行评估。

2.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述测试条件参数包括前向链路基准时间、反向链路链接频率、反向链路编码方式、标签接入数目控制参数和接入帧时隙总数中的至少一种。

3.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述待测电子标签的数量为多个，所述S13包括：

针对每一所述待测电子标签，分别记录每次盘点过程中该待测电子标签产生的防碰撞参数值，并建立该待测电子标签产生的防碰撞参数值和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系。

4.如权利要求1所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，所述待测电子标签的数量为1个。

5.如权利要求3所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，在步骤S14之前，还包括:

S131：记录每次盘点过程中所述测试仪器产生的命令次数、所述待测电子标签产生的有效响应次数和碰撞次数中的至少一种；

S132：建立所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种和所述测试条件参数当前的取值组合的映射关系；

在步骤S15之后，且在步骤S16之前还包括：

S151：对与所述测试条件参数当前的取值组合对应的所述命令次数、所述有效响应次数和所述碰撞次数中的至少一种进行累计，得到命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种，然后转至S152；

S152：计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中的至少一种与预设的盘点次数总和的比值关系，并结合步骤S152中的比值关系以及步骤S15中得到的碰撞参数的相关值对每一待测电子标签的碰撞性能进行评估。

6.如权利要求5所述的射频识别防碰撞性能测试方法，其特征在于，当得到所述命令次数累计值、所述有效响应次数累计值和所述碰撞次数累计值时，所述方法还包括：

计算所述命令次数累计值、有效响应次数累计值和碰撞次数累计值中至少两种累计值之间的比值关系，并根据这种比值关系对多个待测电子标签整体的防碰撞性能进行评估。

7.一种射频识别防碰撞性能测试仪器，其特征在于，包括：处理器、存储器及通信总线；

所述通信总线用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信；

所述处理器用于执行所述存储器中存储的一个或多个程序，以实现如权利要求1-6中任一项所述的射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-6 中任一项所述的射频识别防碰撞性能测试方法的步骤。

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