CN109683039B - 用于电子产品的下线检测方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测方法。该方法包括：检测开机后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识没有标志位时，对电子产品进行IO口检测；当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第一FLASH标志位时，根据第一FLASH标志位，对电子产品进行功能检测；当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对电子产品进行重启；检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；当FLASH标识为第二FLASH标志位时，根据第二FLASH标志位，对电子产品重启，以完成下线检测。发明实施例还提供了一种用于电子产品的下线检测系统。本发明实施例通过测试程序与产品合一实现产品的整体下线检测，检测过程更加便捷。

Description

用于电子产品的下线检测方法及系统
技术领域
本发明涉及产品检测领域，尤其涉及一种用于电子产品的下线检测方法及系统。
背景技术
为了提高电子产品出厂的质量，降低次品的出场率，需要在电子产品线上出厂之前进行下线检测。无论何种下线检测技术(检测产品的部分或是产品的整体)，下线检测都是需要软件、硬件以及产线(夹具、检测装置、人工检测等)三方配合并有机组合才能完成的一个流程。针对于不同的产品，检测的偏重点(软件、硬件或产线)会有所不同。下线检测包括装配检测、功能检测等一系列测试来保证其检测的准确性。
在实现本发明过程中，发明人发现相关技术中至少存在如下问题：
首先，由于部分被测产品的形态太大，下线检测对这种形态较大的电子产品都是检测所述电子产品的一部分，而不是产品的整体检测；其次，下线检测的实现，是需要产线的机械手、传送器等大型设备才能完成，成本较高；再次，很大部分的产品将下线检测与正式产品的软件进行了分离，在生产的时候需要对电子产品进行多次烧录，操作较为繁琐；最后，更有一些下线检测是依赖于人工进行判断，主观性很强，无法达到下线检测的核心目标。
发明内容
为了至少解决现有技术中的由于被测产品形态太大，无法进行整体的下线检测，下线检测时需要在生产的时候对电子产品进行多次烧录，操作繁琐的问题，下线检测依赖人工进行判断，使得检测结果带有主观性的问题。
第一方面，本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测方法，包括：
检测开机后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；
当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
检测重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
第二方面，本发明实施例提供一种用于电子产品的下线检测系统，包括：FLASH标识检测模块、IO口检测模块、功能检测模块、标志位设置模块、重启模块，其中，
所述FLASH标识检测模块用于检测开机后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识没有标志位时，所述IO口检测模块用于对所述电子产品进行IO口检测；
当IO口检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第一FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，所述功能检测模块用于根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
当功能检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第二FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品再次重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，所述重启模块用于根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
本发明实施例实现了对电子产品的下线检测，通过将下线测试所涉及的步骤都集成在一个程序中。将所述程序分为三分支：烧录代码之后，首先运行最基本的IO口检测，检测基本控制的IO口是否正常，从而检测核心板的电路是否异常；若本次检测通过，则设置FLASH的标识位，从而进入电子产品的功能检测，根据产品的具体功能进行详细的功能检测；若功能检测也通过，再设置FLASH的标志位，使其再次重启，进入产品自身的功能程序。从而整个方法中，只烧录一次软件，操作更加简单。整个流程只有电子产品自身硬件与软件配合即可完成，不需要外部的依赖，实施更加方便，同时，测试过程中也不依赖外部测试人员的主观判断，测试更加精准。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一实施例提供的一种用于电子产品的下线检测方法的流程图；
图2是本发明一实施例提供的一种用于电子产品的下线检测系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示为本发明一实施例提供的一种用于电子产品的下线检测方法的流程图，包括如下步骤：
S11：检测开机后的电子产品的FLASH标识；
S12：当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；
S13：当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
S14：检测重启后的电子产品的FLASH标识；
S15：当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
S16：当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
S17：检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
S18：当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
在本实施方式中，本方法将需要烧录的软件程序集成在一个二进制包里面。在电子产品中，主要面对的都为单片机类型的消费电子产品。例如，计算机里的键盘控制器，就是一块单片机，又如在家用电器中，电脑控温的冰箱、微波炉、全自动洗衣机的控制器，也都是单片机，又如汽车的ECU(电喷的控制器)也是以单片机为核心的，还有出租车的计价器等等。在工业中用到单片机类型的电子产品就更多了，比如工业机器人和数控机床，每个关节都有一个电机，每个电机都由一块单片机来控制。还有恒温的加热炉、化工上需要自动调节温度、流量压力等参数地方，都可以用单片机来实现控制。
在下线检测之前，需要将搭载本方法的程序烧录在被测的电子产品中，从而，才可以进行相应的下线检测。
对于步骤S11，检测开机后的电子产品的FLASH标识，其中，所述FLASH标识包括主存储块以及信息块。主存储快用于存储程序，开发者写的程序一般存储在这里。信息块又分为两个部分：系统存储器、选项字节。系统存储器存储用于存放在系统存储自举模式下的启动程序(BootLoader)，当使用ISP(in system programming，在系统编程)方式加载程序时，就由这个程序执行。这个区域由芯片厂写入BootLoader，然后锁死，用户是无法改变这个区域的。选项字节存储芯片的配置信息及对主存储块的保护信息。
为了增强安全性，进行某项操作时，需要向某个位置写入特定的数值，来验证是否为设定的操作，这些数值称为标志位。当程序烧录后，所述电子产品的FLASH内部是不带有任何标志位的。
对于步骤S12，由于步骤S11所述，当程序烧录后，所述电子产品的FLASH内部不具有任何标志位，从而对所述电子产品进行IO口检测。其中IO口的配置对所述电子产品的功能的实现起着重要的作用。当IO输出为高电平时，其驱动能力很弱，外部负载很容易将其拉至低电平。当IO输出为低电平时，其驱动能力很强，可吸收相当大的电流。当IO口使用开漏输出配置时，关闭所有上拉晶体管，只驱动下拉晶体管，下拉与准双向口下拉配置相同，因此，只能输出低电平和高阻状态，不能输出高电平。而IO口检测的基本就是对核心板对外提供的可操作IO进行高低电平检测，通过内部程序控制IO口电平转换。
对于步骤S13，当通过了步骤S12进行的IO口检测，设置FLASH标志位，对所述电子产品进行重启，通过设置标志位，从而来决定标志位的状态所对应的程序。例如，设置当标志位为1的时候，调用程序A，设置当标志位为0的时候，调用程序B。只要不断调整标志位，通过改变它的标志位就可以调用相应的程序。为了进行下一步的检测，所述第一FLASH标志位引导的程序为功能检测程序，进而在重启后，进行下一步骤的功能检测。
对于步骤S14，在确定进入下一步骤检测后，执行重启操作，进而检测重启后所述电子产品的FLASH标识，通过所述FLASH标识内的标志位，从而调用相应的功能检测程序。
对于步骤S15，当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，调用到相应的对电子产品功能检测的程序。
由于在上述步骤中已经通过了IO口检测，后续就是产品的底板和外围器件以及结构组装。当组装完成后，也就具备了电子产品的初步形态。在这种情况下开机，通过所述第一FLASH标志位，会引导进入功能检测程序，对所述电子产品的功能进行检查，例如，软件的检查或硬件的检查。例如，所述电子产品为智能手机，其功能检测包括：屏组件测试、指纹测试、震动台测试、回音测试、耳机插拔测试、线控耳机测试、充电测试、放电测试、陀螺仪测试、接近传感测试、GPS测试、相机测试、闪光灯测试、NFC测试、OTG测试、呼吸灯测试、霍尔元件测试等等。
对于步骤S16，当功能检测都通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启，其中，也是通过设置所述第二FLASH标志位来进行重启后的程序切换。
对于步骤S17，检测再次重启后的电子产品的FLASH标识，通过所述FLASH标识内的标志位，从而调用相应的程序。
对于步骤S18，当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。通过上述步骤的检测，通过检测的电子产品则已经具备上线销售的条件，通过使产品再次重启，根据第二FLASH标志位触发所述电子产品正常运行的程序。
通过该实施方法可以看出，本实施方法提供了一种用于电子产品的下线检测方法，通过将下线测试所涉及的步骤都集成在一个程序中。将所述程序分为三分支：烧录代码之后，首先运行最基本的IO口检测，检测基本控制的IO口是否正常，从而检测核心板的电路是否异常；若本次检测通过，则设置FLASH的标识位，从而进入电子产品的功能检测，根据产品的具体功能进行详细的功能检测；若功能检测也通过，再设置FLASH的标志位，使其再次重启，进入产品自身的功能程序。从而整个方法中，只烧录一次软件，操作更加简单。整个流程只有电子产品自身硬件与软件配合即可完成，不需要外部的依赖，实施更加方便，同时，测试过程中也不依赖外部测试人员的主观判断，测试更加精准。
作为一种实施方式，在本实施例中，所述对所述电子产品进行IO口检测还包括：
当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO检测为止。
在本实施方式中，当IO口检测不通过时，就进入对所述电子产品的循环IO口检测，也就是说当IO口检测不通过时，代表着所述电子设备的核心板的电路存在异常，进而无法通过相应的测试。而设置循环IO口检测，当IO口检测不通过时，就会一直执行循环检测的操作，卡在当前步骤。这样就可以在产线中筛选出在电子产品生产过程中的不良品、残次品。
通过该实施方法可以看出，通过循环IO口检测，将那些无法通过测试的电子产品卡在相应的步骤中，从而提醒下线测试人员筛选出相应的不良品、残次品。根据所述下线测试所卡住的环节，从而确定出所述电子产品相应的问题，进而进行针对调整。
作为一种实施方式，在本实施例中，所述对所述电子产品进行功能检测还包括：
当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。
在本实施方式中，当功能检测没有通过时，也就代表着电子产品生产完成后，其部分功能还存在着缺陷，进而无法完成相应的功能检测。而设置循环功能检测，当功能检测不通过时，就会一直执行循环检测的操作，进而卡在当前步骤。这样就可以筛选出电子产品中的不良品、残次品。
通过该实施方法可以看出，通过循环功能检测，将那些无法通过测试的电子产品卡在相应的步骤中，从而提醒下线测试人员筛选出相应的不良品、残次品。根据所述下线测试所卡住的环节，从而确定出所述电子产品相应的问题，进而进行针对性调整修正。
作为一种实施方式，在本实施例中，所述功能检测包括：功能自检；
所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。
当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。
在本实施方式中，所述功能检测包括功能自检，由于电子设备的功能各不相同，设定固定的检测项目可能无法囊括各种电子设备的功能。又由于电子设备自身都有相应的自检功能，例如，部分智能手机，在被输入*#808#指令之后，会进入自检模式，其他的电子设备自检启动方式各不相同。通过调用其电子设备自身的自检功能进行相应的项目检测，例如，检测项包括按键、LED、喇叭、麦克，这些电子设备通常都会具备的功能。当部分功能没有自检通过时，则会反馈相应的失败的检测项。下线测试人员根据所述失败的检测项，可以对其电子设备进行相应的修正以及调整。
通过该实施方式可以看出，根据反馈相应的失败的检测项来提示下线检测人员，被测电子设备所存在的相应缺陷，进而根据所述缺陷，定位出所述电子设备需要修正调整的地方，提高了下线检测的效率。
如图2所示为本发明一实施例提供的一种用于电子产品的下线检测系统的结构示意图，该系统可执行上述任意实施例所述的用于电子产品的下线检测方法，并配置在终端中。
本实施例提供的一种用于电子产品的下线检测系统包括：FLASH标识检测模块11，IO口检测模块12，功能检测模块13，标志位设置模块14和重启模块15。
其中，所述FLASH标识检测模块11用于检测开机后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识没有标志位时，所述IO口检测模块12用于对所述电子产品进行IO口检测；
当IO口检测通过时，所述标志位设置模块14用于设置第一FLASH标志位，所述重启模块15用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品重启后，所述FLASH标识检测模块11用于检测重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，所述功能检测模块13用于根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
当功能检测通过时，所述标志位设置模块14用于设置第二FLASH标志位，所述重启模块15用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品再次重启后，所述FLASH标识检测模块11用于检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，所述重启模块15用于根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
进一步地，所述IO口检测模块还用于：
当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO检测为止。
进一步地，所述功能检测模块还用于：
当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。
进一步地，所述功能检测包括：功能自检；
所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。
进一步地，所述系统还用于：当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”，不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种用于电子产品的下线检测方法，包括：
检测开机后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识没有标志位时，对所述电子产品进行IO口检测；
当IO口检测通过时，设置第一FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
检测重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
当功能检测通过时，设置第二FLASH标志位，对所述电子产品进行重启；
检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述电子产品进行IO口检测还包括：
当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO口检测为止。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述对所述电子产品进行功能检测还包括：
当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述功能检测包括：功能自检；
所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述方法还包括：当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。
6.一种用于电子产品的下线检测系统，包括：FLASH标识检测模块、IO口检测模块、功能检测模块、标志位设置模块、重启模块，其中，
所述FLASH标识检测模块用于检测开机后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识没有标志位时，所述IO口检测模块用于对所述电子产品进行IO口检测；
当IO口检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第一FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第一FLASH标志位时，所述功能检测模块用于根据所述第一FLASH标志位，对所述电子产品进行功能检测；
当功能检测通过时，所述标志位设置模块用于设置第二FLASH标志位，所述重启模块用于对所述电子产品进行重启；
在所述电子产品再次重启后，所述FLASH标识检测模块用于检测再次重启后的电子产品的FLASH标识；
当所述FLASH标识为所述第二FLASH标志位时，所述重启模块用于根据所述第二FLASH标志位，对所述电子产品重启，以完成下线检测。
7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述IO口检测模块还用于：
当IO口检测不通过时，对所述电子产品进行循环IO口检测，直到通过IO口检测为止。
8.根据权利要求6所述的系统，其中，所述功能检测模块还用于：
当功能检测没有通过时，对所述电子产品进行循环功能检测，直到通过功能检测为止。
9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述功能检测包括：功能自检；
所述功能自检的检测项包括：按键和/或LED和/或喇叭和/或麦克风。
10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述系统还用于：当功能自检没有通过时，反馈自检失败的检测项。
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