CN109665258A - 一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨，C型导轨的下端固定在底板上，C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨外壁的滚针进孔和滚针出孔，滚针进料槽上侧的C型导轨后侧壁上固定有第一支架，第一支架上铰接有正八边形的第一导轮，支柱位于滚针出料槽的上侧并铰接有第二导轮，第二导轮的一侧设有第三导轮,第三导轮、第二导轮和第一导轮上套设有环形的输送带，输送带的内侧端面上固定有若干软磁条。本发明能实现滚针的循环输送，为二极管逐个检测提供基础。

Description

一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置

技术领域：

本发明涉及电子元件检测设备的技术领域，更具体地说涉及一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置。

背景技术：

肖特基二极管是一种常见的电子元件，目前有部分带封装的肖特基二极管呈矩形，肖特基二极管的一侧设有若干针脚、另一侧设有封装片，封装片上成型有便于安装的插孔。肖特基二极管生产完成后需要进行性能检测，便于次品流出工厂，而性能检测一般采用性能测试仪器对肖特基二极管的针脚进行接触测试，现有的检测设备采用肖特基二极管逐个测试的方式进行测试，其肖特基二极管排列在槽轨内，但检测时，性能测试仪器会发生触碰到相邻肖特基二极管的针脚状况，会发生误检的问题，从而有提出利用滚针插接到肖特基二极管的封装板上，通过滚针定位，逐个推动肖特基二极管伸出槽轨进行检测的方式来减小干涉、误检，但利用滚针，则需要滚针输送的结构。

发明内容：

本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其能实现滚针的循环输送，为二极管逐个检测提供基础。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨，C型导轨的下端固定在底板上，C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨外壁的滚针进孔和滚针出孔，C型导轨的外侧壁上分别固定有与滚针进孔和滚针出孔相对的半圆形的滚针进料槽和滚针出料槽，滚针进料槽上侧的C型导轨后侧壁上固定有第一支架，第一支架上铰接有正八边形的第一导轮，靠近滚针出料槽的C型导轨外侧壁上固定支柱，支柱位于滚针出料槽的上侧并铰接有第二导轮，第二导轮的一侧设有第三导轮,第三导轮、第二导轮和第一导轮上套设有环形的输送带，输送带的内侧端面上固定有若干软磁条，软磁条均匀分布在输送带上并抵靠在第三导轮、第二导轮和第一导轮上；所述滚针进料槽一侧的上端面固定有斜置的导流板，导流板的上端抵靠在输送带的外侧端面上；所述的第三导轮铰接在第二支架上，第二支架固定在C型导轨上。

优选的，所述C型导轨上滚针进孔和滚针出孔的孔径相等，滚针进料槽或滚针出料槽内壁的半径分别等于滚针进孔或滚针出孔的半径。

优选的，所述的第三导轮位于第一导轮的正下方，第三导轮的中心轴线和第二导轮的中心轴线在同一水平面内。

优选的，所述第一导轮、第二导轮和第三导轮的直径相等。

优选的，所述靠近第二导轮的输送带外侧端面上抵靠有滚轮，滚轮铰接在第三支架上，第三支架固定在C型导轨上。

优选的，所述的第二支架上固定连接有驱动电机，第三导轮插套固定在驱动电机的转轴上。

本发明的有益效果在于：其能实现滚针的循环输送，为二极管逐个检测提供基础。

附图说明：

图1为本发明的结构示意图。

图中：1、C型导轨；1a、滚针进孔；1b、滚针出孔；2、底板；3、滚针进料槽；4、滚针出料槽；5、第一支架；6、第一导轮；7、第三导轮；8、第二导轮；9、输送带；10、软磁条；11、第二支架；12、滚轮；13、第三支架；14、导流板。

具体实施方式：

实施例：见图1所示，一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨1，C型导轨1的下端固定在底板2上，C型导轨1两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨1开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨1一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨1外壁的滚针进孔1a和滚针出孔1b，C型导轨1的外侧壁上分别固定有与滚针进孔1a和滚针出孔1b相对的半圆形的滚针进料槽3和滚针出料槽4，滚针进料槽3上侧的C型导轨1后侧壁上固定有第一支架5，第一支架5上铰接有正八边形的第一导轮6，靠近滚针出料槽4的C型导轨1外侧壁上固定支柱，支柱位于滚针出料槽4的上侧并铰接有第二导轮8，第二导轮8的一侧设有第三导轮7,第三导轮7、第二导轮8和第一导轮6上套设有环形的输送带9，输送带9的内侧端面上固定有若干软磁条10，软磁条10均匀分布在输送带9上并抵靠在第三导轮7、第二导轮8和第一导轮6上；所述滚针进料槽3一侧的上端面固定有斜置的导流板14，导流板14的上端抵靠在输送带9的外侧端面上；所述的第三导轮7铰接在第二支架11上，第二支架11固定在C型导轨1上。

优选的，所述C型导轨1上滚针进孔1a和滚针出孔1b的孔径相等，滚针进料槽3或滚针出料槽4内壁的半径分别等于滚针进孔1a或滚针出孔1b的半径。

优选的，所述的第三导轮7位于第一导轮6的正下方，第三导轮7的中心轴线和第二导轮8的中心轴线在同一水平面内。

优选的，所述第一导轮6、第二导轮8和第三导轮7的直径相等。

优选的，所述靠近第二导轮8的输送带9外侧端面上抵靠有滚轮12，滚轮12铰接在第三支架13上，第三支架13固定在C型导轨1上。

优选的，所述的第二支架11上固定连接有驱动电机，第三导轮7插套固定在驱动电机的转轴上。

工作原理：本发明为二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，如图1所示，从C型导轨1滚针出孔1b出来的定位滚针可以被软磁条10吸持，从而吸附在输送带9，通过驱动第三导轮7实现输送带9移动，当吸附的定位滚针移动到导流板14处时，被导流板14所拦截，沿导流板14落到滚针进料槽3内。

所述实施例用以例示性说明本发明，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对所述实施例进行修改，因此本发明的权利保护范围，应如本发明的权利要求所列。

Claims (6)

1.一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，包括竖直的C型导轨(1)，C型导轨(1)的下端固定在底板(2)上，C型导轨(1)两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽，限位沟槽靠近的C型导轨(1)开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽，C型导轨(1)一侧限位沟槽的上、下端分别成型有贯穿C型导轨(1)外壁的滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)，其特征在于：C型导轨(1)的外侧壁上分别固定有与滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)相对的半圆形的滚针进料槽(3)和滚针出料槽(4)，滚针进料槽(3)上侧的C型导轨(1)后侧壁上固定有第一支架(5)，第一支架(5)上铰接有正八边形的第一导轮(6)，靠近滚针出料槽(4)的C型导轨(1)外侧壁上固定支柱，支柱位于滚针出料槽(4)的上侧并铰接有第二导轮(8)，第二导轮(8)的一侧设有第三导轮(7),第三导轮(7)、第二导轮(8)和第一导轮(6)上套设有环形的输送带(9)，输送带(9)的内侧端面上固定有若干软磁条(9)，软磁条(9)均匀分布在输送带(9)上并抵靠在第三导轮(7)、第二导轮(8)和第一导轮(6)上；所述滚针进料槽(3)一侧的上端面固定有斜置的导流板(14)，导流板(14)的上端抵靠在输送带(9)的外侧端面上；所述的第三导轮(7)铰接在第二支架(11)上，第二支架(11)固定在C型导轨(1)上。

2.根据权利要求1所述的一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其特征在于：所述C型导轨(1)上滚针进孔(1a)和滚针出孔(1b)的孔径相等，滚针进料槽(3)或滚针出料槽(4)内壁的半径分别等于滚针进孔(1a)或滚针出孔(1b)的半径。

3.根据权利要求1所述的一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其特征在于：所述的第三导轮(7)位于第一导轮(6)的正下方，第三导轮(7)的中心轴线和第二导轮(8)的中心轴线在同一水平面内。

4.根据权利要求3所述的一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其特征在于：所述第一导轮(6)、第二导轮(8)和第三导轮(7)的直径相等。

5.根据权利要求3所述的一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其特征在于：所述靠近第二导轮(8)的输送带(9)外侧端面上抵靠有滚轮(12)，滚轮(12)铰接在第三支架(13)上，第三支架(13)固定在C型导轨(1)上。

6.根据权利要求1所述的一种二极管性能检测设备上的定位滚针循环输送装置，其特征在于：所述的第二支架(11)上固定连接有驱动电机，第三导轮(7)插套固定在驱动电机的转轴上。