CN109633277A - 一种电阻测试装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电子产品测试领域，具体涉及一种电阻测试装置。所述电阻测试装置包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。本发明还涉及一种电阻测试系统。通过设置设有测试槽的治具，第一测试机构，以及压紧机构，压紧机构将放置于治具内的待测产品压向第一测试机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且第一测试端可穿设测试槽与待测产品接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单。

Description

一种电阻测试装置及系统

技术领域

本发明涉及电子产品测试领域，具体涉及一种电阻测试装置及系统。

背景技术

随着电子产品智能化及轻薄化的发展趋势，要求电子产品既要小巧轻薄，又要触摸灵敏、显示清晰及功能丰富，因而对电子产品主板的要求也越来越高，电子产品主板的测试工作相应的更为复杂，测试周期也更长。为了保证电子产品主板的生产质量，需要对电子产品内部的一些部位的连通性能进行测试。通常地，通过测试电子产品内部的电阻来测试电子产品内部一些部位的连通性能。

对电子产品内部的电阻进行测试时，一般都是由人工完成，人工测试耗时长，测试效率低，且人工成本高。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电阻测试装置及系统，克服现有的使用人工测试电子产品内部电阻测试耗时长，测试效率低，且人工成本高的问题。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电阻测试装置，包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，所述第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

本发明的更进一步优选方案是：所述电阻测试装置还包括对压紧机构将待测产品压向第一测试机构进行缓冲的缓冲机构。

本发明的更进一步优选方案是：所述缓冲机构至少包括两与治具抵靠或连接的第一支撑件，与第一支撑件对应的套筒，以及分别与第一支撑件和套筒抵靠或连接的弹性件，所述第一支撑件通过弹性件部分穿设套筒并活动设置于套筒中。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试机构还包括测试座，所述第一测试端设于测试座上且与测试槽的位置相对应。

本发明的更进一步优选方案是：所述电阻测试装置还包括至少一设于治具下方且用于测试产品侧边电阻的第二测试机构，所述第二测试机构设有一第二测试端且第二测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

本发明的更进一步优选方案是：所述第二测试机构还包括基座，所述第二测试端滑动设置于基座上。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试端设有双通道分布的多个测试探针。

本发明的更进一步优选方案是：所述第一测试端设有双通道分布的八个探针，每一通道设置四个探针。

本发明的更进一步优选方案是：所述测试探针的测试头为梅花锥形结构。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电阻测试系统，包括所述的电阻测试装置，以及与电阻测试装置的第一测试机构和第二测试机构电连接的阻抗测试仪。

本发明的有益效果在于，通过设置设有测试槽的治具，用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及压紧机构，压紧机构将放置于治具内的待测产品压向第一测试机构，第一测试机构设有至少一第一测试端且第一测试端可穿设测试槽与待测产品接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单；以及，设置缓冲机构，减少放置待测产品时对第一测试机构的干涉，且对压紧机构将待测产品压向第一测试机构起缓冲作用；以及，第一测试端设置双通道分布的多个测试探针，提高测试准确率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明的电阻测试装置(不包括压紧机构)的立体结构示意图；

图2是本发明的电阻测试装置(不包括压紧机构)的结构示意图；

图3是图2中A的局部放大图；

图4是图2中B的局部放大图；

图5是本发明的第一测试机构、缓冲机构和第二测试机构的结构示意图；

图6是本发明的压紧机构的立体结构示意图；

图7是本发明的电阻测试系统的立体结构示意图。

具体实施方式

现结合附图，对本发明的较佳实施例作详细说明。

如图1至图6所示，本发明提供一种电阻测试装置的优选实施例。

所述电阻测试装置包括设有测试槽11且用于放置待测产品的治具10，设于治具10下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构20，以及用于将待测产品压向第一测试机构20的压紧机构30，所述第一测试机构20设有至少一第一测试端21且每一所述第一测试端21可穿设测试槽11与待测产品抵触。通过设置设有测试槽11的治具10，用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构20，以及压紧机构30，压紧机构30将放置于治具10内的待测产品压向第一测试机构20，第一测试机构20设有至少一第一测试端21且第一测试端21穿设测试槽11与待测产品接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单。

其中，治具10采用POM材质制成，具有优异的耐磨性能，且良好的绝缘性。以及，治具10上设置多个定位块12，对放置于治具10上的待测产品进行定位和保护；设置测试槽11，便于第一测试机构20的第一测试端21穿设测试槽11对待测产品正面电阻进行测试。

以及，所述第一测试机构20还包括测试座22，所述第一测试端21设于测试座22上且与测试槽11的位置相对应。所述第一测试机构20还包括至少两与测试座22连接的第二支撑件23。在测试座22上设置至少一第一测试端21，用户可根据需要在测试座22上设置多个第一测试端21对待测产品多个部位的正面电阻进行测试。本实施例中的第一测试机构20设置四个与测试座22连接的第二支撑件23，使第一测试机构20的结构更稳定。

进一步地，所述治具10上设置两定位孔13，所述测试座22上设置与两定位孔13配合的定位件221。当压紧机构30将待测产品压向第一测试机构20过程中，两定位件221伸入对应的定位孔13中，可实现对治具10的定位，提高测试稳定性。

本实施例中，所述压紧机构30包括丝杠模组31，与丝杠模组31连接的盖板32，以及与丝杠模组31连接并通过丝杠模组31带动盖板32将待测产品压向第一测试机构20的第一电机33。第一电机33提供动力通过丝杠模组31带动盖板32将待测产品压向第一测试机构20。第一电机33和丝杠模组31的组合使用使待测产品与第一测试机构20的压合过程更稳定。

其中，所述盖板32与待测产品的接触端面上设置柔性材料层321，与被测产品进行接触，可有效防护被测产品。

本实施例中，所述电阻测试装置还包括对压紧机构30将待测产品压向第一测试机构20进行缓冲的缓冲机构40。将待测产品放置于治具10内时，待测产品与第一测试机构20不发生接触，对第一测试机构20不产生干涉。待测产品放置完成后，由压紧机构30将待测产品压向第一测试机构20至定位位置，测试座22的两定位件221对应伸入治具10的两定位孔13中，待测产品压至治具10与第一测试机构20的测试座接触，在此过程中，缓冲机构40起缓冲作用。

其中，所述缓冲机构40至少包括两与治具10抵靠或连接的第一支撑件41，与第一支撑件41对应的套筒42，以及分别与第一支撑件41和套筒42抵靠或连接的弹性件(图未示)，所述第一支撑件41通过弹性件部分穿设套筒42并活动设置于套筒42中。

具体地，所述缓冲机构40包括四个与治具10连接的第一支撑件41，四个与第一支撑件41对应的套筒42，四个分别与对应的第一支撑件41和套筒42连接的弹性件。本实施例中，弹性件包括弹簧(图未示)。在其他实施例中，弹性件也可包括磁性相反的磁铁或其他具有弹性的部件。在压紧机构30将待测产品压向第一测试机构20至定位位置过程中，弹簧由正常伸展状态逐渐被压缩，第一支撑件41部分穿设套筒42并因弹簧的压缩和恢复正常状态在套筒42中活动。弹簧对压紧机构30将待测产品压向第一测试机构20至定位位置过程中起缓冲作用。

本实施例中，所述电阻测试装置还包括至少一设于治具10下方且用于测试产品侧边电阻的第二测试机构50，所述第二测试机构50设有一第二测试端51且第二测试端51可穿设测试槽与待测产品抵触。第二测试机构50的第二测试端51与待测产品接触，对待测产品的侧边电阻进行测试。

其中，所述第二测试机构50还包括基座52，所述第二测试端51滑动设置于基座52上。

具体地，所述第二测试机构50还包括设于基座52内且与第二测试端51连接的第二电机(图未示)，第二电机带动第二测试端51相对于基座52滑动。在第一测试机构20完成对待测产品的正面电阻测试后，可通过控制基座52内的第二电机工作，调节第二测试端51与待测产品的侧边电阻接触，对待测产品的侧边电阻进行测试。

优选地，本实施例中的电阻测试装置包括两设于治具10下方且用于测试产品侧边电阻的第二测试机构50，对待测产品多个部位的侧边电阻进行测试。

本实施例中，所述第一测试端21设有双通道分布的多个测试探针211。具体地，所述第一测试端21设有双通道分布的八个测试探针211，每一通道设置四个测试探针211。设置两个通道并在每一通道设置四个测试探针211，可去除导线电阻产生的误差，且通过测试可得出同一测试部位的两个测试值，可通过外接软件智能地识别选择一个有效值作为测试的最终值，可避免一些无效的测试结果，大大提高测试准确率和测试效率。

以及，第二测试端51设置四个测试探针211，可去除导线电阻产生的误差，提高测试准确率。

其中，所述测试探针211的测试头2111为梅花锥形结构。将测试头2111设置成梅花锥形，可保证测试探针211与待测产品的测试部位完全接触，且测试探针211外表面采用镀金材质可保持良好的导通性。

本实施例中，电阻测试装置可包括底座60，所述缓冲机构40的第一支撑件41、第一测试机构20的第二支撑件23和驱动机构30均设置于底座60上，方便对第一测试机构20和缓冲机构40的管理。

如图7所示，本发明还提供一种电阻测试系统的优选实施例。

所述电阻测试系统包括上述所述的电阻测试装置，以及与电阻测试装置的第一测试机构20和第二测试机构50电连接的阻抗测试仪200。

设置阻抗测试仪200与第一测试机构20和第二测试机构50电连接，通过第一测试机构20和第二测试机构50对待测产品的正面电阻和侧边电阻进行测试并由阻抗测试仪200进行分析处理。

本发明的电阻测试系统的电阻测试装置通过设置设有测试槽11的治具10，第一测试机构20，以及压紧机构30，压紧机构30将放置于治具10内的待测产品压向第一测试机构20，第一测试机构20的第一测试端21与待测产品的正面电阻接触，实现对待测产品正面电阻的测试，提高产品电阻测试的自动化程度，降低人工成本，提高测试效率，且结构简单。以及，电阻测试系统可实现同时对待测产品的不同部位进行电阻测试，提高测试效率。

进一步地，所述电阻测试系统还包括安装座300。电阻测试装置和阻抗测试仪200均设置于安装座300上。用户可通过安装座300将电阻测试系统设置于外部工作平台上，操作方便。

本发明实施例中，所述的待测产品包括手机，在其他实施例中也可包括平板、电脑等需要进行电阻测试的电子产品。

应当理解的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，对本领域技术人员来说，可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而所有这些修改和替换，都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种电阻测试装置，其特征在于：所述电阻测试装置包括设有测试槽且用于放置待测产品的治具，设于治具下方且用于测试待测产品正面电阻的第一测试机构，以及用于将待测产品压向第一测试机构的压紧机构，所述第一测试机构设有至少一第一测试端且每一所述第一测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

2.根据权利要求1所述的电阻测试装置，其特征在于：所述电阻测试装置还包括对压紧机构将待测产品压向第一测试机构进行缓冲的缓冲机构。

3.根据权利要求2所述的电阻测试装置，其特征在于：所述缓冲机构至少包括两与治具抵靠或连接的第一支撑件，与第一支撑件对应的套筒，以及分别与第一支撑件和套筒抵靠或连接的弹性件，所述第一支撑件通过弹性件部分穿设套筒并活动设置于套筒中。

4.根据权利要求1或2所述的电阻测试装置，其特征在于：所述第一测试机构还包括测试座，所述第一测试端设于测试座上且与测试槽的位置相对应。

5.根据权利要求1或2所述的电阻测试装置，其特征在于：所述电阻测试装置还包括至少一设于治具下方且用于测试产品侧边电阻的第二测试机构，所述第二测试机构设有一第二测试端且第二测试端可穿设测试槽与待测产品抵触。

6.根据权利要求5所述的电阻测试装置，其特征在于：所述第二测试机构还包括基座，所述第二测试端滑动设置于基座上。

7.根据权利要求5所述的电阻测试装置，其特征在于：所述第一测试端设有双通道分布的多个测试探针。

8.根据权利要求7所述的电阻测试装置，其特征在于：所述第一测试端设有双通道分布的八个探针，每一通道设置四个探针。

9.根据权利要求7所述的电阻测试装置，其特征在于：所述测试探针的测试头为梅花锥形结构。

10.一种电阻测试系统，其特征在于：所述电阻测试系统包括如权利要求5-9任一所述的电阻测试装置，以及与电阻测试装置的第一测试机构和第二测试机构电连接的阻抗测试仪。