CN109613417A - 扩展电路及扩展板 - Google Patents

扩展电路及扩展板 Download PDF

Info

Publication number
CN109613417A
CN109613417A CN201811502352.1A CN201811502352A CN109613417A CN 109613417 A CN109613417 A CN 109613417A CN 201811502352 A CN201811502352 A CN 201811502352A CN 109613417 A CN109613417 A CN 109613417A
Authority
CN
China
Prior art keywords
resistance
output end
input terminal
relay
data collecting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811502352.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109613417B (zh
Inventor
马会林
杨明强
尹建刚
曾威
黄嘉�
张红江
顾郧
魏贤哲
何家福
叶武海
洪斌
高云峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Han s Laser Technology Industry Group Co Ltd
Original Assignee
Han s Laser Technology Industry Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Han s Laser Technology Industry Group Co Ltd filed Critical Han s Laser Technology Industry Group Co Ltd
Priority to CN201811502352.1A priority Critical patent/CN109613417B/zh
Publication of CN109613417A publication Critical patent/CN109613417A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109613417B publication Critical patent/CN109613417B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种扩展电路及扩展板,静电释放发生器控制模块用于扩展数据采集卡的输出接口,隔离数据采集卡和扩展的静电释放发生器,并根据数据采集卡的第一控制信号控制静电释放发生器对待测元件进行静电测试。测试信号采集模块用于采集待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将第一电信号传输给数据采集卡。光信号采集模块用于将采集到的待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将第二电信号进行放大后传输给数据采集卡。上述扩展电路提高了数据采集卡的带载能力,进而提高了待测元件的测试效率,可以使数据采集卡与被测的后级待测设备隔离,进而对数据采集卡进行有效保护,减少数据采集卡损坏。

Description

扩展电路及扩展板
技术领域
本发明涉及数据采集电路设计领域,特别是涉及一种扩展电路及扩展板。
背景技术
半导体芯片是电子工业中的核心元器件,而对芯片的抗静电检测与数据采集又是芯片生产过程中十分重要的环节,直接影响芯片的产能。目前对芯片的抗静电检测与数据采集主要是通过数据采集卡来直接控制检测设备与收集数据。但是由于数据采集卡内部I/O通道数量有限,I/O带载能力差,导致能直接控制的设备有限,影响芯片测试的效率,且数据采集卡与各种检测设备直接连接,容易损坏数据采集卡。
发明内容
基于此,有必要提供一种可以提高数据采集卡的带载能力,并能在测试时对数据采集卡进行有效保护的扩展电路及扩展板。
一种扩展电路,用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,包括:静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块;
静电释放发生器控制模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述静电释放发生器控制模块的输出端用于连接扩展的所述静电释放发生器,所述静电释放发生器控制模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口,隔离所述数据采集卡和所述扩展的静电释放发生器,并根据所述数据采集卡的第一控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试;
测试信号采集模块的输入端用于连接所述待测元件,所述测试信号采集模块的输出端用于连接所述数据采集卡,所述测试信号采集模块用于采集所述待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡;
光信号采集模块的输出端用于连接所述数据采集卡,所述光信号采集模块用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡。
在其中一个实施例中,所述静电释放发生器控制模块包括:模拟信号转换模块和继电器控制模块,所述模拟信号转换模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述模拟信号转换模块的输出端用于连接所述扩展的静电释放发生器的电源,所述模拟信号转换模块用于将所述数据采集卡输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号,并经过隔离后传输给所述扩展的静电释放发生器的电源;所述继电器控制模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述继电器控制模块的输出端用于连接所述扩展的静电释放发生器的继电器,所述继电器控制模块用于将所述数据采集卡输出的第二控制信号进行扩展后传输给所述扩展的静电释放发生器的继电器。
在其中一个实施例中,还包括切换模块,所述切换模块连接所述光信号采集模块,用于根据所述数据采集卡的第三控制信号切换所述光信号采集模块的放大倍数。
在其中一个实施例中,所述模拟信号转换模块包括放大器U8、放大器U1、放大器U0、电压跟随器U10、电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13、电阻R12、电阻R22、电阻R21、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R19、电阻R20、电阻R27、电阻R28、电阻R29、电阻R30、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电阻R36,模拟开关U6,电容C6、二极管D6、二极管D7,所述放大器U8的反相输入端串联所述电阻R12后用于连接所述数据采集卡的模拟信号输出端,所述放大器U8的同相输入端用于连接所述数据采集卡的地,所述电容C6和所述电阻R22并联后串联在所述放大器U8的反相输入端和所述放大器U8的输出端之间,所述放大器U8的输出端串联电阻R23后连接所述放大器U1的反相输入端,所述放大器U1的同相输入端串联电阻R25后用于连接所述数据采集卡的地,所述二极管D6的阳极连接所述放大器U1的输出端,所述二极管D6的阴极连接所述放大器U1的反相输入端,所述二极管D7的阴极连接所述二极管D6的阳极和所述放大器U1的输出端,所述二极管D7的阳极串联所述电阻R21后连接所述放大器U1的反相输入端,所述电阻R24的一端连接所述二极管D7的阳极,所述电阻R24的另一端连接所述放大器U0的反相输入端、所述电阻R19及所述电阻R20;所述电阻R19一端连接所述放大器U1的反相输入端,另一端连接所述电阻R20和所述放大器U0的反相输入端,所述放大器U0的同相输入端串联电阻R26后用于连接所述数据采集卡的地,所述放大器U0的输出端串联所述电阻R20后连接所述放大器U0的反相输入端,所述放大器U0的输出端分别连接所述模拟开关U6的第一输入端、第二输入端、第三输入端及第四输入端,所述模拟开关U6的第一输出端连接所述电压跟随器U10的同相输入端,所述电压跟随器U10的反相输入端串联所述电阻R33后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U10的反相输入端串联所述电阻R27后连接所述电压跟随器U10的输出端,所述电压跟随器U10的输出端用于连接第一静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第二输出端连接所述电压跟随器U11的同相输入端,所述电压跟随器U11的反相输入端串联所述电阻R34后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U11的反相输入端串联所述电阻R28后连接所述电压跟随器U11的输出端,所述电压跟随器U11的输出端用于连接第二静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第三输出端连接所述电压跟随器U12的同相输入端,所述电压跟随器U12的反相输入端串联所述电阻R35后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U12的反相输入端串联所述电阻R29后连接所述电压跟随器U12的输出端,所述电压跟随器U12的输出端用于连接第三静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第四输出端连接所述电压跟随器U13的同相输入端,所述电压跟随器U13的反相输入端串联所述电阻R36后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U13的反相输入端串联所述电阻R30后连接所述电压跟随器U12的输出端,所述电压跟随器U13的输出端用于连接第四静电释放发生器的电源。
在其中一个实施例中,所述继电器控制模块包括芯片U14、芯片U15、芯片U16、芯片U17和芯片U18,所述芯片U14的第1输入端至第7输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第8输入端至第14输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第15输入端至第21输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第22输入端至第28输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端;所述芯片U14的第1输出端至第7输出端分别连接所述芯片U15的第1输入端至第7输入端,所述芯片U14的第8输出端至第14输出端分别连接所述芯片U16的第1输入端至第7输入端;所述芯片U14的第15输出端至第21输出端分别连接所述芯片U17的第1输入端至第7输入端;所述芯片U14的第22输出端至第28输出端分别连接所述芯片U18的第1输入端至第7输入端;所述芯片U15的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第一静电释放发生器的继电器,所述芯片U16的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第二静电释放发生器的继电器,芯片U17的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第三静电释放发生器的继电器;芯片U18的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第四静电释放发生器的继电器。
在其中一个实施例中,所述测试信号采集模块包括继电器RL6、继电器RL7、继电器RL8、继电器RL9、继电器RL10、继电器RL11、继电器RL12、继电器RL13,发光二极管D8、发光二极管D9、发光二极管D12、发光二极管D13,二极管D10、二极管D11、二极管D14、二极管D15,双向二极管TD1、双向二极管TD2、双向二极管TD3、双向二极管TD4、双向二极管TD5、双向二极管TD6、双向二极管TD7、双向二极管TD8,磁珠L5、磁珠L6、磁珠L11、磁珠L12、电阻R45、电阻R51、电阻R46、电阻R52、电阻R53、电阻R59、电阻R54、电阻R60,所述继电器RL6的输入端和所述继电器RL7的输入端用于连接第一待测元件,所述继电器RL6的输出端用于连接所述数据采集卡的CH3-通道,所述继电器RL7的输出端串联所述磁珠L5用于连接所述数据采集卡的CH3+通道,所述继电器RL6的线圈控制端串联所述电阻R45和所述发光二极管D8后连接所述芯片U15的第5输出端,所述继电器RL7的线圈控制端串联所述电阻R51和所述二极管D10后连接所述芯片U15的第5输出端,所述数据采集卡的CH3-通道串联所述双向二极管TD3后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH3+通道串联所述磁珠L5和所述双向二极管TD3后连接所述数据采集卡的地;所述继电器RL8的输入端和所述继电器RL9的输入端用于连接第二待测元件,所述继电器RL8的输出端用于连接所述数据采集卡的CH2-通道,所述继电器RL9的输出端串联所述磁珠L6用于连接所述据采集卡的CH2+通道,所述继电器RL8的线圈控制端串联所述电阻R46和所述发光二极管D9后连接所述芯片U16的第5输出端,所述继电器RL9的线圈控制端串联所述电阻R52和所述二极管D11后连接所述芯片U16的第5输出端,所述数据采集卡的CH2-通道串联所述双向二极管TD2后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH2+通道串联所述磁珠L6和所述双向二极管TD4后连接所述数据采集卡的地;所述继电器RL10的输入端和所述继电器RL11的输入端用于连接第三待测元件,所述继电器RL10的输出端用于连接所述数据采集卡的CH1-通道,所述继电器RL11的输出端串联所述磁珠L11用于连接所述据采集卡的CH1+通道,所述继电器RL10的线圈控制端串联所述电阻R53和所述发光二极管D12后连接所述芯片U17的第5输出端,所述继电器RL11的线圈控制端串联所述电阻R59和所述二极管D14后连接所述芯片U17的第5输出端,所述数据采集卡的CH1-通道串联所述双向二极管TD5后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH1+通道串联所述磁珠L11和所述双向二极管TD7后连接所述数据采集卡的地;所述继电器RL12的输入端和所述继电器RL13的输入端用于连接第四待测元件,所述继电器RL12的输出端用于连接所述数据采集卡的CH0-通道,所述继电器RL13的输出端串联所述磁珠L12用于连接所述据采集卡的CH0+通道,所述继电器RL12的线圈控制端串联所述电阻R54和所述发光二极管D13后连接所述芯片U18的第5输出端,所述继电器RL13的线圈控制端串联所述电阻R60和所述二极管D15后连接所述芯片U18的第5输出端,所述数据采集卡的CH0-通道串联所述双向二极管TD6后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH0+通道串联所述磁珠L12和所述双向二极管TD8后连接所述数据采集卡的地。
在其中一个实施例中,所述光信号采集模块包括:采光装置、插头P5、放大器U2,电阻R71和电阻R73,所述采光装置连接所述插头P5,用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,所述插头用于接收所述第二电信号,所述放大器U2的反相输入端连接所述插头P5,所述放大器U2的同相输入端连接所述插头P5,所述放大器U2的同相输入端用于连接所述数据采集卡的CH0-通道,所述放大器U2的输出端串联所述电阻R71后接入所述数据采集卡的CH0+通道,所述放大器U2的同相输入端串联所述电阻R73后连接所述数据采集卡的地。
在其中一个实施例中,所述采光装置包括积分球和亮度传感器,所述亮度传感器连接所述积分球和所述插头P5。
在其中一个实施例中,所述切换模块包括继电器RL1、继电器RL2、继电器RL3、继电器RL4、继电器RL5,发光二极管D21、发光二极管D22、发光二极管D23、发光二极管D24、发光二极管D25,二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4、二极管D5,电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15,电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5,所述继电器RL1的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL1的输出端串联所述电阻R11和所述电容C1后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R11和所述电容C1并联,所述继电器RL1的线圈控制端串联所述电阻R6、二极管D1、电阻R1和发光二极管D21后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL2的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL2的输出端串联所述电阻R12和所述电容C2后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R12和所述电容C2并联,所述继电器RL2的线圈控制端串联所述电阻R7、二极管D2、电阻R2和发光二极管D22后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL3的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL3的输出端串联所述电阻R13和所述电容C3后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R13和所述电容C3并联,所述继电器RL3的线圈控制端串联所述电阻R8、二极管D3、电阻R3和发光二极管D23后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL4的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL4的输出端串联所述电阻R14和所述电容C4后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R14和所述电容C4并联,所述继电器RL4的线圈控制端串联所述电阻R9、二极管D4、电阻R4和发光二极管D24后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL5的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL5的输出端串联所述电阻R15和所述电容C5后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R15和所述电容C5并联,所述继电器RL5的线圈控制端串联所述电阻R10、二极管D5、电阻R5和发光二极管D25后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号。
另一方面,本发明还提出一种扩展板,用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,包括上述实施例中任一实施例中所述的扩展电路。
上述扩展电路包括:静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块。静电释放发生器控制模块用于扩展数据采集卡的输出接口,隔离数据采集卡和扩展的静电释放发生器,并根据数据采集卡的第一控制信号控制静电释放发生器对待测元件进行静电测试。测试信号采集模块用于采集待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将第一电信号传输给数据采集卡。光信号采集模块用于将采集到的待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将第二电信号进行放大后传输给数据采集卡。通过静电释放发生器控制模块可以对数据采集卡的输出接口进行扩展,通过测试信号采集模块可以同时采集多个待测元件根据测试信号产生的电信号,提高了数据采集卡的带载能力,进而提高了待测元件的测试效率。通过静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块可以使数据采集卡与被测的后级待测设备隔离,进而对数据采集卡进行有效保护,减少数据采集卡损坏。
附图说明
图1是一实施例中扩展电路的模块图;
图2A和图2B是一实施例中扩展电路的模拟信号转换模块的电路图;
图3是一实施例中数据采集卡的端口示意图;
图4是一实施例中扩展电路的继电器控制模块的电路图;
图5是一实施例中扩展电路的测试信号采集模块的电路图;
图6是一实施例中扩展电路的光信号采集模块的电路图;
图7是一实施例中扩展电路的切换模块的电路图。
具体实施方式
为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的首选实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
图1是一实施例中扩展电路的模块图。
在本实施例中,该扩展电路用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,该扩展电路包括:静电释放发生器控制模块20、测试信号采集模块30和光信号采集模块10。
静电释放发生器控制模块20的输入端用于连接数据采集卡,静电释放发生器控制模块20的输出端用于连接扩展的静电释放发生器。静电释放发生器控制模块20用于扩展数据采集卡的输出接口(图中未示),隔离数据采集卡和扩展的静电释放发生器,并根据数据采集卡的第一控制信号控制扩展的静电释放发生器对待测元件进行接触式静电测试,静电释放发生器和待测元件连接。
测试信号采集模块30的输入端用于连接待测元件,测试信号采集模块30的输出端用于连接数据采集卡。测试信号采集模块30用于采集待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将该第一电信号传输给数据采集卡。
光信号采集模块10的输出端用于连接数据采集卡,光信号采集模块10用于将采集到的待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将第二电信号进行放大后传输给数据采集卡。
上述扩展电路,包括:静电释放发生器控制模块20、测试信号采集模块30和光信号采集模块10。静电释放发生器控制模块20用于扩展数据采集卡的输出接口,隔离数据采集卡和扩展的静电释放发生器,并根据数据采集卡的第一控制信号控制静电释放发生器对待测元件进行静电测试。测试信号采集模块30用于采集待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将第一电信号传输给数据采集卡。光信号采集模块10用于将采集到的待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将第二电信号进行放大后传输给数据采集卡。通过静电释放发生器控制模块20可以对数据采集卡的输出接口进行扩展,通过测试信号采集模块可以同时采集多个待测元件根据测试信号产生的电信号,提高了数据采集卡的带载能力,进而提高了待测元件的测试效率。通过静电释放发生器控制模块20、测试信号采集模块30和光信号采集模块10可以使数据采集卡与被测的后级待测设备隔离,进而对数据采集卡进行有效保护,减少数据采集卡损坏。
请继续参阅图1,在一个实施例中,静电释放发生器控制模块20包括:模拟信号转换模块21和继电器控制模块22。模拟信号转换模块21的输入端用于连接数据采集卡,模拟信号转换模块21的输出端用于连接扩展的静电释放发生器的电源。模拟信号转换模块21用于将数据采集卡输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号,并经过隔离和扩展后传输给扩展的静电释放发生器的电源。继电器控制模块22的输入端用于连接数据采集卡,继电器控制模块22的输出端用于连接扩展的静电释放发生器的继电器。继电器控制模块22用于将数据采集卡输出的第二控制信号进行扩展后传输给扩展的静电释放发生器的继电器。通过控制静电释放发生器的电源和继电器就可以控制待测元件的静电释放测试。
在一个实施例中,该扩展电路还包括切换模块40。切换模块40连接光信号采集模块10,切换模块40用于根据数据采集卡的第三控制信号切换光信号采集模块的放大倍数。在一个实施例中,第三控制信号是逻辑控制信号。
请结合图2A、图2B和图3,在一个实施例中,模拟信号转换模块21包括放大器U8、放大器U1、放大器U0、电压跟随器U10、电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13、电阻R12、电阻R22、电阻R21、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R19、电阻R20、电阻R27、电阻R28、电阻R29、电阻R30、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电阻R36,模拟开关U6,电容C6、二极管D6、二极管D7,放大器U8的反相输入端串联所述电阻R12后用于连接所述数据采集卡的模拟信号输出端DAOOUT,放大器U8的同相输入端用于连接数据采集卡的地AOGND,电容C6和电阻R22并联后串联在放大器U8的反相输入端和放大器U8的输出端之间。放大器U8的输出端串联电阻R23后连接放大器U1的反相输入端,放大器U1的同相输入端串联电阻R25后用于连接数据采集卡的地AOGND。二极管D6的阳极连接放大器U1的输出端,二极管D6的阴极连接放大器U1的反相输入端。二极管D7的阴极连接二极管D6的阳极和放大器U1的输出端,二极管D7的阳极串联电阻R21后连接放大器U1的反相输入端。电阻R24的一端连接二极管D7的阳极,电阻R24的另一端连接放大器U0的反相输入端、电阻R19及电阻R20。电阻R19一端连接放大器U1的反相输入端,另一端连接电阻R20和放大器U0的反相输入端。放大器U0的同相输入端串联电阻R26后用于连接数据采集卡的地AOGND,放大器U0的输出端串联电阻R20后连接放大器U0的反相输入端。放大器U0的输出端分别连接所述模拟开关U6的第一输入端DAO、第二输入端DAO、第三输入端DAO及第四输入端DAO,模拟开关U6的第一输出端DAO_OUT_CH1连接电压跟随器U10的同相输入端。电压跟随器U10的反相输入端串联电阻R33后用于连接数据采集卡的地AOGND,电压跟随器U10的反相输入端串联电阻R27后连接电压跟随器U10的输出端DAO_CH1,电压跟随器U10的输出端DAO_CH1用于连接第一静电释放发生器的电源(图中未示)。模拟开关U6的第二输出端DAO_OUT_CH2连接电压跟随器U11的同相输入端,电压跟随器U11的反相输入端串联电阻R34后用于连接数据采集卡的地AOGND,电压跟随器U11的反相输入端串联电阻R28后连接电压跟随器U11的输出端DAO_CH2,电压跟随器U11的输出端DAO_CH2用于连接第二静电释放发生器的电源(图中未示)。模拟开关U6的第三输出端DAO_OUT_CH3连接电压跟随器U12的同相输入端,电压跟随器U12的反相输入端串联电阻R35后用于连接数据采集卡的地
AOGND。电压跟随器U12的反相输入端串联电阻R29后连接电压跟随器U12的输出端DAO_CH3,电压跟随器U12的输出端DAO_CH3用于连接第三静电释放发生器的电源(图中未示)。模拟开关U6的第四输出端DAO_OUT_CH4连接电压跟随器U13的同相输入端,电压跟随器U13的反相输入端串联所述电阻R36后用于连接数据采集卡的地AOGND,电压跟随器U13的反相输入端串联电阻R30后连接电压跟随器U12的输出端DAO_CH4,电压跟随器U13的输出端DAO_CH4用于连接第四静电释放发生器的电源(图中未示)。
请结合图3和图4,在一个实施例中,继电器控制模块22包括芯片U14、芯片U15、芯片U16、芯片U17、芯片U18、电容CZ22、CZ23、CZ24和CZ25,芯片U14的第1输入端至第7输入端(即1A1至1A7)分别用于连接数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,芯片U14的第8输入端至第14输入端(即2A1至2A7)分别用于连接数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,芯片U14的第15输入端至第21输入端(即3A1至3A7)分别用于连接数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,芯片U14的第22输入端至第28输入端(即4A1至4A7)分别用于连接数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端。芯片U14的第1输出端至第7输出端(即1B1至1B 7)分别连接芯片U15的第1输入端至第7输入端(即IN1至IN7)。芯片U14的第8输出端至第14输出端(即2B1至2B 7)分别连接芯片U16的第1输入端至第7输入端(即IN1至IN7)。芯片U14的第15输出端至第21输出端(即3B1至3B 7)分别连接芯片U17的第1输入端至第7输入端(即IN1至IN7)。芯片U14的第22输出端至第28输出端(即4B1至4B 7)分别连接芯片U18的第1输入端至第7输入端(即IN1至IN7)。芯片U15的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第一静电释放发生器的继电器(图中未示),芯片U16的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第二静电释放发生器的继电器(图中未示),芯片U17的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第三静电释放发生器的继电器(图中未示);芯片U18的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第四静电释放发生器的继电器(图中未示)。电容CZ22、CZ23、CZ24和CZ25分别为芯片U15、芯片U16、芯片U17、芯片U18这4个达林顿阵列的24V电源进行滤波。
请结合图3和图5,在一个实施例中,测试信号采集模块30包括继电器RL6、继电器RL7、继电器RL8、继电器RL9、继电器RL10、继电器RL11、继电器RL12、继电器RL13,发光二极管D8、发光二极管D9、发光二极管D12、发光二极管D13,二极管D10、二极管D11、二极管D14、二极管D15,双向二极管TD1、双向二极管TD2、双向二极管TD3、双向二极管TD4、双向二极管TD5、双向二极管TD6、双向二极管TD7、双向二极管TD8,磁珠L5、磁珠L6、磁珠L11、磁珠L12、电阻R45、电阻R51、电阻R46、电阻R52、电阻R53、电阻R59、电阻R54、电阻R60。继电器RL6的输入端(即LOS_CH1)和继电器RL7的输入端(即HIS_CH1)用于连接第一待测元件(图中未示),继电器RL6的输出端用于连接数据采集卡的CH3-通道。继电器RL7的输出端串联磁珠L5用于连接数据采集卡的CH3+通道。继电器RL6的线圈控制端串联电阻R45和发光二极管D8后连接芯片U15的第5输出端OUT5。继电器RL7的线圈控制端串联电阻R51和二极管D10后连接芯片U15的第5输出端。数据采集卡的CH3-通道串联双向二极管TD3后连接数据采集卡的地AIGND,数据采集卡的CH3+通道串联磁珠L5和双向二极管TD3后连接所述数据采集卡的地AIGND。继电器RL8的输入端(即LOS_CH2)和继电器RL9的输入端(即HIS_CH2)用于连接第二待测元件(图中未示),继电器RL8的输出端用于连接数据采集卡的CH2-通道,继电器RL9的输出端串联磁珠L6用于连接据采集卡的CH2+通道。继电器RL8的线圈控制端串联电阻R46和发光二极管D9后连接所述芯片U16的第5输出端OUT5,继电器RL9的线圈控制端串联电阻R52和二极管D11后连接芯片U16的第5输出端OUT5。数据采集卡的CH2-通道串联双向二极管TD2后连接数据采集卡的地AIGND,所述数据采集卡的CH2+通道串联所述磁珠L6和双向二极管TD4后连接数据采集卡的地AIGND。继电器RL10的输入端(即LOS_CH3)和继电器RL11的输入端(即HIS_CH3)用于连接第三待测元件(图中未示),继电器RL10的输出端用于连接数据采集卡的CH1-通道,继电器RL11的输出端串联磁珠L11用于连接据采集卡的CH1+通道。继电器RL10的线圈控制端串联电阻R53和发光二极管D12后连接芯片U17的第5输出端OUT5,继电器RL11的线圈控制端串联电阻R59和二极管D14后连接芯片U17的第5输出端OUT5。数据采集卡的CH1-通道串联双向二极管TD5后连接数据采集卡的地AIGND,数据采集卡的CH1+通道串联磁珠L11和双向二极管TD7后连接数据采集卡的地AIGND。继电器RL12(即LOS_CH4)的输入端和继电器RL13的输入端(即HIS_CH4)用于连接第四待测元件(图中未示),继电器RL12的输出端用于连接数据采集卡的CH0-通道,继电器RL13的输出端串联磁珠L12用于连接据采集卡的CH0+通道。继电器RL12的线圈控制端串联电阻R54和发光二极管D13后连接芯片U18的第5输出端OUT5,继电器RL13的线圈控制端串联电阻R60和二极管D15后连接芯片U18的第5输出端OUT5。数据采集卡的CH0-通道串联双向二极管TD6后连接数据采集卡的地AIGND,数据采集卡的CH0+通道串联磁珠L12和双向二极管TD8后连接数据采集卡的地AIGND。
请结合图3和图6,在一个实施例中,光信号采集模块10包括:采光装置(图中未示)、插头P5、放大器U2,电阻R71和电阻R73,采光装置连接插头P5,用于将采集到的待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号。插头用于接收第二电信号,放大器U2的反相输入端连接插头P5,放大器U2的同相输入端连接插头P5,放大器U2的同相输入端用于连接数据采集卡的CH0-通道。放大器U2的输出端串联电阻R71后接入数据采集卡的CH0+通道,放大器U2的同相输入端串联电阻R73后连接数据采集卡的地AIGND。在一个实施例中,采光装置包括积分球和亮度传感器,亮度传感器连接积分球和插头P5。积分球用于收集待测元件的光信号,亮度传感器用于将该光信号转换为电信号并传输给插头P5。
请结合图6和图7,在一个实施例中,切换模块40包括继电器RL1、继电器RL2、继电器RL3、继电器RL4、继电器RL5,发光二极管D21、发光二极管D22、发光二极管D23、发光二极管D24、发光二极管D25,二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4、二极管D5,电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15,电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5,继电器RL1的输入端连接放大器U2的反相输入端,继电器RL1的输出端串联电阻R11和电容C1后连接放大器U2的输出端,电阻R11和电容C1并联。继电器RL1的线圈控制端串联电阻R6、二极管D1、电阻R1和发光二极管D21后用于接收数据采集卡的第三控制信号。继电器RL2的输入端连接放大器U2的反相输入端,继电器RL2的输出端串联电阻R12和电容C2后连接放大器U2的输出端,电阻R12和所述电容C2并联。继电器RL2的线圈控制端串联电阻R7、二极管D2、电阻R2和发光二极管D22后用于接收数据采集卡的第三控制信号。继电器RL3的输入端连接放大器U2的反相输入端,继电器RL3的输出端串联电阻R13和电容C3后连接放大器U2的输出端,电阻R13和所述电容C3并联。继电器RL3的线圈控制端串联电阻R8、二极管D3、电阻R3和发光二极管D23后用于接收数据采集卡的第三控制信号。继电器RL4的输入端连接放大器U2的反相输入端,继电器RL4的输出端串联电阻R14和电容C4后连接放大器U2的输出端,电阻R14和电容C4并联。继电器RL4的线圈控制端串联电阻R9、二极管D4、电阻R4和发光二极管D24后用于接收数据采集卡的第三控制信号。继电器RL5的输入端连接放大器U2的反相输入端,继电器RL5的输出端串联电阻R15和电容C5后连接放大器U2的输出端,电阻R15和电容C5并联。继电器RL5的线圈控制端串联电阻R10、二极管D5、电阻R5和发光二极管D25后用于接收数据采集卡的第三控制信号。
扩展电路的工作原理为:数据采集卡发出一个模拟信号(例如±10V),这个模拟信号极性与大小与给静电释放发生器的电源控制信号不匹配,所以需要转换极性与大小。该模拟信号经过电阻R12送到放大器U8的反相输入端,放大器U8用于将±10V模拟信号变换成±5V模拟信号,其中电容CZ5、电容CZ6是运放电源滤波电容。电阻R31、电阻R32、变阻器RJ2是运放过零调节电阻,用来保证运放工作状态稳定性。电阻R22、电阻R12是比例放大电阻,用来调节放大系数,C6是环路电容,用来保证电路稳定。放大器U8输出的±5V信号会通过电阻R23送到放大器U1的反向输入端。通过放大器U1、二极管D6、二极管D7将±5V信号转变成5V信号。电容CZ7、电容CZ8、电容C10、电容C11是电源滤波电容,电阻R19、电阻R20、电阻R21、电阻R23、电阻R24是运放比例电阻,用于调节放大系数。U0输出+5V的模拟信号,该信号会经过4通道模拟开关U6,用于将+5V的模拟信号分成4路互不相干的信号,再分别给到4个电压跟随器U10、电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13,这4路电压跟随器的输出信号就可以分别连接4个静电释放发生器的电源,进而控制静电释放发生器的电源。电压跟随器U10、电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13分别用来隔离前级电路与后级电路,保护前级电路。其中电阻R37、电阻R38、变阻器RJ3是用于调节电压跟随器U10过零点,电阻R27和电阻R33(此时悬空)是用来设置放大倍数,同理可知电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13的外围电路的作用。
数据采集卡的IO信号会先经过芯片U14一分为四,输入7路数字信号,输出28路数字信号。然后经过芯片U15、芯片U16、芯片U17、芯片U18扩流后连接到四个静电释放(ESD)发生器的继电器,进而对继电器进行控制,从而进行静电测试。其中电容CZ22、电容CZ23、电容CZ24、电容CZ25是分别给芯片U15、芯片U16、芯片U17和芯片U18四个达林顿24V的电源滤波。芯片U14相当于总线开关,可以将一路信号分成多路信号,并可以根据数据采集卡输出的第二控制信号任意关闭其中一路信号。芯片U15、芯片U16、芯片U17、芯片U18是4个达林顿阵列,用来扩大IO口灌电流,提高输出能力。模拟信号转换模块21和继电器控制模块22共同工作,完成待测元件的静电测试(ESD测试)。
ESD测试完成后,可以对待测元件进行光电测试。此时测试信号采集模块30、光信号采集模块10和切换模块40开始工作。以数据采集卡CH3通道为例,CH3-与CH3+分别通过测试信号采集模块30里面的一个继电器(继电器RL6和继电器RL7)连接在待测元件两端用于接收测试数据。其中电阻R45是发光二极管D8的限流电阻,发光二极管D8在继电器接RL6通时亮起。电阻R51与二极管D10连接在继电器RL7线圈控制端两端,用于保护与继电器RL7线圈连接的外部元器件。双向二极管TD1与双向二极管TD3用于保护数据采集卡CH3通道不被外部高压损坏。贴片磁珠L5用于滤除回路杂波。另外3个通道采集电路同理,此处不再赘述。
待测元件测试时发光,光信号采集模块10里面的积分球用于收集待测元件的光信号,亮度传感器用于将该光信号转换为电信号并传输给插头P5。插头P5将电信号传输给放大器U2的两个输入端,形成差分放大。其中电容CZ1、电容CZ4是运放电源滤波电容,电阻R73是运放同相输入端下拉接地电阻。数据采集卡CH0通道高低电平接在放大器U2同相输入端与输出端之间,用于采集亮度参数。
切换模块40是接入放大器U2反相输入端与输出端之间的环路网络,用于改变放大器U2的放大增益,一共5个档位。当不同继电器选通后,对应连接在放大器U2上的环路网络就会不同。以继电器RL1为例,当继电器RL1根据数据采集卡的第三控制信号接通后,电容C1与电阻R11就会接在放大器U2上,构成放大器U2的环路网络。其中电阻R6与二极管D1连接在继电器RL1的线圈控制端,当继电器RL1关断时,吸收继电器RL1线圈产生的反向电动势,保护外部元器件不被损坏。发光二极管D21在继电器RL1导通时发光,电阻R1是发光二极管D21限流电阻。其余档位同理,此处不再赘述。
该扩展电路既可以进行ESD测试,也可以进行光电测试,并且结构简单、体积小、成本低、性能优良可靠,保证了数据采集的可靠性。该扩展电路可以将数据采集卡与后级待测设备隔离,既有效保护了数据采集卡,减少数据采集卡损坏,又将数据采集卡的功能进行了扩展,提高了数据采集卡的带载能力。
在一个实施例中,待测元件包括芯片。
另一方面,本发明还提出一种扩展板,用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,包括上述实施例中任一实施例中所述的扩展电路。该扩展板既可以进行ESD测试,也可以进行光电测试,并且结构简单、体积小、成本低、性能优良可靠,保证了数据采集的可靠性。该扩展板可以将数据采集卡与后级待测设备隔离,既有效保护了数据采集卡,减少数据采集卡损坏,又将数据采集卡的功能进行了扩展,提高了数据采集卡的带载能力。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种扩展电路,用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,其特征在于,包括:静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块;
静电释放发生器控制模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述静电释放发生器控制模块的输出端用于连接扩展的所述静电释放发生器,所述静电释放发生器控制模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口,隔离所述数据采集卡和所述扩展的静电释放发生器,并根据所述数据采集卡的第一控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试;
测试信号采集模块的输入端用于连接所述待测元件,所述测试信号采集模块的输出端用于连接所述数据采集卡,所述测试信号采集模块用于采集所述待测元件根据测试信号产生的第一电信号,并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡;
光信号采集模块的输出端用于连接所述数据采集卡,所述光信号采集模块用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡。
2.根据权利要求1所述的扩展电路,其特征在于,所述静电释放发生器控制模块包括:模拟信号转换模块和继电器控制模块,所述模拟信号转换模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述模拟信号转换模块的输出端用于连接所述扩展的静电释放发生器的电源,所述模拟信号转换模块用于将所述数据采集卡输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号,并经过隔离后传输给所述扩展的静电释放发生器的电源;所述继电器控制模块的输入端用于连接所述数据采集卡,所述继电器控制模块的输出端用于连接所述扩展的静电释放发生器的继电器,所述继电器控制模块用于将所述数据采集卡输出的第二控制信号进行扩展后传输给所述扩展的静电释放发生器的继电器。
3.根据权利要求1所述的扩展电路,其特征在于,还包括切换模块,所述切换模块连接所述光信号采集模块,用于根据所述数据采集卡的第三控制信号切换所述光信号采集模块的放大倍数。
4.根据权利要求2所述的扩展电路,其特征在于,所述模拟信号转换模块包括放大器U8、放大器U1、放大器U0、电压跟随器U10、电压跟随器U11、电压跟随器U12、电压跟随器U13、电阻R12、电阻R22、电阻R21、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R19、电阻R20、电阻R27、电阻R28、电阻R29、电阻R30、电阻R33、电阻R34、电阻R35、电阻R36,模拟开关U6、电容C6、二极管D6、二极管D7;
所述放大器U8的反相输入端串联所述电阻R12后用于连接所述数据采集卡的模拟信号输出端,所述放大器U8的同相输入端用于连接所述数据采集卡的地,所述电容C6和所述电阻R22并联后串联在所述放大器U8的反相输入端和所述放大器U8的输出端之间,所述放大器U8的输出端串联电阻R23后连接所述放大器U1的反相输入端,所述放大器U1的同相输入端串联电阻R25后用于连接所述数据采集卡的地,所述二极管D6的阳极连接所述放大器U1的输出端,所述二极管D6的阴极连接所述放大器U1的反相输入端,所述二极管D7的阴极连接所述二极管D6的阳极和所述放大器U1的输出端,所述二极管D7的阳极串联所述电阻R21后连接所述放大器U1的反相输入端,所述电阻R24的一端连接所述二极管D7的阳极,所述电阻R24的另一端连接所述放大器U0的反相输入端、所述电阻R19及所述电阻R20;
所述电阻R19一端连接所述放大器U1的反相输入端,另一端连接所述电阻R20和所述放大器U0的反相输入端,所述放大器U0的同相输入端串联电阻R26后用于连接所述数据采集卡的地,所述放大器U0的输出端串联所述电阻R20后连接所述放大器U0的反相输入端,所述放大器U0的输出端分别连接所述模拟开关U6的第一输入端、第二输入端、第三输入端及第四输入端;
所述模拟开关U6的第一输出端连接所述电压跟随器U10的同相输入端,所述电压跟随器U10的反相输入端串联所述电阻R33后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U10的反相输入端串联所述电阻R27后连接所述电压跟随器U10的输出端,所述电压跟随器U10的输出端用于连接第一静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第二输出端连接所述电压跟随器U11的同相输入端,所述电压跟随器U11的反相输入端串联所述电阻R34后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U11的反相输入端串联所述电阻R28后连接所述电压跟随器U11的输出端,所述电压跟随器U11的输出端用于连接第二静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第三输出端连接所述电压跟随器U12的同相输入端,所述电压跟随器U12的反相输入端串联所述电阻R35后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U12的反相输入端串联所述电阻R29后连接所述电压跟随器U12的输出端,所述电压跟随器U12的输出端用于连接第三静电释放发生器的电源;所述模拟开关U6的第四输出端连接所述电压跟随器U13的同相输入端,所述电压跟随器U13的反相输入端串联所述电阻R36后用于连接所述数据采集卡的地,所述电压跟随器U13的反相输入端串联所述电阻R30后连接所述电压跟随器U12的输出端,所述电压跟随器U13的输出端用于连接第四静电释放发生器的电源。
5.根据权利要求4所述的扩展电路,其特征在于,所述继电器控制模块包括芯片U14、芯片U15、芯片U16、芯片U17和芯片U18,所述芯片U14的第1输入端至第7输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第8输入端至第14输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第15输入端至第21输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端,所述芯片U14的第22输入端至第28输入端分别用于连接所述数据采集卡的第1数字信号输出端至第7数字信号输出端;所述芯片U14的第1输出端至第7输出端分别连接所述芯片U15的第1输入端至第7输入端,所述芯片U14的第8输出端至第14输出端分别连接所述芯片U16的第1输入端至第7输入端;所述芯片U14的第15输出端至第21输出端分别连接所述芯片U17的第1输入端至第7输入端;所述芯片U14的第22输出端至第28输出端分别连接所述芯片U18的第1输入端至第7输入端;所述芯片U15的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第一静电释放发生器的继电器,所述芯片U16的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第二静电释放发生器的继电器,芯片U17的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第三静电释放发生器的继电器;芯片U18的第1输出端至第7输出端用于分别连接所述第四静电释放发生器的继电器。
6.根据权利要求5所述的扩展电路,其特征在于,所述测试信号采集模块包括继电器RL6、继电器RL7、继电器RL8、继电器RL9、继电器RL10、继电器RL11、继电器RL12、继电器RL13、发光二极管D8、发光二极管D9、发光二极管D12、发光二极管D13,二极管D10、二极管D11、二极管D14、二极管D15,双向二极管TD1、双向二极管TD2、双向二极管TD3、双向二极管TD4、双向二极管TD5、双向二极管TD6、双向二极管TD7、双向二极管TD8,磁珠L5、磁珠L6、磁珠L11、磁珠L12、电阻R45、电阻R51、电阻R46、电阻R52、电阻R53、电阻R59、电阻R54、电阻R60;
所述继电器RL6的输入端和所述继电器RL7的输入端用于连接第一待测元件,所述继电器RL6的输出端用于连接所述数据采集卡的CH3-通道,所述继电器RL7的输出端串联所述磁珠L5用于连接所述数据采集卡的CH3+通道,所述继电器RL6的线圈控制端串联所述电阻R45和所述发光二极管D8后连接所述芯片U15的第5输出端,所述继电器RL7的线圈控制端串联所述电阻R51和所述二极管D10后连接所述芯片U15的第5输出端,所述数据采集卡的CH3-通道串联所述双向二极管TD3后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH3+通道串联所述磁珠L5和所述双向二极管TD3后连接所述数据采集卡的地;所述继电器RL8的输入端和所述继电器RL9的输入端用于连接第二待测元件,所述继电器RL8的输出端用于连接所述数据采集卡的CH2-通道,所述继电器RL9的输出端串联所述磁珠L6用于连接所述据采集卡的CH2+通道,所述继电器RL8的线圈控制端串联所述电阻R46和所述发光二极管D9后连接所述芯片U16的第5输出端,所述继电器RL9的线圈控制端串联所述电阻R52和所述二极管D11后连接所述芯片U16的第5输出端,所述数据采集卡的CH2-通道串联所述双向二极管TD2后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH2+通道串联所述磁珠L6和所述双向二极管TD4后连接所述数据采集卡的地;
所述继电器RL10的输入端和所述继电器RL11的输入端用于连接第三待测元件,所述继电器RL10的输出端用于连接所述数据采集卡的CH1-通道,所述继电器RL11的输出端串联所述磁珠L11用于连接所述据采集卡的CH1+通道,所述继电器RL10的线圈控制端串联所述电阻R53和所述发光二极管D12后连接所述芯片U17的第5输出端,所述继电器RL11的线圈控制端串联所述电阻R59和所述二极管D14后连接所述芯片U17的第5输出端,所述数据采集卡的CH1-通道串联所述双向二极管TD5后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH1+通道串联所述磁珠L11和所述双向二极管TD7后连接所述数据采集卡的地;所述继电器RL12的输入端和所述继电器RL13的输入端用于连接第四待测元件,所述继电器RL12的输出端用于连接所述数据采集卡的CH0-通道,所述继电器RL13的输出端串联所述磁珠L12用于连接所述据采集卡的CH0+通道,所述继电器RL12的线圈控制端串联所述电阻R54和所述发光二极管D13后连接所述芯片U18的第5输出端,所述继电器RL13的线圈控制端串联所述电阻R60和所述二极管D15后连接所述芯片U18的第5输出端,所述数据采集卡的CH0-通道串联所述双向二极管TD6后连接所述数据采集卡的地,所述数据采集卡的CH0+通道串联所述磁珠L12和所述双向二极管TD8后连接所述数据采集卡的地。
7.根据权利要求3所述的扩展电路,其特征在于,所述光信号采集模块包括:采光装置、插头P5、放大器U2、电阻R71和电阻R73,所述采光装置连接所述插头P5,用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号,所述插头用于接收所述第二电信号,所述放大器U2的反相输入端连接所述插头P5,所述放大器U2的同相输入端连接所述插头P5,所述放大器U2的同相输入端用于连接所述数据采集卡的CH0-通道,所述放大器U2的输出端串联所述电阻R71后接入所述数据采集卡的CH0+通道,所述放大器U2的同相输入端串联所述电阻R73后连接所述数据采集卡的地。
8.根据权利要求7所述的扩展电路,其特征在于,所述采光装置包括积分球和亮度传感器,所述亮度传感器连接所述积分球和所述插头P5。
9.根据权利要求7所述的扩展电路,其特征在于,所述切换模块包括继电器RL1、继电器RL2、继电器RL3、继电器RL4、继电器RL5,发光二极管D21、发光二极管D22、发光二极管D23、发光二极管D24、发光二极管D25、二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4、二极管D5、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5;
所述继电器RL1的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL1的输出端串联所述电阻R11和所述电容C1后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R11和所述电容C1并联,所述继电器RL1的线圈控制端串联所述电阻R6、二极管D1、电阻R1和发光二极管D21后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL2的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL2的输出端串联所述电阻R12和所述电容C2后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R12和所述电容C2并联,所述继电器RL2的线圈控制端串联所述电阻R7、二极管D2、电阻R2和发光二极管D22后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL3的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL3的输出端串联所述电阻R13和所述电容C3后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R13和所述电容C3并联,所述继电器RL3的线圈控制端串联所述电阻R8、二极管D3、电阻R3和发光二极管D23后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;
所述继电器RL4的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL4的输出端串联所述电阻R14和所述电容C4后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R14和所述电容C4并联,所述继电器RL4的线圈控制端串联所述电阻R9、二极管D4、电阻R4和发光二极管D24后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号;所述继电器RL5的输入端连接所述放大器U2的反相输入端,所述继电器RL5的输出端串联所述电阻R15和所述电容C5后连接所述放大器U2的输出端,所述电阻R15和所述电容C5并联,所述继电器RL5的线圈控制端串联所述电阻R10、二极管D5、电阻R5和发光二极管D25后用于接收所述数据采集卡的第三控制信号。
10.一种扩展板,用于连接数据采集卡、待测元件和静电释放发生器,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的扩展电路。
CN201811502352.1A 2018-12-10 2018-12-10 扩展电路及扩展板 Active CN109613417B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811502352.1A CN109613417B (zh) 2018-12-10 2018-12-10 扩展电路及扩展板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811502352.1A CN109613417B (zh) 2018-12-10 2018-12-10 扩展电路及扩展板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109613417A true CN109613417A (zh) 2019-04-12
CN109613417B CN109613417B (zh) 2020-12-01

Family

ID=66008467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811502352.1A Active CN109613417B (zh) 2018-12-10 2018-12-10 扩展电路及扩展板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109613417B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112198421A (zh) * 2020-12-01 2021-01-08 上海伟测半导体科技股份有限公司 扩展ate数字通道数量的方法及装置
CN113110247A (zh) * 2021-05-18 2021-07-13 中国地震局地球物理研究所 一种多通道数据采集控制电路

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102435890A (zh) * 2011-10-21 2012-05-02 上海凌世电子有限公司 一种ems测试方法及测试装置
CN104808129A (zh) * 2015-03-31 2015-07-29 山西南烨立碁光电有限公司 一种全新的led晶粒检测技术
CN106249085A (zh) * 2016-08-30 2016-12-21 京东方科技集团股份有限公司 静电放电检测方法及系统
CN207336655U (zh) * 2017-08-24 2018-05-08 深圳Tcl新技术有限公司 静电测试电路及静电测试装置
US20180153026A1 (en) * 2012-12-17 2018-05-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Three dimensional integrated circuit electrostatic discharge protection and prevention test interface

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102435890A (zh) * 2011-10-21 2012-05-02 上海凌世电子有限公司 一种ems测试方法及测试装置
US20180153026A1 (en) * 2012-12-17 2018-05-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Three dimensional integrated circuit electrostatic discharge protection and prevention test interface
CN104808129A (zh) * 2015-03-31 2015-07-29 山西南烨立碁光电有限公司 一种全新的led晶粒检测技术
CN106249085A (zh) * 2016-08-30 2016-12-21 京东方科技集团股份有限公司 静电放电检测方法及系统
CN207336655U (zh) * 2017-08-24 2018-05-08 深圳Tcl新技术有限公司 静电测试电路及静电测试装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
T.SMEDES: "《ESD testing of devices, ICs and systems》", 《MICROELECTRONICS RELIABILITY》 *
路子威等: "《ANSI/ESD STM5.5.1-2014《元件级传输线脉冲静电放电敏感度测试》标准分析》", 《标准科学》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112198421A (zh) * 2020-12-01 2021-01-08 上海伟测半导体科技股份有限公司 扩展ate数字通道数量的方法及装置
CN113110247A (zh) * 2021-05-18 2021-07-13 中国地震局地球物理研究所 一种多通道数据采集控制电路
CN113110247B (zh) * 2021-05-18 2021-12-03 中国地震局地球物理研究所 一种多通道数据采集控制电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN109613417B (zh) 2020-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109613417A (zh) 扩展电路及扩展板
CN103323748B (zh) 基于分形和小波变换的电力电缆故障识别方法
CN109257045A (zh) 一种组网式多通道同步隔离数据采集仪
CN103944607A (zh) 低压电力线载波通信信号检测装置
CN203012501U (zh) 一种多用途可诊断的信号采集模块
CN113746502A (zh) 一种hplc电力载波通信信道测量装置
CN205959015U (zh) 多路模拟量采集器和用该采集器制成的水泵智能网关
CN205843837U (zh) 一种电池组多通道温度检测电路
CN109633408A (zh) 测试系统及测试方法
CN105487439A (zh) 一种应用于多路ad采集的双重隔离装置及方法
CN206331127U (zh) 实时监测检波器状态的节点式地震勘探仪器
CN102710248A (zh) 一种电压隔离采集电路
CN110007126B (zh) 一种直流母线电压隔离检测电路
CN205229398U (zh) 局部放电数据采集电路及检测系统
CN106291167A (zh) 一种一取一加诊断的功能安全数字量输入模块
CN207909009U (zh) 复用采集端口电路、模拟量输入采集系统和工程机械
CN204945235U (zh) 一种交流电压采集电路
CN205176207U (zh) 局部放电数据采集电路及设备
CN107831399A (zh) 一种智能网联汽车的信号处理模块
CN208860893U (zh) 一种无刷直流电机的新型电流检测电路
CN206945859U (zh) 一种应用于电磁兼容试验的滤波装置
CN206074038U (zh) 一种用于太阳光跟踪系统的复合传感器
CN206627566U (zh) 可扩大逻辑分析仪输入电压范围的电路
CN111122170A (zh) 一种基于电流源的高精度电阻信号调理电路及方法
CN207543087U (zh) 一种多通道信号变换输出装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant