CN109596847A - 试管检测方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种试管检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。采用本方法能够提高试管检测的准确度。
Description
技术领域
本申请涉及自动化技术领域，特别是涉及一种试管检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
在现在医疗技术中，通过试管存放化验物，并将试管置于试管架，通过试管架的移动逐个对试管中化验物进行化验，由于试管编号需要与病人一一对应，因此，对试管架上的试管检测非常重要，如果存在差错，则直接导致病人检查结果的错误。
然而，目前的试管检测方式只适用于普通的一体成型试管，对于非一体成型的异形试管，如两半模具拼接而成的试管，由于试管存在拼接处，很容易导致检测结果出现误判。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提供试管检测准确率的试管检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种试管检测方法，所述方法包括：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
在其中一个实施例中，在所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段之前，包括：
采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
在其中一个实施例中，所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段，包括：
根据试管架移动一个周期的检测信号和试管架信号段的波形特征，获取所述试管架信号段的结束位置；
根据所述试管架信号段的结束位置，和所述试管架移动一个周期的检测信号的结束位置，获取当前试管检测信号段。
在其中一个实施例中，所述预设长度大于所述当前试管检测信号段的二分之一。
在其中一个实施例中，所述第一数目大于所述待分析数据段中数据数目的二分之一。
在其中一个实施例中，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：根据所述待分析数据段检测信号的值的大小，选取连续第一数目的待处理检测信号，所述连续第一数目的待处理检测信号的值之和最小。
在其中一个实施例中，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的值最小的待处理检测信号。
在其中一个实施例中，所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值，包括：从所述第一数目的待处理检测信号中，剔除连续第二数目的待处理检测信号，根据剩余的所述待处理检测信号计算平均值；其中，所述连续第二数目的待处理检测信号的值之和最小。
在其中一个实施例中，在所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值之后包括：
在所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值时，则所述试管架上为第一试管；
在所述平均值大于第二阈值时，所述试管架上为第二试管。
一种试管检测装置，所述装置包括：
试管检测信号段获取模块，用于从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
待分析数据段截取模块，用于根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
待处理检测信号选取模块，用于根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
平均值计算模块，用于计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
判断模块，用于在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
上述试管方法、装置、计算机设备和存储介质，通过对当前试管检测信号段中数据进行分析，根据值最小的待处理检测信号，计算平均值是否大于第一阈值，从而试管架上是否存在试管，提高了对试管检测的准确度。
附图说明
图1为一个实施例中试管检测方法的流程示意图；
图2为一个实施例中获取当前试管检测信号段的方法的流程示意图；
图3为一个实施例中试管类型判断方法的流程示意图；
图4为一个具体实施例中试管架移动一个周期的检测信号的数据分析图；
图5为一个实施例中试管检测装置的结构框图；
图6为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种试管检测方法，包括以下步骤：
步骤S110，从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段。
其中，试管架用于放置试管，试管架周期性的移动，将试管送到化验位置。试管架移动一个周期的检测信号包括试管架检测信号段和当前试管检测信号段。
具体的，根据试管架移动一个周期的检测信号，将试管架检测信号段剔除，剩余的为当前试管检测信号段。检测信号具体为光电检测信号，光电检测信号是光电开关检测到的信号，光电开关也称光电传感器，是光电接近开关的简称，其原理是利用被检测物对光束的遮挡或反射，由同步回路接通电路，从而检测物体的有无。
步骤S120，根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段。
其中，所述预设长度大于所述当前试管检测信号段的二分之一。具体的，所述待分析数据段包括所述当前试管检测信号段的后半段位置，这是根据拼接试管的拼接位置位于试管的下半段部分确定的，当然，如果拼接试管的拼接位置位于上半段部分，所述待分析数据段包括所述当前试管检测信号段的前半段位置。
步骤S130，根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号。
其中，所述待分析数据段中，检测信号都已知，根据已知的检测信号，通过检测信号的值的大小比较，能够选取第一数目的值最小的待处理检测信号。所述第一数目大于所述待分析数据段中数据数目的二分之一，同时第一数目不能过多，过多会引入误差，且第一数目太少，太少会降低试管判断的准确性，因此第一数目接近待分析数据段中数据数目的二分之一是最优的。
步骤S140，计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值。
步骤S150，在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
其中，所述第一阈值的设定可以根据所检测的试管的形状、材质、制作工艺等特性决定。第一阈值可以通过多次对同一类型的试管进行检测信号采集和分析得出。
在其中一个实施例中，在所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段之前，包括：采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
在其中一个实施例中，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：根据所述待分析数据段检测信号的值的大小，选取连续第一数目的待处理检测信号，所述连续第一数目的待处理检测信号的值之和最小。
例如，所述待分析数据段包括60个待处理检测信号，从60个待处理检测信号中选取30个连续的检测数据，计算所述待分析数据段中所有(31个)30个连续的检测数据的值之和，取和最小的30个连续的检测数据作为待处理检测信号，所述30个为第一数目。
在其中一个实施例中，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的值最小的待处理检测信号。
例如，所述待分析数据段包括60个待处理检测信号，将所述60个待处理检测信号根据待处理检测信号的值按照从小到大的顺序依次排列，从第一个待处理检测信号开始选取，一直选到第30个的待处理检测信号，所选取的30个待处理检测信号为值最小的待处理检测信号，所述30个为第一数目，当然，第一数目不仅限于30。
在其中一个实施例中，在步骤S140中，所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值，包括：从所述第一数目的待处理检测信号中，剔除连续第二数目的待处理检测信号，根据剩余的所述待处理检测信号计算平均值；其中，所述连续第二数目的待处理检测信号的值之和最小。
例如，30个待处理检测信号中，剔除15个连续的待处理检测信号，先计算连续30个待处理检测信号中所有(16个)15个连续的待处理检测信号的值之和，取和最小的15个连续的待处理检测信号作为剔除信号，所述15为第二数目。
其中，剔除连续第二数目的待处理检测信号目的是为了减少单个试管本身的特征而产生的误差，因为试管在制作的过程中，同一类型的试管形状、透明度也会存在微小的差别，通过将第二数目的值最小的待处理检测信号剔除，能够有效的降低单个试管本身的特征而产生的误差。具体的，所述第二数目小于或等于所述第一数目的二分之一。
在其中一个实施例中，在步骤S140中，所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值，包括：从所述第一数目的待处理检测信号中，剔除第二数目的值最小的待处理检测信号，根据剩余的所述待处理检测信号计算平均值。其中，第二数目的值最小的待处理检测信号的计算方法可以参照第一数目的值最小的待处理检测信号的计算方法。
上述试管检测方法中，通过对当前试管检测信号段中数据进行分析，根据值最小的待处理检测信号，计算平均值是否大于第一阈值，从而试管架上是否存在试管，提高了对试管检测的准确度。
在其中一个实施例中，如图2所示，在步骤S110中，所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段，包括：
步骤S111，根据试管架移动一个周期的检测信号和试管架信号段的波形特征，获取所述试管架信号段的结束位置。
其中，光电开关在检测试管的过程中，照射到试管架的检测信号形成的波形是一条接近于某个数值的直线段。因此，根据试管架信号段的波形特征能够知道试管架信号段的起始位置和结束位置。
步骤S112，根据所述试管架信号段的结束位置，和所述试管架移动一个周期的检测信号的结束位置，获取当前试管检测信号段。
其中，所述当前试管检测信号段位于所述试管架信号段的结束位置和所述试管架移动一个周期的检测信号的结束位置之间。
在其中一个实施例中，如图3所示，在所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值之后包括：
步骤S150’，判断所述平均值是否大于第一阈值且小于第二阈值。
步骤S160，如果所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值，则所述试管架上为第一试管，所述第二阈值大于第一阈值。
步骤S170，如果所述平均值不是大于第一阈值且小于第二阈值，则判断所述平均值是否大于第二阈值。
步骤S180，如果所述平均值大于第二阈值，则试管架上存在第二试管。
步骤S190，如果所述平均值不大于第二阈值，则试管架上不存在试管。
其中，在试管架上存在试管之后，还可以通过本实施例所述方法判断试管架上试管的类型，第一试管、第二试管为试管的两种类型。当然可以设置多个阈值，根据平均值所处的阈值范围，来判断多种类型的试管。
在一个具体的实施例中，如图4所示，通过试管架移动一个周期的检测信号的数据分析图，来对本申请所示实施例中试管检测方法进行说明。图4中，截取了部分上一试管检测信号段，是便于观测试管架检测信号段的开始，设从上一试管检测信号段开始到当前试管检测信号段结束，一共采集165个检测信号；从第80个检测信号到第165个检测信号为当前试管检测信号段，从中选取待分析数据段，待分析数据段为第110个检测信号到第165个检测信号；再从待分析数据段选取30个值最小的待处理检测信号，并将待处理检测信号中15个最小的检测信号剔除，对剩余的所述待处理检测信号求平均值。从图4B中可以看出，拼接试管选取30个值最小的待处理检测信号正好处于第二个波的位置，剔除的15个检测信号正好位于波谷的区域，在剔除15个检测信号后，剩余的所述待处理检测信号的平均值大于400且小于800，因此能够根据此试管架上存在试管，且为拼接试管，拼接试管拼接的位置正好处于试管中线位置。从图4C中，可以看出，普通试管选取30个值最小的待处理检测信号都接近于同一数值800，因此，最后待处理检测信号的平均值也接近于800，由此可以试管架上存在试管，且为普通试管。从图4A中，可以看出，空试管架选取30个值最小的待处理检测信号都接近于同一数值100，因此，最后待处理检测信号的平均值也接近于100，由此可以试管架上不存在试管。本实施例中，所述数值是对关电检测信号处理后得到的数字信号，数字信号200对应关电检测信号产生的电压1V，那么数值800对应电压4V，其它数值也可以根据相同的换算方法进行换算，在此不再赘述。
应该理解的是，虽然图1-3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图5所示，提供了一种试管检测装置，包括：试管检测信号段获取模块210、待分析数据段截取模块220、待处理检测信号选取模块230、平均值计算模块240和判断模块250，其中：
试管检测信号段获取模块210，用于从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段。
待分析数据段截取模块220，用于根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段。
待处理检测信号选取模块230，用于根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号。
平均值计算模块240，用于计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值。
判断模块250，用于在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
在其中一个实施例中，一种试管检测装置还包括：信号采集模块，用于采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
在其中一个实施例中，所述待处理检测信号选取模块230，具体用于根据所述待分析数据段检测信号的值的大小，选取连续第一数目的待处理检测信号，所述连续第一数目的待处理检测信号的值之和最小。
在其中一个实施例中，所述待处理检测信号选取模块230，具体用于根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的值最小的待处理检测信号。
在其中一个实施例中，所述平均值计算模块240，具体用于从所述第一数目的待处理检测信号中，剔除连续第二数目的待处理检测信号，根据剩余的所述待处理检测信号计算平均值；其中，所述连续第二数目的待处理检测信号的值之和最小。
在其中一个实施例中，所述试管检测信号段获取模块210包括：试管架信号段获取单元，用于根据试管架移动一个周期的检测信号和试管架信号段的波形特征，获取所述试管架信号段的结束位置；试管检测信号段获取单元，用于根据所述试管架信号段的结束位置，和所述试管架移动一个周期的检测信号的结束位置，获取当前试管检测信号段。
在其中一个实施例中，一种试管检测装置还包括：第一试管判断模块，用于在所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值时，则所述试管架上为第一试管，所述第二阈值大于第一阈值；第二试管判断模块，用于；在所述平均值大于第二阈值时，所述试管架上为第二试管。
其中，在试管架上存在试管之后，还可以通过本实施例所述方法试管架上试管的类型，第一试管、第二试管为试管的两种类型。当然可以设置多个阈值，根据平均值所处的阈值范围，来判断多种类型的试管。
关于试管检测装置的具体限定可以参见上文中对于试管检测方法的限定，在此不再赘述。上述试管检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储检测信号数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种试管检测方法。
本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：在所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值时，则所述试管架上为第一试管，所述第二阈值大于第一阈值；在所述平均值大于第二阈值时，所述试管架上为第二试管。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值时，则所述试管架上为第一试管，所述第二阈值大于第一阈值；在所述平均值大于第二阈值时，所述试管架上为第二试管。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (12)
1.一种试管检测方法，其特征在于，所述方法包括：
从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段之前，包括：
采集试管架移动一个周期的检测信号，所述检测信号用于检测试管。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段，包括：
根据试管架移动一个周期的检测信号和试管架信号段的波形特征，获取所述试管架信号段的结束位置；
根据所述试管架信号段的结束位置，和所述试管架移动一个周期的检测信号的结束位置，获取当前试管检测信号段。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设长度大于所述当前试管检测信号段的二分之一。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一数目大于所述待分析数据段中数据数目的二分之一。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：
根据所述待分析数据段检测信号的值的大小，选取连续第一数目的待处理检测信号，所述连续第一数目的待处理检测信号的值之和最小。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号，包括：
根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的值最小的待处理检测信号。
8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值，包括：
从所述第一数目的待处理检测信号中，剔除连续第二数目的待处理检测信号，根据剩余的所述待处理检测信号计算平均值；其中，所述连续第二数目的待处理检测信号的值之和最小。
9.根据权利要求1任一项所述的方法，其特征在于，在所述计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值之后包括：
在所述平均值大于第一阈值且小于第二阈值时，则所述试管架上为第一试管，所述第二阈值大于第一阈值；
在所述平均值大于第二阈值时，所述试管架上为第二试管。
10.一种试管检测装置，其特征在于，所述装置包括：
试管检测信号段获取模块，用于从试管架移动一个周期的检测信号中，获取当前试管检测信号段；
待分析数据段截取模块，用于根据所述当前试管检测信号段，以预设长度截取待分析数据段；
待处理检测信号选取模块，用于根据所述待分析数据段中检测信号的值的大小，选取第一数目的待处理检测信号；
平均值计算模块，用于计算所述第一数目的待处理检测信号的平均值；
判断模块，用于在所述平均值大于第一阈值时，则确定试管架上存在试管。
11.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至9中任一项所述方法的步骤。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至9中任一项所述的方法的步骤。
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110208560A (zh) * | 2019-06-26 | 2019-09-06 | 迈克医疗电子有限公司 | 试管检测装置及试管检测方法 |
| CN110456424A (zh) * | 2019-08-16 | 2019-11-15 | 桂林优利特医疗电子有限公司 | 一种试管识别装置及尿液分析仪 |
| CN114047557A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-02-15 | 迈克医疗电子有限公司 | 试管检测方法及样本传输装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0894768A (ja) * | 1994-09-29 | 1996-04-12 | Toa Medical Electronics Co Ltd | 接触型センサー及びそのセンサーを用いる容器検出装置 |
| JP2004317211A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Aloka Co Ltd | 容器検出装置 |
| CN101526545A (zh) * | 2008-03-07 | 2009-09-09 | 希森美康株式会社 | 分析仪、用于分析仪的标本运送方法及分析仪的控制系统 |
| CN102043038A (zh) * | 2009-10-15 | 2011-05-04 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种血液分析仪试管检测装置及方法 |
| CN104741162A (zh) * | 2013-12-31 | 2015-07-01 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 分析仪流水线的试管架及其移位检测方法和装置 |
-
2018
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0894768A (ja) * | 1994-09-29 | 1996-04-12 | Toa Medical Electronics Co Ltd | 接触型センサー及びそのセンサーを用いる容器検出装置 |
| JP2004317211A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Aloka Co Ltd | 容器検出装置 |
| CN101526545A (zh) * | 2008-03-07 | 2009-09-09 | 希森美康株式会社 | 分析仪、用于分析仪的标本运送方法及分析仪的控制系统 |
| CN102043038A (zh) * | 2009-10-15 | 2011-05-04 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种血液分析仪试管检测装置及方法 |
| CN104741162A (zh) * | 2013-12-31 | 2015-07-01 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 分析仪流水线的试管架及其移位检测方法和装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110208560A (zh) * | 2019-06-26 | 2019-09-06 | 迈克医疗电子有限公司 | 试管检测装置及试管检测方法 |
| CN110456424A (zh) * | 2019-08-16 | 2019-11-15 | 桂林优利特医疗电子有限公司 | 一种试管识别装置及尿液分析仪 |
| CN114047557A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-02-15 | 迈克医疗电子有限公司 | 试管检测方法及样本传输装置 |
| CN114047557B (zh) * | 2021-10-22 | 2023-11-14 | 迈克医疗电子有限公司 | 试管检测方法及样本传输装置 |
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