CN109583097A - 一种基于Allegro软件的叠层自动录入方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种Allegro软件的叠层自动录入方法及系统，包括：获取印制电路板的叠层信息表；在叠层信息表中提取预设参数信息；将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。通过将数据信息进行格式转换，转化为统一的格式，使其对于工程师的仿真工作一方面降低了数据的出错率；另一方面录入更加快捷，提高了工作效率。

Description

一种基于Allegro软件的叠层自动录入方法及系统

技术领域

本发明涉及PCB设计领域，尤其涉及一种基于Allegro软件的叠层自动录入方法及系统。

背景技术

在平常PCBlayout、SI仿真工作中我们会有一个将PCB板厂给出的叠层录入进我们的PCB设计中的过程，我们需要手动录入叠层数据。设计时的叠层数据需要手动录入进软件里面，一旦层数过多就会有大量数据需要处理，在密集的窗口中很容易出错，并且需要跟工厂的表格需要一个个的比对，人工操作效率低下。

而对于SI仿真而言一旦叠层信息出现错误会影响到仿真结果的准确性，一旦这个问题没有及时发现，SI工程师做的一系列工作都可能需要推翻重来，这样造成的损失是极大的。

基于以上存在的技术问题，本申请提供了解决以上技术问题的技术方案。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于Allegro软件的叠层自动录入方法及系统，通过将数据信息进行格式转换，转化为统一的格式，使其对于工程师的仿真工作一方面降低了数据的出错率；另一方面录入更加快捷，提高了工作效率。

本发明提供的技术方案如下：

一种Allegro软件的叠层自动录入方法，包括：获取印制电路板的叠层信息表；在叠层信息表中提取预设参数信息；将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

进一步优选的，包括：在叠层信息表中提取第一预设参数信息包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

进一步优选的，在叠层信息表中提取第二预设参数信息包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

进一步优选的，包括：在叠层信息表中提取第三预设参数信息包括：在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

进一步优选的，包括：获取印制电路板的层序列号；根据层序列号锁定对应的层的参数信息；根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行导入。

一种Allegro软件的叠层自动录入系统，包括：信息获取模块，获取印制电路板的叠层信息表；信息提取模块，与信息获取模块通信连接，在叠层信息表中提取预设参数信息；信息录入模块，与信息提取模块通信连接，将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

进一步优选的，包括：第一预设参数提取子模块，第一预设参数提取模块具体包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

进一步优选的，包括：第二预设参数提取子模块，第二预设参数提取模块具体包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

进一步优选的，第三预设参数提取子模块，第三预设参数提取模块具体包括：在叠层信息表中找查找第三预设参数信息，并在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

进一步优选的，信息录入模块包括：层序列号获取子模块，获取印制电路板的层序列号；层参数信息锁定子模块，与层序列号获取子模块通信连接，根据层序列号锁定对应的层参数信息；信息录入子模块，与层参数信息锁定子模块通信连接，根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行录入。

本发明提供的一种基于Allegro软件的叠层自动录入方法及系统，有益效果如下：

本申请中，通过将《叠层阻抗计算表》进行格式转换，转化为统一的格式，使其对于工程师的仿真工作一方面降低了数据的出错率；另一方面录入更加快捷，提高了工作效率。

在本申请中，针对不同的参数值，提供了查找对应的层序列号，为下一步的数据格式转换提供了数据依据，为将数据信息录入至Allegro软件中，提供了有利的查找路径。

在本申请中，通过中对关键信息的格式转换，本申请改变了人工录入叠层的方式，使用全部自动的方式让叠层录入变得更高效、更更准确，有效的避免人工产生的错误。

附图说明

下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种基于 Allegro软件的叠层自动录入方法及系统的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

图1是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法一个实施例的流程图；

图2是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法另一个实施例的流程图；

图3是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法另一个实施例的流程图；

图4是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法另一个实施例的流程图；

图5是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法另一个实施例的流程图；

图6是本发明数据格式转换一个实施例的流程图；

图7是本发明数据格式转换另一个实施例的流程图；

图8是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入系统一个实施例的结构图；

图9是本发明基于Allegro软件的叠层自动录入方法另一个实施例的结构图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

为使图面简洁，各图中的只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。

本发明提供了一种Allegro软件的叠层自动录入方法的实施例，参考图1所示；包括：

步骤S100获取印制电路板的叠层信息表；

步骤S200在叠层信息表中提取预设参数信息；

步骤S300将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

具体的，叠层信息表来自于PCB生产厂商针对不同的PCB板的应用不同，以及相关的用户需求不同，因此其形成的叠层信息表内参数也不同，同时也称之为《叠层阻抗计算表》；在该叠层阻抗计算表中包括：PCB的层数设置信息，层的厚度，层的介质，铜箔参数等等；当工程在做PCB的仿真过程中，需提取以下相关的参数，在现有的设计都是人工的手动输入，但是手动输入一方面容易产生错误，另一方面工作效率很低；因此在本申请中，利用Allegro软件中的Replay命令、和Scripting的部分指令，将《叠层阻抗计算表》转化成软件能够认识的.SCR代码文件实现自动录入叠层信息的功能。通过EXCEL、 windows批处理脚本等等方式提取《叠层阻抗计算表》中的关键信息，将其转换成SCR制定格式代码，通过Allegro软件中的Replay命令将.SCR导入到软件中。

因此，本申请通过将《叠层阻抗计算表》进行格式转换，转化为统一的格式，使其对于工程师的仿真工作一方面降低了数据的出错率；另一方面录入更加快捷，提高了工作效率。

本发明还提供一个实施例；参考图2所示；在本申请中，为了实现同一个格式转换，包括：在叠层信息表中提取第一预设参数信息包括：

步骤S100获取印制电路板的叠层信息表；

步骤S200在叠层信息表中提取预设参数信息；

步骤S210判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

步骤S211当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；并执行步骤S213；

步骤S212当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；并执行步骤 S213；

步骤S213并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

本申请还提供了一个在叠层信息表中提取第二预设参数信息的一个实施例包括：参考图3所示；

步骤S210判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

步骤S221当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；

步骤S222当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；步骤S223并通过预设算法查找介质，和/ 或铜箔对应的层序列号。

本申请还提供了一个在叠层信息表中提取第三预设参数信息的实施例包括：参考图4所示；

步骤S231在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；

步骤S232并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

具体的，在本实施例中，参考图2-4所示；将第一预设参数信息设置为层厚度、第二预设参数信息设置为介电常数DK，第三预设参数信息设置为介质损耗角信息DF；将《叠层阻抗计算表》进行格式转换之前需要提取关键信息；以提取厚度，介电常数、介质损耗角信息为例进行介绍：参考图2所示；提取层厚度的过程包括：结合图3所示；假设判断C列中的各行是铜箔还是介质，当选中的那一行为介质时，在表内D列已给出了介质的厚度(单位为Mil)，在G列统计厚度值，通过查找公式找到该介质所对应的层序号；同样，如果在 C列的选中的行为铜箔时，需要转换铜箔厚度为mil单位，在G列中统计厚度值，通过查找公式找到该铜箔所对应的层序号；

提取介电常数信息(DK)的过程包括：结合图6-7所示；假设判断C列中的各行是铜箔还是介质，当选中的那一行为介质时，在表内E列已给出了介质的DK值，并在F列统计DK值，通过查找公式找到该介质所对应的层序号；同样，如果在C列的选中的行为铜箔时，将距离最近的一个PP的DK值赋予该铜箔层并在GF列统计DK值，通过查找公式找到该铜箔所对应的层序号；

提取介质损耗角信息(DF)的过程包括：一般一个PCB使用的材料是一样的，所以介质损耗每个层都是一样的，在I列将所有层的DF值设为一致；通过查找公式找到该介质所对应的层序号。

在本申请中的实施例中，在提取关键信息使用EXCEL软件来处理工厂给出的叠层信息(在实际的使用过程中可以根据工厂出表格的个是定制一个通用的模板)，使用Excel自行编辑的公式自动转换出我们需要的DK、DF、Thickness 等信息，还包括通过使用其他的办公软件进行提取，还包括windows批处理脚本等等。还可以通过各种数据处理软件、脚本程序、各种计算机语言编程的方式达到同样目的。

在本申请的中针对不同的参数值，提供了查找对应的层序列号，为下一步的数据格式转换提供了数据依据，为将数据信息录入至Allegro软件中，提供了有利的查找路径。

本申请还提供了一个实施例，参考图5所示；包括：

步骤S100获取印制电路板的叠层信息表；

步骤S200在叠层信息表中提取预设参数信息；

步骤S310获取印制电路板的层序列号；

步骤S320根据层序列号锁定对应的层的参数信息；

步骤S330根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行导入。

具体的，在本申请中，从各个工厂中将印制电路板的《叠层阻抗计算表》得到以后，进行关键信息的提取，具体的提取过程参见上一实施例；体悟完成后，找出相应的层序号，进一步的根据层序号建立统一的数据格式，在本实施例中，将关键信息转换成.SCR格式，使其能够被本申请的Allegro软件识别。

其数据格式转换的过程为：在本申请中还是以EXCEL软件为例来进行处理：继续结合图6-7所示；当通过厚度查到层序列号在表格J列编辑固定格式的语句，通过介电常数信息在表格的K列编辑固定格式的语句，在表格的L列编辑固定格式的语句并将上述数据带入其中：

限于篇幅此处只写出其中两层层的代码，

通过以上对关键信息的格式转换后，在Allegro软件中的Command命令窗口使用Replay命令调用我们的SCR文件，这样软件就会自动录入我们所需要的信息。

通过本申请中对关键信息的格式转换，本申请改变了人工录入叠层的方式，使用全部自动的方式让叠层录入变得更高效、更更准确，有效的避免人工产生的错误。

本发明还提供了一种Allegro软件的叠层自动录入系统的一个实施例，如图8所示；包括：信息获取模块100，获取印制电路板的叠层信息表；信息提取模块200，与信息获取模块通信连接，在叠层信息表中提取预设参数信息；信息录入模块300，与信息提取模块通信连接，将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

具体的，叠层信息表来自于生产车间针对不同的PCB版的应用不同，以及相关的用户需求不同，因此其形成的叠层信息表内参数也不同，同时也称之为《叠层阻抗计算表》；在该叠层阻抗计算表中包括：PCB的层数设置信息，层的厚度，层的介质，铜箔参数等等；当工程在做PCB的仿真过程中，需提取一下相关的参数，在现有的设计都是人工的手动输入，但是手动输入一方面容易产生错误，另一方面工作效率很低；因此在本申请中，利用Allegro软件中的 Replay命令、和Scripting的部分指令，将《叠层阻抗计算表》转化成软件能够认识的.SCR代码文件实现自动录入叠层信息的功能。通过EXCEL、windows 批处理脚本等等方式提取《叠层阻抗计算表》中的关键信息，将其转换成SCR 制定格式代码，通过Allegro软件中的Replay命令将.SCR导入到软件中。

因此，本申请通过将《叠层阻抗计算表》进行格式转换，转化为统一的格式，使其对于工程师的仿真工作一方面降低了数据的出错率；另一方面录入更加快捷，提高了工作效率。

本发明还提供了一个实施例：参考图9所示；第一预设参数提取子模块210，第一预设参数提取模块具体包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

本发明还提供了一个实施例：参考图9所示；包括：第二预设参数提取子模块220，第二预设参数提取模块具体包括：判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

本发明还提供了一个实施例：参考图9所示；第三预设参数提取子模块230，第三预设参数提取模块具体包括：在叠层信息表中找查找第三预设参数信息，并在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

本发明还提供了一个实施例：参考图9所示；信息录入模块300包括：层序列号获取子模块310，获取印制电路板的层序列号；层参数信息锁定子模块 320，与层序列号获取子模块通信连接，根据层序列号锁定对应的层参数信息；信息录入子模块330，与层参数信息锁定子模块通信连接，根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行录入。

具体的，本申请利用Allegro软件中的Replay命令、和Scripting的部分指令，将工厂给的叠层文件转化成软件能够认识的.SCR代码文件实现自动录入叠层信息的功能。通过EXCEL、windows批处理脚本等等方式提取《叠层阻抗计算表》中的关键信息，将其转换成SCR制定格式代码，通过Allegro软件中的 Replay命令将.SCR导入到软件中。

另外，本申请的系统与方法的权要是一一对应的，因此本申请的方法实施例完全可在申请的系统中实施例，因此，不在一一赘述。

具体实现方法：参考图1-9所示；

1、根据PCB设计要求让工厂计算出合适的叠层，并给出《叠层阻抗计算表》文件。

2.我们使用EXCEL软件来处理工厂给出的叠层信息(我们可以根据工厂出表格的个是定制一个通用的模板)，将它转化为我们的SCR代码如下图我们将 1.中得到的叠层信息粘贴进表格中，使用Excel自行编辑的公式自动转换出我们需要的DK、DF、Thickness等信息，将这些信息通过公式组合进我们SCR 的固定格式语句中即可。图中虚线框部分为我们1.中的叠层，点线框部分为计算之后得到的叠层厚度信息代码，点划线框内为计算之后得到的DK值信息代码，实线框内为计算之后得到的DF值信息代码。

注：本申请中《叠层阻抗计算表》不只有EXCEL一种方式可以实现，我们只是例举我们目前使用的一种，此处可以通过各种数据处理软件、脚本程序、各种计算机语言编程的方式达到同样目的。凡是通过将《叠层阻抗计算表》转变为SCR信息代码的方式均属于本专利保护范围。

3.新建一个文本文档，按照以下格式将2.中的到的数据粘贴在新的文件中并另存为一个XXX.scr文件保存到任意目录中。

4.在Allegro软件Layout Cross Section中添加对应数量的层。

5.在Allegro软件中的Command命令窗口使用Replay命令调用我们的 SCR文件，这样软件就会自动录入我们所需要的信息。

应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种Allegro软件的叠层自动录入方法，其特征在于，包括：

获取印制电路板的叠层信息表；

在叠层信息表中提取预设参数信息；

将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

2.如权利要求1的Allegro软件的叠层自动录入方法，其特征在于，包括：在叠层信息表中提取第一预设参数信息包括：

判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；

当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；

并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

3.如权利要求1的Allegro软件的叠层自动录入方法，其特征在于，在叠层信息表中提取第二预设参数信息包括：

判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；

当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；

并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

4.如权利要求1的Allegro软件的叠层自动录入方法，其特征在于，包括：在叠层信息表中提取第三预设参数信息包括：

在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；

并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

5.如权利要求2-4任一的Allegro软件的叠层自动录入方法，其特征在于，包括：

获取印制电路板的层序列号；

根据层序列号锁定对应的层的参数信息；

根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行导入。

6.一种Allegro软件的叠层自动录入系统，其特征在于，包括：

信息获取模块，获取印制电路板的叠层信息表；

信息提取模块，与信息获取模块通信连接，在叠层信息表中提取预设参数信息；

信息录入模块，与信息提取模块通信连接，将提取的预设参数信息转换成预设格式文件，将转后的预设格式文件录入至Allegro软件中。

7.如权利要求6的Allegro软件的叠层自动录入系统，其特征在于，包括：第一预设参数提取子模块，第一预设参数提取模块具体包括：

判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

当参数信息类型为介质时，在第二预设位置的统计介质的第一预设参数信息；

当参数信息类型为铜箔时，转换铜箔的第一预设参数的单位信息为预设单位信息，并统计第二预设位置的铜箔的第一预设参数；

并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

8.如权利要求6的Allegro软件的叠层自动录入系统，其特征在于，包括：第二预设参数提取子模块，第二预设参数提取模块具体包括：

判断在叠层信息表中的第一预设位置对应的参数信息类型；

当参数信息类型为介质时，在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；

当参数信息类型为铜箔时，根据预设规则在叠层信息表中的第二预设位置统计第二预设参数信息；

并通过预设算法查找介质，和/或铜箔对应的层序列号。

9.如权利要求6的Allegro软件的叠层自动录入系统，其特征在于，第三预设参数提取子模块，第三预设参数提取模块具体包括：

在叠层信息表中找查找第三预设参数信息，并在叠层信息表中的第三预设位置将各层的第三预设参数信息设置为同一参数值；

并通过预设算法查找对应介质的层序列号。

10.如权利要求6-9任一的Allegro软件的叠层自动录入系统，其特征在于，信息录入模块包括：

层序列号获取子模块，获取印制电路板的层序列号；

层参数信息锁定子模块，与层序列号获取子模块通信连接，根据层序列号锁定对应的层参数信息；

信息录入子模块，与层参数信息锁定子模块通信连接，根据Allegro软件的录入格式信息，通过Allegro软件命令信息，将印制电路板的层序列号锁定对应的层的参数信息进行录入。