CN109582521B - 测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试存储系统读写性能的方法，根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数，并根据预设读写参数确定最大时延阈值，用于判断是否存在丢帧，从而实现存储系统的性能测试。此外，本申请还公开了一种测试存储系统读写性能的装置、设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
背景技术
存储系统大家并不陌生，不同公司针对不同客户应用场景研发的各种各样的存储系统等。而这些存储系统的性能对比，或者说在某种应用场景下哪些存储系统性能更好，或者同种存储系统在不同的接入方式下的性能对比情况，需要使用一些测试工具来进行对比测试。
在恒定码率的场景中，比如视频监控场景，前端摄像头一般都是恒定的码率，如4Mb/s等。这些视频录像的要保证数据及时安全的写入到存储系统中，对存储系统是有一定的性能要求的。因此对于这种场景下存储系统的测试是非常有必要的。
发明内容
本发明的目的是提供一种测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及计算机可读存储存储介质，以在恒定码率的场景下对存储系统的读写性能进行测试。
为解决上述技术问题，本发明提供一种测试存储系统读写性能的方法，该方法包括：
根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
可选地，所述根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数包括：
根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。
可选地，所述根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值包括：
根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。
可选地，当读取倍速值为M，且M≠1时，所述确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的时延为最大时延阈值包括：
确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为
可选地，在所述判定所述存储系统的读写性能存在丢帧之后还包括：
生成指示所述存储系统的读写性能不满足预先设置的参数的报警信息。
为实现上述目的，本发明还提供了一种测试存储系统读写性能的装置，包括：
创建模块，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
确定模块，用于根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
判断模块，用于分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
可选地，所述创建模块包括：
线程创建单元，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
路数计算单元，用于根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。
可选地，所述确定模块包括：
数据计算单元，用于根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
阈值确定单元，用于确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。
为实现上述目的，本发明还提供了一种测试存储系统读写性能的设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现前述公开的测试存储系统读写性能的方法的步骤。
为实现上述目的，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的测试存储系统读写性能的方法的步骤。
本发明所提供的测试存储系统读写性能的方法，根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数，并根据预设读写参数确定最大时延阈值，用于判断是否存在丢帧，从而实现了在恒定码率场景下对存储系统读写性能的测试。
本申请还公开了一种测试存储系统读写性能的装置、设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的测试存储系统读写性能的方法的一种具体实施方式流程图；
图2为本发明提供的测试存储系统读写性能的方法的另一种具体实施方式流程图；
图3为本发明提供的测试存储系统读写性能的方法的又一种具体实施方式流程图；
图4为本发明提供的测试存储系统读写性能的方法的第四种具体实施方式流程图；
图5为本发明实施例提供的测试存储系统读写性能的装置的结构框图；
图6为本申请实施例提供的一种测试存储系统读写性能的设备的结构图；
图7为本申请实施例提供的另一种测试存储系统读写性能的设备的结构图。
具体实施方式
在恒定码率的场景中，比如视频监控场景，前端摄像头一般都是恒定的码率，如4Mb/s等。这些视频录像的要保证数据及时安全的写入到存储系统中，对存储系统是有一定的性能要求的。因此对于这种场景下存储系统的测试是非常有必要的。本发明的核心即为提供一种测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及计算机可读存储存储介质。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供了一种测试存储系统读写性能的方法，参见图1，该方法包括：
S101：根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
本实施例中，获取预先设置的码流路数，并创建与码流路数对应数量的线程数，包括读取线程数和写入线程数，其中，每一个线程对应一路文件。
S102：根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
具体地，获取预先设置的存储系统的读写参数，并利用读写参数确定读写操作的最大时延阈值，用于判定当前测试的存储系统是否存在丢帧。
S103：分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
可以理解的是，利用每个线程的当前时延和最大时延阈值的比较结果判定当前存储系统的性能。具体地，当每个线程的当前时延超过最大时延阈值，则判定当前存储系统存在丢帧；若小于最大时延阈值，则判定当前存储系统的读写性能不存在丢帧，得到当前存储系统的读写性能测试结果。
本发明所提供的测试存储系统读写性能的方法，根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数，并根据预设读写参数确定最大时延阈值，用于判断是否存在丢帧，从而实现了在恒定码率场景下对存储系统读写性能的测试。
本发明提供了另一种测试存储系统读写性能的方法，参见图2，该方法包括：
S201：根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
S202：根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数，每一个线程对应一路文件；
本实施例中，获取用户预先设置的读写百分比，也即，读取线程与写入线程的比例，利用线程数和读写百分比计算读取路数和写入路数，从而创建对应读取路数的读取线程数和对应写入路数的写入线程数。例如，若读写百分比R％＝10％，表示有10％的读取路数，90％的写入路数。
S203：根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
S204：分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
本发明提供了另一种测试存储系统读写性能的方法，参见图3，该方法包括：
S301：根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
S302：根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
本实施例中，获取预设的码率，并根据预设码率大小计算每秒向存储系统写入或读取的数据块大小。例如，4Mb/s的码率，表示1s写入4Mb的数据，即512KB/s.，从而得到每秒向存储系统读取或写入的数据块大小为512KB。
S303：确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s；
另外，当读取倍速值为M，且M≠1时，本实施例确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为
S304：分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
在上述实施例的基础上，本发明提供了又一种测试存储系统读写性能的方法，参见图4，该方法包括：
S401：根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
S402：根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
S403：分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧，生成指示所述存储系统的读写性能不满足预先设置的参数的报警信息；
可以理解的是，当判定存储系统的读写性能存在丢帧后，本实施例生成相应的报警信息，用于指示用户当前读写性能不满足预设参数。
S404：如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
下面对本发明实施例提供的测试存储系统读写性能的装置进行介绍，下文描述的测试存储系统读写性能的装置与上文描述的测试存储系统读写性能的方法可相互对应参照。
图5为本发明实施例提供的测试存储系统读写性能的装置的结构框图，参照图5测试存储系统读写性能的装置可以包括：
创建模块100，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
确定模块200，用于根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
判断模块300，用于分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
其中，所述创建模块100可以具体包括：
线程创建单元，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
路数计算单元，用于根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。
进一步地，所述确定模块200可以具体包括：
数据计算单元，用于根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
阈值确定单元，用于确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。
本实施例的测试存储系统读写性能的装置用于实现前述的测试存储系统读写性能的方法，因此测试存储系统读写性能的装置中的具体实施方式可见前文中的测试存储系统读写性能的方法的实施例部分，例如，创建模块100，确定模块200，判断模块300，分别用于实现上述测试存储系统读写性能的方法中步骤S101，S102和S103，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再赘述。
本申请还提供了一种测试存储系统读写性能的设备，参见图6，本申请实施例提供的一种测试存储系统读写性能的设备的结构图，如图6所示，包括：
存储器11，用于存储计算机程序；
处理器12，用于执行所述计算机程序时可以实现上述实施例所提供的步骤。
具体的，存储器11包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机可读指令，该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机可读指令的运行提供环境。处理器12在一些实施例中可以是一中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片，为电子设备提供计算和控制能力。
在上述实施例的基础上，作为优选实施方式，参见图7，所述测试存储系统读写性能的设备还包括：
输入接口13，与处理器12相连，用于获取外部导入的计算机程序、参数和指令，经处理器12控制保存至存储器11中。该输入接口13可以与输入装置相连，接收用户手动输入的参数或指令。该输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是终端外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，也可以是键盘、触控板或鼠标等。
1.输出接口14，用于将处理器12产生的各种数据输出至与其相连的终端设备，以便于与输出接口14相连的其他终端设备能够获取到处理器12产生的各种数据。本实施例中，所述输出接口14具体可以包括但不限于USB接口、串行接口等。
2.通信单元15，用于和外部服务器之间建立远程通信连接，获取外界终端发送的数据，然后发送至处理器12进行处理分析，另外，处理器12还可以将处理后得到的各种结果通过通信单元15发送至预设的各种数据接收端。本实施例中，上述通信单元15所采用的通信技术可以是有线通信技术或无线通信技术，如通用串行总线(USB)、无线保真技术(WiFi)、蓝牙通信技术、低功耗蓝牙通信技术(BLE)等。另外，通信单元15具体可以根据宽带码分多址(W-CDMA)、长期演进(LTE)和类似标准操作的蜂窝无线收发器。
3.显示单元16，与处理器12相连，用于显示处理器12处理的数据以及用于显示可视化的用户界面。该显示单元16可以为LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)触摸器等。
4.图7仅示出了具有组件11-16的测试存储系统读写性能的设备，本领域技术人员可以理解的是，图7示出的结构并不构成对测试存储系统读写性能的设备的限定，可以包括比图示更少或者更多的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。该存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的任一项测试存储系统读写性能的方法。
本申请通过预设的码流路数创建线程数，并根据预设读写参数确定最大时延阈值，用于判断是否存在丢帧，从而实现存储系统的性能测试。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本发明所提供的测试存储系统读写性能的方法以及装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (10)
1.一种测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，包括：
根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
2.如权利要求1所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，所述根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数包括：
根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。
3.如权利要求2所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，所述根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值包括：
根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。
4.如权利要求3所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，当读取倍速值为M，且M≠1时，所述确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的时延为最大时延阈值包括：
确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为
5.如权利要求1至4任一项所述的测试存储系统读写性能的方法，其特征在于，在所述判定所述存储系统的读写性能存在丢帧之后还包括：
生成指示所述存储系统的读写性能不满足预先设置的参数的报警信息。
6.一种测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，包括：
创建模块，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的读取线程数及写入线程数，每一个线程对应一路文件；
确定模块，用于根据预先设置的存储系统读写参数，确定单次读写操作的最大时延阈值；
判断模块，用于分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值；如果是，则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧；如果否，则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。
7.如权利要求6所述的测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，所述创建模块包括：
线程创建单元，用于根据预先设置的码流路数，创建对应数量的线程数；
路数计算单元，用于根据预先设置的读写百分比，计算读取路数以及写入路数，创建对应所述读取路数的读取线程数，创建对应所述写入路数的写入线程数。
8.如权利要求6或7所述的测试存储系统读写性能的装置，其特征在于，所述确定模块包括：
数据计算单元，用于根据预先设置的码率，计算每秒向存储系统读取或写入的数据块大小；
阈值确定单元，用于确定单次读取或写入所述数据块大小的数据所需的最大时延阈值为1s。
9.一种测试存储系统读写性能的设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述测试存储系统读写性能的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述测试存储系统读写性能的方法的步骤。
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- 2018-12-10 CN CN201811504751.1A patent/CN109582521B/zh active Active
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