CN109557453B - 一种多主控芯片识别处理方法及系统 - Google Patents

一种多主控芯片识别处理方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN109557453B
CN109557453B CN201811437028.6A CN201811437028A CN109557453B CN 109557453 B CN109557453 B CN 109557453B CN 201811437028 A CN201811437028 A CN 201811437028A CN 109557453 B CN109557453 B CN 109557453B
Authority
CN
China
Prior art keywords
main control
chips
address
electronic equipment
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201811437028.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109557453A (zh
Inventor
季恒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd filed Critical Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd
Priority to CN201811437028.6A priority Critical patent/CN109557453B/zh
Publication of CN109557453A publication Critical patent/CN109557453A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109557453B publication Critical patent/CN109557453B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明涉及计算机技术领域,提供一种多主控芯片识别处理方法及系统,方法包括:电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略,从而实现根据电子设备中主控芯片的数量变化来自动适配对应的应用策略,保障电子设备的持续安全运行。

Description

一种多主控芯片识别处理方法及系统
技术领域
本发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种多主控芯片识别处理方法及系统。
背景技术
目前,在电子产品设计过程中,为了实现不同的功能及降低成本等考虑,往往会在同一个设备上做兼容不同数量主控芯片的设计,不同数量的主控芯片,其应用场景、策略也不相同。
但是,在电子产品实际使用过程中,如果个别主控芯片出现问题,往往造成应用中断,等到用户现场处理时,往往已经造成了很大的损失。
发明内容
为了克服上述所指出的现有技术的缺陷,本发明人对此进行了深入研究,在付出了大量创造性劳动后,从而完成了本发明。
具体而言,本发明所要解决的技术问题是:提供一种多主控芯片识别处理方法,旨在解决现有技术中在电子产品实际使用过程中,如果个别主控芯片出现问题,往往造成应用中断,等到用户现场处理时,往往已经造成了很大的损失的技术问题。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:
一种多主控芯片识别处理方法,所述方法包括下述步骤:
电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;
当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略;
所述电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片的步骤具体包括下述步骤:
扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址;
控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址;
将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致;
如果两个地址是一致的,则说明该地址对应的主控芯片的工作状态是正常的,若未接收到主控芯片反馈的地址,或者反馈的地址与获取到的I2C地址不一致,则说明主控芯片的工作状态处于异常状态。
作为一种改进的方案,所述方法还包括下述步骤:
根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息。
作为一种改进的方案,所述以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤的执行次数为三次。
本发明的另一目的在于提供一种多主控芯片识别处理系统,所述系统包括:
故障判断模块,用于电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
轮询判断模块,用于当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
第一执行模块,用于当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;
第二执行模块,用于当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略;
所述故障判断模块具体包括:
I2C地址扫描模块,用于扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址;
地址获取模块,用于控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址;
地址判断模块,用于将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致;
如果两个地址是一致的,则说明该地址对应的主控芯片的工作状态是正常的,若未接收到主控芯片反馈的地址,或者反馈的地址与获取到的I2C地址不一致,则说明主控芯片的工作状态处于异常状态。
作为一种改进的方案,所述系统还包括:
预先配置模块,用于根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息。
作为一种改进的方案,所述以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤的执行次数为三次。
在本发明中,电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略,从而实现根据电子设备中主控芯片的数量变化来自动适配对应的应用策略,保障电子设备的持续安全运行。
附图说明
图1是本发明提供的多主控芯片识别处理方法的实现流程图;
图2是本发明提供的电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片的实现流程图;
图3是本发明提供的多主控芯片识别处理系统的结构框图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的、技术方案,因此只作为示例,而不能以此来限制本发明的保护范围。
图1是本发明提供的多主控芯片识别处理方法的实现流程图,其具体包括下述步骤:
在步骤S101中,电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片,是则执行步骤S102,否则执行步骤S103。
在步骤S102中,当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片,是则执行步骤S103,否则执行步骤S104。
在步骤S103中,当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略。
在步骤S104中,当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略。
其中,如图2所示,所述电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片的步骤具体包括下述步骤:
在步骤S201中,扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址。
其中,主控芯片是整个电子设备的核心组成部分,是联系各个设备之间的桥梁,也是控制电子设备运行工作的大脑;该I2C总线是一种简单、双向二线制同步串行总线,只需要两根线即可连接于总线上的器件之间传递信息。
在步骤S202中,控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址。
在步骤S203中,将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致。
如果两个地址是一致的,则说明该地址对应的主控芯片的工作状态是正常的,若未接收到主控芯片反馈的地址,或者反馈的地址与获取到的I2C地址不一致,则说明主控芯片的工作状态处于异常状态。
在本发明实施例中,在执行上述步骤S101之前还需要执行下述步骤:
根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息;
在该实施例中,该报警信息或正常运行的状态信息的输出方式可以是通过语音的方式或者显示屏显示的方式,或者两者结合的方式,在此不再赘述。
在本发明实施例中,对主控芯片地址的轮询时,可以轮询三次,当然也可以根据实际的需要设置为其他次数,在此不再赘述。
图3示出了本发明提供的多主控芯片识别处理系统的结构框图,为了便于说明,图中仅给出了与本发明实施例相关的部分。
多主控芯片识别处理系统包括:
故障判断模块11,用于电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
轮询判断模块12,用于当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
第一执行模块13,用于当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;
第二执行模块14,用于当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略。
其中,所述故障判断模块11具体包括:
I2C地址扫描模块15,用于扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址;
地址获取模块16,用于控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址;
地址判断模块17,用于将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致。
在该实施例中,所述系统还包括:
预先配置模块18,用于根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息。
其中,上述各个模块的功能如上述方法实施例所记载,在此不再赘述。
在本发明实施例中,电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略,从而实现根据电子设备中主控芯片的数量变化来自动适配对应的应用策略,保障电子设备的持续安全运行。
以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围,其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。

Claims (4)

1.一种多主控芯片识别处理方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:
电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;
当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略;
所述电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片的步骤具体包括下述步骤:
扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址;
控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址;
将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致;
如果两个地址是一致的,则说明该地址对应的主控芯片的工作状态是正常的,若未接收到主控芯片反馈的地址,或者反馈的地址与获取到的I2C地址不一致,则说明主控芯片的工作状态处于异常状态;
所述方法还包括下述步骤:
根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息。
2.根据权利要求1所述的多主控芯片识别处理方法,其特征在于,所述以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤的执行次数为三次。
3.一种多主控芯片识别处理系统,其特征在于,所述系统包括:
故障判断模块,用于电子设备开机运行时,对电子设备上的多主控芯片进行故障检测,判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
轮询判断模块,用于当判定多主控芯片中存在故障芯片时,则以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤,再次判断多主控芯片中是否存在故障芯片;
第一执行模块,用于当再次判定多主控芯片中存在故障芯片时,则执行控制运行第一控制执行策略;
第二执行模块,用于当判定多主控芯片正常在线时,则控制运行第二控制执行策略;
所述故障判断模块具体包括:
I2C地址扫描模块,用于扫描与每一个主控芯片连接的I2C总线,获取每一个主控芯片的I2C地址;
地址获取模块,用于控制向每一个主控芯片发送地址获取指令,并接收每一个在线主控芯片反馈的地址;
地址判断模块,用于将获取到的每一个主控芯片的I2C地址与每一个主控芯片反馈的地址进行比对,判断两个地址是否一致;
如果两个地址是一致的,则说明该地址对应的主控芯片的工作状态是正常的,若未接收到主控芯片反馈的地址,或者反馈的地址与获取到的I2C地址不一致,则说明主控芯片的工作状态处于异常状态;
所述系统还包括:
预先配置模块,用于根据所述电子设备运行状态,预先配置所述第一控制执行策略和第二控制执行策略;
其中,所述第一控制执行策略为控制所述电子设备正常运行,同时输出严重级别的报警信息;
所述第二控制执行策略为维持所述电子设备当前的应用模式和场景,并输出电子设备正常运行的状态信息。
4.根据权利要求3所述的多主控芯片识别处理系统,其特征在于,所述以轮询的方式对多主控芯片执行故障检测的步骤的执行次数为三次。
CN201811437028.6A 2018-11-28 2018-11-28 一种多主控芯片识别处理方法及系统 Active CN109557453B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811437028.6A CN109557453B (zh) 2018-11-28 2018-11-28 一种多主控芯片识别处理方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811437028.6A CN109557453B (zh) 2018-11-28 2018-11-28 一种多主控芯片识别处理方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109557453A CN109557453A (zh) 2019-04-02
CN109557453B true CN109557453B (zh) 2021-04-27

Family

ID=65867830

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811437028.6A Active CN109557453B (zh) 2018-11-28 2018-11-28 一种多主控芯片识别处理方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109557453B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110045210A (zh) * 2019-05-15 2019-07-23 深圳市英威腾电气股份有限公司 功能安全检测方法、装置、功能安全模块及检测系统
CN113053273A (zh) * 2020-12-15 2021-06-29 四川长虹电器股份有限公司 一种通过iic通讯判断并控制dlp微投产品光机点灯的方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102103536A (zh) * 2009-12-18 2011-06-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 板卡测试装置及方法
CN105446837A (zh) * 2015-04-02 2016-03-30 北京天诚盛业科技有限公司 检测iic接口器件是否连接的方法、装置以及系统
CN105653411A (zh) * 2015-12-28 2016-06-08 哈尔滨工业大学 支持局部永久故障恢复的多核处理器芯片可重构系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4233682A (en) * 1978-06-15 1980-11-11 Sperry Corporation Fault detection and isolation system
US4635259A (en) * 1983-08-01 1987-01-06 Fairchild Semiconductor Corporation Method and apparatus for monitoring response signals during automated testing of electronic circuits
US6180426B1 (en) * 1999-03-01 2001-01-30 Mou-Shiung Lin High performance sub-system design and assembly
CN100504801C (zh) * 2004-06-25 2009-06-24 联想(北京)有限公司 检测和诊断计算机硬件故障的方法和装置
CN103095855B (zh) * 2011-10-27 2015-05-27 无锡力芯微电子股份有限公司 I2c通信接口装置
WO2014079034A1 (zh) * 2012-11-23 2014-05-30 华为技术有限公司 内部整合电路总线控制电路和控制方法
CN103914362B (zh) * 2012-12-31 2018-07-17 研祥智能科技股份有限公司 一种串口自检方法、电路及装置
CN103729319A (zh) * 2013-12-04 2014-04-16 上海斐讯数据通信技术有限公司 基于串行总线的设备系统及数据传输方法
CN106020029A (zh) * 2016-06-20 2016-10-12 上海雷尼威尔技术有限公司 基于物联网的智能农业机械控制方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102103536A (zh) * 2009-12-18 2011-06-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 板卡测试装置及方法
CN105446837A (zh) * 2015-04-02 2016-03-30 北京天诚盛业科技有限公司 检测iic接口器件是否连接的方法、装置以及系统
CN105653411A (zh) * 2015-12-28 2016-06-08 哈尔滨工业大学 支持局部永久故障恢复的多核处理器芯片可重构系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN109557453A (zh) 2019-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107390511A (zh) 用于运行冗余的自动化系统的方法
CN110879565A (zh) 双机冗余控制系统及其冗余控制/故障监测方法和装置
CN102546135B (zh) 主备服务器切换系统及方法
US9330049B2 (en) Method and apparatuses for monitoring system bus
CN107957692B (zh) 控制器冗余方法、装置及系统
CN103139033B (zh) 单主通信控制总线主设备冗余切换方法
CN105183575A (zh) 处理器故障的诊断方法、装置及系统
CN109557453B (zh) 一种多主控芯片识别处理方法及系统
CN107948063B (zh) 一种建立聚合链路的方法和接入设备
CN114355760A (zh) 一种主控制站及其热备冗余控制方法
CN106253357B (zh) 一种供电方法和供电装置
CN103186440B (zh) 检测子卡在位的方法、装置及系统
US20240143443A1 (en) Method and apparatus for repairing hanging in communication bus, electronic device, and storage medium
CN110417464B (zh) 一种故障处理方法及装置、计算机装置及可读存储介质
CN106610885A (zh) 服务器故障检测系统及方法
CN105513659A (zh) 一种核电站反应堆保护系统的输出控制方法及系统
CN108595297B (zh) 一种upi速度的检测方法及装置
CN111030871A (zh) 基于双机热备系统的配置信息同步方法和装置
CN104731723A (zh) 一种存储设备断电保护方法及装置
CN104850522B (zh) 一种信号输出方法及装置
CN104216857B (zh) 多工切换装置及其切换方法
CN103532728A (zh) 一种对故障dsp芯片复位的方法及装置
CN111934909A (zh) 主备机ip资源切换方法、装置、计算机设备和存储介质
CN110989814A (zh) 一种服务器的保护方法、装置及设备
CN105656710A (zh) 检测单板的方法、硬件设备及系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant