CN109540464A - 一种测量方法和测量装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测量方法和测量装置。所述测量方法包括步骤：对待测物品进行至少两次测量，记录测量值；去掉测量值中的极端值；基于剩余的测量值得到最终的量测数据。本发明待对量测点连续量测量多次，然后去掉极端值后，剩余的测量值都比较接近于真实值，因此从中得到最终的量测数据，这样可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。而且本发明无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。

Description

一种测量方法和测量装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，更具体的说，涉及一种测量方法和测量装置。
背景技术
采用主动开关控制的显示器包括液晶显示器、OLED显示器等。液晶显示器具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶面板及背光模组(Backlight Module)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)显示器，也称为有机电致发光显示器，具有自发光、响应时间短、清晰度与对比度高、可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点。其优越性能和巨大的市场潜力，吸引了全世界众多厂家和科研机构投入到 OLED显示面板的生产和研发中。
液晶显示器、OLED显示器在生产过程中都要使用到光学量测仪器。光学量测仪器在进行量测的时候容易受到外界光，设备震动以及环境因素造成量测结果误差较大。
发明内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种降低测量误差的测量方法和测量装置。
为实现上述目的，本发明提供了一种测量方法。所述方法包括步骤：
一种测量方法，所述方法包括步骤：
对待测物品进行至少两次测量，记录测量值；
去掉测量值中的极端值；
基于剩余的测量值得到最终的量测数据。
可选的，所述极端值包括最大值和最小值。
最大值和最小值偏离真实数值最远，因此，去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
可选的，所述基于剩余的测量值得到最终的量测数据的步骤包括：
将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据。
本技术方案可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。而且本发明无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。
可选的，所述去掉测量值中的极端值的步骤包括：
将测量值记录到坐标轴中；
根据测量值在坐标轴中的分布间距设定离散区域和非离散区域，所述非离散区域内相近测量值之间的差值小于离散区域；所述非离散区至少有两个；
将离散区域的测量值设为极端值；
根据相近两个测量值的差值划分至少两个所述非离散区域的测量值的权重；
所述将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据的步骤包括：根据测量值的权重进行加权平均，得到最终的量测数据。
对待测物品进行至少两次测量以后，接近真实值的测量值会彼此靠近，差值较小。而偏离真实值的测量值会相互远离，差值较大。基于此，可以基于相近的测量值来划分离散区域和非离散区域，可以进一步提高剩余的测量值的质量，使得平均值更接近于真实值。坐标轴可以非常直观的展示测量值之间的间距，对待测物品进行至少两次测量以后，一部分数据会明显积聚，而外围的数据则明显离散分布，因此，可以用很直观的方式来合理划分离散区域和非离散区域。
针对非离散区域，越接近真实值的测量值差值越小，可靠性越高，在求平均值的时候应该有更高的权重，这样可以进一步缩小测量误差，提高测量准确性。
可选的，所述对待测物品进行至少两次测量，记录测量值的步骤包括：对待测物品进行三次测量；
所述去掉测量值中的极端值的步骤包括：去掉测量值中的最大值和最小值；
所述基于剩余的测量值得到最终的量测数据的步骤包括：
取中间值作为最终的量测数据。
测量次数越多，效率越低，因此，为了在尽可能少的测量次数上确保取值相对可靠，通过三次测量取中间值是比较简单有效的办法。把最大值和最小值去掉，中间值跟实际值的偏差就很接近了，完全可以应用于一般的场合，满足精度要求。
本技术方案可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。而且本发明无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。最大值和最小值偏离真实数值最远，因此去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
可选的，所述测量值的数量为5-10个。
测量数量越多，耗时耗力，会增加生产成本。而在实际生产过程中，测量仪器的测量误差偏差一般不会太大，因此，控制在5-10个区间内，可以保障测量的准确性。
本发明还公开了一种测量方法，其特征在于，所述方法包括步骤：
对待测物品进行至少两次光学测量，记录测量值；
去掉测量值中的极端值；
将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据；
所述极端值包括最大值和最小值。
本发明还公开了一种测量装置，所述测量装置包括：
测量单元：用于对待测物品进行至少两次测量，并记录测量值；
筛选单元：去掉测量值中的极端值；
计算单元：将剩余的测量值取平均值；得到最终的量测数据。
可选的，所述极端值包括最大值和最小值。
最大值和最小值偏离真实数值最远，因此去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
可选的，所述筛选单元包括设定模块：根据测量值设定离散区域和非离散区域，将离散区域的测量值设为极端值；
所述非离散区域内相近测量值之间的差值小于离散区域。
发明人研究发现，测量仪器在进行量测的时候容易受到外界光，设备震动以及环境因素造成量测结果误差较大。因为光学仪器量测出来的光强度是光电传感器将光的强度转换成离散的电压，然后在一段时间内做积分的结果，所以光电传感器在采集每一个离散的电压时无论是受到外部环境光强的变化，或是设备振动引起光电转换，都将导致最终的量测结果误差太大。本发明待对量测点连续量测量多次，然后去掉极端值后，剩余的测量值都比较接近于真实值，因此从中得到最终的量测数据，这样可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。而且本发明无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。
附图说明
所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1是本发明实施例测量方法的示意图；
图2是本发明另一实施例测量方法的示意图；
图3是本发明另一实施例测量方法的示意图；
图4是本发明另一实施例离散区域和非离散区域设置的示意图；
图5是本发明另一实施例有多个非离散区域的示意图；
图6是本发明另一实施例采用六个测量值求平均值数据分布示意图；
图7本发明另一实施例测量方法的示意图；
图8是本发明另一实施例测量装置。
其中，1、测量单元；2、筛选单元；3、计算单元。
具体实施方式
这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。另外，术语“包括”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
如图1所示，本发明实施例公布了一种测量方法，方法包括步骤：
S11：对待测物品进行至少两次光学测量，记录测量值；
S12：去掉测量值中的最大值和最小值；
S13：将剩余的测量值取平均值；
S14：得到最终的量测数据。
极端值包括最大值和最小值。
发明人研究发现，光学量测仪器在进行量测的时候容易受到外界光，设备震动以及环境因素造成量测结果误差较大。因为光学仪器量测出来的光强度是光电传感器将光的强度转换成离散的电压，然后在一段时间内做积分的结果，所以光电传感器在采集每一个离散的电压时无论是受到外部环境光强的变化，或是设备振动引起光电转换，都将导致最终的量测结果误差太大。本发明待对量测点连续量测量多次，然后去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余的测量值都比较接近于真实值，因此从中得到最终的量测数据，这样可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。而且本发明无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。而最大值和最小值偏离真实数值最远，因此去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
作为本发明的另一实施例，参考图2至所示，公开了一种测量方法。方法包括步骤：
S21、对待测物品进行至少两次测量，记录测量值；
S22、去掉测量值中的极端值；
S23、基于剩余的测量值得到最终的量测数据。
本实施方式可选的，极端值包括最大值和最小值。
最大值和最小值偏离真实数值最远，因此去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
参考图3，本实施方式可选的，去掉测量值中的极端值的步骤包括：
S31、对待测物品进行至少两次测量，记录测量值；
S32、将测量值记录到坐标轴中；
S33、根据测量值在坐标轴中的分布间距设定离散区域和非离散区域，非离散区域内相近测量值之间的差值小于离散区域；非离散区至少有两个；
S34、将离散区域的测量值设为极端值；
S35、根据相近两个测量值的差值划分至少两个非离散区域的测量值的权重；
S36、根据测量值的权重对将剩余的测量值进行加权平均，得到最终的量测数据。
对待测物品进行至少两次测量以后，接近真实值的测量值会彼此靠近，差值较小。而偏离真实值的测量值会相互远离，差值较大。基于此，可以基于相近的测量值来划分离散区域和非离散区域，可以进一步提高剩余的测量值的质量，使得平均值更接近于真实值。坐标轴可以非常直观的展示测量值之间的间距，对待测物品进行至少两次测量以后，一部分数据会明显积聚，而外围的数据则明显离散分布，因此，可以用很直观的方式来合理划分离散区域和非离散区域。针对非离散区域，越接近真实值的测量值差值越小，可靠性越高，在求平均值的时候应该有更高的权重，这样可以进一步缩小测量误差，提高测量准确性。
参考图4，每个测量值在坐标轴上都有一个点，可以明显看到中间部分的点比较密集，而两端的点明显呈现出离散状态，因此。可以将A区域设定为非离散区域，B区域设定为离散区域。把B区域对应的测量值排除掉。
参考图5，同样是A区域的，靠近中间区域的密度更高，更接近于真实值，因此可以再设定一个A1区域和A2区域，A1部分的权重设定更高一些，在计算平均值的时候可以更准确。
针对非离散区域，越接近真实值的测量值差值越小，可靠性越高，在求平均值的时候应该有更高的权重，这样可以进一步缩小测量误差，提高测量准确性。
本实施方式可选的，测量值的数量为5-10个。测量数量越多，耗时耗力，会增加生产成本。而在实际生产过程中，测量仪器的测量误差偏差一般不会太大，因此，控制在5-10个区间内，可以保障测量的准确性。
参考图6，将一个待量测点连续量测6次，去掉一个最大值，去掉一个最小值，然后剩下四组数据取平均值作为量测点的最终量测值，这样可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差。
作为本发明的另一实施例，参考图7所示，公开了一种测量方法。
该方法包括步骤：
S71、对待测物品进行三次测量，记录测量值；
S72、去掉测量值中的最大值和最小值；
S73、取中间值作为最终的量测数据。
本实施方式可以消除或减弱量测过程中因光学仪器受环境光，设备振动等因素引起的量测误差，提高测量准确性。其次，测量次数越多，效率越低，因此，为了在尽可能少的测量次数上确保取值相对可靠，通过三次测量取中间值是比较简单有效的办法。把最大值和最小值去掉，中间值跟实际值的偏差就很接近了，完全可以应用于一般的场合，满足精度要求。再者，本实施方式无须对现有设备进行硬件改动，成本低廉。
作为本发明的另一实施例，参考图8所示，公开了一种测量装置。
测量装置包括：
测量单元1：用于对待测物品进行至少两次测量，并记录测量值；
筛选单元2：去掉测量值中的极端值；
计算单元3：将剩余的测量值取平均值；得到最终的量测数据。
本实施方式可选的，极端值包括最大值和最小值。
最大值和最小值偏离真实数值最远，因此去掉测量值中的最大值和最小值后，剩余数据得到的平均值更接近于真实数值。
本实施方式可选的，筛选单元包括设定模块：根据测量值设定离散区域和非离散区域，将离散区域的测量值设为极端值；
非离散区域内相近测量值之间的差值小于离散区域。
本发明的面板可以是TN面板(全称为Twisted Nematic，即扭曲向列型面板)、IPS面板(In-PaneSwitcing，平面转换)、VA面板(Multi-domain Vertica Aignment，多象限垂直配向技术)，当然，也可以是其他类型的面板，适用即可。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种测量方法，其特征在于，所述方法包括步骤：
对待测物品进行至少两次测量，记录测量值；
去掉测量值中的极端值；
基于剩余的测量值得到最终的量测数据。
2.如权利要求1所述的一种测量方法，其特征在于，所述极端值包括最大值和最小值。
3.如权利要求2所述的一种测量方法，其特征在于，所述基于剩余的测量值得到最终的量测数据的步骤包括：
将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据。
4.如权利要求3所述的一种测量方法，其特征在于，所述去掉测量值中的极端值的步骤包括：
将测量值记录到坐标轴中；
根据测量值在坐标轴中的分布间距设定离散区域和非离散区域，所述非离散区域内相邻测量值之间的差值小于离散区域内相邻测量值之间的差值；所述非离散区域至少有两个；
将离散区域的测量值设为极端值；
根据相邻两个测量值的差值划分至少两个所述非离散区域的测量值的权重；
所述将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据的步骤包括：根据测量值的权重进行加权平均，得到最终的量测数据。
5.如权利要求2所述的一种测量方法，其特征在于，所述基于剩余的测量值得到最终的量测数据的步骤包括：
取剩余的测量值的中间值，得到最终的量测数据。
6.如权利要求1所述的一种测量方法，其特征在于，所述测量值的数量为5-10个。
7.一种测量方法，其特征在于，所述方法包括步骤：
对待测物品进行至少两次光学测量，记录测量值；
去掉测量值中的极端值；
将剩余的测量值取平均值，得到最终的量测数据；
所述极端值包括最大值和最小值。
8.一种测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：
测量单元：用于对待测物品进行至少两次测量，并记录测量值；
筛选单元：用于去掉测量值中的极端值；
计算单元：用于将剩余的测量值取平均值；得到最终的量测数据。
9.如权利要求8所述的一种测量装置，其特征在于，所述极端值包括最大值和最小值。
10.如权利要求8所述的一种测量装置，其特征在于，所述筛选单元包括设定模块：根据测量值设定离散区域和非离散区域，将离散区域的测量值设为极端值；
所述非离散区域内相近测量值之间的差值小于离散区域。
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