CN109521355B - 一种电量管理ic的烧录校准校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及校准校验技术领域，具体公开了一种电量管理IC的烧录校准校验方法，所述方法包括：通过上位机软件测试计算出IC产品的电流校准值，然后写入产品临时RAM区，再通过产品机制，实时验证产品写入电流校准值后，产品充电电流输出值是否符合规格，本发明提高了电量管理IC的校准校验效率和精度，从而提升了产品的质量和生产效率，同时使得生产后的电量管理IC出厂后能够追溯，用户可通过各通道产品的序列号查询到产品在各个工位的测试数据和相关的信息，完成产品的跟踪流程。
Description
技术领域
本发明涉及校准校验技术领域，尤其涉及一种电量管理IC的烧录校准校验方法。
背景技术
目前谷歌手机系列产品采取了新型的技术，涉及新型的电量管理等功能，新型的电量管理机制，涉及MAX1720X系列（MAX17201至MAX17205）等的电量管理IC。目前市面上的测试形式主要是通过外购通讯盒子，Demo模拟板进行搭架组建成单通道的模式，进行对产品烧录和电压电流校准或是使用DEMO模拟板进行手工通讯扩展，第一种方式受限于MAX与技术支持，可扩展性和局限性大，成本支出太高；第二种方式的局限性强，不易于后期的维护扩展，且设备成本造价过高，需要外部技术支持，对外依赖性强，同时设备通讯方式繁杂，效率较低，通讯层次较多，可靠性稳定性仍存在着较大的提升空间。即，目前行业中校准校验测试此类电量管理领域的产品效率低下，测试耗时较长，严重影响交货的达成。
发明内容
针对上述技术问题，本发明提供了一种高通用性、高效管控性和提高校准校验效率和精度的电量管理IC的烧录校准校验方法。
为了解决上述技术问题，本发明提供的具体方案如下：一种电量管理IC的烧录校准校验方法，所述方法包括：通过上位机软件测试计算出IC产品的电流校准值，然后写入产品临时RAM区，再通过产品机制，实时验证产品写入电流校准值后，产品充电电流输出值是否符合规格。
优选的，所述通过上位机软件计算出IC产品的电流校准值具体包括：上位机软件对IC产品采用多点校准的方式进行，包括Cgain增益校准和Coffset补偿校准。
优选的，所述Cgain增益校准和Coffset补偿校准在计算过程中采用与运算的方式为：提取出双字节中的前10位作为Cgain增益校准的电流增益值；提取出双字节中的低6位，作为Coffset补偿校准的电流偏差补偿偏置值。
优选的，所述Cgain增益校准采用比例换算转换的关系，电流标准值和电流实测值比例换算得出比例值，再按照比例值与固定常量的乘积关系换算出单个字节的电流精度校准初始值，再按照初始值字节的迁移方式，进行字节的转换换算。
优选的，所述Coffset补偿校准是针对产品的电流精度线性校准调教，当产品精度受温度需求影响大于设定的阈值时，通过Coffset补偿校准拟补温度环境影响下的电流偏差。
优选的，所述上位机软件在每次测试时从指定的路径中解析对应的烧录文件至电脑内存中，程序中按照设定的烧录模式进行在指定的烧录地址中烧写对应的烧录字节内容，在烧写字节的同时，给每个IC产品分配唯一的制造信息写入指定的烧录地址中。
优选的，所述制造信息包括PCM供应商、终端、电芯分配、序列号、SMT贴片信息和序列号日期校验。
优选的，所述方法还包括：在烧录成功后，验证烧录后的的状态位，读取并生成IC产品烧录后的制造信息序列号，同步比较IC产品每个烧录地址中的烧录字节内容与标准文件对应的烧录字节内容是否一致。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明提高了电量管理IC的校准校验效率和精度，具有高通用性和高管控性，提升了产品的质量和生产效率，同时使得生产后的电量管理IC出厂后能够追溯，用户可通过各通道产品的序列号查询到产品在各个工位的测试数据和相关的信息，完成产品的跟踪流程。
附图说明
图1为本发明中使用的设备硬件机制示意图；
图2为电压电流信号输出电路。
具体实施方式
为了详细说明本发明的技术方案，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本实施例提供了一种电量管理IC的烧录校准校验方法，通过上位机软件测试计算出IC产品的电流校准值，然后写入产品临时RAM区，再通过产品机制，实时验证产品写入电流校准值后，产品充电电流输出值是否符合规格，在烧录前可对产品的烧录次数进行管控，能有效根据用户提供的烧录次数范围拦截，杜绝过度烧录，损坏产品烧录机制，同时能验证产品电量管理IC的来料抽检，清除产品烧录前状态位，减少电量管理IC烧录出错的概率。
具体的，上位机软件对IC产品采用多点校准的方式进行，包括Cgain增益校准和Coffset补偿校准， Cgain增益校准和Coffset补偿校准在计算过程中采用与运算的方式为：提取出双字节中的前10位作为Cgain增益校准的电流增益值；提取出双字节中的低6位，作为Coffset补偿校准的电流偏差补偿偏置值，然后通过软件方式在相应的RAM地址内进行传值赋值，以便产品在传值写入后，IC内部自动进行更新复位，实时读取临时的电流精度值，判定此电流精度值是否在允许的规格范围内，以供在IC封锁加密前，保证电流校准值的准确。
Cgain增益校准采用比例换算转换的关系，电流标准值和电流实测值比例换算得出比例值，再按照比例值与固定常量的乘积关系换算出单个字节的电流精度校准初始值，再按照初始值字节的迁移方式，如左移或右移，进行字节的转换换算，如一个16位的双字节存储单元，其中高10位进行存储产品nCGain的电流精度校准值，低6位进行存储nCOff的偏差补偿值。
Coffset补偿校准是针对产品的电流精度线性校准调教，当产品精度受温度需求影响大于设定的阈值时，通过Coffset补偿校准拟补温度环境影响下的电流偏差。
关于产品：本实施例针对的是MAZ1720X系列的电量管理IC，其中产品内部存储机制分布为16*6，一共96个字节可存储，其中此96个字节中可以涵盖部分校准的参数，电芯容量参数，相应的IC识别信息，每个产品所分配的唯一序列号等制造信息，包括产业上游企业制造模块信息和下游企业制造模块信息，如上游企业SMT厂商，中游企业PACK厂商，下游企业组装厂商的制造信息等等，其中可供用户操作的区域是RAM层，属于上电写入即有，断电即可清除，此区域（0x80 至0xdf）96个字节是直接映射至用户操作的，属于RAM临时区；而具备记忆功能的寄存器存储器区域在0X180至0X1DF这96个字节与临时区字节一 一对应。
关于设备：在设备通道上增加高精度的电量IC电流灌输供应电路，提高测试板的电流输出精度，从而保证电量管理IC烧录后寄存器内部数据迁移移植的成功率，设备硬件采用拆分式的方式进行电流输出调教，可进行分阶调教，可在低电流状态（如600mA）下，按照线性比例运算的方式进行存储所计算的补偿值，也可在高电流大电流状态下（如3A），按照线性比例运算的方式进行存储所计算的补偿值，硬件支持软件可进行多点位的电流精度调教，支持产品特性需求订制所需的硬件测试板电流输出精度，也可支持多点比例补偿调教后的设备精度补偿值进行加权平均计算值，然后写入指定的寄存器地址内部，提高了设备硬件电流输出的高精度的适用范围，替代之前的差值计算补偿方式，此种差值补偿方式可适用的电流范围局限性小，如采用此种差值补偿的方式，在600mA的电流输出基础上校准，可能硬件电流精度的管控就只局限于600mA和1000mA的输出，而产品需求在3A或者更大的电流输出前提下，使用此种差值补偿的电流调教，就会出现电流精度输出范围偏大，超出设备高精度输出的管控范畴，此种差值补偿的精度调教方式局限性较大，需要多点调教并存储，应用方式较繁琐复杂，没有比例运算调教精度的方式简洁和应用灵活性更强。
如上设备精度调教，支持设备纯内部电路电压电流输出精度调教，也支持设备带载产品PCM电压电流输出精度调教。
该系列的电量管理IC产品烧录迁移COPY机制，其要求设备硬件供应高精度的低电流灌输，烧录电流必须达到30mA±0.25mA的精度，当前涉及的难点是如何把微弱电压电流信号转换放大至高精度的电压电流输出信号，而常规的采用“单级运放放大电路”进行电压电流信号放大，放大倍数不能超过100倍，放大倍数过大会导致电压电流信号失真，而我司采取的方式是采用分级放大电压电流信号的方式，进行高精度的电压电流输出放大转换，从而实现低电位的高精度电流信号输出转换，同时在电路中增加了隔离滤波器件，在输出端口加入了电压电流采样滤波器件，能有效的滤除杂波，如图1和图2所示，实现输出电路中低电位电压电流信号的高精度输出。低电位电流信号输出精度可以达到30mA±0.25mA。
该设备支持IIC和SMBUS两种通讯协议，其中IIC通讯访问地址分布在0x80H至0xFFH区间，SMBUS通讯访问地址分布在0x00H至0x7FH区间内；其中命令控制层的指令数据存储在IIC通讯状态下的0x00至0xff地址区间内，同时I2C通讯控制地址对应为0x6c，涉及到产品应用的COPY,Reset,Recall等等指令。
设备可从服务器中下载烧录文件到指定路径中，然后上位机软件在每次测试时从指定的路径中解析对应的烧录文件至电脑内存中，程序中按照设定的烧录模式进行在指定的烧录地址中烧写对应的烧录字节内容，在烧写字节的同时，给每个IC产品分配唯一的制造信息写入指定的烧录地址中，做到产品每个烧录地址在单次烧录时只被访问一次，制造信息包括PCM供应商、终端、电芯分配、序列号、SMT贴片信息和序列号日期校验。
在烧录成功后，验证烧录后的的状态位，读取并生成IC产品烧录后的制造信息序列号，同步比较IC产品每个烧录地址中的烧录字节内容与标准文件对应的烧录字节内容是否一致。
上面结合附图对本发明的实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施方式，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。
Claims (6)
1.一种电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于，所述方法包括：通过上位机软件测试计算出IC产品的电流校准值，然后写入产品临时RAM区，再通过产品机制，实时验证产品写入电流校准值后，产品充电电流输出值是否符合规格；
所述通过上位机软件计算出IC产品的电流校准值具体包括：上位机软件对IC产品采用多点校准的方式进行，包括Cgain增益校准和Coffset补偿校准；
所述Cgain增益校准和Coffset补偿校准在计算过程中采用与运算的方式为：提取出双字节中的前10位作为Cgain增益校准的电流增益值；提取出双字节中的低6位，作为Coffset补偿校准的电流偏差补偿偏置值。
2.根据权利要求1所述的电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于：所述Cgain增益校准采用比例换算转换的关系，电流标准值和电流实测值比例换算得出比例值，再按照比例值与固定常量的乘积关系换算出单个字节的电流精度校准初始值，再按照初始值字节的迁移方式，进行字节的转换换算。
3.根据权利要求1所述的电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于：所述Coffset补偿校准是针对产品的电流精度线性校准调教，当产品精度受温度需求影响大于设定的阈值时，通过Coffset补偿校准拟补温度环境影响下的电流偏差。
4.根据权利要求1所述的电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于：所述上位机软件在每次测试时从指定的路径中解析对应的烧录文件至电脑内存中，程序中按照设定的烧录模式进行在指定的烧录地址中烧写对应的烧录字节内容，在烧写字节的同时，给每个IC产品分配唯一的制造信息写入指定的烧录地址中。
5.根据权利要求4所述的电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于：所述制造信息包括PCM供应商、终端、电芯分配、序列号、SMT贴片信息和序列号日期校验。
6.根据权利要求5所述的电量管理IC的烧录校准校验方法，其特征在于，所述方法还包括：在烧录成功后，验证烧录后的的状态位，读取并生成IC产品烧录后的制造信息序列号，同步比较IC产品每个烧录地址中的烧录字节内容与标准文件对应的烧录字节内容是否一致。
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