CN109521035A - 一种判断碳材料属性和层数的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种判断碳材料属性和层数的方法。所述方法可包括以下步骤：从碳材料分出第一样品、第二样品，对第一样品进行X射线衍射测试，得到X射线衍射图谱，对第二样品进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到红外光谱图；根据所述X射线衍射图谱判断碳材料的片层是否发生剥离，根据所述红外光谱图判断碳材料是否具有含氧基团，若判断结果为碳材料的片层间发生剥离、且具有含氧基团，则所述碳材料为氧化石墨烯。在所述碳材料为氧化石墨烯的情况下，判断所述碳材料的层数本发明的有益效果可包括：方法简便而有效，能够高效且准确地对碳材料进行鉴定。

Description

一种判断碳材料属性和层数的方法
技术领域
本发明涉及材料检测技术领域，特别地，涉及一种简便可行的判断碳材料属性和层数的方法。
背景技术
石墨烯是sp2碳原子紧密堆积形成的六边形蜂窝状结构的二维原子晶体，可以堆垛形成三维的石墨，卷曲形成一维的碳纳米管，也可以包裹形成零维的富勒烯，是碳材料家族的一颗新星。但直到2004年，英国曼彻斯特大学的Geim和Novoselov等使用胶带剥离技术，才首次成功地制备出单层石墨烯，这一发现也推翻了科学家关于理想的二维晶体材料由于热力学不稳定性而不能在室温下存在的预言。作为一种理想的二维原子晶体，石墨烯具有超高的电导率和热导率、巨大的理论比表面积、极高的杨氏模量和抗拉强度，可望在微纳电子器件、光电检测与转换材料、结构和功能增强复合材料及储能等广阔的领域得到应用。
目前，石墨烯的制备方法众多，基本可分为Top-down和Bottom-up两类方法，其中Top-down方法包括机械分离法和氧化石墨还原法等，Bottom-up方法包括化学气相沉积(CVD)法、外延生长法等。每种方法制得石墨烯的尺寸都有所不同，且每一种方法都有各自的优势和弊端。最普遍的就是利用氧化还原法(如改良Hummers法)通过插层、剥离、氧化石墨制得氧化石墨，再通过对氧化石墨悬浮液超声剥离制得氧化石墨烯溶液，最后利用各种还原剂对氧化石墨烯进行还原就可得到还原氧化石墨烯，此法在尽量满足我们对石墨烯品质要求的同时，还尽可能简化了生产工艺。基于此法，现阶段氧化石墨烯的制备技术已逐渐成熟化，但仍需继续探索，最大瓶颈之一便在于还原之前的氧化石墨烯的结构可控以及规模化制备。
通常认为，只有层数在10层以下的石墨才可以看作是二维结构，冠以石墨烯的称谓。根据氧化石墨烯层数的不同，其电子结构会发生显著变化，从而影响其导电性，这在锂离子电池的应用领域十分关键。另外，有研究表明，单层氧化石墨烯的导热性，透光性更好，多层氧化石墨烯对有机染料的光降解效率更高。因此，对氧化石墨烯层数测量方法的研究有助于深入理解氧化石墨烯性能与微观结构之间的关系。
氧化石墨烯的结构(例如层数)是其性质与应用的决定性因素。而利用不同的表征手段实现对产物氧化石墨烯的鉴定对以上氧化石墨烯的可控化生产可起到关键的指导作用，将得到的表征结果与基础理论相结合进行分析，得出的结论对于探索氧化石墨烯物理化学特性，改进其制备技术以及深入研究机理具有重要的价值和意义。据此，我们提出了一种简便可行的氧化石墨烯的鉴定方法。
发明内容
针对现有技术中存在的不足，本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。例如，本发明的目的之一在于提供一种简便可行的判断碳材料属性和层数的方法。
为了实现上述目的，本发明提供了一种判断碳材料属性和层数的方法。所述方法可包括以下步骤：从碳材料分出第一样品、第二样品，对第一样品进行X射线衍射测试，得到X射线衍射图谱，对第二样品进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到红外光谱图；根据所述X射线衍射图谱判断碳材料的片层是否发生剥离，根据所述红外光谱图判断碳材料是否具有含氧基团，若判断结果为碳材料的片层间发生剥离、且具有含氧基团，则所述碳材料为氧化石墨烯，在所述碳材料为氧化石墨烯的情况下，判断所述碳材料的层数，其中，所述判断碳材料的片层是否发生剥离的步骤包括：根据所述X射线衍射图谱，获得第一样品的晶体参数，进而得到第一样品的晶面间距，若第一样品的晶面间距大于石墨的晶面间距，且与石墨的X射线衍射图谱相比，所述X射线衍射图谱上出现新的衍射峰，则断定碳材料的片层间发生剥离，否则不能确定碳材料的片层间发生剥离；所述判断碳材料是否具有含氧基团的步骤包括：在所述红外光谱图上查找中红外区，根据所述中红外区上的吸收峰来判断所述碳材料是否具有含氧基团；所述判断碳材料的层数的步骤包括：从碳材料分出第三样品，对第三样品进行拉曼光谱测试，获得拉曼测试结果；根据拉曼测试结果的拉曼光谱图，计算IG/I2D，当IG/I2D小于1.0时，初步判断碳材料为单层或双层结构；当IG/I2D为1.0～1.5时，初步判断碳材料为3层或4层结构；当IG/I2D大于1.5时，初步判断碳材料为5层以上结构，其中，所述IG表示G峰强度，所述I2D表示2D峰强度。
在本发明的一个示例性实施例中，在初步判断所述碳材料为单层或双层结构的情况下，从所述碳材料中分出第四样品，利用原子力显微镜对第四样品进行测试，以确定所述碳材料为单层或双层结构；在初步判断所述碳材料为3层或4层结构的情况下，计算所述拉曼测试结果拉曼光谱图的2D峰拟合的洛伦兹力峰数，分辨碳材料为3层或4层结构；在初步判断所述碳材料为5层以上结构的情况下，从所述碳材料中分出第五样品，通过高分辨率透射电镜获取第五样品的电子显微图像，观察确定所述碳材料具体层数。
在本发明的一个示例性实施例中，所述利用原子力显微镜对第四样品进行测试的步骤可包括：利用原子力显微镜获取所述第四样品的三维立体图像，并将该三维立体图像显示的厚度与单层的氧化石墨烯厚度进行对比，从而确定碳材料层数为单层或双层。
在本发明的一个示例性实施例中，所述初步判断碳材料为单层或双层结构的步骤包括：当所述2D峰的半高宽为28cm-1～32cm-1且IG/I2D峰的强度之比小于0.7时，初步判断碳材料为单层结构；当所述2D峰的半高宽为48cm-1～52cm-1且IG/I2D峰的强度之比大于等于0.7小于1.0时，初步判断碳材料烯为双层结构。
在本发明的一个示例性实施例中，所述碳材料可为按照氧化石墨烯制备方法而得到的产物，或者可为按照还原氧化石墨烯制备方法而得到的产物。
在本发明的一个示例性实施例中，所述石墨相应为所述氧化石墨烯制备方法或者所述还原氧化石墨烯制备方法的原料，所述石墨的晶面间距可通过以下方法获得：对所述石墨进行X射线衍射测试，获得石墨的晶体参数，进而得到石墨的晶面间距。
在本发明的一个示例性实施例中，所述晶体参数可包括晶面指数或衍射角。
在本发明的一个示例性实施例中，在所述晶体参数为衍射角的情况下，所述得到晶面间距的步骤可包括：通过式1来得到晶面间距，所述式1为：2d·sinθ＝nλ，式中，d为晶面间距，λ为X射线的波长，n为衍射级数，θ为衍射角的1/2，即2θ为衍射角。
在本发明的一个示例性实施例中，所述X射线衍射图谱上新的衍射峰可包括(100)晶面衍射峰。
在本发明的一个示例性实施例中，所述中红外区的波长为2.5～25μm。
在本发明的一个示例性实施例中，所述中红外区包括特征频率区和指纹区，所述特征频率区的波长为2.5～7.7μm，所述指纹区的波长大于7.7μm、小于等于25μm。
在本发明的一个示例性实施例中，在判断所述碳材料具有含氧基团的步骤之后，所述方法还可包括步骤：在所述红外光谱图上查找中红外区，读取所述中红外区上吸收峰对应的波数；将所述波数与红外光谱数据库进行比对，确定所述碳材料上含氧基团的种类。
与现有技术相比，本发明的有益效果可包括：方法简便而有效，可以高效且准确地鉴定出碳材料是否为氧化石墨烯，以及氧化石墨烯的具体层数。
附图说明
通过下面结合附图进行的描述，本发明的上述和其他目的和特点将会变得更加清楚，其中：
图1示出了示例中鳞片石墨的XRD谱图；
图2示出了示例中碳材料的XRD谱图；
图3示出了示例中碳材料的FTIR吸收光谱图；
图4示出了示例中鳞片石墨的Raman谱图；
图5示出了示例中碳材料的Raman谱图；
图6示出了示例中碳材料的高分辨率透射电镜图。
具体实施方式
在下文中，将结合附图和示例性实施例详细地描述本发明的判断碳材料属性和层数的方法。本发明的第一、第二、第三、第四、第五等不表示先后顺序，仅用于相互区别。
当一束单色X射线照射到晶体上时，晶体中原子周围的电子受X射线周期变化的电场作用而振动，从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。所发射球面波的频率与入射的X射线相一致。基于晶体结构的周期性，晶体中各个原子(原子上的电子)的散射波可相互干涉而叠加，称之为相干散射或衍射。X射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量原子散射波相互干涉的结果。每种晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。根据上述原理，某晶体的衍射花样的特征最主要的是两个：1)衍射线在空间的分布规律；2)衍射线束的强度。其中，衍射线的分布规律由晶胞大小，形状，位向及晶面间距决定，衍射线强度则取决于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。当满足衍射条件时，可应用布拉格公式：2d·sinθ＝nλ，应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于晶体结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
傅里叶变换红外光谱分析测试是一种根据分子内部原子间的相对振动和分子转动等信息来确定物质分子结构和鉴别化合物的分析方法。分子运动有平动，转动，振动和电子运动四种，其中后三种为量子运动。分子从较低的能级E1，吸收一个能量为hv的光子，可以跃迁到较高的能级E2，整个运动过程满足能量守恒定律E2-E1＝hv。能级之间相差越小，分子所吸收的光的频率越低，波长越长。红外吸收光谱是由分子振动和转动跃迁所引起的，组成化学键或官能团的原子处于不断振动(或转动)的状态，其振动频率与红外光的振动频率相当。所以，用红外光照射分子时，分子中的化学键或官能团可发生振动吸收，不同的化学键或官能团吸收频率不同，在红外光谱上将处于不同位置，从而可获得分子中含有何种化学键或官能团的信息。分子的转动能级差比较小，所吸收的光频率低，波长很长，所以分子的纯转动能谱出现在远红外区(25～300μm)。振动能级差比转动能级差要大很多，分子振动能级跃迁所吸收的光频率要高一些，分子的纯振动能谱一般出现在中红外区(2.5～25μm)。只有当振动时，分子的偶极矩发生变化时，该振动才具有红外活性；如果振动时，分子的极化率发生变化，则该振动具有拉曼活性。
拉曼光谱是用于表征碳纳米材料结构特征和性能的有效工具。利用拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。所谓拉曼散射即是分子对光子的一种非弹性散射效应，当用一定频率的激发光照射分子时，一部分散射光的频率和入射光的频率相等。这种散射是分子对光子的一种弹性散射。只有分子和光子间的碰撞为弹性碰撞，没有能量交换时，才会出现这种散射，该散射称为瑞利散射。还有一部分散射光的频率和激发光的频率不等，这种散射成为拉曼散射(又分为斯托克斯线与反斯托克斯线)。而将该拉曼散射信号接收并进行绘谱分析的方法即可称为拉曼光谱分析，常用的散射信号为斯托克斯线。在对氧化石墨烯进行表征的时候，拉曼图谱中所形成波峰的形状、位置和强度等特征都会随着氧化石墨烯层数的增加而发生相应变化。
原子力显微镜(AFM)利用样品和扫描针尖间普遍存在的相互作用力来观察并分析物体表面形貌特征。它有一根纳米级的探针，被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上。当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来平衡位置。根据探针的空间偏离量或振动频率重建三维图像，就能获得样品表面的形貌、原子成分、机械特性或其它性质。
透射电镜(TEM)可以借助样品的高分辨图像来直接观察样品结构特征，例如层数和尺寸。
在本发明的一个示例性实施例中，所述测试方法可包括以下步骤：
(1)判断所述碳材料是否为氧化石墨烯。本发明主要从片层间相对于石墨是否发生剥离、是否具有含氧基团来鉴定碳材料是否为氧化石墨烯。为此，本发明主要通过合理组合使用的X射线衍射分析(XRD)和傅里叶变换红外光谱分析测试(FTIR)来判断碳材料是否为氧化石墨烯。
从碳材料分出第一样品、第二样品，对第一样品进行X射线衍射测试，得到X射线衍射图谱，对第二样品进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到红外光谱图。作为待判断对象的碳材料可以为经过石墨烯加工工艺中的氧化工序处理后的石墨类材料。
根据所述X射线衍射图谱判断碳材料的片层是否发生剥离，根据所述红外光谱图判断碳材料是否具有含氧基团，若判断结果为碳材料的片层间发生剥离、且具有含氧基团，则所述碳材料为氧化石墨烯。
所述判断碳材料的片层是否发生剥离的步骤可包括：根据所述X射线衍射图谱，获得第一样品的晶体参数，进而得到第一样品的晶面间距，若第一样品的晶面间距大于石墨的晶面间距，且与石墨的X射线衍射图谱相比，X射线衍射图谱上出现新的衍射峰，则断定碳材料的片层间发生剥离，否则不能确定碳材料的片层间发生剥离。其中，晶体参数可包括晶面指数或衍射角2θ。根据晶体参数得到碳材料的晶面间距。在晶体参数为衍射角2θ的情况下，可通过式1来得到晶面间距，式1为：2d·sinθ＝nλ，式中，d为晶面间距，λ为X射线的波长，n为衍射级数。其中，石墨的晶面间距可为已知的数据，也可通过同样的方法得到。所述碳材料X射线衍射图谱上新的衍射峰可包括(100)晶面衍射峰。
所述判断碳材料是否具有含氧基团的步骤包括：在所述红外光谱图上查找中红外区，根据所述中红外区上的吸收峰来判断所述碳材料具有含氧基团。若碳材料为氧化石墨烯，由于氧化石墨烯上不同的化学键或基团对红外光吸收频率的不同，可得到不同吸收峰位的红外吸收光谱，在对其进行分峰拟合后即可得到对应吸收峰的基团或化学键类别，由此可快速简便地确定氧化石墨烯上含氧基团的存在。
(2)在确定所述碳材料为氧化石墨烯之后，检测所述碳材料的层数。
本发明的方法能够将高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)、拉曼光谱
(Raman)、原子力显微镜(AFM)有机的结合在一起，即先用拉曼光谱初步确定氧化石墨烯的层数，若层数在1～2层，则进一步采用原子力显微镜确定其层数；若层数在3～4层，则通过拉曼光谱2D峰拟合出的洛伦兹力峰数确定；若层数在5层及以上则使用高分辨率透射电镜直观得出其层数，能够系统完善的确定氧化石墨烯的层数。
确定层数的具体步骤可包括：
1)通过拉曼光谱初步确定氧化石墨烯层数。本发明主要利用拉曼散射即斯托克斯散射初步确定氧化石墨烯层数。当非弹性散射有能量交换，波长位移有变化，大部分频率不发生改变，只有小部分发生偏移，这种散射称为拉曼散射。当能量减少，波数位移变小，产生斯托克斯线；当能量增加，波数位移变大，产生反斯托克斯线，它们对称地分布在瑞利散射线的两侧，分别相应于得到或失去1个振动量子的能量。在对氧化石墨烯进行表征的时候，拉曼图谱中所形成波峰的形状、位置和强度等特征都会随着氧化石墨烯层数的增加，发生相应变化。根据这些变化，则可以对氧化石墨烯层数进行初步的判断。
首先，从碳材料中分出第三样品，对第三样品进行拉曼光谱测试，获取氧化石墨烯(即碳材料)的拉曼光谱图。氧化石墨烯的拉曼光谱图上一般会形成3个主要峰型，分别是D峰、G峰和2D峰(倍频峰)。其中，D峰代表氧化石墨烯结构中芳香环的sp2碳原子的对称伸缩振动(径向呼吸)，一般用来衡量样品结构的有序程度。G峰一般位于1580cm-1位置，峰形非常尖锐。G峰代表的是氧化石墨烯中sp2杂化碳原子的面内振动模式。G峰的位置对氧化石墨烯层数非常敏感，透过G峰的位置，可以判断特定氧化石墨烯样品的层数。随着层数的增加，G峰朝低波数方向移动，亦即朝低能量方向移动，表明氧化石墨烯层之间的键能的削弱。由于氧化石墨烯的峰位置会受到温度、掺杂以及非常微弱的应力影响，所以，当需要利用拉曼进行氧化石墨烯层数计算时，操作应非常小心。2D峰代表两个光子晶格的振动模式，是D峰的倍频峰。氧化石墨烯拉曼谱图中，即便D峰不存在，2D峰也总是非常强，而且也不代表缺陷。对于单层氧化石墨烯样品，2D峰是一个单独的对称峰，半高宽约30cm-1。随着层数的增加，对称性降低，2D峰分裂成多个重迭的峰。这种明显的峰形变化，可有效区别氧化石墨烯层数。由于自身拉曼图的限制，仅适用于层数小于5层的氧化石墨烯测定。综上，可以利用IG/I2D峰的强度之比可以初步确定氧化石墨烯的层数。IG表示G峰强度，所述I2D表示2D峰强度。
当氧化石墨烯光谱图中IG/I2D峰的强度之比小于1.0时，可初步判断氧化石墨烯中有单层结构或者双层(即两层)结构，若需确定氧化石墨烯中是单层还是双层结构，则需用原子力显微镜做进一步测定；当IG/I2D的强度之比为1.0～1.5时，则判断氧化石墨烯为3层或4层结构，其中3层氧化石墨烯的2D峰可以用六个洛伦兹峰来拟合进行判断。当IG/I2D的强度>1.5时，氧化石墨烯的拉曼光谱与石墨的拉曼光谱相似，难以测定氧化石墨烯层数，此时需采用高分辨率透射电镜来做进一步测定。
2)系统测定氧化石墨烯层数。
对于初步测定为单层或双层的氧化石墨烯可以利用原子力显微镜对其层数进行进一步的确定。经拉曼光谱初步确定样品中有单层或双层氧化石墨烯后，原子力显微镜能直接得到氧化石墨烯的三维立体图像，通过对厚度的测定确定是单层还是双层氧化石墨烯。所述通过厚度确定氧化石墨烯为单层或者双层结构包括将测定的氧化石墨烯厚度与单层的氧化石墨烯厚度进行对比，确定氧化石墨烯层数。例如，对于附在云母片等基底上的氧化石墨烯剥离物，会增加约为0.35nm的附加层，所以在AFM下观测单层氧化石墨烯的厚度一般约为0.7～1.2nm。将这个厚度与AFM图像中样品厚度比较可鉴别单层氧化石墨烯，利用高度曲线进行统计处理可鉴别双层氧化石墨烯。
对于初步测定为3层或者4层的氧化石墨烯而言，可以通过拉曼光谱2D峰拟合出的洛伦兹力峰数确定。例如，可以通过六个洛伦兹峰来拟合进行判断。
对于初步测定为5层以上的氧化石墨烯，可以利用高分辨率透射电镜对其层数做进一步的确定。采用透射电镜(TEM)可以借助氧化石墨烯边缘或褶皱处的高分辨图像来直接观察氧化石墨烯的层数和尺寸，可以直接从图像中直接读出氧化石墨烯的层数。但是，在对比度不那么明显的情况下，尤其针对单层和双层氧化石墨烯，高分辨率透射电子显微镜无法精确判断氧化石墨烯的层数。
在本实施例中，可以利用拉曼光谱图中2D峰的半高宽和IG/I2D峰的强度之比初步确定氧化石墨烯为单层或双层结构。当2D峰的半高宽为28cm-1～32cm-1且IG/I2D峰的强度之比小于0.7时，初步判断氧化石墨烯为单层结构；当2D峰的半高宽为48cm-1～52cm-1且IG/I2D峰的强度之比大于等于0.7小于1.0时，初步判断氧化石墨烯为双层结构。
在本实施例中，本发明鉴定的对象碳材料可包括疑似为氧化石墨烯的碳材料。碳材料可为按照氧化石墨烯制备方法而得到的产物；碳材料还可为按照还原氧化石墨烯制备方法而得到的产物。即本发明能够对制备得到碳材料是否为氧化石墨烯或还原氧化石墨烯进行鉴定。
在本实施例中，石墨可为碳材料的制备原料。石墨可包括鳞片石墨。
在本实施例中，石墨的晶面层间距可通过上述的方法获得，即对石墨进行X射线衍射测试，获得石墨的晶体参数，进而得到石墨的晶面间距。所述石墨的晶面层间距可为0.3～0.4nm。
在本实施例中，所述中红外区的波长为2.5～25μm。所述中红外区包括特征频率区和指纹区，所述特征频率区的波长为2.5～7.7μm，所述指纹区的波长＞7.7μm且≤25μm。
在本实施例中，在确定所述碳材料具有含氧基团的步骤之后，所述方法还可包括步骤：在所述红外光谱图上查找中红外区，读取所述中红外区上吸收峰对应的波数；将所述波数与红外光谱数据库进行比对，确定所述碳材料上含氧基团的种类。
具体的，确定含氧基团种类的步骤可包括：
第一步找到碳材料红外光谱图上的中红外区(2.5～25μm)。
第二步找到特征频率区(2.5～7.7μm，即4000～1330cm-1)以及指纹区(7.7～16.7μm,即1330～400cm-1)。
第三步：根据特征峰对应的波数对比红外谱图数据库来确定该基团是的类型。例如：1725cm-1是羧基上羰基C＝＝O的伸缩振动；1615cm-1是碳碳双键C＝＝C的伸缩振动；1373cm-1是C-OH的伸缩振动；而1078cm-1是环氧基C-O-C的伸缩振动。
为了更好地理解本发明的上述示例性实施例，下面结合具体示例对其进行进一步说明。
示例中的鳞片石墨为制备氧化石墨烯的原料，碳材料为制备氧化石墨烯而得到的产物。
(1)对鳞片石墨、碳材料进行X射线衍射测试，并得到相应的XRD谱图。
图1示出了鳞片石墨的XRD谱图，图2示出了碳材料的的XRD谱图。
如图1示，鳞片石墨特征峰位置在2θ＝26.2°，对应晶面为(002)，结合布拉格方程2d·sinθ＝nλ(d为晶面层间距，θ为衍射角，n为衍射级数，λ为X射线的波长)计算得层间距d＝0.34nm。
通过图2我们所测试的未热处理餐材料的XRD谱图，观察到其(001)晶面衍射峰角度为2θ＝10.4°，经计算得此时碳材料层间距d＝0.85nm，与鳞片石墨相比层间距明显扩大，加之在43°附近其(100)晶面衍射峰的出现，说明碳材料层与层之间发生了明显剥离。
(2)对碳材料进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到如图3所示的碳材料的FTIR吸收光谱(即红外光谱图)，其表明碳材料上具有含氧基团。如图3所示，拟合结果表明在3198cm-1附近有一个吸收带，应归属于羟基的-OH伸缩振动。谱图中2926、2854cm-1处峰分别归属于CH2的反对称、对称伸缩振动；1733cm-1附近的峰归属于碳材料片层边缘羧基、羰基中的C＝O伸缩振动；1630cm-1附近的峰归属于水分子的-OH弯曲振动；1400cm-1附近的峰归属于结构中羟基的OH弯曲振动；1247cm-1附近的峰归属于羧基中的C-O伸缩振动；1122cm-1附近的峰归属于C-O-C的伸缩振动；1054cm-1附近的峰归应属于C-OH的伸缩振动；而2345、617cm-1两处的吸收峰可能是由于氧化石墨样品中吸附的少量CO2分子的不对称伸缩振动、面内(外)弯曲振动引起的。这些含氧基团的存在说明石墨已经被氧化了，且这些极性基团特别是表面羟基使氧化石墨烯很容易与水分子形成氢键，这也是氧化石墨烯具有良好亲水性的原因。红外光谱结果表明：碳石墨碳在氧化后大π键上的碳原子上产生多种含氧键，如C＝O和C-O等，使部分sp2杂化轨道转变为sp3杂化轨道。
(4)通过上述的分析，已确定碳材料为氧化石墨烯。
对鳞片石墨、碳材料进行拉曼光谱测试，并得到相应的拉曼光谱图。其中，图4示出了鳞片石墨的拉曼光谱图，图5示出了碳材料的的拉曼光谱图。
利用鳞片石墨和碳材料的拉曼图谱(即图4和图5)的对比分析对本发明进行进一步的说明。如图4所示，鳞片石墨在1360cm-1处有一个微弱的吸收峰(D峰)，在1580cm-1处存在一个尖而强的吸收峰(G峰)，对应于E2g光学模的一阶拉曼散射，说明石墨的结构非常规整。当石墨被氧化后，氧化石墨的G峰已经变宽，且移至1590cm-1处，并且还在1360cm-1处出现一个较强的D峰，表明石墨被氧化后，结构中一部分sp2杂化碳原子转化成sp3杂化结构，即石墨层中的C＝C双键被破坏。
如图5所示，氧化石墨烯在1590cm-1处出现了一个较强的吸收峰(G峰)，相比于鳞片石墨的G峰，出现了向高波数方向移动，说明氧化石墨烯较鳞片石墨层数减少。在2700cm-1处出现了一个峰较宽的2D峰(倍频峰)，这是由碳原子中两个具有反向动量的声子双共振跃迁而引起的，此特征峰的移动和形状则与氧化石墨烯层数有着密切的关联。且IG/I2D>1.5，说明此氧化石墨烯为5层及以上的多层结构，不能采用拉曼光谱进行进一步的分析，因此，我们使用高倍率透射电镜对样品进行测定。
对碳材料一个区域做透射电镜分析得到高分辨率透射电镜(HRTEM)图(图6a所示)，可以直观的得到氧化石墨烯的叠层图，统计计数后可得此氧化石墨烯样品的层数为7层。另外取碳材料另一区域做透射电镜分析得图6b，图6b中可明显观察到两片多层氧化石墨烯叠片交错排列，位于上方的叠片有5层氧化石墨烯，位于下方的有7层。
综上所述，本发明的判断碳材料属性和层数的方法的优点可包括：方法简便而有效，能够有机地将多种检测方法结合起来，可以高效且准确的判断出不同原料和方法生产的产品是否为氧化石墨烯、以及鉴定氧化石墨烯的层数。
尽管上面已经通过结合示例性实施例描述了本发明，但是本领域技术人员应该清楚，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可对本发明的示例性实施例进行各种修改和改变。

Claims (10)

1.一种判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
从碳材料分出第一样品、第二样品，对第一样品进行X射线衍射测试，得到X射线衍射图谱，对第二样品进行傅里叶变换红外光谱分析测试，得到红外光谱图；
根据所述X射线衍射图谱判断碳材料的片层是否发生剥离，根据所述红外光谱图判断碳材料是否具有含氧基团，若判断结果为碳材料的片层间发生剥离、且具有含氧基团，则所述碳材料为氧化石墨烯，在所述碳材料为氧化石墨烯的情况下，判断所述碳材料的层数，其中，
所述判断碳材料的片层是否发生剥离的步骤包括：根据所述X射线衍射图谱，获得第一样品的晶体参数，进而得到第一样品的晶面间距，若第一样品的晶面间距大于石墨的晶面间距，且与石墨的X射线衍射图谱相比，所述X射线衍射图谱上出现新的衍射峰，则断定碳材料的片层间发生剥离，否则不能确定碳材料的片层间发生剥离；
所述判断碳材料是否具有含氧基团的步骤包括：在所述红外光谱图上查找中红外区，根据所述中红外区上的吸收峰来判断所述碳材料是否具有含氧基团；
所述判断碳材料的层数的步骤包括：从碳材料分出第三样品，对第三样品进行拉曼光谱测试，获得拉曼测试结果；根据拉曼测试结果的拉曼光谱图，计算IG/I2D，当IG/I2D小于1.0时，初步判断碳材料为单层或双层结构；当IG/I2D为1.0～1.5时，初步判断碳材料为3层或4层结构；当IG/I2D大于1.5时，初步判断碳材料为5层以上结构，其中，所述IG表示G峰强度，所述I2D表示2D峰强度。
2.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，
在初步判断所述碳材料为单层或双层结构的情况下，从所述碳材料中分出第四样品，利用原子力显微镜对第四样品进行测试，以确定所述碳材料为单层或双层结构；
在初步判断所述碳材料为3层或4层结构的情况下，计算所述拉曼测试结果拉曼光谱图的2D峰拟合的洛伦兹力峰数，分辨碳材料为3层或4层结构；
在初步判断所述碳材料为5层以上结构的情况下，从所述碳材料中分出第五样品，通过高分辨率透射电镜获取第五样品的电子显微图像，观察确定所述碳材料具体层数。
3.根据权利要求2所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述利用原子力显微镜对第四样品进行测试的步骤包括：
利用原子力显微镜获取所述第四样品的三维立体图像，并将该三维立体图像显示的厚度与单层的氧化石墨烯厚度进行对比，从而确定碳材料层数为单层或双层。
4.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述初步判断碳材料为单层或双层结构的步骤包括：
当所述2D峰的半高宽为28cm-1～32cm-1且IG/I2D峰的强度之比小于0.7时，初步判断碳材料为单层结构；
当所述2D峰的半高宽为48cm-1～52cm-1且IG/I2D峰的强度之比大于等于0.7小于1.0时，初步判断碳材料烯为双层结构。
5.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述碳材料为按照氧化石墨烯制备方法而得到的产物，或者为按照还原氧化石墨烯制备方法而得到的产物。
6.根据权利要求5所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述石墨相应为所述氧化石墨烯制备方法或者所述还原氧化石墨烯制备方法的原料，
所述石墨的晶面间距通过以下方法获得：对所述石墨进行X射线衍射测试，获得石墨的晶体参数，进而得到石墨的晶面间距。
7.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述晶体参数包括晶面指数或衍射角。
8.根据权利要求7所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，在所述晶体参数为衍射角的情况下，所述得到晶面间距的步骤包括：通过式1来得到晶面间距，所述式1为：
2d·sinθ＝nλ，
式中，d为晶面间距，λ为X射线的波长，n为衍射级数，θ为衍射角的1/2。
9.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述新的衍射峰包括(100)晶面衍射峰。
10.根据权利要求1所述的判断碳材料属性和层数的方法，其特征在于，所述中红外区的波长为2.5～25μm。
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