CN109491870A - 一种传感器的接入状态的检测方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种传感器的接入状态的检测方法及装置,该检测方法包括:根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据;从存储器的预设存储地址中读取存储数据;根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态。本发明利用传感器上自带的存储器,在不增加任何硬件设备的情况下,实现了传感器的接入状态的快速检测,节约了成本。
Description
技术领域
本发明属于传感器技术领域,具体涉及一种传感器的接入状态的检测方法及装置。
背景技术
随着传感器技术的发展,为了提高测量的可靠性和稳定性,越来越多的采用多个传感器接入的技术,一方面提高系统的冗余性,另一方面也通过算法提高其稳定性和测量准确性。但在实际使用过程中,由于接入传感器的数量不定,因此,往往需要人工对接入传感器的数量进行识别,或者是通过外加电路对传感器的数量进行识别,这给实际使用带来了诸多不变和成本的增加。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测方法及装置,针对模拟量传感器,不通过外加电路及不增加成本的情况下实现传感器数量在线检测。
根据第一方面,本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测方法,包括:根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据;从存储器的预设存储地址中读取存储数据;根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态。
可选地,根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态,包括:判断存储数据与特征数据是否一致;当存储数据与特征数据一致时,判定传感器处于接入状态。
可选地,当存储数据与特征数据不一致时,判定传感器处于未接入状态。
可选地,特征数据、存储数据包括:基本字段及校验码,判断存储数据与特征数据是否一致,包括:判断存储数据的基本字段与特征数据的基本字段是否一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码是否一致;当存储数据的基本字段与特征数据的基本字段一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码一致时,判定存储数据与特征数据一致。
根据第二方面,本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测装置,包括:写入模块,用于根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据;读取模块,用于从存储器的预设存储地址中读取存储数据;判定模块,用于根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态。
可选地,判定模块包括:判断子模块,用于判断存储数据与特征数据是否一致;判定子模块,当存储数据与特征数据一致时,判定子模块判定传感器处于接入状态。
可选地,当存储数据与特征数据不一致时,判定子模块判定传感器处于未接入状态。
可选地,特征数据、存储数据包括:基本字段及校验码,判断子模块具体用于:判断存储数据的基本字段与特征数据的基本字段是否一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码是否一致;当存储数据的基本字段与特征数据的基本字段一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码一致时,判定存储数据与特征数据一致。
根据第三方面,本发明实施例提供了一种控制器,包括:至少一个处理器;以及与至少一个处理器通信连接的存储器;其中,存储器存储有可被一个处理器执行的指令,指令被至少一个处理器执行,以使至少一个处理器执行传感器的接入状态的检测方法。
根据第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机指令,计算机指令用于使计算机执行传感器的接入状态的检测方法。
本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测方法及装置,利用传感器上自带的存储器,在不增加任何硬件设备的情况下,实现了传感器的接入状态的快速检测,节约了成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例中传感器的接入状态的检测方法示意图;
图2出了本发明实施例中传感器的接入状态的检测方法流程图;
图3示出了本发明实施例中传感器与上位机的结构示意图;
图4示出了本发明实施例中上位机对传感器的接入状态的检测流程图;
图5示出了本发明实施例中传感器的接入状态的检测装置示意图;
图6示出了本发明实施例中控制器示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1所示,本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测方法,包括:
S10.根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据。在本实施例中,特征数据包括基本字段及校验码,比如连续5个“AA”和校验码,并且,该特征数据随着时间的变化而不同,比如第一写入时间特征数据为6个“AA”和第一校验码,第二写入时间特征数据为7个“AA”和第二校验码。在传感器的存储器的预设存储地址中写入特征数据,方便后续步骤中对该特征数据的读取。
S20.从存储器的预设存储地址中读取存储数据。在本实施例中,预设存储地址和步骤S10中的地址相同,存储数据包括基本字段及校验码。
S30.根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态。在本实施例中,如图2所示,该判定过程具体包括:S301.判断存储数据与特征数据是否一致;S302.当存储数据与特征数据一致时,判定传感器处于接入状态;S303.当存储数据与特征数据不一致时,判定传感器处于未接入状态。判断存储数据与特征数据是否一致,包括:判断存储数据的基本字段与特征数据的基本字段是否一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码是否一致;当存储数据的基本字段与特征数据的基本字段一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码一致时,判定存储数据与特征数据一致。
本发明实施例提供了一种传感器的接入状态的检测方法,利用传感器上自带的存储器,在不增加任何硬件设备的情况下,实现了传感器的接入状态的快速检测,节约了成本;本发明的检测方法从实现来看可靠,易行;对于同时接入多个传感器可以通过这种检测方法方便快捷的得到传感器的接入数量,根据接入的传感器的数量优化调整采样和算法,提高测量检测效率;方便后续维护。
在具体的实施例中,传感器与上位机的结构示意图如图3所示,上位机给模拟量传感器提供电源,模拟量传感器将模拟量输出给上位机,上位机和模拟量传感器通过存储器数据总线进行传感器的接入状态的检测。传感器的接入状态的检测方法流程图如图4所示,上位机主板电路上的微控制单元(MCU)上电后通过嵌入式软件对传感器上的存储器进行访问。先对存储器预设存储地址写入一个或者多个特征数据,此特征数据包括基本字段及校验码,随着时间的变化而不同,比如连续5个“AA”和校验码,然后上位机主板电路上的微控制单元(MCU)通过嵌入式软件对存储器的预设存储地址中存储数据进行读取;判断存储数据的基本字段与特征数据的基本字段是否一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码是否一致,比如是否为写入的连续5个“AA”和校验码;当存储数据的基本字段与特征数据的基本字段一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码一致时,判定存储数据与特征数据一致,则判定传感器为有接入,否则为无接入。
本发明实施例还提供了一种传感器的接入状态的检测装置,如图5所示,可以包括:写入模块10,用于根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据,详细内容参见上述方法实施例的步骤S10的相关描述。读取模块20,用于从存储器的预设存储地址中读取存储数据,详细内容参见上述方法实施例的步骤S20的相关描述。判定模块30,用于根据存储数据及特征数据判定传感器的接入状态,详细内容参见上述方法实施例的步骤S30的相关描述。
作为可选的实施例,判定模块30包括:判断子模块,用于判断存储数据与特征数据是否一致,详细内容参见上述方法实施例的步骤S301的相关描述;判定子模块,当存储数据与特征数据一致时,判定子模块判定传感器处于接入状态,详细内容参见上述方法实施例的步骤S302的相关描述;当存储数据与特征数据不一致时,判定子模块判定传感器处于未接入状态,详细内容参见上述方法实施例的步骤S303的相关描述。特征数据、存储数据包括:基本字段及校验码,判断子模块具体用于:判断存储数据的基本字段与特征数据的基本字段是否一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码是否一致;当存储数据的基本字段与特征数据的基本字段一致,且存储数据的校验码与特征数据的校验码一致时,判定存储数据与特征数据一致。
本发明实施例还提供了一种控制器,如图6所示,该控制器包括一个或多个处理器61以及存储器62,图6中以一个处理器61为例。
控制器还可以包括:输入装置63和输出装置64。
处理器61、存储器62、输入装置63和输出装置64可以通过总线或者其他方式连接,图6中以通过总线连接为例。
处理器61可以为中央处理器(Central Processing Unit,CPU)。处理器61还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片,或者上述各类芯片的组合。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器62作为一种非暂态计算机可读存储介质,可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块,如本申请实施例中的传感器的接入状态的检测方法对应的程序指令/模块。处理器61通过运行存储在存储器62中的非暂态软件程序、指令以及模块,从而执行服务器的各种功能应用以及数据处理,即实现上述方法实施例传感器的接入状态的检测方法。
存储器62可以包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序;存储数据区可存储根据用户终端操作的处理装置的使用所创建的数据等。此外,存储器62可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非暂态存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中,存储器62可选包括相对于处理器61远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至图像检测、处理装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置63可接收输入的数字或字符信息,以及产生与用户终端的处理装置的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置64可包括显示屏等显示设备。
一个或者多个模块存储在存储器62中,当被一个或者多个处理器61执行时,执行如图1所示的方法。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储计算机指令,计算机指令用于使计算机执行如上述实施例中任意一项描述的传感器的接入状态的检测方法。其中,存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory,RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(HardDisk Drive,缩写:HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive,SSD)等;存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
虽然结合附图描述了本发明的实施例,但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型,这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种传感器的接入状态的检测方法,其特征在于,包括:
根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据;
从所述存储器的预设存储地址中读取存储数据;
根据所述存储数据及特征数据判定所述传感器的接入状态。
2.根据权利要求1所述的传感器的接入状态的检测方法,其特征在于,所述根据所述存储数据及特征数据判定所述传感器的接入状态,包括:
判断所述存储数据与所述特征数据是否一致;
当所述存储数据与所述特征数据一致时,判定所述传感器处于接入状态。
3.根据权利要求2所述的传感器的接入状态的检测方法,其特征在于,当所述存储数据与所述特征数据不一致时,判定所述传感器处于未接入状态。
4.根据权利要求2或3所述的传感器的接入状态的检测方法,其特征在于,所述特征数据、存储数据包括:基本字段及校验码,
所述判断所述存储数据与所述特征数据是否一致,包括:
判断所述存储数据的基本字段与所述特征数据的基本字段是否一致,且所述存储数据的校验码与所述特征数据的校验码是否一致;
当所述存储数据的基本字段与所述特征数据的基本字段一致,且所述存储数据的校验码与所述特征数据的校验码一致时,判定所述存储数据与所述特征数据一致。
5.一种传感器的接入状态的检测装置,其特征在于,包括:
写入模块,用于根据预设存储地址向传感器的存储器中写入特征数据;
读取模块,用于从所述存储器的预设存储地址中读取存储数据;
判定模块,用于根据所述存储数据及特征数据判定所述传感器的接入状态。
6.根据权利要求5所述的传感器接入状态的检测装置,其特征在于,所述判定模块包括:
判断子模块,用于判断所述存储数据与所述特征数据是否一致;
判定子模块,当所述存储数据与所述特征数据一致时,所述判定子模块判定所述传感器处于接入状态。
7.根据权利要求6所述的传感器的接入状态的检测装置,其特征在于,当所述存储数据与所述特征数据不一致时,所述判定子模块判定所述传感器处于未接入状态。
8.根据权利要求6或7所述的传感器接入状态的检测装置,其特征在于,所述特征数据、存储数据包括:基本字段及校验码,
所述判断子模块具体用于:
判断所述存储数据的基本字段与所述特征数据的基本字段是否一致,且所述存储数据的校验码与所述特征数据的校验码是否一致;
当所述存储数据的基本字段与所述特征数据的基本字段一致,且所述存储数据的校验码与所述特征数据的校验码一致时,判定所述存储数据与所述特征数据一致。
9.一种控制器,其特征在于,包括:至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器执行如权利要求1-4任意一项所述的传感器的接入状态的检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求1-4中任一项所述的传感器的接入状态的检测方法。
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