CN109490742A - 一种半导体致冷器件测试仪 - Google Patents

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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor

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Abstract

本发明公开了一种半导体致冷器件测试仪，包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路包括与逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端、直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接，该半导体致冷器件测试仪，结构简单，可快速测量出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，以供技术人们直观地了解半导体致冷器件的参数情况。

Description

一种半导体致冷器件测试仪
技术领域
本发明是一种半导体致冷器件测试仪，属于半导体器件测量装置领域。
背景技术
优质系数和最大温差用以表征半导体致冷器件通电情况下可产生的最大温差，作为半导体器件测试的重要参数，是半导体器件质量的直观体现。
现有技术中，半导体致冷器件的优质系数和最大温差没有特定的测量计算标准，各厂家的测试仪器、测试方法虽然不同，但还是认为半导体致冷器件的优质系数与该半导体致冷器件的温差电动势、电阻有关，而半导体致冷器件的最大温差更是取决于优质系数。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本发明目的是提供一种半导体致冷器件测试仪。
为了实现上述目的，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种半导体致冷器件测试仪，包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路包括与逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端、直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接。
有益效果
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明半导体致冷器件测试仪，结构简单，可快速测量出半导体致冷器件的优质系数与最大温差，以供技术人员直观地了解半导体致冷器件的质量情况，且其采用采集控制器记录测量过程中的中间测量值，并计算出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，避免了人工的数据记录与计算，大大提高测试的效率与速率，使其符合工业化告诉生产条件。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明一种半导体致冷器件测试仪的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
请参阅图1，本发明提供一种半导体致冷器件测试仪：包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路包括与逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端、直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接。
本发明半导体致冷器件测试仪，限流电阻R2用于对电路进行限流，防止测量电路中电流过大，而导致测试仪的损坏；显示器4用于各中间测量值或最终测量值的显示。
本发明半导体致冷器件测试仪，测量步骤如下：
1)合上第一开关K1，直流电源U与交流开关电路1、半导体致冷器件10形成通电回路，直流电源U输出的直流电经逆变器11后变成交流，电压为V1，采集控制器3计算得到通电回路上的交流电流I1＝V1/R1，与交流开关电路1的输出端(或半导体致冷器件10两端)连接的交流变送器12将半导体致冷器件10两端的交流电电压V2变成直流电压V3,采集控制器3采集直流电压V3，并根据采集到的直流电压V3，计算出转换前的交流电压V2,同时计算出半导体致冷器件10的电阻Rr＝V2/I1；
2)断开第一开关K1，合上第二开关K2，直流电源U与直流开关电路2、半导体致冷器件10形成通电回路，半导体致冷器件10在通入直流电的情况下，产生温度变化，上下形成温差，同时产生温差电动势E，采集控制器3循环采集直流开关电路2输出端即半导体致冷器件10两端的电压V4，和采样电阻R3两端的电压V5，由显示器4观察半导体致冷器件10两端的电压V4，的数值可知，半导体致冷材料10两端的电压V4随半导体致冷器件10的温度升高而增大；
3)在半导体致冷材料10两端的电压V4恒定后，采集控制器3记录此时采集到的半导体致冷器件两端的电压V4和采样电阻R3两端的电压V5，并计算出通电回路上的直流电流I2＝V5//R3，以及半导体致冷器件10的温差电动势E＝V4-I2*Rr；
4)根据半导体致冷器件10的温差电动势E和电阻Rr，计算出与该半导体器件10的温差电动势、电阻有关的优质系数、以及取决于优质系数的最大温差，从而通过显示器4显示，以直观地反映出该半导体致冷器件10的质量。
本发明相对现有技术获得的技术进步是：本发明半导体致冷器件测试仪，结构简单，可快速测量出半导体致冷器件的优质系数与最大温差，以供技术人员直观地了解半导体致冷器件的质量情况，且其采用采集控制器记录测量过程中的中间测量值，并计算出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，避免了人工的数据记录与计算，大大提高测试的效率与速率，使其符合工业化告诉生产条件。
以上仅描述了本发明的基本原理和优选实施方式，本领域人员可以根据上述描述作出许多变化和改进，这些变化和改进应该属于本发明的保护范围。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (1)

1.一种半导体致冷器件测试仪，其特征在于：包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路包括与逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端、直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接。
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