CN1094632C - 记录数据的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

一种适于高密度记录数据的方法和设备。将学习数据发生电路所产生的学习数据记录到一般片上，并且由一播放机精确地再现出来，通过一交互代码干扰测量电路测出存在于该信息数据中的交互代码干扰量。在预加重校正值计算电路中，相应于测得的交互代码干扰计算出预加重校正值。这一计算结果记录在记录槽沿位置计算电路的ROM存储表中。这个记录槽沿位置计算电路根据在ROM存储器中的表对由一信息源输出的记录数据进行处理。

Description

记录数据的方法和设备
                          发明领域
本发明涉及一种数据记录方法和在一记录载体上记录数据用的数据记录设备，所述的记录载体例如为光盘或磁光盘。
                          背景技术
本发明的申请人已经在日本专利申请207074/1992中公开了一种记录数据的方法，它根据要录入的数据以步进方式(step manner)改变记录槽的边缘位置。按照这个方法，形成在记录载体例如光盘或磁光盘上的每个槽的上升(前)沿或下降(后)沿的位置可以设置为八个位置中的一个，这与要记录的数据有关，从而将数字数据记录到该记录载体上。
在以步进方式改变各槽的边缘位置，从而记录数字数据的情况下，为使记录数据实现高密度，必须减小步进宽度。可是，如果步进宽度太小，代码相互干扰现象加重，不能保证维持数据再现的高精度。
于是，本发明的申请人又在日本专利申请300470/1992专利文献中提出了一种方法，能够预测出这种代码相互干扰，校正边缘位置，从而消除代码相互干扰现象。
在这种方法中，每个槽边缘的位置基本确定为如图1所示的0-7的八个宏观步之一(步长按节距改变，例如0.04μm)，每个边缘的位置在256个微观步的位置间变化，这些微观步的宽度要小得多。这个方法能够减小边缘位置的变动范围，提高记录数据的密度。
在日本专利申请300470/1992中所公开的发明，采用一模拟样品确定交互代码干扰，从而决定了每个边缘的微观步位置(校正量)，对通过模拟样品所确定的交互代码干扰进行校正。
可是，采用模拟样品不能精确地确定交互代码干扰，因此不能提高限制或消除交互代码干扰的精确度，也就是说难以实现高密度的记录。
                          发明内容
为此，本发明的目的是提供一种记录数据的方法和设备，能够更精确地限制交互代码干扰，实现高密度的数据记录。
为实现这个目的，根据本发明的一个方案，提供一种在记录载体上记录数据的方法，根据要记录数据的第一步进宽度以步进度方式改变每个记录槽边缘的位置，并且用小于第一步进宽度的第二步进宽度，将具有第一步进宽度的该边缘位置校正，从而减小了交互代码干扰，这种方法包括以下步骤：再现存入记录载体上的数据，计算从记录载体再现数据的交互代码干扰，计算用第二步进宽度校正槽沿的校正量，采用计算出的校正量记录数据到该记录载体上。
校正槽沿位置和记录数据的步骤可重复进行，直到交互代码干扰变得小于预先设定的参考值为止。
至少可以将首次计算的校正量设置为一个小于根据计算交互代码干扰而得到的校正量的值。
首先，可以将学习数据记录到记录载体上，该信息数据确定了具有第一步进宽度的边沿位置中和在该边沿位置之前和之后的至少两个相邻边缘位置的某一预定沿位置的组合形式。再现这个学习数据(learning data)，计算出校正量。
计算交互代码干扰的步骤可根据一个组合形式重复若干次，以获得交互代码干扰的平均值，将其作为交互代码干扰的值。
根据本发明的另一方案，提供一种在记录载体上记录数据的设备，它根据要记录的数据由第一步进宽度并根据小于第一步进宽度的第二步进宽度校正该具有第一步进宽度的边沿的位置，以步进方式改变每个槽边沿的位置，从而减小交互代码干扰。该设备具有再现记录到记录载体上的数据的重放装置(如图5所示的拾取装置82)，计算由记录载体再现的数据中含有交互代码干扰的交互代码计算装置(如图2所示的交互代码干扰测量电路21)，由第二步进宽度计算该边沿校正量的校正量计算装置(如图2所示的预加重校正值计算电路22)，它使交互代码干扰变小，以及存储计算出的校正量的存储器(如图2所示的ROM 18)和采用存入的校正量实现在记录载体上的数据记录的记录装置(如图2所示的主导系统4)。
在上述数据记录方法和数据记录设备中，数据精确地录入记录载体上，对从该载体所再现的数据中含有的交互代码干扰进行计算，并计算出使用微步长的校正量，从而使该干扰量最小化。因此，能够更精确地减小交互代码干扰，实现高密度的记录。
                          附图说明
图1是表示宏观步进和微观步进之间关系的示意图；
图2是本发明数据记录设备的一具体实施例的方框图；
图3是图2所示的记录边沿位置计算电路17的设置的方框图；
图4是图3所示的存入边沿位置变化ROM 18A和18B的边缘位置数据的示意图；
图5是图2所示的边沿调制电路19的设备的方框图；
图6是图2所示的播放机6的设置的实例的方框图；
图7是图6所示的偏置校正电路86的设置的实例的方框图；
图8是图6所示的增益校正电路87的实例的方框图；
图9是图2所示实施例的工作流程图；
图10是图5所示的边沿调制电路19的时序图
图11是图9的步S2中用于测量交互代码干扰处理的详细过程流程图；
图12是图6所示的播放机6的运行时序图，和
图13是图11的步S13中对边沿形式进行分类的详细过程流程图。
                       具体实施方式
图2是说明本发明的数据记录设备实例的设置方框图。在这个实施例中，从信号源1输出的记录数据或从信息数据发生电路2输出的学习数据送到编码器3中，经编码器3编码的数据输送至主导系统4，并记录到盘5上。录入盘5的数据由播放机6重放出来，计算机7接收再现的数据，计算出交互代码干扰；并相应完成宏观步长的校正过程。
在编码器3中，由信号源1供给的记录数据(数字数据)输入到一误差校验和校正(ECC)电路11，将误差检验和修正代码迭加到记录数据上。之后这些记录数据供给转换电路12。输入到转换电路12的数据单元为8比特，经过转换，变成3比特为一单元的数据。
开关16从以下数据中选中其一，即来自学习数据发生电路2的3比特学习数据，由转换电路12转换和输出的3比特记录数据，由增益参考信号发生电路13输出的增益参考信号数据，由偏置参考信号发生电路14输出的偏置参考信号数据，和由锁相环(PLL)引入信号发生电路15输出的锁相环引入信号数据，开关16选中的数据提供至记录边沿位置计算电路17。
记录边沿位置计算电路17根据对应存在其内部的只读存储器(ROM)18中所存原表格的记录数据确定宏观步数，并相应于该宏观步数输出数据给边沿调制电路19。边沿调制电路19根据来自记录边沿位置计算电路17的宏观步数产生代表各边沿位置的信号，并将这些边缘位置信号输出到主导系统4中。
另一方面，在计算机7中，交互代码干扰测量电路21从来自播放机6的再现数据中测出交互代码干扰量，并将测量结果提供给预加重校正值计算电路22，它负责根据交互代码干扰测量电路21的测结果计算出各边沿位置的微观步数(即校正量)。将记录边沿位置计算电路17的ROM 18中的表格更新，以使上述计算结果能在表中反映出来。
记录边沿位置计算电路17例如采用图3所示的结构，触发器41-44采用四级串联连接，边沿位置变化ROM 18A和18B形成ROM 18。
开关16将1比特“0”作为最高有效位迭加到由学习数据发生电路12输出的3比特数据上及转换电路12，增益参考信号发生电路13，偏置参考信号发生电路14或PLL引入信号发生电路15输出的3比特数据上，形成具有4比特单元的数据，并将这个4比特数据提供给记录边沿位置计算电路17。这个数据传送并基于各边沿同步产生的时钟保存在触发器41-44中。
如图4所示，这里可以假设，表示第(n-1)个槽的上升和下降沿的数项分别为hn-1和tn-1，而表示第n个槽的上升和下降沿的数据项分别是hn和tn，那么，当tn保持在触发器41中时，hn，tn-1，和hn-1分别保持在触发器42-44中。
第n个槽的上升沿数据hn和在此上升沿之前和之后边沿的数据tn-1和tn输入到边沿位置变化ROM 18B中，而第(n-1)个槽的下降沿的数据tn-1和在此下降沿之前和之后的边沿的数据hn-1和hn输入到另一边沿位置变化ROM 18A中。
三个位置信息，即中间沿的数据和相邻接的前一沿和后一沿的数据输入到边沿位置的变化ROM 18B中。根据这些位置信息，确定出用微观步数表示的旨在减小交互代码干扰的位置，并以8比特数据Dt和Dh形式输出。
图5表示边沿调制电路19的设置实例。其中包括一数模转换器51，用于对来自记录边沿位置计算电路17的边沿位置变化ROM 18A的数据Dt进行数字到模拟量的转变，模拟比较器53将数/模转换器51的输出与一锯齿波发生电路52输出的锯齿波比较；还包括一数/模转换器61，用于对来自边沿位置变化经ROM 18B的数据Dh进行数字到模拟量的转变，模拟比较器63将数/模转换器61的输出与一锯齿波发生电路62产生的锯齿波比较。而且，一个“或”门71计算出模拟比较器53和63输出量的逻辑和，并将计算出的逻辑和输出到T触发器72。
图6表示播放机6的的设置实例，盘5以预定转速由主轴电机81带动旋转。拾取器装置82用激光束照射盘5，通过从盘5反射的光形成一对应于记录在盘5上的数据的射频(RF)信号，并且输出该信号，放大器83放大该RF信号后将其供给模/数转换器85，以及主轴锁相环电路84和时钟再现电路88。
主轴PLL电路84从输入信号中取出一PLL引入信号，形成一与该PLL引入的信号同步的控制信号，并将该控制信号输出到主轴电机81。时钟恢复电路88从这个输入信号中取出-PLL引入信号，形成与该PLL引入信号同步的时钟A，B和C。时钟再现电路88提供时钟A到模/数转换器85，偏置校正电路86和增益校正电路87，并提供时钟B和C到偏置校正电路86和增益校正电路87。
由模/数转换器85从模拟形式变为数字形式的数据经过偏置校正电路86进行偏置校正后，输入到增益校正电路87实现增益校正。增益校正后的数据从电路87输出到计算机7。
图7表示播放机6的偏置校正电路86的电路设置实例。在本例中，从模/数转换器85输入的8位数据供给触发器101和102。时钟A输入到触发器101。每当产生上升沿和下降沿时，产生时钟A。因此，在每个沿位置处的数据由触发器101保持。
当产生偏置校正数据时所出现的时钟B输入到触发器102。因此偏置校正数据由触发器102保持。加法器103从触发器101的输出中减去触发器102的输出，并将计算结果输出。
图8表示增益校正电路87电路设置实例。在本例中，来自偏置校正电路86的加法器103的8比特数据输入到触发器111和112。触发器111保持在输入数据的每个沿位置的数据与时钟A同步。触发器112闭锁在输入的8比特数据中的与时钟C同步的增益校正信号数据，时钟C以与产生增益校正信号数据相同的时序而产生。
加法器7从触发器112的输出中减去由目标波幅发生电路114输出的目标幅值信号(C4)，并将计算结果送到变增益放大器113。具有一ROM或类似存储器的变增益放大器将由触发器111输入的数据增益根据加法器7的输出调整到一预定值，并将该数据送至加法器115。加法器115将来自目标偏置发生电路116的目标偏置信号(C5)迭加到变增益放大器113的输出上，并将迭加后的结果送入计算机7。
上述实施例的操作过程将在下面结合图9的流程图加以说明。
首先，在步骤S1执行制造盘5的工序，即将学习数据发生电路2所产生的3比特学习数据通过开关16变为4比特数据，并将4比特数据输入到记录边沿位置计算电路17的触发器41中。相应于槽边沿(前沿和后沿)的数据被触发器41锁定，因为此时相应于这些槽沿的时钟脉冲正被供给触发器41。
由学习数据发生电路2输出的学习数据是确定的，它包括由三个连贯的槽沿所形成的所有可能的形式，其中每个沿的位置可从由八个宏观步确定的位置中选出。
即，如果应消除在中心沿之前和之后的相邻两沿的信号之间的交互代码干扰，要考虑由这三个槽沿位置(即中心沿位置和位于该中心沿之前和之后的两相邻沿的位置)所形成的一个形式学习形式。这个学习形式的中心沿的交互代码干扰的幅值是由位于该中心沿之前和之后的相邻沿的位置所决定的。当每个相邻沿的位置以步进方式在由八个宏观步所确定的位置之间变化时，该中心沿的交互代码干扰的大小根据在该中心之前的沿的位置状况具有八个变化量。对于每个变化量，还存在八个根据在该中心沿之后的位置状况所具有变化量。总共具有64(＝8×8)个变化值。
另外，中心沿的位置基本上在由这八个宏观步所确定的位置之间变化。而且，交互代码干扰的大小是根据该中心沿的种类(即一个槽的上升沿或下降沿)而变化的，于是，总共具有1024(＝2×8×64)个交互代码干扰幅度的变化值。
在本实施例中，包括全部1024个学习形式的信息数据是由信息数据发生电路2所产生的。
在每个包括上述1024学习形式的沿上的数据由触发器41所保持。
由触发器41保持的数据接着由触发器42-44连续被锁定。
当如图4所示的第(n-1)个槽的下降沿的数据tn-1作为中心沿数据从触发器43提供到沿位置变化ROM 18A中时，紧接在中心沿之后的上升沿的数据hn以及紧靠在中心沿之前的上升沿的数据hn-1分别从触发器42和44提供到沿位置变化ROM 18A中。这些数据内容相应于八个用宏观步表示的槽沿位置，如图1所示分别标以0-7。
也就是说，如果4比特数据(用“0”作为最高有效位)是0000，它指定对应于最内沿位置(用数字0表示)的宏观步骤。如果4比特数据是0111，它指定了最外沿(用数字7表示)的宏观步骤。
槽沿位置变化ROM 18A包含一个对应下述公式的变换表，它根据这个变换表将输入的宏观步骤数据变成8比特(256值)微观步数据。
                        Dt＝C1×tn-1+C3                (1)在这个公式中，常数C1代表各宏观步的步进宽度的初始值，常数C3代表最小槽尺寸的初始值。
类似地，第n个槽的上升沿的数据hn，紧靠这个上升沿之前的下降沿的数据tn-1和紧跟在该上升沿之后的下降沿的数据tn输入到沿位置变化ROM 18B中。对应下述公式的一变换表存在该沿位置变化ROM 18B中。
                        Dh＝C1×hn+C2                  (2)这里C2是个常数，代表最小槽的尺寸的初始值，与C3一样。
槽沿位置变化ROM 18B利用所述转换表将代表八个宏观步的沿位置的沿位置数据转变成代表256个微观步的8比特数据Dn，并输出这个数据Dh。
PLL引入信号的数据用于指定在图1所示的数字7代表的位置以外的一宏观步的某位置(用数字8表示一位置)。如果这三个4比特数据hn-1，tn-1和hn中之一是代表PLL引入信号的“8”，则以相应地址存在沿位置变化ROM 18A中的内容不进行预加重校正。
同样地，如果这三个4比特数据hn-1和hn，tn中之一是代表PLL引入信号的“8”，则相应地址存贮在沿位置变化ROM 18B中的内容不进行预加重校正。
PLL引入信号设置一参考位置，每槽的各边沿位置由播放机6内的盘5上再现的信号所确定。因此有必要将PLL引入信号持续记录在某相同的边沿位置上。为此，该PLL引入信号是未修正的。在紧靠该PLL引入信号之前和之后的槽上记录有固定的形式，即表示不同于用户数据(学习数据)的数据，例如偏置参考信号和增益参考信号。以此方式，防止该PLL引入信号受到交互代码干扰的影响，换句话说，在这种情况下，数据以宏步进方式直接被记录。
上述学习数据被记录，而不是来自信息源1的基本记录数据被记录-这种记录采用逐步逼近方式，用于将预定值重写到ROM 18内的表中。区别于基本记录数据的信号是增益参考信号(代表对应于宏观步“7”的边沿位置的信号)，它由增益参考信号发生电路13输出；和由偏置参考信号发生电路14输出的偏置参考信号(代表对应于宏观步“0”的边沿位置的信号)以及由PLL引入信号发生电路15输出的PLL引入信号(代表对应于宏观步“8”的边沿位置的信号)，这些信号通过时基复合随着该信息数据被记录。
如上所述，数据Dt(图10(a))转换为相应于由256个微观步所定义的某些边沿位置的数据，经槽沿调制电路19的数/模转换器51进行数/模转换后，该信号输入到模拟比较器53的非反向输入端，同时由锯齿波发生电路52产生的锯叔齿波(图10(b))输入到该比较器53的反向输入端。
锯齿波发生电锯52在预先设定的时间的一确定周期(每个上升沿出现时)内产生锯齿波。模拟比较器53输出一信号(图10(c))，当数/模转换器51的输出等于或大于锯齿波发生电路52的输出时，该信号具有逻辑值H，当数/模转换器51的输出小于锯齿波发生电路的输出时，该信号具有逻辑值L。因此，由比较器53的输出所代表的上升沿的位置被确定为根据数/模转换器51输出的模拟电平由256步所表示的其中一步。
同样地，由记录沿位置计算电路17中的槽沿位置变化ROM 18B输出的数据Dh(图10(d))，通过数/模转换器61从数字形式变为模拟形式，并输送到模拟比较器63的非反向输入端。锯齿波发生电路62产生一锯齿波(图10(e))，并传送到比较器63的反向输入端。接着，如果数/模转换器61的输出等于或大于锯齿波发生电路62输出的锯齿波时，比较器63输出一具有逻辑值H的信号(图10(f))，如果数/模转换器61的输出小于该锯齿波时，比较器输出一逻辑值为L信号。因此，比较器63的输出所代表的上升沿根据数/模转换器61输出的模拟电平256步变化。
“或”门电路71计算模拟比较器53(图10(c))的输出和比较器63(图10(f))的输出的逻辑和，并将计算结果(图10(g))供给触发器72的栅极，每当一上升沿或下降沿输入到该栅极时，触发器72输出一由输入逻辑逆变后形成的信号(图10(h))。这个由触发器72输出的信号确定了各宏观步的每个槽的上升和下降沿。
上述信号供给主导系统4。在该主导系统中，盘5根据这个信号。被切割，从而将以微观步代表的信息数据记录到光盘5上。
完成光盘制造步骤之后，即以这种方式完成图9的步S1后，程序转入步S2。执行测量交互代码干扰的过程，图11表示了测量交互代码干扰的详细过程。
首先，在步骤S11中，由播放机6再现光盘5上的数据，对再现数据进行处理得到槽沿数据。
也就是说，拾取头82将激光束照射到光盘5上，重现记录在盘5上的数据。由放大器83将与光盘5上记录的信号相一致的射频信号(图12(a))放大后供给主轴PLL电路84。主轴PLL电路84挑出与上述宏观步“8”(PLL引入信号)相对应的成分，控制主轴电机81与该成分相同步，从而以预先设定的某速度旋转光盘5。
另一方面，时钟再现电路88从放大器83的输出信号中取出PLL引入信号，产生与该信号同步的时钟A(图12(c))，时钟B(图12(d))和时钟C(图12(f))。
时钟A(图12(c))具有由与各槽的上升和下降沿对应的时序所产生上升沿。时钟B(图12(d))具有在与偏置参考信号发生时序相同的时序产生的上升沿。时钟C(图12(f))具有在与增益参考信号发生时刻相同的时刻产生的上升沿。
模/数转换器85对从放大器83输入的与时钟A同步的RF信号采样，得到采样的8比特数字信号(图12(b))，并将该信号供给偏置校正电路86。
在偏置校正电路86中，触发器101保持每个槽沿的数据与时钟A(图12(c))同步，触发器102保持该偏置校正信号的数据与时钟B(图12(d))同步，这个数据与宏观步“0”的再现电平相符合加法器103从由触发器101保持的每个槽沿的再现数中减去由触发器102保持的偏置校正数据，获得一减法输出(图12(e))。这个再现信号的直流成分因此被去掉。
加法器103的输出信号供给增益校正电路87的触发器111和112。触发器111使相应于每个槽沿的输入数据与时钟A(图12(c))保持同步，而触发器112保持增益校正数据在偏置校正后(相应于“7”的再现电平)与时钟C(图12(f))同步。
加法器7从由触发器112保持的增益校正信号的再现电平中减去由目标幅值发生电路114输出的目标幅值C4，得到差数据，并输出该数据到变增益放大器113。变增益放大器113将由触发器111提供的每个槽沿的数据的增益(电平)调制成与目标辐值发生电路114的差数据相符合的值，并输出该数据到加法器115。
变增益放大器113输出的数据的电平(图12(g))应设置为等于与目标幅值C4相符合的值，该目标幅值是由目标辐值发生电路114所设定的。
在加法器115中，变增益放大器113的输出与目标偏置发生电路116输出的目标偏置C5相叠加，其和作为增益纠正电路87的输出提供给计算机7的交互代码干扰量测电路21。因此，防止由于在偏置校正电路86中消除直流分量而使对应“0”的电平下降到一个不必要的过小的值(负值)。
在交互代码干扰量测电路21内，播放机6的增益校正电路87传送的8比特槽沿数据(J项)连续地被代入变量E＇(j)(1≤j≤J)。
接着程序转入图11的步骤S12，执行抽取信息图形的过程。也就是说，在步骤S11所接收的槽沿数据E＇(j)包含时钟参考信号，偏置参考信号和增益参考信号，这些信号是时基多重信号，不包含基本信息数据。这些信号被排除，只从中抽出上述的信息数据(N项)，形成变量E(n)(1≤n≤N)。
程序接着进入步骤S13，对从步骤S12中抽出的学习形式的边沿形式分类。下面将结合图13的流程图详细介绍这一边沿形式的分选过程。
在步骤S21中，首先将各变量初始化为0，这些变量指H(a，b，C)、T((a，b，C)，Kh(a，b，C)和Kt(a，b，C)。每个值(a，b，C)从0到7改变八步。
程序转入步骤S22，将变量n设为2。即以第一槽沿为基准，提供的是未分类的学习形式(一个图形由三个槽沿形成，即中心沿和两个紧邻此中心沿之前和之后的槽沿)，这是因为不存在前级沿的信息。因此，边沿形式分类程序从第二个沿数据E(2)开始。
接着，程序进入步骤S23，确定当前处理的槽沿数据是否可分类，即n的值是否等于或小于N-1(学习形式分类不可能针对最后(第n个)的沿数据进行，因为在最后的形式之后一不再具有相邻的槽沿，就象在第一个槽沿之前不具有相邻的槽沿一样。
在这种情况下，取变量n为2，n小于值(N-1)，即比学习数据项数N少1。下一步，程序转入步骤S24，确定E(n)(这里为E(2))是否处于上升沿。例如，确定学习数据是从一个槽的上升沿开始，则奇数数据指在槽的上升沿上的数据，而偶数数据指在下降沿上的数据。在这种情况下，当n是奇数时，E(n)是上升沿数据，则程序转入步S25。当n是偶数时，E(n)是下降沿数据，程序转入步S26。
在步骤S25中，完成校验，确定该学习形式有关的槽沿数据E(n)，从而将槽沿数据E(n)分类。记录在盘5上的信息作为已知的学习数据。这里假设与每个槽沿数据E(n)对应的信息数据为G(n)。也就是说，第n个槽沿数据E(n)的是通过读取其上记录有3比特信息数据G(n)的槽沿而获得的数据。在与此沿相邻的两槽沿上，记录的是信息数据G(n-1)和信息数据G(N+1)。
槽沿数据E(n)代表由三个连续的沿G(N-1)，G(n)和G(n+1)形成的学习形式的中心沿的位置。假定G(N-1)＝a(＝0，1，2，......7)，G(n)＝b(＝0，1，2，......7)和G(N+1)＝C(＝0，1，2，......7)，将沿数据E(n)量加到变量H(a，b，c)上，变量Kh(a，b，c)增量为1。在本例中，E(2)叠加到H(a，b，c)上。
程序进入步S27，变量n增加1，设为n＝3。
然后，程序返回步S23，再次确定变量是否等于或小于N-1。在本例中，n＝3，于是程序再次转入步S24，确定E(3)是否代表一上升沿。此时，E(3)表示一下降沿，于是程序进入步S26。在步S26中，下降沿数据E(3)叠加到变量T(a，b，c)上，变量Kt(a，b，c)增量为1。
程序进入步S27，变量n增加1，设为n＝4，该程序又返回步S23。
于是程序重复执行步骤S23-S27。结果，通过在上升沿上叠加数据所得的值保持为H(a，b，c)，而在下降沿上叠加数据所得的值保持为变量T(a，b，c)。
如果在步骤S23中，确定出变量n的值已大于N-1(如果已完成所有边沿形式的分类)，则如图1 3的流程图所示的程序结束。
下一步，图11所示的程序从步S13转入S14，进行槽沿位置的平均值计算通过重复图13所示的程序，相应于学习图形(0，0，0)-(7，7，7)的相加数值保持为变量H(0，0，0)-H(7，7，7)，而相加的学习形式数是Kh(0，0，0)-Kh(7，7，7)。类似地结果还有T(0，0，0)-T(7，7，7)和Kt(0，0，0)-Kt(7，7，7)。
上升沿形式的平均值Ho(a，b，c)和下降沿形式的平均值To(a，b，c)可用下述公式计算：
          Ho(a，b，c)＝H(a，b，c)/Kh(a，b，c)        (3)
          To(a，b，c)＝Y(a，b，c)/Kt(a，b，c)        (4)
将多个与上述某一个学习形式H(a，b，c)或T(a，b，c)有关的测量结果取平均值，可消除偶尔出现的激光噪声或电噪声。
接着，程序转下一步S15，执行计算交互代码干扰的过程，通过计算在每个学习形式的平均槽沿位置Ho(a，b，c)或To(a，b，c)和这个学习形式的中心槽沿的理想位置Rh(b)或Rt(b)之间的差，可以将其确定交互代码干扰程度。
上升和下降沿的理想位置Rh(b)和Rt(b)可采用下列公式表示，其中b指中心槽沿信息，C4和C5是由增益校正电路87提供的常数：
                    Rh(b)＝C6×b+C5                  (5)
                    Rt(b)＝C6×b+C5                  (6)
上述等式中的C6用下式求出：
                    C6＝C4/7                         (7)
如前所述，C4相应于图8所示的由目标辐值发生电路114输出的目标辐值，C5相应于由目标偏置发生电路116输出的目标偏置值。
于是，与上升沿信息图形H(a，b，c)对应的交互代码干扰Ih(a，b，c)和与下降沿信息图形T(a，b，c)对应的交互码干扰It(a，b，c)可以用下列公式计算：
            Ih(a，b，c)＝Rh(b)-Ho(a，b，c)           (8)
            It(a，b，c)＝Rt(b)-To(a，b，c)           (9)
交互代码干扰测量电路2 1根据公式(8)和(9)计算出与学习形式(0，0，0)-(7，7，7)有关的交互代码干扰。
当以上述方式完成了图9所示的交互代码干扰测量步骤S2后，程序转入步骤S3，确定计算出的交互代码干扰是否在预先给定的基准范围内。如果交互代码干扰超过这个基准范围(如果交互代码干扰没有得到足够的抑制，程序转入步S4，进行预加重法的校正量的计算。
如图2所示的预加重校正值计算电路22采用预加重方式从交互代码干扰测量电路21输出的交互代码干扰数据中计算出校正量。首先，通过上述公式算出的交互代码干扰的数字数据Ih(a，b，c)和It(a，b，c)被转换成要写入编码器3的记录沿位置计算电路17的ROM 18中的数据，也就是指图3中所示的槽沿位置变化ROM 18A和18B。
如公式(1)和(2)所表明的，当用8比特表示时，在记录时刻的一宏观步是C1。在再现时刻，则其变为C8，如图5和6所表明。为了将用公式(8)和(9)求出的交互代码干扰转换成与槽沿位置改变ROM18A和18B相对应的值，有必要在公式(8)和(9)的每侧乘以C1/C6。也就是说，从编码器3得到的交互代码干扰的幅值Ieh(a，b，c)和Iet(a，b，c)可用下列公式得出：
        Heh(a，b，c)＝(C1/C6)×Ih(a，b，c)          (10)
        Het(a，b，c)＝(C1/C6)×It(a，b，c)          (11)
利用由上式(10)和(11)得到的Ieh(a，b，c)和Iet(a，b，c)用预加重法可如下求出校正量。
在本实施例中，由于预加重校正量要经过多次更新变换，将首次的校正量设定为一个小于完全消除交互代码干扰的值的值。也就是说，如下面公式所表示的，通过将Ieh(a，b，c)和Iet(a，b，c)乘以一常数α(0＜α＜1)所得到的值视为预加重校正量Ph(a，b，c)和Pt(a，b，c)。
              Ph(a，b，c)＝α×Ieh(a，b，c)         (12)
              Pt(a，b，c)＝α×Iet(a，b，c)         (13)
如上计算出预加重的校正量后，程序从步骤S4转入S5，执行在编码器3中的校正过程。也就是说，将预加重的校正量反射到槽沿位置变化ROM 18A和18B的内容中。
如果槽沿位置变化ROM 18A的内容在校正前是FAb(hn-1，tn-1，hn)，槽沿位置变化ROM 18B的内容在校正前是FBb(tn-1，hn，tn)，则校正后的槽沿位置变化ROM 18A的内容为FAa(hn-1，tn-1，hn)，校正后的槽沿位置变化ROM 18B的内容为FBa(tn-1，hn，tn)，它们用下式表示：
     FAa(hn-1，tn-1，hn)＝FAa(hn-1，tn-1，hn)+Pt(hn-1，tn-1，hn)    (14)
     FBa(tn-1，hn，tn)＝FBb(tn-1，hn，tn)+Ph(tn-1，hn，tn)          (15)槽沿位置变化ROM 18A和18B的内容作如上的更新，因此预加重了编码器3的输出信号，消除了测出的交互代码干扰。即，每个记录沿的位置通过设置到由256步确定的各沿位置之一而得到校正。但是，如前所述，由于预加重法的采用，存在出现新的交互代码干扰的风险。于是程序从步S5返回步S1。利用编码器3制造一个新盘，其中槽沿位置变化ROM 18A和18B的内容已被更新，针对新制造的光盘从步骤S2起重复执行该程序。
相同的处理程序重复进行，直到在步S3中确定出交互代码干扰量已减小到预先设定的基准值范围内的值为止。当交互代码干扰值落入基准范围内时，这一过程停止。即槽沿位置变化ROM 18A和18B的数值是确定不变的。
之后，从信息源1输出的经过ECC电路11累加了误差校验和修正代码的记录数据通过转换电路12变为3比特数据，这个数据经开关16提供到记录槽沿位置计算电路17。在开关16中，可根据需要选择增益参考信号发生电路13，偏置参考信号发生电路14和PLL引入信号发生电路15的输出作为4比特数据形式输送到该记录槽沿槽沿位置计算电路17。之后，该记录数据以与上述情况相同的方式记录到盘5上。从而该盘上在数据之间存在的交互代码干扰能被显著减小。
在上述实施例中，每两个相邻槽沿间的交互代码干扰受到抑制或被消除。但是，采用类似的方法可抑制或消除四个或更多个相邻沿的交互代码干扰。例如，如果要考虑紧邻的两个槽沿以外的两个槽沿的影响，可采用这样的方案，即学习形式是由五个连贯的包含中心槽沿的形式构成，交互代码干扰的测量是针对这种信息形式进行的，然后计算出预加重的校正量。
作为本发明的适用的记录载体可以是磁光盘，光盘以及其了记录载体。

Claims (6)

1、一种在记录载体上记录数据的方法，该记录载体具有多个槽，所述多个槽的每个具有至少一个位于多个位置之一上的边缘，所述方法包括：
以步进的方式采用取决于要被记录的数据的第一步进宽度来改变边缘的相对位置；
在所述记录载体上记录未校正的数据；
从所述记录载体上再现所述未校正的数据；
从所再现的数据中计算代表所述交互代码干扰的第一值；
用小于所述第一步进宽度以减小交互代码干扰的第二步进宽度，计算表示所需校正量的第二值，该第二值是所求得的第一值的函数；以及
采用求得的第二值将数据记录到该记录载体上。
2、根据权利要求1的方法，还包括重复进行所述的校正和记录所述数据的步骤，直到所述第一值小于一预定参考数值为止。
3、根据权利要求2的方法，其中所述第二值在开始时被调整为小于所求得的第二值。
4、根据权利要求3的方法，其中在开始时，所述未校正的数据包括用于确定含有所述相对位置的各位置及在所述边缘之前和之后的两个相邻边缘的各相对位置的组合形式的学习数据，和其中所述学习数据被再现，用于计算校正量。
5、根据权利要求4的方法，还包括相对于所述组合形式重复所述计算所述第一值的步骤，以得到代表所述交互代码干扰的平均值，其中所述平均值用作所述第一值。
6、在一记录载体上记录数据的设备，该记录载体具有多个槽，所述多个槽的每个具有至少一个位于多个位置之一上的边缘，所述设备包括：
以步进的方式采用取决于要被记录的数据的第一步进宽度来改变边缘的相对位置的装置；
再现装置，从所述记录载体上再现所述未校正的数据；
交互代码干扰计算装置，从所再现的数据中计算代表所述交互代码干扰的第一值；
校正量计算装置，用小于所述第一步进宽度以减小交互代码干扰的第二步进宽度，计算表示所需校正量的第二值，该第二值是所求得的第一值的函数；以及
记录装置，利用求得的第二值将数据记录到该记录载体上。
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