CN109444481A - 万能芯片测试台 - Google Patents
万能芯片测试台 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109444481A CN109444481A CN201811361722.4A CN201811361722A CN109444481A CN 109444481 A CN109444481 A CN 109444481A CN 201811361722 A CN201811361722 A CN 201811361722A CN 109444481 A CN109444481 A CN 109444481A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- omnipotent
- test suite
- chip
- gearshift
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/02—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S13/00
- G01S7/40—Means for monitoring or calibrating
- G01S7/4004—Means for monitoring or calibrating of parts of a radar system
Abstract
本发明公开了一种万能芯片测试台，包括底座，所述的底座上设有相对设置的第一测试组件和第二测试组件，且两者之间设有用于调节上下高度的升降装置；所述的第一测试组件上端设有相对设置的两个用于夹持测试电缆的第一夹座，所述的第二测试组件上端设有一个第二夹座；所述的第一测试组件和第二测试组件从下往上均设有用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置。本发明通过设置升降装置，可用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置，实现六个方向的可调式准确定位，测试人员在测试的时候可以保证芯片的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种芯片测试工具，具体涉及一种多型号芯片测试台。
背景技术
雷达的芯片体积通常较小，原来要用线焊接上专用测试架进行测试，此种方法操作复杂，又造成一定的浪费。
发明内容
发明目的：本发明的目的在于提供一种测试方向定位精准可调且操作简单的万能芯片测试台。
技术方案：本发明采用如下技术手段加以实现：一种万能芯片测试台，包括底座，所述的底座上设有相对设置的第一测试组件和第二测试组件，且两者之间设有用于调节上下高度的升降装置；所述的第一测试组件上端设有相对设置的两个用于夹持测试电缆的第一夹座，所述的第二测试组件上端设有一个第二夹座；所述的第一测试组件和第二测试组件从下往上均设有用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置。
所述的第一位移装置和第二位移装置均由滑轨和相适配的滑台组成，并且通过旋钮控制滑动，滑轨和滑槽之间通过设置齿轮齿条机构实现相对滑动。
所述的滑轨为燕尾槽滑轨。
所述的第一测试组件和第二测试组件的上端相对各设置一个测试座，每个所述的测试座上端设有限位板，限位板底部设有一个/两个测试针，所述的测试针从测试孔伸出，限位板的背侧为调整块，所述的调整块两侧各设有一个螺纹过孔和一个螺纹孔，所述的螺纹过孔和十字螺钉螺纹连接，所述的螺纹孔和六角止头螺钉螺纹连接。
具体来说，第一测试组件的测试座为双针测试座，第二测试组件的测试座为单针测试座，即测试针的数量一共是三个，测试的过程中要求三针处于一个水平面，在测试过程中电性能的反馈数据稳定，并且能保证测试针的使用寿命。
所述的升降装置的顶部通过顶针固定连接载台，所述的顶针和载台之间有微量弹性，从而具有弹性补偿力，防止顶针损坏，并且使得载台具有自动补偿高度误差的功能。
所述的升降装置为蜗轮蜗杆机构。因蜗轮蜗杆机构带有自锁功能，升降到某一高度不会受力下降。
所述的顶针为四个，均匀分布于升降装置顶部且水平高度一致。
所述的第一位移装置和第二位移装置的端部均设有限位机构，限位机构为螺旋机构，有自锁功能，用于调整限位。
本发明通过设置升降装置、可用于左右水平移动的第一位移装置和用于前后水平移动的第二位移装置，实现六个方向的可调式准确定位，测试人员在测试的时候可以保证芯片的测试效率，并且相对于传统的单一测试架检测，操作更简单，检测更可靠,效率高。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为位移装置和升降装置的机构示意图；
图3为双针测试座的结构示意图。
附图标记：1-底座，2-升降装置，3-第一夹座，4-第二夹座，5-第一位移装置，6-第二位移装置，7-滑轨，8-滑台，9-旋钮，10-限位板，11-测试针，12-测试孔，13-调整块，14-螺纹过孔，15-螺纹孔，16-顶针，17-载台，18-测试座，19-限位机构。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明进行进一步详述：
实施例：
如图1，一种万能芯片测试台，包括底座1，底座1上设有相对设置的第一测试组件和第二测试组件，且两者之间设有用于调节上下高度的升降装置2；第一测试组件上端设有相对设置的两个用于夹持测试电缆的第一夹座3，第二测试组件上端设有一个第二夹座4；第一测试组件和第二测试组件从下往上均设有用于左右水平移动的第一位移装置5和用于前后水平移动的第二位移装置6，用于准确移动位置，从而将芯片和挡片底部准确贴合。
第一位移装置5和第二位移装置6均由滑轨7和相适配的滑台8组成，并且通过旋钮9控制滑动，滑轨7和滑槽8之间通过设置齿轮齿条机构实现相对滑动，具体来说，滑轨7为燕尾槽滑轨。
第一测试组件和第二测试组件的上端相对各设置一个测试座18，每个测试座18上端设有限位板10，限位板10底部设有一个/两个测试针11，测试针11从测试孔12伸出，测试针11用于和测试电缆相连接，限位板10的背侧为调整块13，调整块13两侧各设有一个螺纹过孔14和一个螺纹孔15，螺纹过孔14和十字螺母螺纹连接，螺纹孔15和六角止头螺钉螺纹连接，调整块和螺纹孔组件形成微调装置，用来保护测试针，芯片在测试的过程中要先将三个测试针的位置调节好，然后升降装置2向上移动，直到被测芯片引脚接触到测试针稳定为止，这个过程中测试针有个反作用向上的反作用力，会影响针的使用寿命，可以通过调整十字螺钉和六角止头螺钉进行微调调整块13，在测试的过程中保证在往上受力的时候待测芯片与挡片贴合，保证双针与芯片的引脚接触可靠，在测试的时候被测芯片紧贴在两个挡片的下平面，故针不会过度受力而损坏，并且保证接地可靠。
升降装置2的顶部通过顶针16固定连接载台17，顶针16和载台17之间有微量弹性，即下面有弹簧起到弹性补偿作用，载台6会有自动补偿高度误差的功能，满足至少三针共处一个平面的要求，从而保证在测试过程中电性能的反馈数据稳定，并且能保证测试针的使用寿命。
顶针16为至少四个，在本发明中具体来说为四个，其均匀分布于升降装置2顶部且水平高度一致，第一位移装置5和第二位移装置6的端部均设有限位机构19，在调整好位移装置后起到限位作用。
本发明通过上下，左右，前后六个方向调整测试位置，并且通过挡板调整块微调机构进行微调，进一步准确定位，保证了测试的可靠性，且操作更简单，效率高。
Claims (8)
1.一种万能芯片测试台，包括底座(1)，其特征在于：所述的底座(1)上设有相对设置的第一测试组件和第二测试组件，且两者之间设有用于调节上下高度的升降装置(2)；所述的第一测试组件上端设有相对设置的两个用于夹持测试电缆的第一夹座(3)，所述的第二测试组件上端设有一个第二夹座(4)；所述的第一测试组件和第二测试组件从下往上均设有用于左右水平移动的第一位移装置(5)和用于前后水平移动的第二位移装置(6)。
2.如权利要求1所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的第一位移装置(5)和第二位移装置(6)均由滑轨(7)和相适配的滑台(8)组成，并且通过旋钮(9)控制滑动，滑轨(7)和滑槽(8)之间通过设置齿轮齿条机构实现相对滑动。
3.如权利要求2所述的万能芯片测试夹具，其特征在于：所述的滑轨(7)为燕尾槽滑轨。
4.如权利要求3所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的第一测试组件和第二测试组件的上端相对各设置一个测试座(18)，每个所述的测试座(18)上端设有限位板(10)，限位板(10)底部设有一个/两个测试针(11)，所述的测试针(11)从测试孔(12)伸出，限位板(10)的背侧为调整块(13)，所述的调整块(13)两侧各设有一个螺纹过孔(14)和一个螺纹孔(15)，所述的螺纹过孔(14)和十字螺母通过螺纹连接，所述的螺纹孔(15)和六角止头螺钉通过螺纹连接。
5.如权利要求4所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的升降装置(2)的顶部通过顶针(16)固定连接载台(17)，所述的顶针(16)和载台(17)之间有微量弹性。
6.如权利要求4所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的升降装置(2)为蜗轮蜗杆机构。
7.如权利要求6所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的顶针(16)为四个，均匀分布于升降装置(2)顶部且水平高度一致。
8.如权利要求6所述的万能芯片测试台，其特征在于：所述的第一位移装置(5)和第二位移装置(6)的端部均设有限位机构(19)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811361722.4A CN109444481A (zh) | 2018-11-15 | 2018-11-15 | 万能芯片测试台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811361722.4A CN109444481A (zh) | 2018-11-15 | 2018-11-15 | 万能芯片测试台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109444481A true CN109444481A (zh) | 2019-03-08 |
Family
ID=65553615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811361722.4A Pending CN109444481A (zh) | 2018-11-15 | 2018-11-15 | 万能芯片测试台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109444481A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113805043A (zh) * | 2021-10-09 | 2021-12-17 | 南通芯盟测试研究院运营管理有限公司 | 车规级芯片测试台 |
-
2018
- 2018-11-15 CN CN201811361722.4A patent/CN109444481A/zh active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113805043A (zh) * | 2021-10-09 | 2021-12-17 | 南通芯盟测试研究院运营管理有限公司 | 车规级芯片测试台 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100750868B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 접속장치 | |
| KR101256306B1 (ko) | 프로브 카드의 평행 조정 기구 및 검사 장치 | |
| US6130547A (en) | Test apparatus for printed circuit board and assembly kit therefor | |
| CN211236133U (zh) | 一种电路板测试治具 | |
| CN210243785U (zh) | 一种电路板测试治具 | |
| CN205656212U (zh) | Pcb板直针式测试架 | |
| CN209296778U (zh) | 芯片测试台 | |
| CN109444481A (zh) | 万能芯片测试台 | |
| CN215866989U (zh) | 探针卡、检测装置及晶圆的检测装置 | |
| US7214072B1 (en) | Pusher of IC chip handler | |
| CN206281949U (zh) | Ict针床测试架 | |
| CN208109978U (zh) | 连接器测试装置 | |
| US6049214A (en) | Universal printed circuit board inspection apparatus, and method of using same | |
| CN209215534U (zh) | Pcba测试装置 | |
| CN209117776U (zh) | 一种自动感应的高精度变压器探针测试装置 | |
| CN208780728U (zh) | 一种带飞线的卧式变压器的测试夹具 | |
| CN113252986A (zh) | 一种连接器的多pin双针测试装置 | |
| CN219811022U (zh) | Vcm半自动电测机 | |
| CN108398581B (zh) | 数据线的检测治具 | |
| CN218824561U (zh) | 双边联动倾斜接触结构 | |
| CN216771911U (zh) | 一种用于免焊接的电路板全温智能测试装置 | |
| CN219085071U (zh) | 一种用于集成电路芯片的测试工装 | |
| CN219369800U (zh) | 一种芯片测试机用的测试平台 | |
| CN217034230U (zh) | 一种用于检验电表的挂表装置 | |
| CN216926921U (zh) | 一种连接器的多pin双针测试装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |