CN109443180A - 回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置，所述方法包括：利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。解决了现有技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题。

Description

回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置

技术领域

本发明涉及数控机床等智能设备技术领域，具体而言，涉及一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置。

背景技术

传统测量机床回转轴中心位置，往往需要花费较长时间，并且存在大量人工误差，需多次校准后方能找出目标位置，费时费力，并且需要通过加工工件才能找出实际位置。

针对相关技术中，回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题，尚未有合理的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种回转轴中心位置的确定方法及设备、存储介质、电子装置，以至少解决相关技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种回转轴中心位置的确定方法，包括：利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面；通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标；通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。

优选地，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量之前，所述方法还包括：将所述校准装置垂直安装于所述回转台；通过千分表校正所述校准装置的垂直度。

优选地，通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标包括：将所述回转台旋转至0度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；将所述回转台旋转至180度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；将所述回转台旋转至90度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

优选地，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置包括：确定所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离。

优选地，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置还包括：确定所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

根据本发明的另一个实施例，还提供了一种回转轴中心位置的确定设备，包括工件测头和校准装置，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面，其中，所述工件测头用于对校准装置的上端面进行测量，使得可以获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标，并通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。

优选地，所述设备还包括读数器件，用于：当所述回转台旋转至0度位置时，读取并记录所述校准装置的圆心在所述机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；当所述回转台旋转至180度位置时，读取并记录所述校准装置的圆心在所述机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；当所述回转台旋转至90度位置，读取并记录获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

优选地，所述设备还包括计算器件，用于：计算所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离。

优选地，所述计算器件还用于：计算所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

根据本发明的另一个实施例，还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

根据本发明的另一个实施例，还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

通过本发明实施例，利用校准装置替代传统的加工工件找出回转轴中心位置，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面；通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标；通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。解决了现有技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题，能够快速、高效、准确地对机床设备进行补偿，降低人为误差，提高加工效率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明实施例中回转轴中心位置的确定方法的流程图；

图2是本发明实施例中回转台旋转至0度位置时的测量示意图；

图3是本发明实施例中回转台旋转至180度位置时的测量示意图；

图4是本发明实施例中回转台旋转至90度位置时的测量示意图；

图5是根据本发明实施例的回转轴中心位置的确定设备的结构框图。

附图标记说明

1-校准装置，2-回转台，3-工件测头。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

实施例1

本发明实施例提供了一种回转轴中心位置的确定方法。图1是根据本发明实施例中回转轴中心位置的确定方法的流程图，如图1所示，该方法包括：

步骤S101，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；

步骤S103，通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；

步骤S105，通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。

通过上述方法，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。解决了现有技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题，能够快速、高效、准确地对机床设备进行补偿，降低人为误差，提高加工效率。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，在上述步骤S101之前，所述方法还包括：将校准装置垂直安装于回转台；通过千分表校正校准装置的垂直度。

具体的，将校准装置安装至机床旋转工作台面，利用T型螺母与M8螺钉，将装置大致固定好。调整装置与旋转工作台至垂直状态：在机床主轴处安装千分表，通过千分表触碰装置上端圆台部分，竖着移动千分表，检查校准装置是否存在倾斜。如校准装置与台面不垂直，需要通过垫A4纸片或其他类似的物品将其调整到位。

旋转回转轴，目视工件测头的位置在旋转轴的中心线位置上，相对平行于机床运动方向X、Y轴，将回转轴位置记录在机床工件坐标系中。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，上述步骤S103可以通过以下步骤实现：将回转台旋转至0度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；将回转台旋转至180度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；将回转台旋转至90度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，上述步骤S105可以通过以下步骤实现：确定回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离，其中，回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离。

进一步地，还可以通过H1来获取回转轴中心与主轴中心在Z轴上的距离，可以通过以下公式实现：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示回转轴中心与主轴中心在Z轴上的距离，d表示工件测头的长度，R表示回转轴的半径。

回转轴圆心在Z轴坐标值为:Z0＝z3-H2；

回转轴圆心在X轴坐标值为:X0＝x1-H1。

为了更好地理解本发明实施例中的技术方案，下面结合附图来进行具体说明。

图2是本发明实施例中回转台旋转至0度位置时的测量示意图，如图2所示，将校准装置1安装在机床上，调正好垂直度。并将回转台2旋转至0度位置，使用工件测头3对校准装置1进行测量，找出校准装置1圆心在机床中的坐标位置，并记录好数据A(x1,y1,z1)。

图3是本发明实施例中回转台旋转至180度位置时的测量示意图，如图3所示，旋转回转台，将它转到180度位置，再次测量校准装置圆心在机床中的位置，并记录数据B(x2,y2,z2)。

图4是本发明实施例中回转台旋转至90度位置时的测量示意图，如图4所示，再次旋转回转轴，旋转至90度，再次测量，得出校准装置圆心在机床中的数据C(x3,y3,z3)。

通过3点法计算圆心，可得出回转台中心的位置，回转轴圆心距离机床主轴中心距离的H的公式：

H1(回转轴圆心在X轴坐标的距离)＝(X1+X2)/2

H2(回转轴圆心在Z轴坐标的距离)＝d(工件测头长度)-|(|X1|-|H1|)|-R(回转轴半径)。

回转轴圆心在Z轴坐标值为:Z0＝z3-H2；

回转轴圆心在X轴坐标值为:X0＝x1-H1。

以上方法针对有回转轴的机床加工设备，可容易测得机床回转中心位置，无需借助系统特殊功能。得出数据后，可对实际值进行比对，最后显示出偏差值，如需调整机床数据，可人工进行数据更改。本发明实施例提供的回转轴中心位置的确定方法，用新型测量装置，配套机床控制系统功能及工件测头，能够较快找出回转轴中心位置，能够快速对机床设备进行补偿，提高加工效率。

实施例2

在本实施例中还提供了一种回转轴中心位置的确定设备，用于执行上述任一方法实施例中的步骤，已经描述过的内容此处不再赘述。图5是根据本发明实施例的回转轴中心位置的确定设备的结构框图，如图5所示，该设备包括工件测头50和校准装置52，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面，其中，工件测头用于对校准装置的上端面进行测量，使得可以获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标，并通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。

通过上述设备，利用校准装置替代传统的加工工件找出回转轴中心位置，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面；通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标；通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。解决了现有技术中回转轴中心位置的测量费时费力且误差较大的问题，能够快速、高效、准确地对机床设备进行补偿，降低人为误差，提高加工效率。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，所述设备还包括读数器件54，用于：当回转台旋转至0度位置时，读取并记录校准装置的圆心在机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；当回转台旋转至180度位置时，读取并记录校准装置的圆心在机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；当回转台旋转至90度位置，读取并记录获取校准装置的圆心在机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，所述设备还包括计算器件56，用于：计算回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离，其中，回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离。

根据本发明实施例的一个优选实施方式，计算器件还用于：计算回转轴中心与主轴中心在Z轴上的距离，其中，回转轴中心与主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示回转轴中心与主轴中心在Z轴上的距离，d表示工件测头的长度，R表示回转轴的半径。

回转轴圆心在Z轴坐标值为:Z0＝z3-H2；

回转轴圆心在X轴坐标值为:X0＝x1-H1。

实施例3

本发明的实施例还提供了一种存储介质，该存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。

可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

S1，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；

S2，通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；

S3，通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

将回转台旋转至0度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；将回转台旋转至180度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；将回转台旋转至90度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

确定回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离，其中，回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

确定所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。回转轴圆心在Z轴坐标值为:Z0＝z3-H2；回转轴圆心在X轴坐标值为:X0＝x1-H1。

可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。

本发明的实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：

S1，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，校准装置的上端面为圆形，校准装置垂直安装于回转台，回转台的中心设置回转轴，回转台在回转轴的驱动下进行旋转，工件测头安装于机床的主轴中心，工件测头的长度方向平行于回转台的上表面；

S2，通过测量操作获取校准装置上端面的圆心在机床坐标系中的坐标；

S3，通过获取的校准装置上端面的圆心的坐标，确定回转轴的中心位置。

可选地，处理器还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

将回转台旋转至0度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；将回转台旋转至180度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；将回转台旋转至90度位置，获取校准装置的圆心在机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

可选地，处理器还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

确定回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离，其中，回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示回转轴中心与主轴中心在X轴上的距离。

可选地，处理器还被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序：

确定所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (11)

1.一种回转轴中心位置的确定方法，其特征在于，包括：

利用工件测头对校准装置的上端面进行测量，其中，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面；

通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标；

通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用工件测头对校准装置的上端面进行测量之前，所述方法还包括：

将所述校准装置垂直安装于所述回转台；

通过千分表校正所述校准装置的垂直度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述测量操作获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标包括：

将所述回转台旋转至0度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；

将所述回转台旋转至180度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；

将所述回转台旋转至90度位置，获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置包括：

确定所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，通过所述校准装置上端面的圆心的坐标确定所述回转轴的中心位置还包括：

确定所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

6.一种回转轴中心位置的确定设备，其特征在于，包括工件测头和校准装置，所述校准装置的上端面为圆形，所述校准装置垂直安装于回转台，所述回转台的中心设置回转轴，所述回转台在所述回转轴的驱动下进行旋转，所述工件测头安装于机床的主轴中心，所述工件测头的长度方向平行于所述回转台的上表面，其中，

所述工件测头用于对校准装置的上端面进行测量，使得可以获取所述校准装置上端面的圆心在所述机床坐标系中的坐标，并通过获取的所述校准装置上端面的圆心的坐标，确定所述回转轴的中心位置。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述设备还包括读数器件，用于：

当所述回转台旋转至0度位置时，读取并记录所述校准装置的圆心在所述机床中的第一坐标位置A(x1,y1,z1)；

当所述回转台旋转至180度位置时，读取并记录所述校准装置的圆心在所述机床中的第二坐标位置B(x2,y2,z2)；

当所述回转台旋转至90度位置，读取并记录获取所述校准装置的圆心在所述机床中的第三坐标位置C(x3,y3,z3)。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述设备还包括计算器件，用于：

计算所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离通过以下公式获得：H1＝(X1+X2)/2，其中，H1表示所述回转轴中心与所述主轴中心在X轴上的距离。

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述计算器件还用于：

计算所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，其中，所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离通过以下公式获得：H2＝d-|(|X1|-|H1|)|-R，其中，H2表示所述回转轴中心与所述主轴中心在Z轴上的距离，d表示所述工件测头的长度，R表示所述回转轴的半径。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至5任一项中所述的方法。

11.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至5任一项中所述的方法。