CN109374940A - 铜排型导线的电流测量方法及装置 - Google Patents

铜排型导线的电流测量方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了铜排型导线的电流测量方法及装置,其中一种方法包括:贴近待测铜排型导线的表面设置至少一个磁传感单元,且所述至少一个磁传感单元的位置与所述待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述磁传感单元的磁敏感方向与所述长边的延伸方向平行;获取所述至少一个磁传感单元的输出值;根据所述至少一个磁传感单元的输出值获取所述待测铜排型导线的电流。本发明实施例所提供的铜排型导线的电流测量方法及装置,其测量值受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。

Description

铜排型导线的电流测量方法及装置
技术领域
本发明涉及电流传感器技术领域,具体涉及铜排型导线的电流测量方法及装置。
背景技术
如图1A所示,铜排型导线是一种纵向截面(即与电流流向垂直的截面)为矩形或圆角矩形的扁平状的电连接件,本申请中的铜排型导线不限于采用铜材质,也可以是其他材质。铜排型导线的单根通流面积较大因而动稳定性和热稳定性都比电缆好,因此广泛用于高低压电器、开关触头、配电设备、母线槽等电器工程,也广泛用于金属冶炼、电化电镀、化工烧碱等超大电流电解冶炼工程。通常,电流负荷达到或超过250A的时候便会采用铜排型导线来导入或导出电流。
现有电流测量装置往往只适用于圆形截面(如钢芯铝绞线)的电流测量,而由于铜排型导线存在形状特殊、负荷电流较大、感应磁场分布不规律(有的位置磁感应强度特别弱,难以观测)的特点,传统的电流测量设备往往无法对其电流准确测量,尤其是当铜排型导线内部通以不同频率的电流时。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了铜排型导线的电流测量方法及装置,以解决当铜排型导线内部通以不同频率的电流时,现有方法无法准确测量其电流的问题。
根据第一方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量方法,包括:贴近待测铜排型导线的表面设置至少一个磁传感单元,且所述至少一个磁传感单元的位置与所述待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述磁传感单元的磁敏感方向与所述长边的延伸方向平行;获取所述至少一个磁传感单元的输出值;根据所述至少一个磁传感单元的输出值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第二方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量方法,包括:贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻,所述第一磁电阻、所述第二磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端;获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值;根据所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第三方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量方法,包括:贴近待测铜排型导线的表面设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,所述第一磁电阻、所述第四磁电阻设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,所述第二磁电阻、所述第三磁电阻设置在所述纵向截面形状的另一个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻与所述纵向截面形状的同一短边的距离均为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与所述长边的延伸方向平行;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联,串联后的两端连接所述电源两端;获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第四方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量方法,包括:贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且所述第一支路和所述第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反;获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第五方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量方法,包括:贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;所述第一支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的一个短边设置,所述第二支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反;获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第六方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,包括:至少一个磁传感单元,贴近待测铜排型导线的表面设置,且所述至少一个磁传感单元的位置与所述待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述磁传感单元的磁敏感方向与所述长边的延伸方向平行;信号处理模块,用于获取所述至少一个磁传感单元的输出值,并根据所述至少一个磁传感单元的输出值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第七方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,包括:第一磁电阻、第二磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且分别设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的两个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端;信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值,并根据所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第八方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,包括:第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,其中,所述第一磁电阻、所述第四磁电阻设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,所述第二磁电阻、所述第三磁电阻设置在所述纵向截面形状的另一个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻与所述纵向截面形状的同一短边的距离均为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与所述长边的延伸方向平行;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联,串联后的两端连接所述电源两端;信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值,并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第九方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,包括:第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且所述第一支路和所述第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反;信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值,并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
根据第十方面,本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,包括:第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;所述第一支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的一个短边设置,所述第二支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反;信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
本发明实施例所提供的铜排型导线的电流测量方法及装置,其测量值受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。
附图说明
通过参考附图会更加清楚的理解本发明的特征和优点,附图是示意性的而不应理解为对本发明进行任何限制,在附图中:
图1A示出了铜排型导线的结构示意图;
图1B示出了通电的铜排型导线周围的磁场分布示意图;
图2A示出了发明人研究过程中磁传感单元放置位置的示意图;
图2B示出了磁传感单元放置在不同位置时,测量结果随电流频率变化的曲线图;
图2C示出了磁传感单元的位置与待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离示意图;
图2D示出了当待测铜排型导线的纵向截面形状为圆角矩形时,确定纵向截面形状的长边长度和短边的方法示意图;
图3A示出了根据本发明实施例的一种铜排型导线的电流测量方法的流程图;
图3B至图3F示出了根据本发明实施例的磁传感单元的放置位置示意图;
图4A示出了根据本发明实施例的另一种铜排型导线的电流测量方法的流程图;
图4B至图4D示出了根据本发明实施例的磁传感单元的放置位置示意图;
图4E示出了图4B至图4D所示两个磁电阻的电连接关系;
图4F示出了适用于图4E的一种运算放大器的电连接关系示意图;
图5A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图;
图5B示出了根据本发明实施例的磁传感单元的放置位置示意图;
图5C示出了图5B所示四个磁电阻的电连接关系;
图5D示出了适用于图5C的一种运算放大器的电连接关系示意图;
图6A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图;
图6B至图6D示出了根据本发明实施例的磁传感单元的放置位置示意图;
图6E示出了图6B至图6D所示四个磁电阻的电连接关系;
图6F示出了适用于图6E的一种运算放大器的电连接关系示意图;
图7A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图;
图7B和图7C示出了根据本发明实施例的磁传感单元的放置位置示意图;
图7D示出了图7B和图7C所示四个磁电阻的电连接关系示意图;
图7E示出了适用于图7D的一种运算放大器的电连接关系示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
通电的铜排型导线周围的磁场分布如图1B所示,其中A表示通电的铜排型导线的纵向截面,虚线表示磁感线。发明人发现,贴近待测铜排型导线的表面,且沿待测铜排型导线纵向截面形状的长边方向上,将磁传感单元从长边的中部位置向长边的边缘位置挪动(如图2A所示,从中线QQ’处的位置1依次向外挪动至位置2、3、4、5),则当待测铜排型导线内部流通的电流频率在100Hz之内时,通过不同位置处的磁传感单元所测得的电流值相差不大;然而,当待测铜排型导线内部流通的电流频率大于100Hz时,通过不同位置处的磁传感单元所测得的电流值相差较大。
基于该发现,发明人大胆猜想:当待测铜排型导线内部流通的电流频率大于100Hz的范围内变化时,磁传感单元放置在不同位置处所测得的电流值曲线差异较大。对此,发明人进行了实验验证,具体方法为:使磁传感单元放置在某一固定位置时,依次增大待测铜排型导线内所流通电流的频率,同时记录测量结果;然后挪动磁传感单元的位置,再执行同样的操作……最后,以待测铜排型导线通以1Hz电流时的测量值作为基准值,将所有测量结果除以该基准值得到归一化后的测量结果。实验验证结果如图2B所示,其中曲线1、2、3、4、5分别与图2A中磁传感单元的放置位置1、2、3、4、5对应。从图2B中可以看出,发明人的猜想得到了较好的验证。
基于本领域的公知常识,在设置电流传感器时,通常不希望测量结果随频率增大而有衰减,但是可以接受测量结果随频率增大有一定范围之内的冲高。基于该公知常识,可以看出图2B中的曲线4较为符合电流传感器的设计要求。
对此,发明人针对曲线4所对应的位置4准确位置进行了研究。研究发现,当磁传感单元的位置与待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离(如图2C中所示的距离d)为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7时,均能够得到符合电流传感器设计要求的曲线(符合电流传感器设计要求的曲线,即:测量结果随频率增大而没有衰减,测量结果随频率增大可有一定范围之内的冲高),且随着频率增大测量结果变化不大,即具有良好的频率特性。
基于上述研究结果,发明人提出了本申请所述的铜排型导线的电流测量方法及装置,下面将详细介绍本申请方案。
需要提前说明的是,当待测铜排型导线的纵向截面形状为圆角矩形时,可以根据图2D所示的方法来确定纵向截面形状的长边长度a和短边B(即图2D中的粗虚线)。
另外,需要提前说明的是,本申请中的磁敏感方向为方向矢量,既包括“当该方向的磁场增大时,磁敏元件的正输出值增大的方向(也称正磁敏感方向)”,也包括“当该方向的磁场增大时,磁敏元件的正输出值减小的方向(也称负磁敏感方向)”。
本申请中还约定:当仅提及磁敏感方向时,该磁敏感方向既包括正磁敏感方向,又包括负磁敏感方向,对正、负方向不做区分;而当提及磁敏感方向相同、相反时,区分正磁敏感方向、负磁敏感方向,也即“磁敏感方向相同”是指磁敏感方向均为正磁敏感方向或均为负磁敏感方向,“磁敏感方向相反”是指一者为正磁敏感方向、另一者为负磁敏感方向。
实施例一
图3A示出了根据本发明实施例的一种铜排型导线的电流测量方法的流程图。如图3A所示,该方法包括如下步骤:
S101:贴近待测铜排型导线的表面设置至少一个磁传感单元,且至少一个磁传感单元的位置与待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;磁传感单元的磁敏感方向与长边的延伸方向平行。
可以如图3B所示,设置一个磁传感单元X;也可以如图3C所示,在纵向截面形状一个长边的两侧分别设置磁传感单元X、Y;也可以如图3D和图3E所示,在纵向截面形状的两个长边上分别设置磁传感单元X、Y;还可以如图3F所示,在纵向截面形状的一个长边两侧分别设置磁传感单元X1、X2,在另一个长边两侧分别设置磁传感单元Y1、Y2。在上述设置方式中,任意磁传感单元的位置与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7,磁传感单元的磁敏感方向与长边的延伸方向平行(如图3B至3F中X或Y中的箭头所示)。
上述范围1/5~1/7具体包括数值1/5、1/6、1/7。
本申请中的磁传感单元可以为单个的磁电阻,也可以是多个磁电阻,也可以为霍尔传感器、或者与霍尔传感器类似的能够感测磁感应强度的单元。
S102:获取至少一个磁传感单元的输出值。
S103:根据至少一个磁传感单元的输出值获取待测铜排型导线的电流。
步骤S103可以是根据一个磁传感单元的输出值进行放大和/或线性补偿得到测量结果,也可以是将两个磁传感单元的输出值求差值,再进行放大和/或线性补偿得到测量结果,也可以通过两个以上磁传感单元的输出值做其他运算或处理得到测量结果,本申请对于由磁传感单元的输出值到测量结果的具体处理步骤不做限定。
根据发明人的研究结果,步骤S101中磁传感单元的设置位置能够得到符合电流传感器设计要求的曲线,且使得:随着频率增大测量结果变化不大,即具有良好的频率特性。因此,上述铜排型导线的电流测量方法受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。
实施例二
图4A示出了根据本发明实施例的另一种铜排型导线的电流测量方法的流程图。如图4A所示,该方法包括如下步骤:
S201:贴近待测铜排型导线的表面、且在待测铜排型导线纵向截面形状的长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻,第一磁电阻、第二磁电阻与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;第一磁电阻和第二磁电阻的磁敏感方向均与长边的延伸方向平行;第一磁电阻和第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端。
如图4B所示,可以在待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边的两侧分别设置第一磁电阻R1、第二磁电阻R2,此时设置第一磁电阻R1和第二磁电阻R2的磁敏感方向相反。也可以在待测铜排型导线纵向截面形状的两个长边上分别设置第一磁电阻R1、第二磁电阻R2,这两个磁电阻可以位于长边的同一侧(如图4C所示),也可以位于长边的不同侧(如图4D所示),此时设置第一磁电阻R1和第二磁电阻R2的磁敏感方向相同。图4E示出了第一磁电阻R1和第二磁电阻R2的电连接关系。
上述范围1/5~1/7具体包括数值1/5、1/6、1/7。
S202:获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的电压值。即获取如图4E中所示的电压Vo。
S203:根据第一磁电阻和第二磁电阻之间的电压值获取待测铜排型导线的电流。
上述铜排型导线的电流测量方法受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例一。
上述步骤S202和S203可以采用运算放大器及其外围电路来执行,如图4F所示,其中Vo为待测铜排型导线通电时第一磁电阻R1和第二磁电阻R2之间的电压。上述步骤S202和S203也可以采用包括处理器芯片的模块来执行,或者也可以是其他电子电路来执行,本申请不做限定。
实施例三
图5A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图。如图5A所示,该方法包括如下步骤:
S301:贴近待测铜排型导线的表面设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,第一磁电阻、第四磁电阻设置在待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,第二磁电阻、第三磁电阻设置在纵向截面形状的另一个长边上;第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻与纵向截面形状的同一短边的距离均为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与长边的延伸方向平行;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;第一磁电阻和第二磁电阻串联形成第一支路,第一支路的两端连接电源两端,第三磁电阻和第四磁电阻串联形成第二支路,第二支路的两端连接电源两端,其中第一支路和第二支路中连接同一电源端的两个磁电阻的磁敏感方向相同。
如图5B所示,第一磁电阻R1、第四磁电阻R4位于纵向截面形状的上方长边上,第二磁电阻R2、第三磁电阻R3位于纵向截面形状的下方长边上;这四个磁电阻距离纵向截面形状的右侧短边的距离均为纵向截面形状的长边长边长度的1/5~1/7;且这四个磁电阻的磁敏感方向都与长边的延伸方向平行,且方向相同。图5C示出了四个磁电阻的电连接关系。
上述范围1/5~1/7具体包括数值1/5、1/6、1/7。
S302:获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的第一电压值,并获取第三磁电阻和第四磁电阻之间的第二电压值。即获取如图5C中所示的第一电压值V-、第二电压值V+。
S303:根据第一电压值和第二电压值的差值获取待测铜排型导线的电流。
上述铜排型导线的电流测量方法受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例一。
上述步骤S302和S303可以采用运算放大器及其外围电路来执行,如图5D所示,其中,V-为第一磁电阻R1和第二磁电阻R2之间的第一电压,V+为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4之间的第二电压。上述步骤S302和S303也可以采用包括处理器芯片的模块来执行,或者也可以是其他电子电路来执行,本申请不做限定。
实施例四
图6A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图。如图6A所示,该方法包括如下步骤:
S401:贴近待测铜排型导线的表面、且在待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;第一磁电阻和第二磁电阻串联形成第一支路,第一支路的两端连接电源两端,第三磁电阻和第四磁电阻串联形成第二支路,第二支路的两端连接电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与长边的延伸方向平行,且第一支路和第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反。
例如,如图6B所示,第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4可以设置在同一个长边上,每个磁电阻与纵向截面的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7。图6E示出了四个磁电阻的电连接关系。图6E所示的两个支路中,第一支路中的第一磁电阻R1与第二磁电阻R2的磁敏感方向相反(因为第一磁电阻R1和第二磁电阻R2所在位置处的磁场方向相同),且二者分别位于所长边的两端;第二支路中的第三磁电阻R3与第四磁电阻R4的磁敏感方向相反(因为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4所在位置处的磁场方向相同),且二者分别位于长边的两端。
如图6C所示,第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4也可以设置在两个长边上。其中,第一磁电阻R1、第二磁电阻R2设置在纵向截面形状的一个长边(如上方长边)上,第三磁电阻R3、第四磁电阻R4设置在纵向截面形状的另一个长边(如下方长边)上。图6E示出了四个磁电阻的电连接关系。当按照图6C所示位置部署磁电阻时,图6E所示每个支路的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,另一者位于长边的另一端(即二者分别位于长边的两端)。
如图6D所示,第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4也可以设置在两个长边上。其中,第一磁电阻R1、第四磁电阻R4设置在纵向截面形状的一个长边(如上方长边)上,第二磁电阻R2、第三磁电阻R3设置在纵向截面形状的另一个长边(如下方长边)上。图6E示出了四个磁电阻的电连接关系。当按照图6D所示位置部署磁电阻时,图6E所示每个支路的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,另一者位于长边的另一端(即二者分别位于长边的两端)。
当图6E所示的两个支路按照图6C所示位置部署时,第一支路中的第一磁电阻R1与第二磁电阻R2的磁敏感方向相反(第一磁电阻R1和第二磁电阻R2所在位置处的磁场方向相同),第二支路中的第三磁电阻R3与第四磁电阻R4的磁敏感方向相反(因为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4所在位置处的磁场方向相同)。当图6E所示的两个支路按照图6D所示位置部署时,第一支路中的第一磁电阻R1与第二磁电阻R2的磁敏感方向相同(第一磁电阻R1和第二磁电阻R2所在位置处的磁场方向相反),第二支路中的第三磁电阻R3与第四磁电阻R4的磁敏感方向相同(因为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4所在位置处的磁场方向相反)。
上述范围1/5~1/7具体包括数值1/5、1/6、1/7。
402:获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的第一电压值,并获取第三磁电阻和第四磁电阻之间的第二电压值。即获取如图6E中所示的第一电压值V-、第二电压值V+。
S403:根据第一电压值和第二电压值的差值获取待测铜排型导线的电流。
上述铜排型导线的电流测量方法受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例一。
上述步骤S402和S403可以采用运算放大器及其外围电路来执行,如图6F所示,其中,V-为第一磁电阻R1和第二磁电阻R2之间的第一电压,V+为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4之间的第二电压。上述步骤S402和S403也可以采用包括处理器芯片的模块来执行,或者也可以是其他电子电路来执行,本申请不做限定。
实施例五
图7A示出了根据本发明实施例的又一种铜排型导线的电流测量方法的流程图。如图7A所示,该方法包括如下步骤:
S501:贴近待测铜排型导线的表面、且在待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;第一磁电阻和第二磁电阻串联形成第一支路,第一支路的两端连接电源两端,第三磁电阻和第四磁电阻串联形成第二支路,第二支路的两端连接电源两端;第一支路的两个磁电阻均靠近纵向截面形状的一个短边设置,第二支路的两个磁电阻均靠近纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反。
参见图7B和图7C,图7D所示的两个支路中,第一支路的第一磁电阻R1与第二磁电阻R2均靠近纵向截面形状的左侧短边设置,第二支路的第三磁电阻R3和第四磁电阻R4均靠近纵向截面形状的右侧短边设置;每个支路的两个磁电阻的磁敏感方向相同(因为每个支路的两个磁电阻所在位置处的磁场方向相反)。
上述范围1/5~1/7具体包括数值1/5、1/6、1/7。
S502:获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的第一电压值,并获取第三磁电阻和第四磁电阻之间的第二电压值。
S503:根据第一电压值和第二电压值的差值获取待测铜排型导线的电流。
上述铜排型导线的电流测量方法受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例一。
上述步骤S502和S503可以采用运算放大器及其外围电路来执行,如图7E所示,其中,V-为第一磁电阻R1和第二磁电阻R2之间的第一电压,V+为第三磁电阻R3和第四磁电阻R4之间的第二电压。上述步骤S502和S503也可以采用包括处理器芯片的模块来执行,或者也可以是其他电子电路来执行,本申请不做限定。
实施例六
本发明实施例提供了一种铜排型导线的电流测量装置,可以用于执行实施例一或者其任意一种可选实施方式所述的方法。该装置包括至少一个磁传感单元和信号处理模块。
至少一个磁传感单元,贴近待测铜排型导线的表面设置,且至少一个磁传感单元的位置与待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;磁传感单元的磁敏感方向与长边的延伸方向平行。
本申请中的磁传感单元可以为单个的磁电阻,也可以是多个磁电阻,也可以为霍尔传感器、或者与霍尔传感器类似的能够感测磁感应强度的单元。
信号处理模块,用于获取至少一个磁传感单元的输出值,并根据至少一个磁传感单元的输出值获取待测铜排型导线的电流。
该信号处理模块可以是包括处理器芯片的模块,也可以是运算放大器及其外围电路,或者也可以是其他电子电路,本申请不做限定。
上述铜排型导线的电流测量装置受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例一。
可选地,通过固定装置设置磁传感单元与待测铜排型导线之间的位置关系,信号处理模块可以独立于该固定装置设置,也可以设置在该固定装置上。当信号处理模块设置在固定装置上时,固定装置上设置有PCB板,在PCB板上设置磁传感单元以及信号处理模块,测量时,只需要将PCB上的磁传感器单元放置在预定位置即可。
实施例七
本发明实施例提供了另一种铜排型导线的电流测量装置,可以用于执行实施例二或者其任意一种可选实施方式所述的方法。该装置包括第一磁电阻、第二磁电阻和信号处理模块。
第一磁电阻、第二磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且分别设置在待测铜排型导线纵向截面形状的两个长边上;第一磁电阻、第二磁电阻与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;第一磁电阻和第二磁电阻的磁敏感方向均与长边的延伸方向平行;第一磁电阻和第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端;
信号处理模块,用于获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的电压值,并根据第一磁电阻和第二磁电阻之间的电压值获取待测铜排型导线的电流。
该信号处理模块可以是包括处理器芯片的模块,也可以是运算放大器及其外围电路,或者也可以是其他电子电路,本申请不做限定。可选地,信号处理模块可以包括如图4F所示的运算放大器,图4F中的Vo为输入端,Vout为输出端。
上述铜排型导线的电流测量装置受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例二。
可选地,通过固定装置设置磁电阻与待测铜排型导线之间的位置关系,信号处理模块可以独立于该固定装置设置,也可以设置在该固定装置上。当信号处理模块设置在固定装置上时,固定装置上设置有PCB板,在PCB板上设置磁电阻以及信号处理模块,测量时,只需要将PCB上的磁传感器单元放置在预定位置即可。
实施例八
本发明实施例提供了又一种铜排型导线的电流测量装置,可以用于执行实施例三或者其任意一种可选实施方式所述的方法。该装置包括第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻和信号处理模块。
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,其中,第一磁电阻、第四磁电阻设置在待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,第二磁电阻、第三磁电阻设置在纵向截面形状的另一个长边上;第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻与纵向截面形状的同一短边的距离均为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与长边的延伸方向平行;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;第一磁电阻和第二磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端,第三磁电阻和第四磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端;
信号处理模块,用于获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的第一电压值,并获取第三磁电阻和第四磁电阻之间的第二电压值,并根据第一电压值和第二电压值的差值获取待测铜排型导线的电流。
该信号处理模块可以是包括处理器芯片的模块,也可以是运算放大器及其外围电路,或者也可以是其他电子电路,本申请不做限定。可选地,信号处理模块可以是如图5D所示的运算放大器,图5D中的V+为第一输入端,V-为第二输入端,Vout为输出端。
上述铜排型导线的电流测量装置受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例三。
可选地,通过固定装置设置磁电阻与待测铜排型导线之间的位置关系,信号处理模块可以独立于该固定装置设置,也可以设置在该固定装置上。当信号处理模块设置在固定装置上时,固定装置上设置有PCB板,在PCB板上设置磁电阻以及信号处理模块,测量时,只需要将PCB上的磁传感器单元放置在预定位置即可。
实施例九
本发明实施例提供了又一种铜排型导线的电流测量装置,可以用于执行实施例四或者其任意一种可选实施方式所述的方法。该装置包括第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻和信号处理模块。
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与纵向截面形状的短边的距离为纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;第一磁电阻和第二磁电阻串联形成第一支路,第一支路的两端连接电源两端;第三磁电阻和第四磁电阻串联形成第二支路,第二支路的两端连接电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与长边的延伸方向平行,且第一支路和第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反。
信号处理模块,用于获取第一磁电阻和第二磁电阻之间的第一电压值,并获取第三磁电阻和第四磁电阻之间的第二电压值,并根据第一电压值和第二电压值的差值获取待测铜排型导线的电流。
该信号处理模块可以是包括处理器芯片的模块,也可以是运算放大器及其外围电路,或者也可以是其他电子电路,本申请不做限定。可选地,信号处理模块可以是如图6F所示的运算放大器,图6F中的V+为第一输入端,V-为第二输入端,Vout为输出端。
上述铜排型导线的电流测量装置受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例四。
可选地,通过固定装置设置磁电阻与待测铜排型导线之间的位置关系,信号处理模块可以独立于该固定装置设置,也可以设置在该固定装置上。当信号处理模块设置在固定装置上时,固定装置上设置有PCB板,在PCB板上设置磁电阻以及信号处理模块,测量时,只需要将PCB上的磁传感器单元放置在预定位置即可。
实施例十
本发明实施例提供了又一种铜排型导线的电流测量装置,可以用于执行实施例五或者其任意一种可选实施方式所述的方法。该装置包括第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻和信号处理模块。
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;所述第一支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的一个短边设置,所述第二支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反。
信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
该信号处理模块可以是包括处理器芯片的模块,也可以是运算放大器及其外围电路,或者也可以是其他电子电路,本申请不做限定。可选地,信号处理模块可以是如图7E所示的运算放大器,图7E中的V+为第一输入端,V-为第二输入端,Vout为输出端。
上述铜排型导线的电流测量装置受电流频率的影响较小,即使待测铜排型导线内部通以不同频率的电流,也能够较为准确地输出测量结果。具体请参见实施例五。
虽然结合附图描述了本发明的实施例,但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型,这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。

Claims (10)

1.一种铜排型导线的电流测量方法,其特征在于,包括:
贴近待测铜排型导线的表面设置至少一个磁传感单元,且所述至少一个磁传感单元的位置与所述待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述磁传感单元的磁敏感方向与所述长边的延伸方向平行;
获取所述至少一个磁传感单元的输出值;
根据所述至少一个磁传感单元的输出值获取所述待测铜排型导线的电流。
2.一种铜排型导线的电流测量方法,其特征在于,包括:
贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻,所述第一磁电阻、所述第二磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端;
获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值;
根据所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值获取所述待测铜排型导线的电流。
3.一种铜排型导线的电流测量方法,其特征在于,包括:
贴近待测铜排型导线的表面设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,所述第一磁电阻、所述第四磁电阻设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,所述第二磁电阻、所述第三磁电阻设置在所述纵向截面形状的另一个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻与所述纵向截面形状的同一短边的距离均为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与所述长边的延伸方向平行;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联,串联后的两端连接所述电源两端;
获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;
根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
4.一种铜排型导线的电流测量方法,其特征在于,包括:
贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且所述第一支路和所述第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反;
获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;
根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
5.一种铜排型导线的电流测量方法,其特征在于,包括:
贴近待测铜排型导线的表面、且在所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上设置第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;所述第一支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的一个短边设置,所述第二支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反;
获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;
根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
6.一种铜排型导线的电流测量装置,其特征在于,包括:
至少一个磁传感单元,贴近待测铜排型导线的表面设置,且所述至少一个磁传感单元的位置与所述待测铜排型导线纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述磁传感单元的磁敏感方向与所述长边的延伸方向平行;
信号处理模块,用于获取所述至少一个磁传感单元的输出值,并根据所述至少一个磁传感单元的输出值获取所述待测铜排型导线的电流。
7.一种铜排型导线的电流测量装置,其特征在于,包括:
第一磁电阻、第二磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且分别设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的两个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端分别连接电源两端;
信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值,并根据所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的电压值获取所述待测铜排型导线的电流。
8.一种铜排型导线的电流测量装置,其特征在于,包括:
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,其中,所述第一磁电阻、所述第四磁电阻设置在所述待测铜排型导线纵向截面形状的一个长边上,所述第二磁电阻、所述第三磁电阻设置在所述纵向截面形状的另一个长边上;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻与所述纵向截面形状的同一短边的距离均为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述第一磁电阻、所述第二磁电阻、所述第三磁电阻、所述第四磁电阻的磁敏感方向相同,且与所述长边的延伸方向平行;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联,串联后的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联,串联后的两端连接所述电源两端;
信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值,并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
9.一种铜排型导线的电流测量装置,其特征在于,包括:
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且所述第一支路和所述第二支路中的两个磁电阻中,一者位于长边的一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相同,另一者位于长边的另一端,磁敏感方向与所在位置处的磁场方向相反;
信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值,并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
10.一种铜排型导线的电流测量装置,其特征在于,包括:
第一磁电阻、第二磁电阻、第三磁电阻、第四磁电阻,贴近待测铜排型导线的表面设置,且位于所述待测铜排型导线纵向截面形状的至少一个长边上,其中,每个磁电阻与所述纵向截面形状的短边的距离为所述纵向截面形状的长边长度的1/5~1/7;所述待测铜排型导线的纵向截面形状为矩形或圆角矩形;所述第一磁电阻和所述第二磁电阻串联形成第一支路,所述第一支路的两端连接电源两端,所述第三磁电阻和所述第四磁电阻串联形成第二支路,所述第二支路的两端连接所述电源两端;所述第一支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的一个短边设置,所述第二支路的两个磁电阻均靠近所述纵向截面形状的另一个短边设置;每个磁电阻的磁敏感方向均与所述长边的延伸方向平行,且每个支路的两个磁电阻中,一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相同,另一者的磁敏感方向与所在位置处的磁敏感方向相反;
信号处理模块,用于获取所述第一磁电阻和所述第二磁电阻之间的第一电压值,并获取所述第三磁电阻和所述第四磁电阻之间的第二电压值;并根据所述第一电压值和所述第二电压值的差值获取所述待测铜排型导线的电流。
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