CN109345991A - 显示驱动方法、显示驱动装置和显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种显示驱动方法、显示驱动装置和显示装置，其中，显示驱动方法包括以下步骤：时序控制器读取存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码；时序控制器根据接收到的外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件中；电源组件根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据；其中，存储器独立于电源组件设置。本申请技术方案有助于降低显示装置的测试成本。

Description

显示驱动方法、显示驱动装置和显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种显示驱动方法、显示驱动装置和显示装置。

背景技术

随着显示装置应用的推广，对其可靠性的要求也相应提高。在显示装置出厂前，有必要对其进行测试，从而及时筛选出不良品，保障用户的使用体验。在测试过程中，往往需要在测试数据控制下，使显示装置显示测试画面其中，测试数据可能不同于显示装置正常运行时的工作数据，具体包括扫描高电平VGH、扫描低电平VGL、器件(例如薄膜晶体管等)工作电平VDD等的不同。因此，在显示装置的电源组件中需要设置非易失性存储器(Non-volatile memory，NVM)以存储测试数据和工作数据，并在高压开关的控制下分别在测试情形和正常运行情形下输出所需的测试数据或工作数据，相应的，在电源组件中需要为高压开关设置引脚等，导致显示装置中电源组件的结构复杂，物料成本和封装成本上升，进而导致显示装置的测试成本上升。

发明内容

本申请的主要目的是提出一种显示驱动方法，旨在解决显示装置中电源组件的结构复杂的技术问题，降低显示装置的测试成本。

为实现上述目的，本申请提出的显示驱动方法，包括以下步骤：

时序控制器读取存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码；

所述时序控制器根据接收到的外部控制信号，输出所述工作数据代码或所述测试数据代码至电源组件中；

所述电源组件根据所述工作数据代码输出工作数据，或根据所述测试数据代码输出测试数据；

其中，所述存储器独立于所述电源组件设置。

可选地，所述显示驱动方法还包括以下步骤：

所述时序控制器读取所述存储器中存储的时序控制代码；

所述时序控制器根据所述时序控制代码控制显示时序。

可选地，所述工作数据代码和所述测试数据代码在所述存储器中的存储位置位于所述时序控制代码在所述存储器中的存储位置之后，以使所述时序控制器先读取到所述时序控制代码，后读取到所述工作数据代码和所述测试数据代码。

可选地，所述时序控制器与所述电源组件之间根据集成电路总线协议通信，且所述时序控制器作为通信主设备，所述电源组件作为通信从设备。

可选地，所述测试数据的绝对值大于相应的所述工作数据的绝对值。

为实现上述目的，本申请还提出一种显示驱动装置，所述显示驱动装置包括存储器，时序控制器和电源组件，所述存储器中存储有工作数据代码和测试数据代码；所述时序控制器与所述存储器电连接，所述时序控制器用以读取所述存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码，并根据接收到的外部控制信号，输出所述工作数据代码或所述测试数据代码至所述电源组件中；所述电源组件与所述存储器和所述时序控制器电连接，所述电源组件用以根据所述工作数据代码输出工作数据，或根据所述测试数据代码输出测试数据；其中，所述存储器独立于所述电源组件设置。

可选地，所述存储器中还存储有时序控制代码；所述时序控制器还用以根据所述时序控制代码控制显示时序。

可选地，所述工作数据代码和所述测试数据代码在所述存储器中的存储位置位于所述时序控制代码在所述存储器中的存储位置之后，以使所述时序控制器先读取到所述时序控制代码，后读取到所述工作数据代码和所述测试数据代码。

可选地，所述存储器包括带电可擦可编程读写存储器。

为实现上述目的，本申请进一步提出一种显示装置，所述显示装置包括显示面板和显示驱动装置，所述显示驱动装置与所述显示面板电连接，所述显示驱动装置包括存储器，时序控制器(Timer Control Register，TCON)和电源组件，所述存储器中存储有工作数据代码和测试数据代码；所述时序控制器与所述存储器电连接，所述时序控制器用以读取所述存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码，并根据接收到的外部控制信号，输出所述工作数据代码或所述测试数据代码至所述电源组件中；所述电源组件与所述存储器和所述时序控制器电连接，所述电源组件用以根据所述工作数据代码输出工作数据，或根据所述测试数据代码输出测试数据；其中，所述存储器独立于所述电源组件设置。

本申请技术方案中，显示驱动方法包括以下步骤：时序控制器读取存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码；时序控制器根据接收到的外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件中；电源组件根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据；其中，存储器独立于电源组件设置。在本申请中，通过将对应于显示装置正常运行的工作数据代码和对应于测试过程的测试数据代码存储在独立于电源组件设置的存储器中，避免了在电源组件中设置内置存储器的需求，实现了显示驱动装置中自带的存储器200的充分利用。进一步的，通过时序控制器读取工作数据代码和测试数据代码，并在外部控制信号的控制下输出相应的数据代码给电源组件：具体的，当显示装置处于正常运行状态时，在外部控制信号作用下时序控制器输出工作数据代码给电源组件，使电源组件根据工作数据代码输出工作数据；当显示装置处于测试状态时，在外部控制信号作用下时序控制器输出测试数据代码给电源组件，使电源组件根据测试数据代码输出测试数据。因此，无需通过高压开关切换工作数据和测试数据，而是直接根据工作数据代码或测试数据代码使电源组件输出相应的工作数据或测试数据，也就无需在电源组件中为高压开关设置相应的引脚等，简化了电源组件的结构，降低了电源组件的物料成本和封装成本，进而降低了显示装置的测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为一示例中显示驱动装置的结构示意图；

图2为本申请中显示驱动方法一实施例的流程示意图；

图3为本申请中显示驱动装置一实施例的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，若本申请实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

在本申请的一示例中，如图1所示，电源组件300’中设置有内置存储器310’，具体的，该内置存储器310’可以为NVM，其中存储有对应于显示装置正常运行状态的工作数据代码和对应于显示装置测试状态的测试数据代码。通常，工作数据代码和测试数据代码中包括了工作数据和测试数据的相关信息，工作数据具体包括显示装置正常运行时所需的扫描高电平VGH1、扫描低电平VGL1、器件工作电平VDD1等，测试数据具体包括测试显示装置时所需的扫描高电平VGH2、扫描低电平VGL2、器件工作电平VDD2等。在后文中，将以对显示装置进行老化测试的情形为例，对本申请的技术方案作具体阐述。在本示例中，时序控制器100’根据接收到的外部控制信号，也就是老化测试信号(Aging信号)确定电源组件300’的输出。Aging信号一般具有高电平和低电平，在后文中，以当Aging信号处于高电平时，对应于显示装置的老化测试状态；当Aging信号为低电平时，对应于显示装置的正常运行状态为例进行阐述，当然，实践中也可以根据需求设定Aging信号所对应的显示装置的状态。当Aging信号处于高电平时，时序控制器100’输出内置的老化画面(Aging Pattern)以对显示装置进行老化测试。同时，在老化测试过程中，为了进一步提高对不良显示装置的拦检率，电源组件300’根据Aging信号读取内置存储器310’中的测试数据代码，并在高压开关作用下输出测试数据，一般为绝对值相对工作数据较高的扫描高电平VGH2、扫描低电平VGL2、器件工作电平VDD2等，以加速器件的老化，得到更可靠的测试效果。而当Aging信号处于低电平时，时序控制器100’输出正常的显示画面。同时，电源组件300’根据Aging信号读取内置存储器310’中的工作数据代码，并在高压开关作用下输出工作数据，一般为绝对值相对测试数据较低的扫描高电平VGH1、扫描低电平VGL1、器件工作电平VDD1等，以延长显示装置的使用寿命。显然，在本示例中，电源组件300’内需设置内置存储器310’，且需要为高压开关预留相应的引脚，导致电源组件300’的物料成本和封装成本都较高。

本申请提出一种显示驱动方法，通过将工作数据代码和测试数据代码存储在显示驱动装置的存储器中，而不是电源组件内置的存储器中，并采用时序控制器控制电源组件的输出，简化了电源组件的结构，降低了物料成本和封装成本，进而降低了显示装置的测试成本。

在本申请的一实施例中，如图2和图3所示，该显示驱动方法包括以下步骤：

步骤S100、时序控制器100读取存储器200中存储的工作数据代码和测试数据代码；

步骤S200、时序控制器100根据接收到的外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件300中；

步骤S300、电源组件300根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据；

其中，存储器200独立于电源组件300设置。

具体的，存储器200是显示驱动装置本身所带有的，在存储器中200一般存储有驱动过程中所需的相关信息。通过将工作数据代码和测试数据代码存储在存储器200中，可以充分利用存储器200中的空间，从而省去电源组件300’中的内置存储器，简化了电源组件300的结构，降低了物料成本和封装成本，进而降低了显示装置的测试成本。在显示装置的运行过程中，通过时序控制器100控制电源组件300输出所需的工作数据或测试数据。具体的，在显示装置初始化完成后，即电源电压建立之后，时序控制器100读取存储器200中存储的工作数据代码和测试数据代码，一般存储在时序控制器100所携带的寄存器中，以待进一步的处理。时序控制器100根据外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件300中。在老化测试中，外部控制信号即上文所述的Aging信号，当Aging信号处于高电平时，时序控制器100输出测试数据代码至电源组件300中；当Aging信号处于低电平时，时序控制器100输出工作数据代码至电源组件300中。当电源组件300收到测试数据代码时，将直接输出相应的测试数据驱动显示装置，从而进行老化测试；当电源组件300收到工作数据代码时，将直接输出相应的工作数据驱动显示装置，从而实现正常的画面显示。由于电源组件300是在工作数据代码或测试数据代码的控制下直接生成相应的工作数据或测试数据的，无需通过高压开关实现工作数据或测试数据的切换，因此，在电源组件300中也就不必再为高压开关预留引脚等，简化了电源组件300的结构，降低了其物料成本和封装成本，进而降低了测试成本。

在本实施例中，显示驱动方法包括以下步骤：时序控制器100读取存储器200中存储的工作数据代码和测试数据代码；时序控制器100根据接收到的外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件300中；电源组件300根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据；其中，存储器200独立于电源组件300设置。在本申请中，通过将对应于显示装置正常运行的工作数据代码和对应于测试过程的测试数据代码存储在独立于电源组件300设置的存储器200中，避免了在电源组件300中设置内置存储器的需求，实现了显示驱动装置中自带的存储器200的充分利用。进一步的，通过时序控制器100读取工作数据代码和测试数据代码，并在外部控制信号的控制下输出相应的数据代码给电源组件：具体的，当显示装置处于正常运行状态时，在外部控制信号作用下时序控制器100输出工作数据代码给电源组件300，使电源组件300根据工作数据代码输出工作数据；当显示装置处于测试状态时，在外部控制信号作用下时序控制器100输出测试数据代码给电源组件300，使电源组件300根据测试数据代码输出测试数据。因此，无需通过高压开关切换工作数据和测试数据，而是直接根据工作数据代码或测试数据代码使电源组件输出相应的工作数据或测试数据，也就无需在电源组件300中为高压开关设置相应的引脚等，简化了电源组件300的结构，降低了电源组件300的物料成本和封装成本，进而降低了显示装置的测试成本。

特别的，在老化测试中，测试数据的绝对值大于相应的工作数据的绝对值，即|VGH2|>|VGH1|，|VGL2|>|VGL1|，|VDD2|>|VDD1|等，也就是使显示装置中的相关器件工作在更加极端的条件下，加速其老化过程，以实现较高拦检率的老化测试，提高测试的可靠性。

进一步的，显示驱动方法还包括以下步骤：

步骤S400、时序控制器100读取存储器200中存储的时序控制代码(TCON code)；

步骤S500、时序控制器100根据时序控制代码控制显示时序。

其中，时序控制代码可以和工作数据代码与测试数据代码被同步读取到时序控制器100的寄存器中，以待调用。当然，也可以根据需求先后读取到时序控制器100的寄存器中，在此不作限定。当时序控制器100读取到时序控制代码后，按照其所确定的设置驱动显示装置，以实现测试画面或待显示画面的显示。在一具体示例中，当显示装置初始化完成、即电源电压建立后，时序控制器100读取存储器200中的时序控制代码、工作数据代码和测试数据代码至寄存器中。当时序控制器100的相关设定正常建立后，正常输出时序控制代码。然后，根据外部控制信号将工作数据代码或测试数据代码写入至电源组件300中，而电源组件300根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据，以实现显示装置的正常运行或测试。

进一步的，在存储器200中，工作数据代码和测试数据代码在存储器200中的存储位置位于时序控制代码在存储器200中的存储位置之后，以使时序控制器100先读取到时序控制代码，后读取到工作数据代码和测试数据代码，满足时序控制器100运行过程中先输出时序控制代码，再输出工作数据代码或测试数据代码的需求，简化时序控制器100中的设置，具体如下表所示：

在本申请的上述实施例中，时序控制器100与电源组件300之间根据集成电路总线(Inter－Integrated Circuit，I²C)协议通信，且时序控制器100作为通信主设备，电源组件300作为通信从设备。由于时序控制器100相比电源组件300的功能扩展性更好，因此以其为通信主设备，也可以有效降低电源组件300的成本，充分利用时序控制器100的处理能力。

如图3所示，本申请还提出一种显示驱动装置，显示驱动装置包括存储器200，时序控制器100和电源组件300，存储器200中存储有工作数据代码和测试数据代码；时序控制器100与存储器200电连接，时序控制器100用以读取存储器200中存储的工作数据代码和测试数据代码，并根据接收到的外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件300中；电源组件300与存储器200和时序控制器100电连接，电源组件用以根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据；其中，存储器200独立于电源组件300设置。

具体的，存储器200是显示驱动装置本身所带有的，在存储器中200一般存储有驱动过程中所需的相关信息。通过将工作数据代码和测试数据代码存储在存储器200中，可以充分利用存储器200中的空间，从而省去电源组件300’中的内置存储器，简化了电源组件300的结构，降低了物料成本和封装成本，进而降低了显示装置的测试成本。在显示装置的运行过程中，通过时序控制器100来控制电源组件300输出所需的工作数据或测试数据。具体的，在显示装置初始化完成后，即电源电压建立之后，时序控制器100用以读取存储器200中存储的工作数据代码和测试数据代码，一般存储在时序控制器100所携带的寄存器中，以待进一步的处理。时序控制器100还用以根据外部控制信号，输出工作数据代码或测试数据代码至电源组件300中。在老化测试中，外部控制信号即上文所述的Aging信号，当Aging信号处于高电平时，时序控制器100输出测试数据代码至电源组件300中；当Aging信号处于低电平时，时序控制器100输出工作数据代码至电源组件300中。当电源组件300收到测试数据代码时，将直接输出相应的测试数据驱动显示装置，从而进行老化测试；当电源组件300收到工作数据代码时，将直接输出相应的工作数据驱动显示装置，从而实现正常的画面显示。由于电源组件300是在工作数据代码或测试数据代码的控制下直接生成相应的工作数据或测试数据的，无需通过高压开关实现工作数据或测试数据的切换，因此，在电源组件300中也就不必再为高压开关预留引脚等，简化了电源组件300的结构，降低了其物料成本和封装成本，进而降低了测试成本。

进一步的，存储器200包括带电可擦可编程读写存储器(Electrically ErasableProgrammable read only memory，EEPROM)。EEPROM是一种用户可更改的只读存储器，可以在电脑等专用设备上擦除已有信息，重新编程写入新的数据。其稳定性和安全性好，且适用范围灵活广泛，是应用在显示驱动装置中较为理想的一种存储器。

工作数据代码和测试数据代码在存储器200中的存储位置位于时序控制代码在存储器200中的存储位置之后，以使时序控制器100先读取到时序控制代码，后读取到工作数据代码和测试数据代码，满足时序控制器100运行过程中先输出时序控制代码，再输出工作数据代码或测试数据代码的需求，以简化时序控制器100的内部时序设置，具体如下表所示：

进一步的，存储器200中还存储有时序控制代码；时序控制器100还用以根据时序控制代码控制显示时序。

其中，时序控制代码可以和工作数据代码与测试数据代码被同步读取到时序控制器100的寄存器中，以待调用。当然，也可以根据需求先后读取到时序控制器100的寄存器中。当时序控制器100读取到时序控制代码后，按照其所确定的设置驱动显示装置，以实现测试画面或待显示画面的显示。在一具体示例中，当显示装置初始化完成、即电源电压建立后，时序控制器100读取存储器200中的时序控制代码、工作数据代码和测试数据代码至寄存器中。当时序控制器100的相关设定正常建立后，正常输出时序控制代码。然后，根据外部控制信号将工作数据代码或测试数据代码写入至电源组件300中，而电源组件300根据工作数据代码输出工作数据，或根据测试数据代码输出测试数据，以实现显示装置的正常运行或测试。

本申请还提出一种显示装置，显示装置包括显示面板和显示驱动装置，显示驱动装置与显示面板电连接，该显示驱动装置的的具体结构参照上述实施例，由于本显示装置采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。其中，该显示面板可以是液晶显示面板、发光二极管显示面板等。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示驱动方法，其特征在于，所述显示驱动方法包括以下步骤：

时序控制器读取存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码；

所述时序控制器根据接收到的外部控制信号，输出所述工作数据代码或所述测试数据代码至电源组件中；

所述电源组件根据所述工作数据代码输出工作数据，或根据所述测试数据代码输出测试数据；

其中，所述存储器独立于所述电源组件设置。

2.如权利要求1所述的显示驱动方法，其特征在于，所述显示驱动方法还包括以下步骤：

所述时序控制器读取所述存储器中存储的时序控制代码；

所述时序控制器根据所述时序控制代码控制显示时序。

3.如权利要求2所述的显示驱动方法，其特征在于，所述工作数据代码和所述测试数据代码在所述存储器中的存储位置位于所述时序控制代码在所述存储器中的存储位置之后，以使所述时序控制器先读取到所述时序控制代码，后读取到所述工作数据代码和所述测试数据代码。

4.如权利要求1至3中任一项所述的显示驱动方法，其特征在于，所述时序控制器与所述电源组件之间根据集成电路总线协议通信，且所述时序控制器作为通信主设备，所述电源组件作为通信从设备。

5.如权利要求1至3中任一项所述的显示驱动方法，其特征在于，所述测试数据的绝对值大于相应的所述工作数据的绝对值。

6.一种显示驱动装置，其特征在于，所述显示驱动装置包括：

存储器，所述存储器中存储有工作数据代码和测试数据代码；

时序控制器，所述时序控制器与所述存储器电连接，所述时序控制器用以读取所述存储器中存储的工作数据代码和测试数据代码，并根据接收到的外部控制信号，输出所述工作数据代码或所述测试数据代码至所述电源组件中；

电源组件，所述电源组件与所述存储器和所述时序控制器电连接，所述电源组件用以根据所述工作数据代码输出工作数据，或根据所述测试数据代码输出测试数据；

其中，所述存储器独立于所述电源组件设置。

7.如权利要求6所述的显示驱动装置，其特征在于，所述存储器中还存储有时序控制代码；

所述时序控制器还用以根据所述时序控制代码控制显示时序。

8.如权利要求6所述的显示驱动装置，其特征在于，所述工作数据代码和所述测试数据代码在所述存储器中的存储位置位于所述时序控制代码在所述存储器中的存储位置之后，以使所述时序控制器先读取到所述时序控制代码，后读取到所述工作数据代码和所述测试数据代码。

9.如权利要求6所述的显示驱动装置，其特征在于，所述存储器包括带电可擦可编程读写存储器。

10.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括：

显示面板；

如权利要求6至9中任一项所述的显示驱动装置，所述显示驱动装置与所述显示面板电连接。