CN109342922B - 恒流电路中的开、短路一体式检测电路 - Google Patents

恒流电路中的开、短路一体式检测电路 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种恒流电路中的开、短路一体式检测电路,包括输入直流电源单元、第一三级管恒流电路单元、第二三级管恒流电路单元、驱动电路单元和输出检测电路单元,所述输入直流电源单元包括输入直流电源和二级管,所述第一三级管恒流电路单元包括第一发光二级管和第二发光二级管,所述第一发光二级管的阴极连接驱动电路单元,所述第二三级管恒流电路单元包括第三发光二级管和第四发光二极管,所述第三发光二级管的阴极连接驱动电路单元。所述驱动电路单元连接输出检测电路单元。本发明的有益效果为:采用三级管分散发热,有利于快速散热,降低温度,相比线性恒流IC和开关电源电路,节省成本。

Description

恒流电路中的开、短路一体式检测电路
技术领域
本发明涉及开短路检测技术领域,特别涉及一种恒流电路中的开、短路一体式检测电路。
背景技术
随着信息科技产业的迅猛发展,计算机、智能手机、汽车电子的设计也随着日新月异,相应地,采用晶闸管的电力装置已经十分普及,采用晶闸管的电力装置的开短路反馈电路采用集成线性恒流IC或开关电源IC,线性IC发热量大,不利于散热,开关电源电路成本较高。
发明内容
针对上述采用晶闸管的电力装置的开路反馈电路采用集成线性恒流IC或开关电源IC,线性IC发热量大,不利于散热,开关电源电路成本较高的问题,本发明要解决的技术问题是提供一种恒流电路中开短路一体式检测电路。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:
一种恒流电路中开短路一体式检测电路,包括输入直流电源单元、第一三极管恒流电路单元、第二三极管恒流电路单元、驱动电路单元和输出检测电路单元,所述输入直流电源单元包括输入直流电源和二极管,所述二极管的阳级连接输入直流电源的正极,二极管的阴级分别连接第一三极管恒流电路单元、第二三极管恒流电路单元和驱动电路单元,所述第一三极管恒流电路单元包括第一发光二极管和第二发光二极管,所述第一发光二极管和第二发光二极管串联,所述第一发光二极管的阴极连接驱动电路单元,所述第二发光二极管的阳级连接二极管的阴级,所述第二三极管恒流电路单元包括第三发光二极管和第四发光二极管,所述第三发光二极管和第四发光二极管串联,所述第三发光二极管的阴极连接驱动电路单元,所述第四发光二极管的阳级连接二极管的阴级,所述驱动电路单元连接输出检测电路单元。
上述方案的优选方案为:所述第一三极管恒流电路单元还包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一三极管和第二三极管,所述第一电阻的一端连接二极管的阴级,另一端连接第一三极管的基级和第二三极管的集电级,所述第二电阻和第三电阻并联后一端接地,另一端连接第一三极管的发射级和第二三极管的基级,所述第一三极管的集电级连接第一发光二极管的阴级,所述第二三极管的发射级接地。
上述方案的优选方案为:所述第二三极管恒流电路单元还包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、第三三极管和第四三极管,所述第四电阻一端连接二极管的阴级,另一端连接第三三极管的基级和第四三极管的集电级,所述第五电阻和第六电阻并联后一端接地,另一端连接第三三极管的发射级和第四三极管的基级,所述第三三极管的集电级连接第三发光二极管的阴级,所述第四三极管的发射级接地。
上述方案的优选方案为:所述驱动电路单元包括第五三极管、第六三极管、第七三极管、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻和第十二电阻,所述第七电阻的一端连接第三三极管的集电级和第六三极管的发射级,所述第七电阻的另一端连接第五三极管的基级,所述第五三极管的发射级连接第一三极管的集电级和第八电阻的一端,所述第八电阻的另一端连接第六三极管的基级,所述第五三极管和第六三极管的集电级均第十电阻的一端,所述第十电阻的另一端连接第九电阻的一端和第七三极管的基级,所述第九电阻的另一端和第七三极管的发射级均连接二极管的阴级,所述第七三极管的集电级连接第十一电阻的一端,所述第十一电阻的另一端连接第十二电阻的一端,所述第十二电阻另一端接地。
上述方案的优选方案为:所述输出检测电路单元包括输出直流电源、第八三极管、第十三电阻和第十四电阻,所述第八三极管的基级连接在第十一电阻和第十二电阻之间、发射级接地、集电级连接第十三电阻的一端,所述第十三电阻的另一端连接第十四电阻的一端,所述第十四电阻的另一端连接输出直流电源,所述第十三电阻和第十四电阻的中间为检测点。
有益效果:本发明的一种恒流电路中开短路一体式检测电路,采用三极管分散发热,有利于快速散热,降低温度,相比线性恒流IC和开关电源电路,节省成本。
附图说明
图1为本发明恒流电路中的开、短路一体式检测电路的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1所示,本实施例的恒流电路中的开、短路一体式检测电路,包括输入直流电源单元1、第一三极管恒流电路单元2、第二三极管恒流电路单元2、驱动电路单元4和输出检测电路单元5,输入直流电源单元1包括输入直流电源V1和二极管D1,二极管D1的阳级连接输入直流电源V1的正极,二极管D1的阴级分别连接第一三极管恒流电路单元2、第二三极管恒流电路单元3和驱动电路单元4,第一三极管恒流电路单元2包括第一发光二极管LED1和第二发光二极管LED5,第一发光二极管LED1和第二发光二极管LED5串联,第一发光二极管LED1的阴极连接驱动电路单元4,第二发光二极管LED5的阳级连接二极管D1的阴级,第二三极管恒流电路单元3包括第三发光二极管LED2和第四发光二极管LED3,第三发光二极管LED2和第四发光二极管LED3串联,第三发光二极管LED2的阴极连接驱动电路单元4,第四发光二极管LED3的阳级连接二极管D1的阴级,驱动电路单元4连接输出检测电路单元5。
其中,第一三极管恒流电路2单元还包括第一电阻R8、第二电阻R12、第三电阻R13、第一三极管Q2和第二三极管Q4,第一电阻R8的一端连接二极管D1的阴级,另一端连接第一三极管Q2的基级和第二三极管Q4的集电级,第二电阻R12和第三电阻R13并联后一端接地,另一端连接第一三极管Q2的发射级和第二三极管Q4的基级,第一三极管Q2的集电级连接第一发光二极管LED1的阴级,第二三极管Q4的发射级接地。
其中,第二三极管恒流电路单元3还包括第四电阻R16、第五电阻R18、第六电阻R19、第三三极管Q3和第四三极管Q12,第四电阻R16一端连接二极管D1的阴级,另一端连接第三三极管Q3的基级和第四三极管Q12的集电级,第五电阻R18和第六电阻R19并联后一端接地,另一端连接第三三极管Q13的发射级和第四三极管Q12的基级,第三三极管Q3的集电级连接第三发光二极管LED2的阴级,第四三极管Q12的发射级接地。
其中,驱动电路单元4包括第五三极管Q7、第六三极管Q5、第七三极管Q1、第七电阻R20、第八电阻R10、第九电阻R2、第十电阻R7、第十一电阻R6和第十二电阻R3,第七电阻的一端连接第三三极管Q3的集电级和第六三极管Q5的发射级,第七电阻R20的另一端连接第五三极管Q7的基级,第五三极管Q7的发射级连接第一三极管Q2的集电级和第八电阻R10的一端,第八电阻R10的另一端连接第六三极管Q5的基级,第五三极管Q5和第六三极管Q7的集电级均第十电阻R7的一端,第十电阻R7的另一端连接第九电阻R2的一端和第七三极管Q1的基级,第九电阻R2的另一端和第七三极管Q1的发射级均连接二极管D1的阴级,第七三极管Q1的集电级连接第十一电阻R6的一端,第十一电阻R6的另一端连接第十二电阻R3的一端,第十二电阻R3另一端接地。
其中,输出检测电路单元5包括输出直流电源V2、第八三极管Q6、第十三电阻R4和第十四电阻R11,第八三极管Q6的基级连接在第十一电阻R6和第十二电阻R3之间、发射级接地、集电级连接第十三电阻R4的一端,第十三电阻R4的另一端连接第十四电阻R11的一端,第十四电阻R11的另一端连接输出直流电源V2,第十三电阻R4和第十四电阻R11的中间为检测点6。
由上所述,本发明达到了如下技术效果:采用三极管分散发热,有利于快速散热,降低温度,相比线性恒流IC和开关电源电路,节省成本。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (1)

1.一种恒流电路中的开、短路一体式检测电路,其特征在于,包括输入直流电源单元、第一三极管恒流电路单元、第二三极管恒流电路单元、驱动电路单元和输出检测电路单元,所述输入直流电源单元包括输入直流电源和二极管,所述二极管的阳极连接输入直流电源的正极,二极管的阴极分别连接第一三极管恒流电路单元、第二三极管恒流电路单元和驱动电路单元,所述第一三极管恒流电路单元包括第一发光二极管和第二发光二极管,所述第一发光二极管和第二发光二极管串联,所述第一发光二极管的阴极连接驱动电路单元,所述第二发光二极管的阳极连接二极管的阴极,所述第二三极管恒流电路单元包括第三发光二极管和第四发光二极管,所述第三发光二极管和第四发光二极管串联,所述第三发光二极管的阴极连接驱动电路单元,所述第四发光二极管的阳极连接二极管的阴极,所述驱动电路单元连接输出检测电路单元;
所述第一三极管恒流电路单元还包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一三极管和第二三极管,所述第一电阻的一端连接二极管的阴极,另一端连接第一三极管的基极和第二三极管的集电极,所述第二电阻和第三电阻并联后一端接地,另一端连接第一三极管的发射极和第二三极管的基极,所述第一三极管的集电极连接第一发光二极管的阴极,所述第二三极管的发射极接地;
所述第二三极管恒流电路单元还包括第四电阻、第五电阻、第六电阻、第三三极管和第四三极管,所述第四电阻一端连接二极管的阴极,另一端连接第三三极管的基极和第四三极管的集电极,所述第五电阻和第六电阻并联后一端接地,另一端连接第三三极管的发射极和第四三极管的基极,所述第三三极管的集电极连接第三发光二极管的阴极,所述第四三极管的发射极接地;
所述驱动电路单元包括第五三极管、第六三极管、第七三极管、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻和第十二电阻,所述第七电阻的一端连接第三三极管的集电极和第六三极管的发射极,所述第七电阻的另一端连接第五三极管的基极,所述第五三极管的发射极连接第一三极管的集电极和第八电阻的一端,所述第八电阻的另一端连接第六三极管的基极,所述第五三极管和第六三极管的集电极均连接第十电阻的一端,所述第十电阻的另一端连接第九电阻的一端和第七三极管的基极,所述第九电阻的另一端和第七三极管的发射极均连接二极管的阴极,所述第七三极管的集电极连接第十一电阻的一端,所述第十一电阻的另一端连接第十二电阻的一端,所述第十二电阻另一端接地;
所述输出检测电路单元包括输出直流电源、第八三极管、第十三电阻和第十四电阻,所述第八三极管的基极连接在第十一电阻和第十二电阻之间、发射极接地、集电极连接第十三电阻的一端,所述第十三电阻的另一端连接第十四电阻的一端,所述第十四电阻的另一端连接输出直流电源,所述第十三电阻和第十四电阻的中间为检测点。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102281669A (zh) * 2011-05-06 2011-12-14 河海大学常州校区 市电led恒流驱动电路
CN103379698A (zh) * 2012-04-25 2013-10-30 海洋王照明科技股份有限公司 具有短路保护的led恒流驱动电路
CN206077780U (zh) * 2016-10-10 2017-04-05 武汉通畅汽车电子照明有限公司 Led保护电路
CN209247963U (zh) * 2018-10-11 2019-08-13 苏州耀腾光电有限公司 恒流电路中的开、短路一体式检测电路

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8716955B2 (en) * 2012-07-26 2014-05-06 Linkcom Manufacturing Co., Ltd. Constant current LED driver

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102281669A (zh) * 2011-05-06 2011-12-14 河海大学常州校区 市电led恒流驱动电路
CN103379698A (zh) * 2012-04-25 2013-10-30 海洋王照明科技股份有限公司 具有短路保护的led恒流驱动电路
CN206077780U (zh) * 2016-10-10 2017-04-05 武汉通畅汽车电子照明有限公司 Led保护电路
CN209247963U (zh) * 2018-10-11 2019-08-13 苏州耀腾光电有限公司 恒流电路中的开、短路一体式检测电路

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