CN109324069A - 一种用于x射线透射与背散射一体成像系统的扫描器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，包括X光管、固定平台外壳和准直器；所述固定平台外壳和准直器连接；所述X光管伸入所述固定平台外壳安装；所述准直器的周向设置有透射扫描槽和背散射扫描孔且能够转动以使所述X光管发射的X光射线穿过所述透射扫描槽或背散射扫描孔，或者使所述X光管发射的X光射线间隔穿过所述透射扫描槽和背散射扫描孔。本发明的有益效果如下：(1)通过准直器的旋转，使用一台X射线源可以交替提供透射和背散射扫描射线束，可以有效地降低设备成本；(2)X射线透射与背散射一体成像系统使用一个射线源，可以有效地减小设备体积。

Description

一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器
技术领域
本发明涉及核工业领域，具体涉及一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器。
背景技术
X射线成像系统作为一种被广泛接受的主要安检技术手段，可以实现对行包等物品的快速检查以及各种陆、海、空港的货物检查。目前X射线成像系统主要有透射和背散射成像两种方式。透射成像主要显示重物质的图像，是检测枪支、金属刀具等违禁品的有力手段，背散射成像可以有效提供被检物表层较低原子序数而密度较高的被检物的几何形状和空间分布特征，可有效检查炸药、液体、毒品等违禁品，背散射成像与透射成像相结合可以获得全面的检测信息。
透射成像系统通常采用线扫描方式，透射探测器采用线阵，可满足高频率扫描，图像分辨率高；背散射成像系统一般采取点扫描方式，背散射探测器采用大面积的闪烁体晶体(组)，由于背散射信号弱小，为保证一定的信噪比很难实现高频率的扫描，背散射图像空间分辨率较透射图像差的多。
当前，面向安检应用最好同时具有X射线透射成像和背散射成像功能两种功能。一般结合两种功能的设备采取串联形式，X射线透射和背散射成像系统需要使用彼此独立的X光机、准直器和探测器完成物质扫描检测，分别生成透射和背散射图像，特点是成像时间长，透射图像与背散射图像空间分辨率不一致，设备体积大部署困难。
有鉴于此，特提出本发明。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的是提供一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，能够实现使用一台X光机同时兼具透射和背散射成像功能。
本发明的技术方案如下：
一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，包括X光管、固定平台外壳和准直器；所述固定平台外壳和准直器连接；所述X光管伸入所述固定平台外壳安装；所述准直器的周向设置有透射扫描槽和背散射扫描孔且能够转动以使所述X光管发射的X光射线穿过所述透射扫描槽或背散射扫描孔，或者使所述X光管发射的X光射线间隔穿过所述透射扫描槽和背散射扫描孔。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述固定平台外壳和准直器均为锥形，二者大口端相对连接。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述准直器小口端设置有内轴，所述内轴通过电动机轴承与电动机驱动连接以获得旋转动力。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述电动机上连接有位置传感器。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述准直器的大口端或固定平台外壳的大口端设置有屏蔽增强结构。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述屏蔽增强结构包括便于搭接的屏蔽槽。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述透射扫描槽和背散射扫描孔间隔设置，所述透射扫描槽和背散射扫描孔共面，且该平面与所述准直器内轴的旋转轴线垂直，X光管焦点处于所述准直器的旋转轴线上。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，所述准直器间隔的开有3个透射扫描槽和3个背散射扫描孔。
进一步地，上述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，透射扫描槽圆心张角为Δθ＝20°，相邻的透射扫描槽间夹角为100°，相邻的透射扫描槽的中间位置开有背散射扫描孔；所述X光管形成的为射线束应为夹角严格限定为Δφ＝50°的扇形射线束。
本发明的有益效果如下：
(1)通过准直器的旋转，使用一台X射线源可以交替提供透射和背散射扫描射线束，可以有效地降低设备成本；
(2)X射线透射与背散射一体成像系统使用一个射线源，可以有效地减小设备体积；
(3)在准直器旋转一周的过程中，可以完成3次透射线扫描和3次背散射点扫描；对准直器转速要求不高；
(4)准直器和扫描器固定平台外壳采用铅铜合金制成，也可使用高强度钢制外壳与铅屏蔽内层共同构成。准直器和扫描器固定平台外壳将X射线源包围在内部，可以将绝大多数不需要的射线屏蔽在扫描器内部。
附图说明
图1为本发明的用于X射线透射与背散射一体成像的扫描器的结构示意图。
图2为本发明的准直器和固定平台外壳的装配结构示意图。
图3为本发明的一个实施例中透射扫描槽和背散射扫描孔的分布结构。
图4为本发明实现透射功能的示意简图。
图5为本发明实现背散射功能的示意简图。
图6为本发明一个实施例工作状态随时间变化图。
上述附图中，1、固定平台外壳；2、准直器；3、内置准直器；5、X光管；6、背散射扫描孔；7、透射扫描槽；8、固定平台；9、内轴；10、电动机轴承；11、电动机；12、位置传感器；14、背散射探测器；15、被测物；16、透射探测器。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。
如图1所示，本发明提供了一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，该扫描器安装在X射线透射和背散射成像系统台架上，包括X光管5、固定平台外壳1(与固定平台8连接)和准直器2；所述固定平台外壳1和准直器2连接；所述X光管5伸入所述固定平台外壳1安装；所述准直器2的周向设置有透射扫描槽7和背散射扫描孔6且能够转动以使所述X光管5发射的X光射线穿过所述透射扫描槽7或背散射扫描孔6，或者使所述X光管5发射的X光射线间隔穿过所述透射扫描槽7和背散射扫描孔6。
在本实施例中，X光管5提供X射线，通过X光管5的内置准直器3与X光管5出射窗口将X射线束被约束为张角50°的平面扇形射线束，扇形射线束通过准直器2上的透射扫描槽7产生用于透射的小圆心角扇形射线束；扇形X射线束通过准直器2上的扫描孔获得用于背散射的直线状射线束。
X射线源包括X光管5、冷却液管、高压电源电缆、内置准直器3、出射窗口等部件。X光管5发出X射线，在X光管5的内置准直器3与出射窗口的共同作用下，X射线束被约束为张角50°的平面扇形射线束，为透射和背散射一体成像系统提供扫描射线束。
在准直器2匀速旋转的过程中小圆心角扇形射线束可以连续地从一端扫至另一端，形成周期性的线扫描；线状射线束也可以连续地从一端扫至另一端，形成周期性的点扫描。X光管5位于扫描器内部，X光管5焦点处于扫描器轴线上，扫描器为透射和背散射成像系统分别提供不同形式的扫描射线。准直器2围绕X光管5焦点旋转，X光管5输出的扇形射线束交替的通过准直器2圆周上的透射扫描槽7和背散射扫描孔6完成对被测物15的扫描，期间透射探测器16和背散射探测器14分别获取相应的透射、背散射信号，最终形成被测物15的透射和背散射图像。具体如摘要附图所示。准直器2旋转过程中，扇形射线束交替透过透射扫描槽7和背散射扫描孔6形成线性射线束对被测物15扫描，准直器2旋转位置通过安装于电动机11处的位置传感器12获取位置信息，可以控制透射和背散射探测器14获取相应透射和背散射信号，形成被测物15的透射和背散射图像。
所述固定平台外壳1和准直器2均为锥形，二者大口端相对连接。
准直器2为可旋转模式，一端与固定平台外壳1的一端套接在一起，另一端套合在可旋转的内轴9上，在外部电机的带动下高速旋转。如图2所示，准直器2小口端设置所述内轴9，所述内轴9通过电动机轴承10与电动机11驱动连接以获得旋转动力。所述电动机11上连接有位置传感器12，获得当前准直器2旋转的角位置。
本实施例中，一个旋转周期内可完成3次扫描，每一个扫描周期对应的扫描器圆心角为360°/3＝120°。其中透射扫描槽7对应的圆心角为20°，相邻扫描槽间夹角为100°，相邻扫描槽间中间位置开背散射扫描孔6，背散射扫描孔6的扫描角范围为100°/2＝50°。在低扫描速率的前提下，透射扫描槽7对应的圆心角可以再适当降低，以进一步增加背散射扫描孔6的扫描角范围。
当X射线束通过准直器2圆周上的透射扫描槽7中输出时，透射探测器16处于工作状态，获取被测物15的透射信号并传送至透射图像处理软件，此时背散射探测器14处于关闭状态；当X射线束通过准直器2圆周上的背散射扫描孔6输出时，背散射探测器14处于工作状态，获取被测物15的背散射信号并传送至背散射图像处理软件，此时透射探测器16处于关闭状态；通过准直器2的不停旋转，射线束从准直器2上的透射扫描槽7和背散射扫描孔6中交替输出，透射探测器16与背散射探测器14间隔的获取透射与背散射信号，形成透射数据列和背散射数据列，透射数据列和背散射数据列分别重构生成被测物15的透射和背散射图像。采用本发明的扫描器可以保持透射图像的视觉效果不降低，同时生成具有较好信噪比和分辨率的背散射图像。由于X射线透射与背散射成像系统仅使用一台X光机，可以有效地减小设备体积和降低成本。
固定平台8将X射线源(X光管5)固定在扫描器内部，其外壳可将不需要的X射线屏蔽在扫描器内部。准直器2和扫描器固定平台外壳1采用铅铜合金制成，也可使用高强度钢制外壳与铅屏蔽内层共同构成。准直器2和扫描器固定平台外壳1将X射线源包围在内部，可以将绝大多数不需要的射线屏蔽在扫描器内部。为增强屏蔽功能，所述准直器2的大口端或固定平台外壳1的大口端设置有屏蔽增强结构。具体而言，所述屏蔽增强结构包括便于搭接的屏蔽槽。使用时，固定平台外壳1(屏蔽槽设置于准直器2上时)或准直器2(屏蔽槽设置于固定平台外壳1上时)插入相应屏蔽槽中，在射线传播方向上固定平台外壳1和准直器2位置上形成相互重迭，以实现最大程度的X射线屏蔽能力。
如图4所示，X射线通过准直器2圆周上的透射扫描槽7后形成线性射线束输出时，透射探测器16处于工作状态，背散射探测器14处于关闭状态。
如图5所示，X射线通过准直器2圆周上的背散射扫描孔6后形成线状射线束输出时，背散射探测器14处于工作状态，透射探测器16处于关闭状态。
如图6所示，准直器2旋转一周，X射线从准直器2圆周上的透射扫描槽7和背散射扫描孔6中交替输出，对被测物15进行扫描。同时透射探测器16和背散射探测器14相应的间隔工作，接收透射和背散射信号。在准直器2一个旋转周期中，t1、t3、t5时刻，透射扫描槽7中有X射线输出，此时透射探测器16处于工作状态，接收透射信号，背散射探测器14处于关闭状态；在t2、t4、t6时刻，背散射扫描孔6中有X射线输出，此时背散射探测器14处于工作状态，接收背散射信号，透射探测器16处于关闭状态。
采用本发明的扫描器首先可以获得透射和背散射成像的线状扫描束和背散射的点扫描射线束。其次能够使X射线透射和背散射成像系统仅使用一台X光机，从而有效减小设备体积，降低系统成本。再者可使透射和背散射成像系统同时获取透射和背散射图像。在不降低透射图像视觉效果的条件下，获得较好的背散射图像。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若对本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其同等技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：包括X光管(5)、固定平台外壳(1)和准直器(2)；所述固定平台外壳(1)和准直器(2)连接；所述X光管(5)伸入所述固定平台外壳(1)安装；所述准直器(2)的周向设置有透射扫描槽(7)和背散射扫描孔(6)且能够转动以使所述X光管(5)发射的X光射线穿过所述透射扫描槽(7)或背散射扫描孔(6)，或者使所述X光管(5)发射的X光射线间隔穿过所述透射扫描槽(7)和背散射扫描孔(6)。
2.如权利要求1所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述固定平台外壳(1)和准直器(2)均为锥形，二者大口端相对连接。
3.如权利要求2所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述准直器(2)小口端设置有内轴(9)，所述内轴(9)通过电动机轴承(10)与电动机(11)驱动连接以获得旋转动力。
4.如权利要求3所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述电动机(11)上连接有位置传感器(12)。
5.如权利要求2所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述准直器(2)的大口端或固定平台外壳(1)的大口端设置有屏蔽增强结构。
6.如权利要求5所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述屏蔽增强结构包括便于搭接的屏蔽槽。
7.如权利要求1所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述透射扫描槽(7)和背散射扫描孔(6)间隔设置，所述透射扫描槽(7)和背散射扫描孔(6)共面，且该平面与所述准直器(2)的内轴(9)的旋转轴线垂直，X光管(5)焦点处于所述准直器(2)的旋转轴线上。
8.如权利要求1-7任一所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：所述准直器(2)间隔的开有3个透射扫描槽(7)和3个背散射扫描孔(6)。
9.如权利要求8所述的用于X射线透射与背散射一体成像系统的扫描器，其特征在于：透射扫描槽(7)圆心张角为Δθ＝20°，相邻的透射扫描槽(7)间夹角为100°，相邻的透射扫描槽(7)的中间位置开有背散射扫描孔(6)；所述X光管(5)形成的射线束应为夹角严格限定为Δφ＝50°的扇形射线束。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109839394A (zh) * 2019-03-22 2019-06-04 中国原子能科学研究院 便携式x射线背散射成像系统
CN111735837A (zh) * 2020-06-22 2020-10-02 中国辐射防护研究院 一种用于管道内缺陷巡检的x射线背散射检测装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101113961A (zh) * 2006-07-27 2008-01-30 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统
US20120269319A1 (en) * 2010-10-27 2012-10-25 American Science And Engineering, Inc. Versatile X-Ray Beam Scanner
CN105301669A (zh) * 2015-12-04 2016-02-03 同方威视技术股份有限公司 安检设备和射线探测方法
CN108535294A (zh) * 2018-02-02 2018-09-14 中国原子能科学研究院 一种用于x射线背散射成像系统的扫描装置
CN209215261U (zh) * 2018-11-20 2019-08-06 中国原子能科学研究院 一种用于x射线透射与背散射一体成像系统的扫描器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101113961A (zh) * 2006-07-27 2008-01-30 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种具有x射线背散射和断层扫描的成像系统
US20120269319A1 (en) * 2010-10-27 2012-10-25 American Science And Engineering, Inc. Versatile X-Ray Beam Scanner
CN105301669A (zh) * 2015-12-04 2016-02-03 同方威视技术股份有限公司 安检设备和射线探测方法
CN108535294A (zh) * 2018-02-02 2018-09-14 中国原子能科学研究院 一种用于x射线背散射成像系统的扫描装置
CN209215261U (zh) * 2018-11-20 2019-08-06 中国原子能科学研究院 一种用于x射线透射与背散射一体成像系统的扫描器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109839394A (zh) * 2019-03-22 2019-06-04 中国原子能科学研究院 便携式x射线背散射成像系统
CN111735837A (zh) * 2020-06-22 2020-10-02 中国辐射防护研究院 一种用于管道内缺陷巡检的x射线背散射检测装置

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