CN109297376A - 一种近场探测成像引信的滑轨试验系统 - Google Patents

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程思敏
李玉钊
黄立峰
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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

本发明公开了一种应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，包括：终端显示处理系统、引信外部接口A、控制箱、安装平台、天线设置系统(4)、引信外部接口B以及供电控制系统；所述引信外部接口A与所述安装平台螺纹孔连接，所述控制箱与所述安装平台电缆连接；所述天线设置系统的输入输出端与所述引信外部接口B的天线输入输出端波导连接，所述供电控制系统输出端与所述引信外部接口B的供电输入端信号线连接。本系统在滑轨试验系统的数据存储、处理的方向有广泛的应用，为近场探测引信的滑轨试验系统设计提供了借鉴。

Description

一种近场探测成像引信的滑轨试验系统
技术领域
本发明涉及一种滑轨试验系统，特别是一种近场探测成像引信的滑轨试验系统。
背景技术
近场探测成像引信能明显增强引信的超低空和抗干扰能力，还可提升引战配合的精细化程度，其作用距离、成像分辨率等性能指标，需要通过微波暗室滑轨试验进行验证。传统雷达成像系统的转台试验系统是以目标距离远大于目标尺寸为前提的，而成像引信属于近场探测，目标的尺寸和距离可比拟，因此传统的成像转台试验系统不再适用。
近场探测成像引信属于超近距离工作雷达，滑轨试验得到的作用距离、成像分辨率等方面性能的试验结果将直接影响其精细化探测能力，因此，需要设计出适用于近距离工作的滑轨试验系统，该系统应当具备精准稳定地控制引信沿轨道平行移动，并且可以完整记录并准确分析滑轨试验数据，从而准确实现对成像引信成像交会工作性能的考核的特性。
发明内容
为解决上述技术问题或之一，本发明提供一种应用于近场探测成像引信的暗室滑轨试验系统，以解决传统成像雷达转台试验系统不能适用于近场探测引信的滑轨试验，以及后期无法精确的进行数据分析和准确的对引信交会性能进行考核的技术问题。
本发明为一种应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，包括：终端显示处理系统、引信外部接口A、控制箱、安装平台、天线设置系统(4)、引信外部接口B以及供电控制系统；引信外部接口A与安装平台可拆卸连接，控制箱与安装平台有线连接；
天线设置系统的输入输出端与引信外部接口B的天线输入输出端波导连接，供电控制系统输出端与引信外部接口B的供电输入端信号线连接。
优选地，引信外部接口A与安装平台螺纹连接，控制箱与安装平台电缆连接；引信外部接口A、控制箱和安装平台组成直线导轨试验系统，天线设置系统、引信外部接口B、供电控制系统和终端显示处理系统组成地面测试系统。
优选地，滑轨试验系统中的引信外部接口A的网络数据输入输出端与地面测试系统中的终端显示处理系统的网络数据输入输出端信号线连接；
直线导轨试验系统用于平行移动引信，地面测试系统用于引信成像试验。
优选地，在直线导轨试验系统中，通过控制箱设置导轨滑动状态，滑动状态包括运行速度、加速度、位置信息。
优选地，安装平台用于承载引信，一同实现直线运动和精确定位功能。
优选地，所述直线导轨试验系统中，所述引信外部接口A与所述安装平台螺纹孔连接，所述控制箱与所述安装平台电缆连接。
优选地，在地面测试系统中，通过天线设置系统设置引信天线的角度。
优选地，供电控制系统控制引信工作的起始和结束时刻、并为引信供电。
优选地，终端显示处理系统实时读取引信滑轨过程中引信外部接口B输出的天线接收的回波信号的频谱值，实时显示引信检测状态。
优选地，终端显示处理系统通过读取存储数据，并对存储数据进行处理、分析，得到引信对目标成像性能的结果。
综上所述，采用了上述技术方案，本发明可以应用于近场探测成像引信的微波暗室滑轨试验，通过安装平台精准稳定地控制引信沿轨道平行移动，并通过终端显示处理系统完整采集、存储引信滑轨试验数据，呈现成像效果，最终实现对引信交会工作性能的考核。本系统在滑轨试验系统的高精度存储、处理数据的方向有着很广泛的应用，为近场探测呈现引信的滑轨试验系统设计提供了借鉴。
附图说明
图1为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统直线导轨试验系统组成示意图；
图2为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统地面测试系统组成示意图；
图3为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统的直线导轨试验系统与地面测试系统的连接示意图。
其中，1为引信外部接口A，2为控制箱，3为安装平台，4为天线设置系统，5为引信外部接口B，6为供电控制系统，7为终端显示处理系统。
具体实施方式
为本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
其中，图1为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统直线导轨试验系统组成示意图；
图2为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统地面测试系统组成示意图；图3为本发明一个实施例的一种近场探测成像引信的滑轨试验系统的直线导轨试验系统与地面测试系统的连接示意图。
其中，1为引信外部接口A，2为控制箱，3为安装平台，4为天线设置系统，5为引信外部接口B，6为供电控制系统，7为终端显示处理系统。
本发明一种应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统的一个实施例，包括：终端显示处理系统7，还包括：引信外部接口A1、控制箱2、安装平台3、天线设置系统4、引信外部接口B5、供电控制系统6。其中，引信外部接口A1、控制箱2和安装平台3组成直线导轨试验系统；天线设置系统4、引信外部接口B5、供电控制系统6和终端显示处理系统7组成地面测试系统。
在直线导轨试验系统中，引信外部接口A1与安装平台螺纹孔连接，控制箱2与安装平台3电缆连接。在地面测试系统中，天线设置系统4的输入输出端与引信外部接口B5的天线输入输出端波导连接，供电控制系统6输出端与引信外部接口B5的供电输入端信号线连接。滑轨试验系统中的引信外部接口A1的网络数据输入输出端与地面测试系统中的终端显示处理系统7的网络数据输入输出端信号线连接。
近场探测成像引信的滑轨试验系统中直线导轨试验系统用于平行移动引信，地面测试系统用于引信成像试验。在直线导轨试验系统中，通过控制箱2设置导轨滑动状态，滑动状态包括：运行速度、加速度、位置等信息，安装平台3用于承载引信，一同实现直线运动和精确定位功能。在地面测试系统中，通过天线设置系统4设置引信天线的角度，供电控制系统6控制引信工作的起始和结束时刻，并为引信供电，终端显示处理系统7实时读取引信滑轨过程中引信外部接口B5输出的天线接收的回波信号的频谱值，实时显示引信检测状态。同时，终端显示处理系统7通过读取存储数据，并对存储数据进行处理、分析，得到引信对目标成像性能的结果。
本发明可以应用于近场探测成像引信的微波暗室滑轨试验，通过安装平台精准稳定地控制引信沿轨道平行移动，并通过终端显示处理系统完整采集、存储引信滑轨试验数据，呈现成像效果，最终实现对引信交会工作性能的考核。本系统在滑轨试验系统的高精度存储、处理数据的方向有着很广泛的应用。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，包括：终端显示处理系统、引信外部接口A、控制箱、安装平台、天线设置系统(4)、引信外部接口B以及供电控制系统；
所述引信外部接口A与所述安装平台可拆卸连接，所述控制箱与所述安装平台有线连接；
所述天线设置系统的输入输出端与所述引信外部接口B的天线输入输出端波导连接，所述供电控制系统输出端与所述引信外部接口B的供电输入端信号线连接。
2.按照权利要求1所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，所述引信外部接口A与所述安装平台螺纹连接，所述控制箱与所述安装平台电缆连接；所述引信外部接口A、所述控制箱和所述安装平台组成直线导轨试验系统，所述天线设置系统、所述引信外部接口B、所述供电控制系统和所述终端显示处理系统组成地面测试系统。
3.按照权利要求1所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，滑轨试验系统中的引信外部接口A的网络数据输入输出端与地面测试系统中的终端显示处理系统的网络数据输入输出端信号线连接；
直线导轨试验系统用于平行移动引信，地面测试系统用于引信成像试验。
4.按照权利要求1所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，在直线导轨试验系统中，通过控制箱设置导轨滑动状态，滑动状态包括运行速度、加速度、位置信息。
5.按照权利要求1至4中任一所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，安装平台用于承载引信，一同实现直线运动和精确定位功能。
6.按照权利要求5所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，所述直线导轨试验系统中，所述引信外部接口A与所述安装平台螺纹孔连接，所述控制箱与所述安装平台电缆连接。
7.按照权利要求6所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，在地面测试系统中，通过天线设置系统设置引信天线的角度。
8.按照权利要求7所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，供电控制系统控制引信工作的起始和结束时刻、并为引信供电。
9.按照权利要求8所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，终端显示处理系统实时读取引信滑轨过程中引信外部接口B输出的天线接收的回波信号的频谱值，实时显示引信检测状态。
10.按照权利要求9所述的应用于近场探测成像引信的滑轨试验系统，其特征在于，终端显示处理系统通过读取存储数据，并对存储数据进行处理、分析，得到引信对目标成像性能的结果。
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