CN109274468B - 一种针对通道iq自动校正功能的测试方法及系统 - Google Patents
一种针对通道iq自动校正功能的测试方法及系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统,信号源发射连续的测试信号,包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号;对测试信号进行相位旋转,其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°,并将该信号发送给待测试通道;对待测试通道的信号进行大量采样,然后分别进行定量和定性分析。本发明提出的测试系统和测试方法,对于不同的系统,既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能,又可以通过定量分析,满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单,降低测试难度,简化了测试系统,使得能够集成在各种通信系统中,提高测试方法的通用性。
Description
技术领域
本发明涉及一种通道参数测试技术,尤其涉及的是一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统。
背景技术
在通信领域中,不同的通信环境对通信的通道要求各不相同,其中有一个关键功能就是通道的IQ自动校正功能。该功能就是利用技术手段,使得通信通道输出的信号的I路和Q路幅度相同,确保通道输出的信号为理想的QPSK信号,从而简化后端的处理过程。
目前商用通信领域,很多通信相关的通道模块或者IC芯片都集成了IQ自动校正功能。但是并不是所有的通信领域都需要用到该功能,且该功能的性能强弱也影响的通信效果。目前常用的测试通道的IQ自动校正功能都是利用仪器仪表等专用设备,成本高,系统复杂,难以面对各种复杂的应用环境。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于:如何简洁快速的实现对测试通道IQ自动校正,提供了一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法及系统。
本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的,本发明的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,包括以下步骤:
(1)信号源发射连续的测试信号,包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号;
(2)对测试信号进行相位旋转,其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°,并将该信号发送给待测试通道;
(3)对待测试通道的信号进行大量采样,然后分析如下:
(31)对采样数据做星座图,如果发射端的相位发生变化,而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化,则说明没有IQ自动校正功能;
如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致,则测试通道具备IQ自动校正功能;
(32)对于每次发射端相位变化,计算对应接收端采样数据的平均相位值,如果前后相位值变化与发射端相同,说明没有IQ自动校正功能;
如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
所述步骤(31)中,如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
如果接收信号星座图形状集中程度越高,形状越狭窄,说明性能越好。
如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2,-π/4,0,π/4,π/2,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
如果接收端采样数据的平均相位值的方差越小,说明性能越好。
一种使用所述的针对通道IQ自动校正功能的测试方法进行测试的系统,包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块;所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号;所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转,所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析,判定该通道是否具备IQ自动校正功能,以及该功能的具体性能。
本发明相比现有技术具有以下优点:本发明提出的测试系统和测试方法,对于不同的系统,既可以通过简单的定性分析迅速得出通道的大体性能,又可以通过定量分析,满足不同通信系统的精细要求。同时测试方法简单,降低测试难度,简化了测试系统,使得能够集成在各种通信系统中,提高测试方法的通用性。
附图说明
图1是本发明的结构框图;
图2是本发明的系统流程图。
具体实施方式
下面对本发明的实施例作详细说明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
如图1所示,本实施例的测试系统包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块;
所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号;
所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转;
所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析,判定该通道是否具备IQ自动校正功能,以及该功能的具体性能。
如图2所示,本实施例的测试方法如下:
(1)搭建测试环境,接上测试通道,开启测试系统;
(2)启动测试信号源模块,发射连续信号,其中I路发送单载波信号,Q路发送0信号;
(3)启动相位旋转模块,对测试信号进行相位旋转,其中旋转的相位角度按一定间隔遍历360°,将该信号发送给待测试通道;
(4)启动信号分析模块,测试通道传来的信号,在累积大量采样数据之后,进行如下分析;
(5)定性分析:
对采样数据做星座图,观察如果发送端的相位发生变化,而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化,则说明没有IQ自动校正功能;
如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线,说明测试通道具备IQ自动校正功能;
且集中程度越高,形状越狭窄,说明性能越好;
(6)定量分析:
对每次发射端相位变化,计算对应接收端采样数据的平均相位值,如果前后相位值变化与发射端相同,说明没有IQ自动校正功能;
如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2,-π/4,0,π/4,π/2,说明具备IQ自动校正功能;
且方差越小,说明性能越好。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)信号源发射连续的测试信号,包括I路发送的单载波信号和Q路发送的0信号;
(2)对测试信号进行相位旋转,其中旋转的相位角度按一定的间隔遍历360°,并将该信号发送给待测试通道;
(3)对待测试通道的信号进行大量采样,然后分析如下:
(31)对采样数据做星座图,如果发射端的相位发生变化,而接收信号对应的星座图形状也发生相同相位变化,则说明没有IQ自动校正功能;
如果接收信号星座图形状与发射端相位变化不一致,则测试通道具备IQ自动校正功能;
(32)对于每次发射端相位变化,计算对应接收端采样数据的平均相位值,如果前后相位值变化与发射端相同,说明没有IQ自动校正功能;
如果接收端采样数据的平均相位值与发射端相位变化不一致,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
2.根据权利要求1所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,其特征在于,所述步骤(31)中,如果接收信号星座图形状总是集中于[(0,1),(0,-1)],[(1,0),(-1,0)],[(1,1),(-1,-1)],[(-1,1),(1,-1)]这四条线,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
3.根据权利要求2所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,其特征在于,如果接收信号星座图形状集中程度越高,形状越狭窄,说明性能越好。
5.根据权利要求4所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,其特征在于,如果接收端采样数据的平均相位值始终围绕-π/2,-π/4,0,π/4,π/2,说明测试通道具备IQ自动校正功能。
6.根据权利要求5所述的一种针对通道IQ自动校正功能的测试方法,其特征在于,如果接收端采样数据的平均相位值的方差越小,说明性能越好。
7.一种使用如权利要求1~6任一项所述的针对通道IQ自动校正功能的测试方法进行测试的系统,其特征在于,包括测试信号源模块、相位旋转模块和信号分析模块;所述测试信号源模块产生满足测试要求的连续单载波信号;所述相位旋转模块按照测试需要将单载波信号的相位进行旋转,所述信号分析模块对通过被测通道之后的数据进行采样分析,判定该通道是否具备IQ自动校正功能,以及该功能的具体性能。
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