CN109270393B - 一种单脉冲校线仪 - Google Patents
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Abstract
本发明属于配电领域，具体涉及一种单脉冲校线仪；所述的单脉冲发射模块与编码器的一端连接，编码器的另一端与第一二极管模块连接，第一二极管模块的另一端与第一地址寄存器的输入端连接，第一地址寄存器的接线端通过电缆测试线与第二地址寄存器的接线端连接，第二地址寄存器的接线端同时与第二二极管模块连接，第二地址寄存器模块的输出端与译码器的输入端连接，译码器的输出端与执行器的输入端连接，译码器的输出端与显示器的阳极相接，显示器的阴极与执行器的另一输入端连接；结构简单，操作简单，在进行检测时，只需将待测电缆接入到电路中，通过肉眼观察，缩短了校验时间，提高了线路校线的准备性。
Description
技术领域
本发明属于配电领域，具体涉及一种单脉冲校线仪。
背景技术
在常规变电站及智能变电站建设调试过程中，需进行大量的二次电缆校线工作。
目前，二次电缆校线工作主要采用两种工具：第一种校线工具是两节干电池串联接一小灯泡组成的简易校线工具；其校线过程是，一简易校线工具的负极接地以及其正极接二次电缆芯的第一端，二次电缆对侧的第二端以同样接线方式接有另一简易校线工具，校线时当两个简易校线工具的正极接到同一二次电缆芯时，小灯泡点亮，校线完成。第二种校线工具是万用表；其校线过程是，二次电缆芯的两端各接一块万用表，将两个万用表的档位均打至通断档，将黑表笔接地以及红表笔接电缆芯，当两个万用表的红表笔接到同一二次电缆芯时，万用表通断告警，校线完成。
上述二次电缆校线工作中，其校线工具存在以下缺陷：电池没电时校线工具直接作废，无法循环使用；在利用肉眼看电缆线路的芯号，在套上端子头，若在工作中端子头掉后又要重新校线，造成重复校线，浪费时间，加大工作量，效率低。
发明内容
为了克服现有技术中的缺点，本发明提供了一种单脉冲校线仪，结构简单，利用同轴电缆作为媒介进行传输，当电缆导通时，两端所对应的发光二极管发光，操作简单，容易观察。
一种单脉冲校线仪包括单脉冲发射模块、编码器、第一二极管模块、第一地址寄存器、电缆测试线、第二二极管模块、第二地址寄存器、译码器、执行器和显示器；所述的单脉冲发射模块与编码器的一端连接，编码器的另一端与第一二极管模块连接，第一二极管模块的另一端与第一地址寄存器的输入端连接，第一地址寄存器的接线端通过电缆测试线与第二地址寄存器的接线端连接，第二地址寄存器的接线端同时与第二二极管模块连接，第二地址寄存器的输出端与译码器的输入端连接，译码器的输出端与执行器的输入端连接，译码器的输出端与显示器的阳极相接，显示器的阴极与执行器的另一输入端连接；所述的单脉冲发射模块包括第一电阻器、第二电阻器、第三电阻器、第一电容器、第二电容器和时基集成芯片，所述的时基集成芯片设置有8个接线端，分别为时基集成芯片接线端一、时基集成芯片接线端二、时基集成芯片接线端三、时基集成芯片接线端四、时基集成芯片接线端五、时基集成芯片接线端六、时基集成芯片接线端七和时基集成芯片接线端八，所述的时基集成芯片接线端一分别与第一电容器的一端和第二电容器的一端连接同时接地连接，所述的时基集成芯片接线端二分别与第一电容器的另一端和第二电阻器的一端连接同时与时基集成芯片接线端六连接，所述的时基集成芯片接线端七与第二电阻器的另一端连接同时与第一电阻器的一端连接，所述的时基集成芯片接线端四与第一电阻器的另一端连接同时与时基集成芯片接线端八连接，所述的时基集成芯片接线端八同时还与电源的一端和发光二极管的一端连接，所述的发光二极管的一端与第三电阻器的一端连接，所述的第三电阻器的另一端分别与时基集成芯片接线端三和编码器连接，所述的时基集成芯片接线端五与第二电容器的另一端连接；所述的编码器设置有8个输出端，分别为YO、Y1、Y2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7，所述的编码器的输出端与第一二极管模块连接，所述的第一二极模块包括8组二极管组合，每个二极管组合由一个发光二极管和一个保护二极管并列连接，所述的编码器的每个输出端与一个二极管组合的一端连接；所述的第一地址寄存器设置有8个接线端，每个第一地址寄存器的接线端相对应的与一个二极管组合的另一端连接；所述的第二地址寄存器设置有8个接线端，所述的电缆测试线的一端与第一地址寄存器中的一个接线端连接，电缆测试线的另一端与第二地址寄存器中的一个接线端连接，所述的第二地址寄存器的接线端与第二二极管模块连接，所述的第二二极管模块包括8组二极管组合，每组二极管组合由一个发光二极管和一个保护二极管并列连接，所述的第二地址寄存器的每个接线端与一组二极管组合的一端连接，所述的每组二极管组合的另外一端相互连接同时接地连接，所述的第二地址寄存器的输出端与译码器的输入端连接。
优选的，执行器的接线端还与晶体振荡器的一端连接同时与第三电容器的第一端连接，第三电容器的另一端与第四电容器的一端连接同时接地连接，所述的第四电容器的另一端与晶体振荡器的另一端连接同时与执行器的接线端连接。
优选的，时基集成芯片的型号为NE555。
优选的，译码器的型号为74HC138。
本发明结构简单，操作简单，设置有单模块发射模块，采用时基集成芯片产生相应的方波，利用同轴电缆测试线作为媒介进行方波传输，在电缆测试线的两端设置有二极管模块，并且设置有显示器，当电缆测试线导通，电缆测试线两端的发光二极管发光并且在显示器中显示接线端的情况；在进行检测时，只需将电缆测试线接入到电路中，通过肉眼观察，缩短了校验时间，提高了线路校线的准备性。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图中，单脉冲发射模块1、编码器2、第一二极管模块3、第一地址寄存器4、电缆测试线5、第一二极管模块6、第二地址寄存器7、译码器8、执行器9、显示器10、时基集成芯片11、时基集成芯片接线端一12、第一电容器13、时基集成芯片接线端二14、第二电阻器15、第一电阻器16、时基集成芯片接线端六17、时基集成芯片接线端七18、时基集成芯片接线端四19、时基集成芯片接线端八20、时基集成芯片接线端三21、发光二极管22、第三电阻器23、时基集成芯片接线端五24、第二电容器25、保护二极管26、晶体震荡器27、第三电容器28、第四电容器29、二极管组合30。
具体实施方式
如图1所示，一种单脉冲校线仪包括单脉冲发射模块1、编码器2、第一二极管模块3、第一地址寄存器4、电缆测试线5、第二二极管模块6、第二地址寄存器7、译码器8、执行器9和显示器10。
单脉冲发射模块1与编码器2的一端连接，编码器2的另一端与第一二极管模块3连接，第一二极管模块3的另一端与第一地址寄存器4的输入端连接，第一地址寄存器4的接线端通过电缆测试线5与第二地址寄存器7的接线端连接，第二地址寄存器7的接线端同时与第二二极管模块6连接，第二地址寄存器7的输出端与译码器8的输入端连接，译码器8的输出端与执行器9的输入端连接，译码器8的输出端与显示器10的阳极相接，显示器10的阴极与执行器9的另一输入端连接。
单脉冲发射模块1包括第一电阻器16、第二电阻器15、第三电阻器23、第一电容器13、第二电容器25和时基集成芯片11，所述的时基集成芯片11设置有8个接线端，分别为时基集成芯片接线端一12、时基集成芯片接线端二14、时基集成芯片接线端三21、时基集成芯片接线端四19、时基集成芯片接线端五24、时基集成芯片接线端六17、时基集成芯片接线端七18和时基集成芯片接线端八20，所述的时基集成芯片11接线端一分别与第一电容器13的一端和第二电容器25的一端连接同时接地连接，所述的时基集成芯片接线端二14分别与第一电容器13的另一端和第二电阻器15的一端连接同时与时基集成芯片接线端六17连接，所述的时基集成芯片接线端七18与第二电阻器15的另一端连接同时与第一电阻器16的一端连接，所述的时基集成芯片接线端四19与第一电阻器16的另一端连接同时与时基集成芯片接线端八20连接，所述的时基集成芯片接线端八20同时还与电源的一端和发光二极管22的一端连接，所述的发光二极管22的一端与第三电阻器23的一端连接，所述的第三电阻器23的另一端分别与时基集成芯片接线端三21和编码器2连接，所述的时基集成芯片接线端五24与第二电容器25的另一端连接。时基集成芯片11的型号为NE555。
编码器2设置有8个输出端，分别为YO、Y1、Y2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7，所述的编码器2的输出端与第一二极管模块3连接，所述的第一二极模块3包括8组二极管组合30，每个二极管组合30由一个发光二极管22和一个保护二极管26并列连接，所述的编码器2的每个输出端与一个二极管组合30的一端连接；所述的第一地址寄存器4设置有8个接线端，每个第一地址寄存器4的接线端相对应的与一个二极管组合的另一端连接；所述的第二地址寄存器设置有8个接线端，所述的电缆测试线5的一端与第一地址寄存器4中的一个接线端连接，电缆测试线5的另一端与第二地址寄存器7中的一个接线端连接，所述的第二地址寄存器7的接线端与第二二极管模块6连接，所述的第二二极管模块6包括8组二极管组合30，每组二极管组合30由一个发光二极管22和一个保护二极管26并列连接，所述的第二地址寄存器7的每个接线端与一组二极管组合30的一端连接，所述的每组二极管组合30的另外一端相互连接同时接地连接，所述的第二地址寄存器7的输出端与译码器8的输入端连接，译码器8的型号为74HC138。
执行器9的接线端还与晶体振荡器27的一端连接同时与第三电容器28的第一端连接，第三电容器28的另一端与第四电容器29的一端连接同时接地连接，所述的第四电容器29的另一端与晶体振荡器27的另一端连接同时与执行器9的接线端连接。
工作原理：所述的单脉冲发射模块1产生单脉冲方波传输给编码器2，编码器2设置有8个输出端分别与8组二极管组合连接，8组二极管组合与第一地址寄存器4连接，第一地址寄存器4设置有8个接线端，所述的第二地址寄存器7设置有8个接线端，并且与8组二极管组合连接，编码器2对每个第一地址寄存器4的接线端和每个第二地址寄存器7的接线端进行序号编码，所述的电缆测试线5的一端插入第一地址寄存器4的一个接线端中，电缆测试线5的另一端插入第二地址寄存器7的一个接线端，当电缆测试线5导通时，电缆测试线5两端的对应的二极管组合中的发光二极管22发光，表示电缆测试线5导通，所述的译码器8将上述电缆测试线5的接线端序号编码信息破译转换成数据传输给显示器10，显示器10显示电缆测试线5两侧的接线端序号编码，工作人员通过读取显示器10数据。若电缆测试线5为不导通状态，则电缆测试线5两端的二极管组合中的发光二极管22不发光，并且在显示器10中无显示。
Claims (4)
1.一种单脉冲校线仪，其特征在于：所述的校线仪包括单脉冲发射模块、编码器、第一二极管模块、第一地址寄存器、电缆测试线、第二二极管模块、第二地址寄存器、译码器、执行器和显示器；所述的单脉冲发射模块与编码器的一端连接，编码器的另一端与第一二极管模块连接，第一二极管模块的另一端与第一地址寄存器的输入端连接，第一地址寄存器的接线端通过电缆测试线与第二地址寄存器的接线端连接，第二地址寄存器的接线端同时与第二二极管模块连接，第二地址寄存器的输出端与译码器的输入端连接，译码器的输出端与执行器的输入端连接，译码器的输出端与显示器的阳极相接，显示器的阴极与执行器的另一输入端连接；所述的单脉冲发射模块包括第一电阻器、第二电阻器、第三电阻器、第一电容器、第二电容器和时基集成芯片，所述的时基集成芯片设置有8个接线端，分别为时基集成芯片接线端一、时基集成芯片接线端二、时基集成芯片接线端三、时基集成芯片接线端四、时基集成芯片接线端五、时基集成芯片接线端六、时基集成芯片接线端七和时基集成芯片接线端八，所述的时基集成芯片接线端一分别与第一电容器的一端和第二电容器的一端连接同时接地连接，所述的时基集成芯片接线端二分别与第一电容器的另一端和第二电阻器的一端连接同时与时基集成芯片接线端六连接，所述的时基集成芯片接线端七与第二电阻器的另一端连接同时与第一电阻器的一端连接，所述的时基集成芯片接线端四与第一电阻器的另一端连接同时与时基集成芯片接线端八连接，所述的时基集成芯片接线端八同时还与电源的一端和发光二极管的一端连接，所述的发光二极管的一端与第三电阻器的一端连接，所述的第三电阻器的另一端分别与时基集成芯片接线端三和编码器连接，所述的时基集成芯片接线端五与第二电容器的另一端连接；所述的编码器设置有8个输出端，分别为YO、Y1、Y2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7，所述的编码器的输出端与第一二极管模块连接，第一二极管模块包括8组二极管组合，每个二极管组合由一个发光二极管和一个保护二极管并列连接，所述的编码器的每个输出端与一个二极管组合的一端连接；所述的第一地址寄存器设置有8个接线端，每个第一地址寄存器的接线端相对应的与一个二极管组合的另一端连接；所述的第二地址寄存器设置有8个接线端，所述的电缆测试线的一端与第一地址寄存器中的一个接线端连接，电缆测试线的另一端与第二地址寄存器中的一个接线端连接，所述的第二地址寄存器的接线端与第二二极管模块连接，所述的第二二极管模块包括8组二极管组合，每组二极管组合由一个发光二极管和一个保护二极管并列连接，所述的第二地址寄存器的每个接线端与一组二极管组合的一端连接，所述的每组二极管组合的另外一端相互连接同时接地连接，所述的第二地址寄存器的输出端与译码器的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的一种单脉冲校线仪，其特征在于：所述的执行器的接线端还与晶体振荡器的一端连接同时与第三电容器的第一端连接，第三电容器的另一端与第四电容器的一端连接同时接地连接，所述的第四电容器的另一端与晶体振荡器的另一端连接同时与执行器的接线端连接。
3.根据权利要求1所述的一种单脉冲校线仪，其特征在于：所述的时基集成芯片的型号为NE555。
4.根据权利要求1所述的一种单脉冲校线仪，其特征在于：所述的译码器的型号为74HC138。
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