CN109238662B - 测定方法、装置及测定设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种测定方法、装置及测定设备，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，该方法包括：向显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；接收图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。

Description

测定方法、装置及测定设备

技术领域

本发明涉及光学图像处理技术领域，具体而言，涉及一种测定方法、装置及测定设备。

背景技术

现有裸眼3D显示技术基于在平板显示器件(LCD，LED，OLED等)上贴覆能起到分光作用的周期性光学微结构阵列(膜材、板材衬底上的狭缝或柱透镜，以下简称光栅膜)，配合特定的多视点图像交织方法，而呈现出立体效果。

光栅膜周期性单元排列方向和显示屏像素排列方向存在夹角，光栅膜切割、贴合的过程中这个角度存在一定的容许浮动工艺偏差，一般在0.1°的量级。而为了达到理想的3D效果，这个角度和视图交织排列方向的角度偏差需要控制在0.005°的量级。这一背离需要在软件上进行修正，为此，一般采用生成红绿点阵测试图的方式，基于图形只有与光栅膜角度吻合、节距符合透视关系时才能够在特定距离白幕上呈现宏观条纹的原理，通过改变测试图生成规则中的方向余切、周期因子两个变量的步长，得到条纹最清晰的一组参数，以作为3D软件视图交织排列的基本参数。

然而，上述方式只有在光栅膜均匀、平整地贴合于显示屏像素之上时才适用，当由于基材翘曲、胶层厚薄不均或应力、收缩等原因而导致点阵交织测试图经光栅折射后在大范围内不能形成均匀等距平直的条纹的情况下，这时在整个允许范围内都无法找到合适的一组视图合成参数以使在观看距离的幕布上呈现清晰条纹，也就是参数标定会失败。同样地，这样的显示器也难以呈现出理想的立体显示效果，局部容易出现重影、波浪纹等现象。

为了找到产生不均匀的原因，形成品质控制标准，作为原材料和工艺过程控制的指标衡量依据，需要对上述不均匀、不平整性进行测定。常规的三维形貌测试方法，要么需要进行剖切断面扫描，要么无法实施于透明薄层，使得在测定过程复杂难以实现。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于，提供一种测定方法、装置及测定设备以改善上述问题。

本申请实施例提供一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：

向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；

对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。

可选地，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：

确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

可选地，所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

对所述条纹图像进行形态学处理；

计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

可选地，所述形态学处理包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或几种。

可选地，所述根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀度。

本申请实施例还提供一种测定装置，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述装置包括：

测试图像信息发送模块，用于向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收模块，用于接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；

处理模块，用于对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度。

可选地，所述测定装置还包括：

设置模块，用于确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

测试图像信息获得模块，用于根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

可选地，所述处理模块包括：

形态学处理单元，用于对所述条纹图像进行形态学处理；

计算单元，用于计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

光程不均匀度获得单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

可选地，所述光程不均匀度获得单元包括：

计算子单元，用于计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

曲率获得子单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

光程不均匀度获得子单元，用于根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀。

本申请实施例还提供一种测定设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的方法步骤。

本申请实施例提供的测定方法、装置及测定设备，通过向显示模组发送测试图像信息，以使显示模组中的显示屏像素层根据接收到的测试图像信息显示对应的交织点阵图像。并接收图像采集识别采集并发送的所述交织点阵图像经显示模组中的光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像，通过对所述条纹图像进行处理，并根据处理结果获得显示模组的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的测试方法的应用场景示意图。

图2为本申请实施例提供的测定设备的结构框图。

图3为本申请实施例提供的测定方法的流程图。

图4为本申请实施例提供的测定方法的另一流程图。

图5为本申请实施例中的条纹点阵图的示意图。

图6为本申请实施例中的显示模组上呈现的条纹图像的示意图。

图7为图3中步骤S130的子步骤的流程图。

图8为图7中步骤S133的子步骤的流程图。

图9为本申请实施例提供的测定装置的功能模块框图。

图10为本申请实施例提供的处理模块的功能模块框图。

图11为本申请实施例提供的光程不均匀度获得单元的功能模块框图。

图标：100-测定设备；110-测定装置；111-测试图像信息发送模块；112-接收模块；113-处理模块；1131-形态学处理单元；1132-计算单元；1133-光程不均匀度获得单元；11331-计算子单元；11332-曲率获得子单元；11333-光程不均匀度获得子单元；114-设置模块；115-测试图像信息获得模块；120-处理器；130-存储器；200-图像采集设备；300-显示模组；400-驱动设备。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

请参阅图1，为本申请实施例提供的测定方法的应用场景示意图。该场景中包括测定设备100、图像采集设备200、显示模组300以及驱动设备400。其中，所述图像采集设备200和所述显示模组300可与所述测定设备100连接，可以采用通信连接或者电连接方式进行连接，所述测定设备100和所述图像采集设备200和所述显示模组300之间可以进行数据交互。所述图像采集设备200可设置在所述显示模组300的显示侧以采集所述显示模组300中呈现的图像。所述驱动设备400可以是驱动台或者是驱动机械臂等，驱动设备400可以与所述显示模组300连接，也可以与所述图像采集设备200连接，对此不作限制。

在所述驱动设备400与所述显示模组300连接时，驱动设备400可驱动所述显示模组300移动从而改变显示模组300与所述图像采集设备200之间的距离。在所述驱动设备400与所述图像采集设备200连接时，所述驱动设备400可以驱动所述图像采集设备200移动从而改变所述图像采集设备200与所述显示模组300之间的距离。

如图2所示，本发明实施例还提供一种测定设备100，所述测定设备100包括存储器130、处理器120和测定装置110。

所述存储器130和处理器120之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述测定装置110包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述存储器130中的软件功能模块。所述处理器120用于执行所述存储器130中存储的可执行的计算机程序，例如，所述测定装置110所包括的软件功能模块及计算机程序等，以实现对显示模组300的光程不均匀度的测定方法。

其中，所述存储器130可以是，但不限于，随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(ProgrammableRead-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-OnlyMemory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-OnlyMemory，EEPROM)等。其中，存储器130用于存储程序，所述处理器120在接收到执行指令后，执行所述程序。

所述处理器120可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述的处理器120可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器120也可以是任何常规的处理器等。

可以理解，图2所示的结构仅为示意，所述测定设备100还可包括比图2中所示更多或者更少的组件，或者具有与图2所示不同的配置。图2中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

可选地，所述测定设备100的具体类型不受限制，例如，可以是，但不限于，个人电脑(personal computer，PC)、平板电脑、个人数字助理(personal digital assistant，PDA)、移动上网设备(mobile Internet device，MID)、web(网站)服务器、数据服务器等具有处理功能的设备。

结合图3，本发明实施例还提供一种可应用于上述测定设备100的测定方法。其中，所述方法有关的流程所定义的方法步骤可以由所述处理器120实现。下面将对图3所示的具体流程进行详细阐述。

步骤S110，向所述显示模组300发送测试图像信息，以使所述显示模组300中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像。

在本实施例中，所述测定设备100可预先获得测试图像信息，可根据以下步骤获得测试图像信息，结合参阅图4：

步骤S101，确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数。

步骤S102，根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

本实施例中，测定设备100可设置测试图像交织方式的参数，并通过交织方式设置光栅贴合参数，其中光栅贴合参数包括但不限于图像倾角、周期等参数。可根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。其中，所述测试图像信息是随着测定设备100所设定的图像交织方式的参数的改变而改变的。

测定设备100可将得到的测试图像信息发送给显示模组300，显示模组300在接收到测试图像信息后，可通过显示模组300中的显示屏像素层并根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像，如图5中所示。

步骤S120，接收所述图像采集设备200采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像。

本实施例中，经所述显示模组300中的显示屏像素层所显示的交织点阵图像经显示模组300中的光栅膜结构层折射之后可呈现对应的条纹图像。可选地，所述图像采集设备200设置在所述显示模组300的显示侧，如此，图像采集设备200可拍摄获得经所述光栅膜结构层所折射并呈现的条纹图像。可结合参阅图6，其中，图6(a)中是显示模组300的光程不均匀度较低的情况(即显示模组300的光程均匀度较好的情况)下所呈现的条纹图像，图6(b)中是由于胶层不均、基材变形等导致的显示模组300的光程不均匀度较高(即显示模组300的光程均匀度较差)时所呈现的条纹图像。其中，所述显示模组300的光程不均匀度指的是所述显示模组300中的光栅膜结构层到显示屏像素层的实际距离值与平均距离值之间的相对差异。所述图像采集设备200可将采集到的条纹图像发送至测定设备100。

在本实施例中，在利用图像采集设备200采集显示模组300上呈现上的条纹图像的过程中，还可利用驱动设备400驱动改变图像采集设备200和显示模组300之间的距离，以使图像采集设备200在距离显示模组300的不同位置上进行图像采集，提高最终计算结果的鲁棒性。

步骤S130，对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组300的光程不均匀度。

测定设备100在接收到所述条纹图像后，可对所述条纹图像进行处理，并根据对条纹图像的处理结果得到所述显示模组300的光程不均匀度。

可选地，请参阅图7，在本实施例中，上述步骤S130可以包括步骤S131、步骤S132以及步骤S133三个子步骤：

步骤S131，对所述条纹图像进行形态学处理。

步骤S132，计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量。

步骤S133，根据所述二维梯度向量获得所述显示模组300的光程不均匀度。

本实施例中，所述测定设备100可对所述条纹图像进行形态学处理，从而突出、过滤和保留所述条纹图像中的关键的条纹间距、条纹走向、区域连通性等特征。

本实施例中，采用的形态学处理可包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或多种。其中，开操作处理即是先对图像进行腐蚀操作再进行膨胀操作，可以去掉目标外的孤立点，即移植个别亮细节。而闭操作处理即是先对图像进行膨胀操作再进行腐蚀操作，可以去掉目标内的孔，即达到抑制个别暗细节的目的。其中膨胀处理指的是把二值图像各1像素连接成分的边界扩大一层(填充边缘或0像素内部的孔)，而腐蚀操作指的是把二值图像各1像素连接成分的边界点去掉从而缩小一层(可提取骨干信息，去掉毛刺，去掉孤立的0像素)。而顶帽变换处理主要是用于修正不均匀曝光对图像呈现的影响。

通过以上的形态学处理之后得到处理后的条纹图像，可求取该条纹图像中的各点的二维梯度向量，根据各点处的二维梯度向量得到显示模组300的光程不均匀度。

可选地，请参阅图8，在本实施例中，上述步骤S133可以包括步骤S1331、步骤S1332以及步骤S1333三个子步骤：

步骤S1331，计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度。

步骤S1332，根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率。

步骤S1333，根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组300的光程不均匀度。

本实施例中，可计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度。并根据各点处的二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率。所述显示模组300的二维平面的光程不均匀度主要是反映在条纹图像的曲率和向量场的散度上。因此，本实施例中可对条纹图像的曲率及向量场散度进行分析从而获得显示模组300的光程不均匀度。

可选地，本实施例中，可将计算结果以数值形式，例如二进制数据序列或ASCII(American Standard Code for Information Interchange，美国标准信息交换代码)形式，或者是可视化的平面图像的形式进行输出。可通过测定设备100的显示屏进行显示。或者是可传输至与测定设备100连接的打印机进行打印输出。并且还可将计算结果进行存储，以便后续查视。

可选地，在所述条纹图像的曲率越大时，表明该点处的光程的变化越显著，其方向反映了变化的趋势。而散度的区域极值点是不均匀区域的中心。若显示模组300的显示屏像素层和光栅膜结构层之间的贴合较均匀，则呈现的条纹图像中各条纹基本平行等距，那么各处的散度应均接近零。

综上，通过计算结果中的条纹图像的曲率及向量场散度可分析得到显示模组300的光程不均匀度。

请参阅图9，本申请实施例还提供一种应用于上述测定设备100的测定装置110，所述测定装置110包括测试图像信息发送模块111、接收模块112以及处理模块113。

所述测试图像信息发送模块111，用于向所述显示模组300发送测试图像信息，以使所述显示模组300中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像。

本实施例中，关于所述测试图像信息发送模块111的描述具体可参考上述步骤S110的详细描述，也即，所述步骤S110可以由测试图像信息发送模块111执行，因而在此不作更多说明。

所述接收模块112，用于接收所述图像采集设备200采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像。

本实施例中，关于所述接收模块112的描述具体可参考上述步骤S120的详细描述，也即，所述步骤S120可以由接收模块112执行，因而在此不作更多说明。

所述处理模块113，用于对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组300的光程不均匀度。

本实施例中，关于所述处理模块113的描述具体可参考上述步骤S130的详细描述，也即，所述步骤S130可以由处理模块113执行，因而在此不作更多说明。

在本实施例中，所述测定装置110还包括设置模块114及测试图像信息获得模块115。

所述设置模块114，用于确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数。

本实施例中，关于所述设置模块114的描述具体可参考上述步骤S101的详细描述，也即，所述步骤S101可以由设置模块114执行，因而在此不作更多说明。

所述测试图像信息获得模块115，用于根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

本实施例中，关于所述测试图像信息获得模块115的描述具体可参考上述步骤S102的详细描述，也即，所述步骤S102可以由测试图像信息获得模块115执行，因而在此不作更多说明。

请参阅图10，在本实施例中，所述处理模块113包括形态学处理单元1131、计算单元1132及光程不均匀度获得单元1133。

所述形态学处理单元1131，用于对所述条纹图像进行形态学处理。

本实施例中，关于所述形态学处理单元1131的描述具体可参考上述步骤S131的详细描述，也即，所述步骤S131可以由形态学处理单元1131执行，因而在此不作更多说明。

所述计算单元1132，用于计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量。

本实施例中，关于所述计算单元1132的描述具体可参考上述步骤S132的详细描述，也即，所述步骤S132可以由计算单元1132执行，因而在此不作更多说明。

所述光程不均匀度获得单元1133，用于根据所述二维梯度向量获得所述显示模组300的光程不均匀度。

本实施例中，关于所述光程不均匀度获得单元1133的描述具体可参考上述步骤S133的详细描述，也即，所述步骤S133可以由光程不均匀度获得单元1133执行，因而在此不作更多说明。

可选地，请参阅图11，在本实施例中，所述光程不均匀度获得单元1133包括计算子单元11331、曲率获得子单元11332及光程不均匀度获得子单元11333。

所述计算子单元11331，用于计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度。

本实施例中，关于所述计算子单元11331的描述具体可参考上述步骤S1331的详细描述，也即，所述步骤S1331可以由计算子单元11331执行，因而在此不作更多说明。

所述曲率获得子单元11332，用于根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率。

本实施例中，关于所述曲率获得子单元11332的描述具体可参考上述步骤S1332的详细描述，也即，所述步骤S1332可以由曲率获得子单元11332执行，因而在此不作更多说明。

所述光程不均匀度获得子单元11333，用于根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组300的光程不均匀。

本实施例中，关于所述光程不均匀度获得子单元11333的描述具体可参考上述步骤S1333的详细描述，也即，所述步骤S1333可以由光程不均匀度获得子单元11333执行，因而在此不作更多说明。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置的具体工作过程，可以参考前述方法中的对应过程，在此不再过多赘述。

综上所述，本申请实施例提供的测定方法、装置及测定设备100，通过向显示模组300发送测试图像信息，以使显示模组300中的显示屏像素层根据接收到的测试图像信息显示对应的交织点阵图像。并接收图像采集识别采集并发送的所述交织点阵图像经显示模组300中的光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像，通过对所述条纹图像进行处理，并根据处理结果获得显示模组300的光程不均匀度。本申请提供的测定方案通过图像采集及图像分析这种非接触、不破坏性的方式以得到显示模组300的光程不均匀度，实用性更强并且不受幅面尺寸的影响。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种测定方法，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述方法包括：

向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层折射后呈现的条纹图像；

对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度；

所述对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

对所述条纹图像进行形态学处理；

计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述向所述显示模组发送测试图像信息的步骤之前，所述方法还包括：

确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

3.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述形态学处理包括开操作处理、闭操作处理、形态学平滑处理以及顶帽变换处理中的任意一种或几种。

4.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度的步骤，包括：

计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀度。

5.一种测定装置，用于对显示模组的光程不均匀度进行测定，其特征在于，应用于测定设备，所述测定设备分别与所述显示模组和图像采集设备连接，所述显示模组包括光栅膜结构层和显示屏像素层，所述装置包括：

测试图像信息发送模块，用于向所述显示模组发送测试图像信息，以使所述显示模组中的显示屏像素层根据所述测试图像信息显示对应的交织点阵图像；

接收模块，用于接收所述图像采集设备采集并发送的所述交织点阵图像经所述光栅膜结构层

折射后呈现的条纹图像；

处理模块，用于对所述条纹图像进行处理，根据处理结果获得所述显示模组的光程不均匀度；

所述处理模块包括：

形态学处理单元，用于对所述条纹图像进行形态学处理；

计算单元，用于计算经过形态学处理之后的条纹图像中的各点的二维梯度向量；

光程不均匀度获得单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述显示模组的光程不均匀度。

6.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述测定装置还包括：

设置模块，用于确定测试图像的交织方式，并根据所述交织方式设置光栅贴合参数；

测试图像信息获得模块，用于根据所述光栅贴合参数得到对应的测试图像信息。

7.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述光程不均匀度获得单元包括：

计算子单元，用于计算所述条纹图像中的各点的二维梯度向量所构成的向量场的散度；

曲率获得子单元，用于根据所述二维梯度向量获得所述条纹图像的曲率；

光程不均匀度获得子单元，用于根据所述曲率及所述散度获得所述显示模组的光程不均匀。

8.一种测定设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-4任意一项所述的方法步骤。

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